Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

Für die Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen gibt es insgesamt 285 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen die folgenden Kategorien: analytische Chemie, Optik und optische Messungen, Zerstörungsfreie Prüfung, Optische Ausrüstung, Prüfung von Metallmaterialien, Umfangreiche elektronische Komponenten, Längen- und Winkelmessungen, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, Batterien und Akkus, Straßenbahn, Optoelektronik, Lasergeräte, Rohrteile und Rohre, Diskrete Halbleitergeräte, Halbleitermaterial, Elektrische Lichter und zugehörige Geräte, medizinische Ausrüstung, Schweißen, Hartlöten und Niedertemperaturschweißen, Nichteisenmetalle, nichtmetallische Mineralien, Kernenergietechnik, Dokumentenbildtechnologie.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

GB/T 35158-2017 Verifizierungsmethode für Auger-Elektronenspektrometer (AES)
GB/T 32998-2016 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Berichterstattung über Methoden zur Ladungskontrolle und Ladungskorrektur
GB/T 32565-2016 Chemische Oberflächenanalyse – Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie (AES)

American Society for Testing and Materials (ASTM), Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

ASTM E995-16 Standardhandbuch für Hintergrundsubtraktionstechniken in der Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
ASTM E996-04 Standardpraxis für die Meldung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
ASTM E996-10 Standardpraxis für die Meldung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
ASTM E983-94(1999) Standardhandbuch zur Minimierung unerwünschter Elektronenstrahleffekte in der Auger-Elektronenspektroskopie
ASTM E983-10(2018) Standardhandbuch zur Minimierung unerwünschter Elektronenstrahleffekte in der Auger-Elektronenspektroskopie
ASTM E983-05 Standardhandbuch zur Minimierung unerwünschter Elektronenstrahleffekte in der Auger-Elektronenspektroskopie
ASTM E983-19 Standardhandbuch zur Minimierung unerwünschter Elektronenstrahleffekte in der Auger-Elektronenspektroskopie
ASTM E996-94(1999) Standardpraxis für die Meldung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
ASTM E996-10(2018) Standardpraxis für die Meldung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
ASTM E996-19 Standardpraxis für die Meldung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
ASTM E995-11 Standardhandbuch für Hintergrundsubtraktionstechniken in der Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
ASTM E827-07 Standardpraxis zur Identifizierung von Elementen anhand der Peaks in der Auger-Elektronenspektroskopie
ASTM E1217-11 Standardverfahren zur Bestimmung der Probenfläche, die zum detektierten Signal in Auger-Elektronenspektrometern und einigen Röntgen-Photoelektronenspektrometern beiträgt
ASTM E1127-91(1997) Standardhandbuch für die Tiefenprofilierung in der Auger-Elektronenspektroskopie
ASTM E1127-08(2015) Standardhandbuch für die Tiefenprofilierung in der Auger-Elektronenspektroskopie
ASTM E1127-08 Standardhandbuch für die Tiefenprofilierung in der Auger-Elektronenspektroskopie
ASTM E1217-00 Standardverfahren zur Bestimmung der Probenfläche, die zum detektierten Signal in Auger-Elektronenspektrometern und einigen Röntgen-Photoelektronenspektrometern beiträgt
ASTM E1217-05 Standardverfahren zur Bestimmung der Probenfläche, die zum detektierten Signal in Auger-Elektronenspektrometern und einigen Röntgen-Photoelektronenspektrometern beiträgt
ASTM E1217-11(2019) Standardverfahren zur Bestimmung der Probenfläche, die zum detektierten Signal in Auger-Elektronenspektrometern und einigen Röntgen-Photoelektronenspektrometern beiträgt
ASTM E984-95(2001) Standardhandbuch zur Identifizierung chemischer Effekte und Matrixeffekte in der Auger-Elektronenspektroskopie
ASTM E984-95 Standardhandbuch zur Identifizierung chemischer Effekte und Matrixeffekte in der Auger-Elektronenspektroskopie
ASTM E984-12(2020) Standardhandbuch zur Identifizierung chemischer Effekte und Matrixeffekte in der Auger-Elektronenspektroskopie
ASTM E984-06 Standardhandbuch zur Identifizierung chemischer Effekte und Matrixeffekte in der Auger-Elektronenspektroskopie
ASTM E983-10 Standardhandbuch zur Minimierung unerwünschter Elektronenstrahleffekte in der Auger-Elektronenspektroskopie
ASTM E984-12 Standardhandbuch zur Identifizierung chemischer Effekte und Matrixeffekte in der Auger-Elektronenspektroskopie

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

GB/T 26533-2011 Allgemeine Regeln für die Auger-Elektronenspektroskopie-Analyse
GB/T 28632-2012 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Bestimmung der lateralen Auflösung
GB/T 21006-2007 Chemische Oberflächenanalyse.Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer.Linearität der Intensitätsskala
GB/T 31470-2015 Standardpraxis zur Bestimmung der Probenfläche, die zum detektierten Signal in Auger-Elektronenspektrometern und einigen Röntgenphotoelektronenspektrometern beiträgt
GB/Z 32494-2016 Analyse der Oberfläche, chemische Analyse, Auger-Elektronenspektroskopie, Interpretation chemischer Informationen
GB/T 28893-2012 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Methoden zur Bestimmung von Peakintensitäten und Informationen, die für die Ergebnisberichterstattung erforderlich sind
GB/T 29558-2013 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie. Wiederholbarkeit und Konstanz der Intensitätsskala
GB/T 25187-2010 Chemische Oberflächenanalyse.Auger-Elektronenspektroskopie.Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
GB/T 30702-2014 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
GB/T 29556-2013 Chemische Oberflächenanalyse. Schneckenelektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Bestimmung der lateralen Auflösung, des Analysebereichs und des vom Analysator betrachteten Probenbereichs
GB/T 29732-2013 Chemische Oberflächenanalyse. Mittelauflösende Auger-Elektronenspektrometer. Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
GB/T 29731-2013 Chemische Oberflächenanalyse. Hochauflösende Auger-Elektronenspektrometer. Kalibrierung von Energieskalen für die Elementar- und chemische Zustandsanalyse
GB/T 11446.6-1997 Testmethode für SiO2 in elektronischem Wasser mittels Spektrophotometer
GB/T 11446.6-2013 Testmethode für Si0 in elektronischem Wasser mittels Spektrophotometer
GB/T 15651.6-2023 Halbleiterbauelemente Teil 5-6: Optoelektronische Bauelemente, lichtemittierende Dioden
GB/T 29851-2013 Testmethode zur Messung von Bor und Aluminium in Siliziummaterialien für Photovoltaikanwendungen mittels Sekundärionen-Massenspektrometrie
GB/T 29852-2013 Testmethode zur Messung von Phosphor, Arsen und Antimon in Siliziummaterialien für Photovoltaikanwendungen mittels Sekundärionen-Massenspektrometrie
GB/T 36359-2018 Optoelektronische Halbleiterbauelemente. Blanko-Detailspezifikation für Leuchtdioden mit geringerer Leistung
GB/T 36360-2018 Optoelektronische Halbleiterbauelemente. Blanko-Detailspezifikation für Leuchtdioden mittlerer Leistung
GB/T 18904.5-2003 Halbleiterbauelemente Teil 12-5: Optoelektronische Bauelemente Vordruck für Detailspezifikationen für Pin-Fotodioden mit/ohne Pigtail für faseroptische Systeme oder Subsysteme
GB/T 4324.8-2008 Methoden zur chemischen Analyse von Wolfram. Bestimmung des Nickelgehalts. Atomemissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma, Flammenatomabsorptionsspektrometrie und Dimethylglyoxim-Gravimetrie

British Standards Institution (BSI), Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

BS ISO 21270:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearität der Intensitätsskala
BS ISO 18516:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Bestimmung der lateralen Auflösung
BS PD ISO/TR 18394:2016 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie. Ableitung chemischer Informationen
BS ISO 21270:2004 Chemische Oberflächenanalyse. Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer. Linearität der Intensitätsskala
BS ISO 17109:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie zur Sputtertiefenprofilierung unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen Dünnfilmen
BS ISO 17109:2022 Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, der Auger-Elektronenspektroskopie und der Sekundärionen-Massenspektrometrie. Sputter-Dept-Profiling unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen dünnen…
21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1. Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, der Auger-Elektronenspektroskopie und der Sekundärionen-Massenspektrometrie. Sputtertiefenprofilierung mithilfe von Einzel- und…
PD ISO/TR 18394:2016 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie. Ableitung chemischer Informationen
BS ISO 15471:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
BS ISO 24236:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Wiederholbarkeit und Konstanz der Intensitätsskala
BS ISO 29081:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Berichterstattung über Methoden zur Ladungskontrolle und Ladungskorrektur
BS ISO 16242:2011 Chemische Oberflächenanalyse. Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie (AES)
BS ISO 15471:2016 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie. Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
BS ISO 18118:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
BS ISO 20903:2019 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Methoden zur Bestimmung von Spitzenintensitäten und erforderliche Informationen für die Ergebnisberichterstattung
BS ISO 18118:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
23/30461294 DC BS ISO 18118. Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
BS ISO 20903:2011 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Methoden zur Bestimmung von Spitzenintensitäten und erforderliche Informationen für die Ergebnisberichterstattung
BS ISO 17973:2016 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektrometer mittlerer Auflösung. Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
BS EN 62660-1:2011 Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge. Leistungstest
BS EN IEC 62660-3:2022 Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge – Sicherheitsanforderungen
PD ISO/IEC PAS 16898:2012 Elektrisch angetriebene Straßenfahrzeuge. Abmessungen und Bezeichnung sekundärer Lithium-Ionen-Zellen
BS EN IEC 62660-1:2019 Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge. Leistungstest
BS EN IEC 62485-6:2021 Sicherheitsanforderungen für Sekundärbatterien und Batterieanlagen. Sicherer Betrieb stationärer Lithium-Ionen-Batterien
BS EN 62660-2:2011 Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge. Zuverlässigkeits- und Missbrauchstests
BS EN 120005:1986 Spezifikation für ein harmonisiertes System zur Qualitätsbewertung elektronischer Komponenten – Vordruck für Bauartspezifikation – Fotodioden, Fotodioden-Arrays (nicht für Glasfaseranwendungen vorgesehen)
BS EN IEC 62660-2:2019 Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge. Zuverlässigkeits- und Missbrauchstests
BS EN 62384:2006 Gleich- oder wechselstromversorgte elektronische Vorschaltgeräte für LED-Module – Leistungsanforderungen
BS EN IEC 62485-5:2021 Sicherheitsanforderungen für Sekundärbatterien und Batterieanlagen. Sicherer Betrieb stationärer Lithium-Ionen-Batterien
16/30350629 DC BS EN 62485-6. Sicherheitsanforderungen für Sekundärbatterien und Batterieanlagen. Teil 6. Lithium-Ionen-Batterien für Traktionsanwendungen
16/30350625 DC BS EN 62485-5. Sicherheitsanforderungen für Sekundärbatterien und Batterieanlagen. Teil 5. Lithium-Ionen-Batterien für stationäre Anwendungen
BS EN 120005:1993 Spezifikation für ein harmonisiertes System zur Qualitätsbewertung elektronischer Komponenten. Leere Detailspezifikation. Fotodioden, Fotodioden-Arrays (nicht für Glasfaseranwendungen vorgesehen)
PD IEC TS 63109:2022 Photovoltaik (PV)-Module und -Zellen. Messung des Diodenidealitätsfaktors durch quantitative Analyse von Elektrolumineszenzbildern
BS EN 62384:2006+A1:2009 Gleich- oder wechselstromversorgte elektronische Vorschaltgeräte für LED-Module – Leistungsanforderungen
BS IEC 60747-5-9:2019 Halbleiterbauelemente. Optoelektronische Geräte. Leuchtdioden. Testmethode der internen Quanteneffizienz basierend auf der temperaturabhängigen Elektrolumineszenz
BS IEC 62899-501-1:2019 Gedruckte Elektronik – Qualitätsbewertung. Fehlermodi und mechanische Tests. Flexible oder biegbare Primär- oder Sekundärzellen
18/30381790 DC BS EN 62485-5. Sicherheitsanforderungen für Sekundärbatterien und Batterieanlagen. Teil 5. Sicherer Betrieb stationärer Lithium-Ionen-Batterien
20/30396241 DC BS EN IEC 62660-3. Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge. Teil 3. Sicherheitsanforderungen
19/30397200 DC BS EN IEC 63218. Sekundärzellen und Batterien, die alkalische und andere nicht saure Elektrolyte enthalten. Sekundäre Lithium-Ionen-, Nickel-Cadmium- und Nickel-Metallhydrid-Zellen und -Batterien für tragbare Anwendungen. Hinweise zu Umweltaspekten
18/30384393 DC BS IEC 63218 Ed.1.0. Sekundärzellen und Batterien, die alkalische und andere nicht saure Elektrolyte enthalten. Sekundäre Lithium-Ionen-, Nickel-Cadmium- und Nickel-Metallhydrid-Zellen und -Batterien für tragbare Anwendungen. Hinweise zu Umweltaspekten

Professional Standard - Machinery, Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

JB/T 6976-1993 Auger-Elektronenspektroskopie-Elementidentifizierungsmethode

Professional Standard - Electron, Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

SJ/T 10458-1993 Standardhandbuch für den Umgang mit Proben in der Schneckenelektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie
SJ/T 10457-1993 Standardhandbuch für die Tiefenprofil-Schneckenelektronenspektroskopie
SJ 50033/112-1996 Scmiconductor optoelektronische Geräte. Detaillierte Spezifikation für Fotodioden vom Typ GD3251Y
SJ 50033/113-1996 Optoelektronische Halbleiterbauelemente. Detaillierte Spezifikation für Fotodioden vom Typ GD3252Y
SJ 20644.1-2001 Optoelektronische Halbleiterbauelemente Detailspezifikation für PIN-Fotodiode vom Typ GD3550Y
SJ 20644.2-2001 Optoelektronische Halbleiterbauelemente Detailspezifikation für PIN-Fotodiode vom Typ GD101
SJ 2354.13-1983 Methode zur Messung des Multiplikationsfaktors von PIN- und Avalanche-Fotodioden
SJ 2354.10-1983 Methode zur Messung des Kreuzlichtfaktors der PIN- und Avalanche-Photodioden-Matrix
SJ/T 10898-1996 Spektrophotometrische Analyse von Eisenoxid und Titandioxid in elektronischem Glas
SJ 50033/136-1997 Optoelektronische Halbleiterbauelemente. Detailspezifikation für rote Leuchtdiode für Typ GF116
SJ 50033/143-1999 Optoelektronische Halbleiterbauelemente. Detaillierte Spezifikation für die rot emittierende Diode vom Typ GF1120
SJ 50033/137-1997 Optoelektronische Halbleiterbauelemente. Detailspezifikation für orange-rote Leuchtdiode für Typ GF216
SJ 50033/139-1998 Optoelektronische Halbleiterbauelemente. Detailspezifikation für grüne Leuchtdiode für Typ GF4111
SJ 50033/138-1998 Optoelektronische Halbleiterbauelemente. Detailspezifikation für gelbe Leuchtdiode für Typ GF318
SJ 50033/58-1995 Optoelektronisches Halbleiterbauelement Detailspezifikation für grüne Leuchtdiode für Typ GF413
SJ/T 11393-2009 Optoelektronische Halbleiterbauelemente – Blanko-Detailspezifikation für Leistungsleuchtdioden
SJ 50033/142-1999 Optoelektronische Halbleiterbauelemente. Detaillierte Spezifikation für die grün emittierende Diode vom Typ GF4112
SJ 50033/57-1995 Optoelektronisches Halbleiterbauelement Detailspezifikation für rote Leuchtdiode für Typ GF115
SJ/T 11400-2009 Optoelektronische Halbleiterbauelemente – Blanko-Detailspezifikation für Leuchtdioden mit geringerer Leistung
SJ/T 11866-2022 Optoelektronische Halbleiterbauelemente – Detaillierte Spezifikationen für Weißlicht-Leuchtdioden mit Siliziumsubstrat
SJ 50033/99-1995 Optoelektronische Halbleiterbauelemente. Detailspezifikation für O/G-Doppelfarb-Leuchtdiode für Typ GF511
SJ/T 11817-2022 Detaillierte Blankospezifikation für Leuchtdioden für optoelektronische Halbleitergeräte und Glühlampen
SJ 50033/110-1996 Optoelektronische Halbleiterbauelemente. Detaillierte Spezifikation für die Infrarot-Leuchtdiode vom Typ GR9413
SJ 53930/1-2002 Optoelektronische Halbleiterbauelemente Detailspezifikation für die Infrarot-Emissionsdiode vom Typ GR8813
SJ/T 10553-2021 Methode zur emissionsspektrometrischen Analyse von Verunreinigungen in ZrO2 zur Verwendung in Elektronenkeramiken
SJ/T 10552-2021 Methode zur emissionsspektrometrischen Analyse von Verunreinigungen in TiO2 zur Verwendung in Elektronenkeramiken
SJ/T 10552-1994 Methode zur emissionsspektrochemischen Analyse von Verunreinigungen in TiO2 zur Verwendung in Elektronenkeramiken
SJ/T 10553-1994 Methode zur emissionsspektrochemischen Analyse von Verunreinigungen in ZrO2 zur Verwendung in Elektronenkeramiken
SJ 50033/109-1996 Optoelektronische Halbleitergeräte. Detaillierte Spezifikation für die Halbleiterlaserdioden der Typen GJ9031T und GJ9032T sowie GJ9034T
SJ/T 10947-1996 Detaillierte Spezifikationen für elektronische Komponenten – grüne Halbleiter-Leuchtdioden FG341052 und FG343053
SJ/T 10551-1994 Methode zur emissionsspektrochemischen Analyse von Verunreinigungen in AL203 zur Verwendung in Elektronenkeramiken
SJ/T 10551-2021 Die Messung der Emissionsspektrumanalyse für Aluminiumoxid, das in elektronischen Keramiken verwendet wird

International Organization for Standardization (ISO), Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

ISO 18516:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Bestimmung der lateralen Auflösung
ISO 21270:2004 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearität der Intensitätsskala
ISO/TR 18394:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Ableitung chemischer Informationen
ISO 17109:2022 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie-Sputtertiefe S
ISO 17109:2015 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie zur Sputtertiefenprofilierung unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen Dünnfilmen
ISO/TR 18394:2016 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Ableitung chemischer Informationen
ISO 20903:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Methoden zur Bestimmung von Peakintensitäten und Informationen, die für die Ergebnisberichterstattung erforderlich sind
ISO 15471:2004 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
ISO 15471:2016 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
ISO 29081:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Berichterstattung über Methoden zur Ladungskontrolle und Ladungskorrektur
ISO 18118:2004 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
ISO 18118:2015 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
ISO 20903:2019 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Methoden zur Bestimmung von Peakintensitäten und Informationen, die für die Ergebnisberichterstattung erforderlich sind
ISO 16242:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie (AES)
ISO/DIS 18118:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
ISO/FDIS 18118:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
ISO/TR 19319:2003 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Bestimmung der lateralen Auflösung, des Analysebereichs und des vom Analysator betrachteten Probenbereichs
ISO/DIS 17973:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektrometer mittlerer Auflösung – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
ISO/PAS 16898:2012 Elektrisch angetriebene Straßenfahrzeuge – Abmessungen und Bezeichnung sekundärer Lithium-Ionen-Zellen
ISO/CD 17973 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektrometer mittlerer Auflösung – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

KS D ISO 21270:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearität der Intensitätsskala
KS D ISO 21270-2005(2020) Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearität der Intensitätsskala
KS D ISO 15471:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
KS D ISO 18118:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
KS D ISO 17973-2011(2021) Chemische Oberflächenanalyse – mittelauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
KS D ISO 18118-2005(2020) Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse von h
KS D ISO 19319-2005(2020) Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Bestimmung der lateralen Auflösung, des Analysebereichs und des vom Analysator betrachteten Probenbereichs
KS D ISO 15471-2005(2020) Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
KS D ISO 19319:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Bestimmung der lateralen Auflösung, des Analysebereichs und des vom Analysator betrachteten Probenbereichs
KS D ISO 17974-2011(2021) Chemische Oberflächenanalyse – Hochauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementar- und chemische Zustandsanalyse
KS D ISO 17973-2011(2016) Chemische Oberflächenanalyse – mittelauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
KS C ISO/IEC PAS 16898:2019 Elektrisch angetriebene Straßenfahrzeuge – Abmessungen und Bezeichnung sekundärer Lithium-Ionen-Zellen
KS D ISO 17974-2011(2016) Chemische Oberflächenanalyse – Hochauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementar- und chemische Zustandsanalyse
KS C IEC 62660-3-2017(2022) Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge – Teil 3: Sicherheitsanforderungen
KS C IEC 62485-5:2022 Sicherheitsanforderungen für Sekundärbatterien und Batterieanlagen – Teil 5: Sicherer Betrieb stationärer Lithium-Ionen-Batterien
KS R 1204-2019 Sekundäre Lithium-Ionen-Traktionsbatteriepakete und -systeme für Elektrobusse – Leistungsanforderungen und Testmethoden
KS C ISO 5828-2016(2021) Widerstandsschweißgeräte – Sekundäre Verbindungskabel mit Anschlüssen, die an wassergekühlte Kabelschuhe angeschlossen sind – Abmessungen und Eigenschaften
KS C IEC 62384:2011 Gleich- oder wechselstromversorgtes elektronisches Vorschaltgerät für LED-Module – Leistungsanforderungen
KS C IEC 62485-6:2022 Sicherheitsanforderungen für Sekundärbatterien und Batterieanlagen – Teil 6: Sicherer Betrieb von Lithium-Ionen-Batterien in Traktionsanwendungen

未注明发布机构, Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

BS ISO 18516:2006(2010) Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Bestimmung der lateralen Auflösung
BS ISO 21270:2004(2010) Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearität der Intensitätsskala
DIN ISO 16242 E:2019-10 Chemische Oberflächenanalyse – Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie (AES)
BS ISO 17974:2002(2010) Chemische Oberflächenanalyse – Hochauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementar- und chemische Zustandsanalyse
BS EN IEC 62485-5:2021(2022) Sicherheitsanforderungen für Sekundärbatterien und Batterieanlagen Teil 5: Sicherer Betrieb stationärer Lithium-Ionen-Batterien
BS EN 120008:1995(2000) Spezifikation für das Harmonisierte System zur Qualitätsbewertung elektronischer Komponenten – Vordruck für Bauartspezifikation – Leuchtdioden und Infrarotdioden für faseroptische Systeme oder Teilsysteme
BS EN 120006:1993(1999) Spezifikation für das Harmonisierte System zur Qualitätsbewertung elektronischer Komponenten – Vordruck für Bauartspezifikation – Pin-Fotodioden für faseroptische Anwendungen

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

GB/T 41064-2021 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie zur Sputtertiefenprofilierung unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen Dünnfilmen
GB/T 36504-2018 Leitfaden zur Analyse der Oberflächenverunreinigung von Leiterplatten – Auger-Elektronenspektroskopie
GB/T 36533-2018 Bestimmung des chemischen Zustands von Mikroeisen in Silikat – Auger-Elektronenspektroskopie
GB/T 29732-2021 Chemische Oberflächenanalyse – Schneckenelektronenspektrometer mittlerer Auflösung – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
GB/T 36358-2018 Optoelektronische Halbleiterbauelemente – Blanko-Detailspezifikation für Leistungsleuchtdioden

Association Francaise de Normalisation, Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

NF X21-068*NF ISO 29081:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Berichterstattung über Methoden zur Ladungskontrolle und Ladungskorrektur
NF ISO 16242:2012 Chemische Analyse von Oberflächen – Auger-Elektronenspektroskopie (AES) Datenprotokollierung und Berichterstattung
NF X21-059*NF ISO 24236:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Wiederholbarkeit und Konstanz der Intensitätsskala.
NF X21-072*NF ISO 16242:2012 Chemische Oberflächenanalyse – Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie (AES).
NF ISO 24236:2006 Chemische Analyse von Oberflächen – Auger-Elektronenspektroskopie – Wiederholbarkeit und Konstanz der Energieskala
NF X21-058:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Methoden zur Bestimmung von Peakintensitäten und Informationen, die für die Ergebnisberichterstattung erforderlich sind.
NF ISO 29081:2010 Chemische Analyse von Oberflächen – Auger-Elektronenspektroskopie – Angabe der Methoden zur Kontrolle und Korrektur der Ladung
NF ISO 17973:2006 Chemische Analyse von Oberflächen – Auger-Elektronenspektrometer mittlerer Auflösung – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
NF X21-067*NF ISO 17974:2009 Chemische Oberflächenanalyse – Hochauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementar- und chemische Zustandsanalyse.
NF C58-985-1*NF EN IEC 62660-1:2019 Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge – Teil 1: Leistungsprüfung
NF C58-985-3*NF EN 62660-3:2017 Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge – Teil 3: Sicherheitsanforderungen
NF C58-985-3*NF EN IEC 62660-3:2022 Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge – Teil 3: Sicherheitsanforderungen
NF ISO 17974:2009 Chemische Analyse von Oberflächen – Hochauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementar- und chemische Zustandsanalyse
NF C58-485-5*NF EN IEC 62485-5:2021 Sicherheitsanforderungen für Sekundärbatterien und Batterieanlagen – Teil 5: Sicherer Betrieb stationärer Lithium-Ionen-Batterien
NF C58-985-2*NF EN IEC 62660-2:2019 Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge – Teil 2: Zuverlässigkeits- und Missbrauchstests
NF C71-305*NF EN 62384:2006 Gleich- oder wechselstromversorgte elektronische Vorschaltgeräte für LED-Module – Leistungsanforderungen.
NF C58-485-6*NF EN IEC 62485-6:2021 Sicherheitsanforderungen für Sekundärbatterien und Batterieanlagen – Teil 6: Sicherer Betrieb von Lithium-Ionen-Batterien in Traktionsanwendungen
NF C86-505:1986 Halbleiterbauelemente. Harmonisiertes System zur Qualitätsbewertung elektronischer Komponenten. Fotodioden. Fotodioden-Arrays. Blanko-Bauartspezifikation CECC 20 005.
NF C86-502:1983 Harmonisiertes System zur Qualitätsbewertung elektronischer Komponenten. Leere Detailspezifikation. Infrarot-Emissionsdioden, Infrarot-Emissionsdioden-Arrays.

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

DB37/T 2393-2013 Sekundärer Lithium-Ionen-Batterieelektrolyt
DB37/T 1943-2011 Allgemeine technische Anforderungen für Lithium-Ionen-Sekundärbatteriezellen

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

JIS K 0161:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
JIS K 0167:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
JIS C 8714:2007 Sicherheitstests für tragbare Lithium-Ionen-Sekundärzellen und -Batterien zur Verwendung in tragbaren elektronischen Anwendungen

CZ-CSN, Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

CSN 36 7003-1985 Elektronische Geräte, sekundäre Stromversorgungssysteme, Klassifizierung

German Institute for Standardization, Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

DIN ISO 16242:2020-05 Chemische Oberflächenanalyse – Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie (AES) (ISO 16242:2011); Text auf Englisch
DIN ISO 16242:2020 Chemische Oberflächenanalyse – Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie (AES) (ISO 16242:2011); Text auf Englisch
DIN V VDE V 0510-11:2008 Sicherheitsanforderungen für Sekundärbatterien und Batterieanlagen – Teil 11: Sicherheitsanforderungen für Sekundär-Lithiumbatterien für Hybridfahrzeuge und mobile Anwendungen
DIN EN ISO 10685-1:2012-03 Augenoptik - Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillengestellen und Sonnenbrillen - Teil 1: Produktidentifizierung und Produkthierarchie im elektronischen Katalog (ISO 10685-1:2011); Deutsche Fassung EN ISO 10685-1:2011
DIN EN 61262-5:1995 Medizinische elektrische Geräte – Eigenschaften elektrooptischer Röntgenbildverstärker – Teil 5: Bestimmung der detektiven Quanteneffizienz (IEC 61262-5:1994); Deutsche Fassung EN 61262-5:1994
DIN EN 62384:2007 Gleich- oder wechselstromversorgte elektronische Vorschaltgeräte für LED-Module – Leistungsanforderungen (IEC 62384:2006); Deutsche Fassung EN 62384:2006
DIN EN ISO 5828:2001-12 Widerstandsschweißgeräte – Sekundäre Verbindungskabel mit Anschlüssen, die an wassergekühlte Kabelschuhe angeschlossen sind – Abmessungen und Eigenschaften (ISO 5828:2001); Deutsche Fassung EN ISO 5828:2001
DIN EN 62384:2010 Gleich- oder wechselstromversorgte elektronische Vorschaltgeräte für LED-Module – Leistungsanforderungen (IEC 62384:2006 + A1:2009); Deutsche Fassung EN 62384:2006 + A1:2009

Standard Association of Australia （SAA）, Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

AS ISO 18118:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
AS ISO 17974:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Hochauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementar- und chemische Zustandsanalyse
HB 179-2003 ISO/TR 12037 Elektronische Bildgebung – Empfehlungen für die Löschung von Informationen, die auf einmal beschreibbaren optischen Medien aufgezeichnet sind

Danish Standards Foundation, Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

DS/ISO/IEC PAS 16898:2013 Elektrisch angetriebene Straßenfahrzeuge – Abmessungen und Bezeichnung sekundärer Lithium-Ionen-Zellen
DS/EN 62660-1:2011 Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge – Teil 1: Leistungsprüfung
DS/EN IEC 62485-5:2021 Sicherheitsanforderungen für Sekundärbatterien und Batterieanlagen – Teil 5: Sicherer Betrieb stationärer Lithium-Ionen-Batterien
DS/EN ISO 10685-1:2012 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillenfassungen und Sonnenbrillen – Teil 1: Produktidentifizierung und Produkthierarchie im elektronischen Katalog
DS/EN ISO 5828:2001 Widerstandsschweißgeräte - Sekundäre Verbindungskabel mit Anschlüssen, die an wassergekühlte Kabelschuhe angeschlossen sind - Abmessungen und Eigenschaften
DS/EN IEC 62485-6:2021 Sicherheitsanforderungen für Sekundärbatterien und Batterieanlagen – Teil 6: Sicherer Betrieb von Lithium-Ionen-Batterien in Traktionsanwendungen
DS/EN 62660-2:2011 Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge – Teil 2: Zuverlässigkeits- und Missbrauchstests

KR-KS, Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

KS C ISO/IEC PAS 16898-2019 Elektrisch angetriebene Straßenfahrzeuge – Abmessungen und Bezeichnung sekundärer Lithium-Ionen-Zellen
KS C IEC 62660-3-2023 Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge – Teil 3: Sicherheitsanforderungen
KS C IEC 62485-5-2022 Sicherheitsanforderungen für Sekundärbatterien und Batterieanlagen – Teil 5: Sicherer Betrieb stationärer Lithium-Ionen-Batterien
KS C ISO 5828-2016 Widerstandsschweißgeräte – Sekundäre Verbindungskabel mit Anschlüssen, die an wassergekühlte Kabelschuhe angeschlossen sind – Abmessungen und Eigenschaften
KS C IEC 62485-6-2022 Sicherheitsanforderungen für Sekundärbatterien und Batterieanlagen – Teil 6: Sicherer Betrieb von Lithium-Ionen-Batterien in Traktionsanwendungen

International Electrotechnical Commission (IEC), Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

ISO/IEC 16898:2012 Elektrisch angetriebene Straßenfahrzeuge – Abmessungen und Bezeichnung sekundärer Lithium-Ionen-Zellen
IEC 62660-3:2022 Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge – Teil 3: Sicherheitsanforderungen
IEC 62660-3:2022 RLV Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge – Teil 3: Sicherheitsanforderungen
IEC 62660-1:2018 RLV Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge – Teil 1: Leistungsprüfung
IEC 60747-5-8:2019 Halbleiterbauelemente – Teil 5-8: Optoelektronische Bauelemente – Leuchtdioden – Prüfverfahren für optoelektronische Wirkungsgrade von Leuchtdioden
IEC 60747-5-6:2021 RLV Halbleiterbauelemente – Teil 5-6: Optoelektronische Bauelemente – Leuchtdioden
IEC 62485-5:2020 Sicherheitsanforderungen für Sekundärbatterien und Batterieanlagen – Teil 5: Sicherer Betrieb stationärer Lithium-Ionen-Batterien
IEC 62660-2:2018 RLV Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge – Teil 2: Zuverlässigkeits- und Missbrauchstests
IEC 60747-5-9:2019 Halbleiterbauelemente – Teil 5-9: Optoelektronische Bauelemente – Leuchtdioden – Prüfverfahren der internen Quanteneffizienz basierend auf der temperaturabhängigen Elektrolumineszenz
IEC 60747-5-11:2019 Halbleiterbauelemente – Teil 5-11: Optoelektronische Bauelemente – Leuchtdioden – Prüfverfahren für strahlende und nichtstrahlende Ströme von Leuchtdioden
IEC 60924/AMD1:1993 Gleichstromversorgte elektronische Vorschaltgeräte für röhrenförmige Leuchtstofflampen; allgemeine und Sicherheitsanforderungen; Änderung 1
IEC 62384:2006 Gleich- oder wechselstromversorgte elektronische Vorschaltgeräte für LED-Module – Leistungsanforderungen
IEC 60747-5-16:2023 Halbleiterbauelemente – Teil 5-16: Optoelektronische Bauelemente – Leuchtdioden – Prüfverfahren der Flachbandspannung von GaN-basierten Leuchtdioden basierend auf der Photostromspektroskopie
IEC 62485-5:2020/COR1:2022 Berichtigung 1 – Sicherheitsanforderungen für Sekundärbatterien und Batterieanlagen – Teil 5: Sicherer Betrieb stationärer Lithium-Ionen-Batterien
IEC 62485-6:2021 Sicherheitsanforderungen für Sekundärbatterien und Batterieanlagen – Teil 6: Sicherer Betrieb von Lithium-Ionen-Batterien in Traktionsanwendungen
IEC 60747-12-6:1997 Halbleiterbauelemente – Teil 12-6: Optoelektronische Bauelemente – Blankobauartspezifikation für Avalanche-Fotodioden mit/ohne Pigtail, für faseroptische Systeme oder Subsysteme
IEC 60747-12-5:1997 Halbleiterbauelemente – Teil 12-5: Optoelektronische Bauelemente – Blankobauartspezifikation für Pin-Fotodioden mit/ohne Pigtail für faseroptische Systeme oder Subsysteme
IEC 62384:2011 Gleich- oder wechselstromversorgte elektronische Vorschaltgeräte für LED-Module – Leistungsanforderungen
IEC 60747-5-15:2022 Halbleiterbauelemente – Teil 5-15: Optoelektronische Bauelemente – Leuchtdioden – Prüfverfahren der Flachbandspannung auf Basis der Elektroreflexionsspektroskopie
IEC 61262-5:1994 Medizinische elektrische Geräte – Eigenschaften elektrooptischer Röntgenbildverstärker – Teil 5: Bestimmung der detektiven Quanteneffizienz
IEC 62485-6:2021/COR1:2023 Berichtigung 1 – Sicherheitsanforderungen für Sekundärbatterien und Batterieanlagen – Teil 6: Sicherer Betrieb von Lithium-Ionen-Batterien in Traktionsanwendungen

Professional Standard - Agriculture, Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

776兽药典二部-2015 Anhang Inhalt 0400 Spektroskopie 0412 Atomemissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma
780兽药典一部-2015 Anhang Inhalt 0400 Spektroskopie 0411 Atomemissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma
781兽药典一部-2015 Anhang Inhalt 0400 Spektroskopie 0412 Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma
775兽药典二部-2015 Anhang Inhalt 0400 Spektroskopie 0411 Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma

GOSTR, Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

PNST 496-2020 Sekundärbatterien und Batterieanlagen. Sicherheitsanforderungen. Teil 6. Traktions-Lithium-Ionen-Batterien
GOST R 58152-2018 Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge. Teil 3. Sicherheitsanforderungen

Group Standards of the People's Republic of China, Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

T/CIAPS 0003-2018 Sicherheitsanforderungen für sekundäre Lithium-Ionen-Zellen und -Batterien für Energiespeicheranwendungen
T/CIAPS 0004-2018 Leistungsanforderungen an sekundäre Lithium-Ionen-Zellen und -Batterien für Energiespeicheranwendungen

工业和信息化部, Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

SJ/T 11672-2017 Technische Spezifikationen für sekundäre Rohrleitungen und Verkabelungen elektronischer Industrieproduktionsanlagen
YS/T 1342.3-2019 Methoden zur chemischen Analyse von Sekundärbatterieabfällen Teil 3: Bestimmung des Mangangehalts durch potentiometrische Titration und Flammen-Atomabsorptionsspektrometrie
YS/T 1342.2-2019 Methoden zur chemischen Analyse von Sekundärbatterieabfällen Teil 2: Bestimmung des Kobaltgehalts durch potentiometrische Titration und Flammen-Atomabsorptionsspektrometrie
YS/T 1342.4-2019 Methoden zur chemischen Analyse von Sekundärbatterieabfällen Teil 4: Bestimmung des Lithiumgehalts Flammen-Atomabsorptionsspektrometrie

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

EN 62660-3:2016 Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge – Teil 3: Sicherheitsanforderungen
EN IEC 62485-5:2021 Sicherheitsanforderungen für Sekundärbatterien und Batterieanlagen – Teil 5: Sicherer Betrieb stationärer Lithium-Ionen-Batterien
EN IEC 62485-6:2021 Sicherheitsanforderungen für Sekundärbatterien und Batterieanlagen – Teil 6: Sicherer Betrieb von Lithium-Ionen-Batterien in Traktionsanwendungen

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

EN IEC 62660-1:2019 Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge – Teil 1: Leistungsprüfung

AENOR, Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

UNE-EN 62660-1:2011 Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge – Teil 1: Leistungsprüfung
UNE-EN 62660-2:2011 Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge – Teil 2: Zuverlässigkeits- und Missbrauchstests
UNE-EN ISO 10685-1:2012 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillenfassungen und Sonnenbrillen – Teil 1: Produktidentifizierung und Produkthierarchie im elektronischen Katalog (ISO 10685-1:2011)

Professional Standard - Commodity Inspection, Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

SN/T 2004.3-2005 Bestimmung von Chrom(VI) in Elektro- und Elektronikgeräten – Teil 3: Spektrophotometrische Methode mit 1,5-Diphenylcarbohydrazid

RU-GOST R, Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

GOST R ISO 16242-2016 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Chemische Oberflächenanalyse. Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie (AES)
GOST R IEC 62384-2011 Elektronisches Vorschaltgerät, das aus Direkt- oder Alternativstromquellen für Leuchtdiodenmodule gespeist wird. Leistungsanforderungen
GOST R 59606-2021 Optik und Photonik. Fotodetektorgeräte der zweiten und nächsten Generation. Methoden zur Messung photoelektrischer Parameter und zur Bestimmung von Eigenschaften

ES-UNE, Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

UNE-EN IEC 62660-3:2022 Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge – Teil 3: Sicherheitsanforderungen (Genehmigt von der Asociación Española de Normalización im Mai 2022.)
UNE-EN ISO 9241-971:2022 Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge – Teil 3: Sicherheitsanforderungen (Genehmigt von der Asociación Española de Normalización im Mai 2022.)
UNE-EN IEC 62660-1:2019 Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge – Teil 1: Leistungstests (Bestätigt von der Asociación Española de Normalización im März 2019.)
UNE-EN 62660-3:2016 Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge – Teil 3: Sicherheitsanforderungen (Von der spanischen Normungsvereinigung im Januar 2017 gebilligt.)
UNE-EN IEC 62485-5:2021 Sicherheitsanforderungen für Sekundärbatterien und Batterieinstallationen – Teil 5: Sicherer Betrieb stationärer Lithium-Ionen-Batterien (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Februar 2021.)
UNE-EN IEC 62485-5:2021/AC:2022-07 Sicherheitsanforderungen für Sekundärbatterien und Batterieanlagen – Teil 5: Sicherer Betrieb stationärer Lithium-Ionen-Batterien (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im August 2022.)
UNE-EN IEC 62485-6:2021 Sicherheitsanforderungen für Sekundärbatterien und Batterieinstallationen – Teil 6: Sicherer Betrieb von Lithium-Ionen-Batterien in Traktionsanwendungen (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im März 2021.)
UNE-EN IEC 62660-2:2019 Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge – Teil 2: Zuverlässigkeits- und Missbrauchstests (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im März 2019.)

Canadian Standards Association (CSA), Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

CAN/CSA-E62660-1-2015 Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge – Teil 1: Leistungstests (Erste Ausgabe)

BR-ABNT, Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

ABNT NBR ISO 10685-1:2020 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillenfassungen und Sonnenbrillen, Teil 1: Produktidentifizierung und Produkthierarchie im elektronischen Katalog

Lithuanian Standards Office , Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

LST EN 62660-1-2011 Sekundäre Lithium-Ionen-Zellen für den Antrieb elektrischer Straßenfahrzeuge – Teil 1: Leistungsprüfung (IEC 62660-1:2010)
LST EN ISO 10685-1:2012 Augenoptik – Elektronischer Katalog und Identifizierung von Brillenfassungen und Sonnenbrillen – Teil 1: Produktidentifizierung und Produkthierarchie im elektronischen Katalog (ISO 10685-1:2011)
LST EN IEC 62485-5:2021 Sicherheitsanforderungen für Sekundärbatterien und Batterieanlagen – Teil 5: Sicherer Betrieb stationärer Lithium-Ionen-Batterien (IEC 62485-5:2020)

国家质量监督检验检疫总局, Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

SN/T 4758-2017 Bestimmung des Eisenoxid-, Siliziumdioxid- und Zirkoniumdioxidgehalts in Rutil mittels induktiv gekoppelter Plasma-Atomemissionsspektrometrie

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

YB/T 190.12-2014 Stranggussformpulver. Die Bestimmung des Bortrioxidgehalts. Das induktiv gekoppelte Plasma-Atomemissionsspektrometerverfahren
YB/T 4200-2009 Bestimmung des Vanadiumpentoxid-Schwefel-, Phosphor-, Arsen- und Eisengehalts mittels Atomemissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma
YB/T 4220-2010 Bestimmung des Vanadiumpentoxid-Kaliumoxid- und Natriumoxidgehalts durch Atomemissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma

PT-IPQ, Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

NP 3234-2-1987 Elektronische Originale. Elektrolumineszenzdioden. Elektrolumineszenzdiodenmatrix, detaillierte Spezifikationen

PL-PKN, Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

PN-EN IEC 62485-5-2021-08 E Sicherheitsanforderungen für Sekundärbatterien und Batterieanlagen – Teil 5: Sicherer Betrieb stationärer Lithium-Ionen-Batterien (IEC 62485-5:2020)

Professional Standard - Nuclear Industry, Auger-Elektronen, Optoelektronik, Sekundärelektronen

EJ/T 1106-2016 Bestimmung von Tantal, Thorium und Hafnium in Urandioxidpulvern und -pellets mittels Atomemissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma