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X-Diffraktometer-Einkristall

Für die X-Diffraktometer-Einkristall gibt es insgesamt 63 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst X-Diffraktometer-Einkristall die folgenden Kategorien: erziehen, Optik und optische Messungen, Zerstörungsfreie Prüfung, Prüfung von Metallmaterialien, Chemikalien, Metallproduktion, analytische Chemie, Plastik, Strahlenschutz, Keramik, Anorganische Chemie, Wortschatz, Rohrteile und Rohre, Arbeitssicherheit, Arbeitshygiene.


Professional Standard - Education, X-Diffraktometer-Einkristall

  • JY/T 0588-2020 Allgemeine Regeln zur Bestimmung der Kristall- und Molekülstruktur kleiner molekularer Verbindungen durch Einkristall-Röntgenbeugung
  • JY/T 008-1996 Allgemeine Regeln für die Bestimmung der Kristall- und Molekülstruktur kleiner molekularer Verbindungen mit einem Vierkreis-Einkristall-Röntgendiffraktometer
  • JY/T 0587-2020 Allgemeine Prinzipien polykristalliner Röntgenbeugungsmethoden
  • JY/T 009-1996 Allgemeine Prinzipien der Röntgenableitungsmethode für rotierende Target-Polykristalle

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, X-Diffraktometer-Einkristall

Professional Standard - Machinery, X-Diffraktometer-Einkristall

British Standards Institution (BSI), X-Diffraktometer-Einkristall

  • BS EN 13925-3:2005(2009) Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Instrumente
  • BS EN 13925-3:2005 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Instrumente
  • BS EN 13925-2:2003(2008) Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Verfahren
  • BS EN 13925-2:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Verfahren
  • BS EN 13925-1:2003(2008) Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Allgemeine Grundsätze
  • BS EN 13925-1:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Allgemeine Grundsätze
  • BS ISO 22278:2020 Feinkeramik (Hochleistungskeramik, technische Hochleistungskeramik). Prüfverfahren für die kristalline Qualität einkristalliner Dünnfilme (Wafer) unter Verwendung der XRD-Methode mit parallelem Röntgenstrahl
  • 20/30360821 DC BS ISO 22278. Feinkeramik (Hochleistungskeramik, Hochleistungskeramik). Prüfverfahren für die kristalline Qualität einkristalliner Dünnfilme (Wafer) unter Verwendung der XRD-Methode mit parallelem Röntgenstrahl

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, X-Diffraktometer-Einkristall

  • GB/T 42676-2023 Röntgenbeugungsmethode zur Prüfung der Qualität von Halbleitereinkristallen
  • GB 16355-1996 Strahlenschutznormen für Röntgenbeugungs- und Fluoreszenzanalysegeräte
  • GB/T 30904-2014 Anorganische Chemikalien für den industriellen Einsatz. Kristallformanalyse. Röntgenbeugungsmethode
  • GB/T 19421.1-2003 Testmethoden für kristallines schichtförmiges Natriumdisilikat – Qualitative Analyse von deltakristallinem schichtförmigem Natriumdisilikat – Methode des Röntgendiffraktometers

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), X-Diffraktometer-Einkristall

  • JIS H 7805:2005 Methode zur Bestimmung der Kristallitgröße in Metallkatalysatoren mittels Röntgendiffraktometrie

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, X-Diffraktometer-Einkristall

  • GB/T 37983-2019 Prüfverfahren der Röntgenbeugung zur Bestimmung der Orientierung von Kristallmaterialien durch Rotation

German Institute for Standardization, X-Diffraktometer-Einkristall

  • DIN EN 13925-3:2005 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 3: Instrumente; Deutsche Fassung EN 13925-3:2005
  • DIN EN 13925-3:2005-07 Zerstörungsfreie Prüfung - Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien - Teil 3: Instrumente; Deutsche Fassung EN 13925-3:2005
  • DIN EN 13925-2:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinem und amorphem Material – Teil 2: Verfahren; Deutsche Fassung EN 13925-2:2003
  • DIN EN 13925-1:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinem und amorphem Material – Teil 1: Allgemeine Grundsätze; Deutsche Fassung EN 13925-1:2003
  • DIN EN 13925-2:2003-07 Zerstörungsfreie Prüfung - Röntgenbeugung an polykristallinem und amorphem Material - Teil 2: Verfahren; Deutsche Fassung EN 13925-2:2003
  • DIN EN 13925-1:2003-07 Zerstörungsfreie Prüfung - Röntgenbeugung an polykristallinem und amorphem Material - Teil 1: Allgemeine Grundsätze; Deutsche Fassung EN 13925-1:2003

European Committee for Standardization (CEN), X-Diffraktometer-Einkristall

  • EN 13925-3:2005 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 3: Instrumente
  • EN 13925-2:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 2: Verfahren

Association Francaise de Normalisation, X-Diffraktometer-Einkristall

  • NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 3: Instrumente.
  • NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 2: Verfahren
  • NF EN 1330-11:2007 Zerstörungsfreie Prüfung – Terminologie – Teil 11: Röntgenbeugung polykristalliner und amorpher Materialien
  • NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinem und amorphem Material – Teil 1: Allgemeine Grundsätze.
  • NF EN 13925-2:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 2: Verfahren

Danish Standards Foundation, X-Diffraktometer-Einkristall

  • DS/EN 13925-3:2005 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 3: Instrumente
  • DS/EN 13925-2:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 2: Verfahren
  • DS/EN 13925-1:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinem und amorphem Material – Teil 1: Allgemeine Grundsätze
  • DS/EN 1330-11:2007 Zerstörungsfreie Prüfung – Terminologie – Begriffe, die bei der Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien verwendet werden

Lithuanian Standards Office , X-Diffraktometer-Einkristall

  • LST EN 13925-3-2005 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 3: Instrumente
  • LST EN 13925-2-2004 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 2: Verfahren
  • LST EN 13925-1-2004 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinem und amorphem Material – Teil 1: Allgemeine Grundsätze
  • LST EN 1330-11-2007 Zerstörungsfreie Prüfung – Terminologie – Begriffe, die bei der Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien verwendet werden

AENOR, X-Diffraktometer-Einkristall

  • UNE-EN 13925-3:2006 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 3: Instrumente
  • UNE-EN 13925-2:2004 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 2: Verfahren
  • UNE-EN 13925-1:2006 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinem und amorphem Material – Teil 1: Allgemeine Grundsätze

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, X-Diffraktometer-Einkristall

  • JJF 1256-2010 Kalibrierungsspezifikation für Röntgeneinkristall-Ausrichtungsgeräte

工业和信息化部, X-Diffraktometer-Einkristall

  • SH/T 1827-2019 Bestimmung der Kristallinität von Kunststoffen mittels Röntgenbeugungsmethode
  • YB/T 5338-2019 Röntgendiffraktometer-Methode zur quantitativen Bestimmung von Austenit in Stahl

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, X-Diffraktometer-Einkristall

  • GB/T 34612-2017 Messmethode für die Rocking-Kurve der Röntgendoppelkristallbeugung von Saphirkristallen

Professional Standard - Nuclear Industry, X-Diffraktometer-Einkristall

  • EJ/T 553-1991 Bestimmung mineralischer Zellparameter Pulver-Röntgenbeugungsmethode

International Organization for Standardization (ISO), X-Diffraktometer-Einkristall

  • ISO 22278:2020 Feinkeramik (Hochleistungskeramik, hochentwickelte technische Keramik) – Prüfverfahren für die kristalline Qualität einkristalliner Dünnschichten (Wafer) unter Verwendung der XRD-Methode mit parallelem Röntgenstrahl

Professional Standard - Energy, X-Diffraktometer-Einkristall

  • NB/SH/T 6015-2020 Bestimmung der Elementarzellenparameter des ZSM-23-Molekularsiebs durch Röntgenbeugungsmethode
  • NB/SH/T 6033-2021 Bestimmung der Elementarzellenparameter der ZSM-22-Molekularsieb-Röntgenbeugungsmethode
  • NB/SH/T 6024-2021 Bestimmung der relativen Kristallinität des Molekularsiebs ZSM-5 mittels Röntgenbeugungsmethode
  • NB/SH/T 0339-2021 Bestimmung der Elementarzellenparameter der Faujasit-Molekularsieb-Röntgenbeugungsmethode

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, X-Diffraktometer-Einkristall

  • DB35/T 1914-2020 Bestimmung des β-Kristallgehalts in Rohren und Formstücken aus β-kristallinem Polypropylen (Röntgenbeugungsmethode)

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, X-Diffraktometer-Einkristall

  • GBZ 115-2002 Radiologische Standards für Röntgenbeugungs- und Fluoreszenzanalysegeräte

Professional Standard - Non-ferrous Metal, X-Diffraktometer-Einkristall

  • YS/T 785-2012 Bestimmung der relativen Kristallinität von Zeolith Natrium A durch Röntgenbeugung




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