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RUX-Diffraktometer-Einkristall
Für die X-Diffraktometer-Einkristall gibt es insgesamt 63 relevante Standards.
In der internationalen Standardklassifizierung umfasst X-Diffraktometer-Einkristall die folgenden Kategorien: erziehen, Optik und optische Messungen, Zerstörungsfreie Prüfung, Prüfung von Metallmaterialien, Chemikalien, Metallproduktion, analytische Chemie, Plastik, Strahlenschutz, Keramik, Anorganische Chemie, Wortschatz, Rohrteile und Rohre, Arbeitssicherheit, Arbeitshygiene.
Professional Standard - Education, X-Diffraktometer-Einkristall
- JY/T 0588-2020 Allgemeine Regeln zur Bestimmung der Kristall- und Molekülstruktur kleiner molekularer Verbindungen durch Einkristall-Röntgenbeugung
- JY/T 008-1996 Allgemeine Regeln für die Bestimmung der Kristall- und Molekülstruktur kleiner molekularer Verbindungen mit einem Vierkreis-Einkristall-Röntgendiffraktometer
- JY/T 0587-2020 Allgemeine Prinzipien polykristalliner Röntgenbeugungsmethoden
- JY/T 009-1996 Allgemeine Prinzipien der Röntgenableitungsmethode für rotierende Target-Polykristalle
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, X-Diffraktometer-Einkristall
Professional Standard - Machinery, X-Diffraktometer-Einkristall
British Standards Institution (BSI), X-Diffraktometer-Einkristall
- BS EN 13925-3:2005(2009) Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Instrumente
- BS EN 13925-3:2005 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Instrumente
- BS EN 13925-2:2003(2008) Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Verfahren
- BS EN 13925-2:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Verfahren
- BS EN 13925-1:2003(2008) Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Allgemeine Grundsätze
- BS EN 13925-1:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Allgemeine Grundsätze
- BS ISO 22278:2020 Feinkeramik (Hochleistungskeramik, technische Hochleistungskeramik). Prüfverfahren für die kristalline Qualität einkristalliner Dünnfilme (Wafer) unter Verwendung der XRD-Methode mit parallelem Röntgenstrahl
- 20/30360821 DC BS ISO 22278. Feinkeramik (Hochleistungskeramik, Hochleistungskeramik). Prüfverfahren für die kristalline Qualität einkristalliner Dünnfilme (Wafer) unter Verwendung der XRD-Methode mit parallelem Röntgenstrahl
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, X-Diffraktometer-Einkristall
- GB/T 42676-2023 Röntgenbeugungsmethode zur Prüfung der Qualität von Halbleitereinkristallen
- GB 16355-1996 Strahlenschutznormen für Röntgenbeugungs- und Fluoreszenzanalysegeräte
- GB/T 30904-2014 Anorganische Chemikalien für den industriellen Einsatz. Kristallformanalyse. Röntgenbeugungsmethode
- GB/T 19421.1-2003 Testmethoden für kristallines schichtförmiges Natriumdisilikat – Qualitative Analyse von deltakristallinem schichtförmigem Natriumdisilikat – Methode des Röntgendiffraktometers
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), X-Diffraktometer-Einkristall
- JIS H 7805:2005 Methode zur Bestimmung der Kristallitgröße in Metallkatalysatoren mittels Röntgendiffraktometrie
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, X-Diffraktometer-Einkristall
- GB/T 37983-2019 Prüfverfahren der Röntgenbeugung zur Bestimmung der Orientierung von Kristallmaterialien durch Rotation
German Institute for Standardization, X-Diffraktometer-Einkristall
- DIN EN 13925-3:2005 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 3: Instrumente; Deutsche Fassung EN 13925-3:2005
- DIN EN 13925-3:2005-07 Zerstörungsfreie Prüfung - Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien - Teil 3: Instrumente; Deutsche Fassung EN 13925-3:2005
- DIN EN 13925-2:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinem und amorphem Material – Teil 2: Verfahren; Deutsche Fassung EN 13925-2:2003
- DIN EN 13925-1:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinem und amorphem Material – Teil 1: Allgemeine Grundsätze; Deutsche Fassung EN 13925-1:2003
- DIN EN 13925-2:2003-07 Zerstörungsfreie Prüfung - Röntgenbeugung an polykristallinem und amorphem Material - Teil 2: Verfahren; Deutsche Fassung EN 13925-2:2003
- DIN EN 13925-1:2003-07 Zerstörungsfreie Prüfung - Röntgenbeugung an polykristallinem und amorphem Material - Teil 1: Allgemeine Grundsätze; Deutsche Fassung EN 13925-1:2003
European Committee for Standardization (CEN), X-Diffraktometer-Einkristall
- EN 13925-3:2005 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 3: Instrumente
- EN 13925-2:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 2: Verfahren
Association Francaise de Normalisation, X-Diffraktometer-Einkristall
- NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 3: Instrumente.
- NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 2: Verfahren
- NF EN 1330-11:2007 Zerstörungsfreie Prüfung – Terminologie – Teil 11: Röntgenbeugung polykristalliner und amorpher Materialien
- NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinem und amorphem Material – Teil 1: Allgemeine Grundsätze.
- NF EN 13925-2:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 2: Verfahren
Danish Standards Foundation, X-Diffraktometer-Einkristall
- DS/EN 13925-3:2005 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 3: Instrumente
- DS/EN 13925-2:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 2: Verfahren
- DS/EN 13925-1:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinem und amorphem Material – Teil 1: Allgemeine Grundsätze
- DS/EN 1330-11:2007 Zerstörungsfreie Prüfung – Terminologie – Begriffe, die bei der Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien verwendet werden
Lithuanian Standards Office , X-Diffraktometer-Einkristall
- LST EN 13925-3-2005 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 3: Instrumente
- LST EN 13925-2-2004 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 2: Verfahren
- LST EN 13925-1-2004 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinem und amorphem Material – Teil 1: Allgemeine Grundsätze
- LST EN 1330-11-2007 Zerstörungsfreie Prüfung – Terminologie – Begriffe, die bei der Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien verwendet werden
AENOR, X-Diffraktometer-Einkristall
- UNE-EN 13925-3:2006 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 3: Instrumente
- UNE-EN 13925-2:2004 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 2: Verfahren
- UNE-EN 13925-1:2006 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinem und amorphem Material – Teil 1: Allgemeine Grundsätze
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, X-Diffraktometer-Einkristall
- JJF 1256-2010 Kalibrierungsspezifikation für Röntgeneinkristall-Ausrichtungsgeräte
工业和信息化部, X-Diffraktometer-Einkristall
- SH/T 1827-2019 Bestimmung der Kristallinität von Kunststoffen mittels Röntgenbeugungsmethode
- YB/T 5338-2019 Röntgendiffraktometer-Methode zur quantitativen Bestimmung von Austenit in Stahl
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, X-Diffraktometer-Einkristall
- GB/T 34612-2017 Messmethode für die Rocking-Kurve der Röntgendoppelkristallbeugung von Saphirkristallen
Professional Standard - Nuclear Industry, X-Diffraktometer-Einkristall
- EJ/T 553-1991 Bestimmung mineralischer Zellparameter Pulver-Röntgenbeugungsmethode
International Organization for Standardization (ISO), X-Diffraktometer-Einkristall
- ISO 22278:2020 Feinkeramik (Hochleistungskeramik, hochentwickelte technische Keramik) – Prüfverfahren für die kristalline Qualität einkristalliner Dünnschichten (Wafer) unter Verwendung der XRD-Methode mit parallelem Röntgenstrahl
Professional Standard - Energy, X-Diffraktometer-Einkristall
- NB/SH/T 6015-2020 Bestimmung der Elementarzellenparameter des ZSM-23-Molekularsiebs durch Röntgenbeugungsmethode
- NB/SH/T 6033-2021 Bestimmung der Elementarzellenparameter der ZSM-22-Molekularsieb-Röntgenbeugungsmethode
- NB/SH/T 6024-2021 Bestimmung der relativen Kristallinität des Molekularsiebs ZSM-5 mittels Röntgenbeugungsmethode
- NB/SH/T 0339-2021 Bestimmung der Elementarzellenparameter der Faujasit-Molekularsieb-Röntgenbeugungsmethode
Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, X-Diffraktometer-Einkristall
- DB35/T 1914-2020 Bestimmung des β-Kristallgehalts in Rohren und Formstücken aus β-kristallinem Polypropylen (Röntgenbeugungsmethode)
Occupational Health Standard of the People's Republic of China, X-Diffraktometer-Einkristall
- GBZ 115-2002 Radiologische Standards für Röntgenbeugungs- und Fluoreszenzanalysegeräte
Professional Standard - Non-ferrous Metal, X-Diffraktometer-Einkristall
- YS/T 785-2012 Bestimmung der relativen Kristallinität von Zeolith Natrium A durch Röntgenbeugung