Rastersondenmikroskop und optisches Mikroskop

Für die Rastersondenmikroskop und optisches Mikroskop gibt es insgesamt 81 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Rastersondenmikroskop und optisches Mikroskop die folgenden Kategorien: Nichteisenmetalle, erziehen, analytische Chemie, Optik und optische Messungen, Wortschatz, Optische Ausrüstung, Längen- und Winkelmessungen, Luftqualität, Mechanischer Test, Zerstörungsfreie Prüfung, Thermodynamik und Temperaturmessung, Elektronische Anzeigegeräte, medizinische Ausrüstung, Kriminalprävention, Oberflächenbehandlung und Beschichtung.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Rastersondenmikroskop und optisches Mikroskop

KS D 2714-2016(2021) Rastersondenmikroskop – Methode für Querkraftmikroskop
KS D 2714-2016 Rastersondenmikroskop – Methode für Querkraftmikroskop
KS D 2714-2006 Rastersondenmikroskop-Methode für Querkraftmikroskope
KS D ISO 22493:2012 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
KS D 2713-2016 Bewertung der räumlichen Auflösung von NSOM (Near-field Scanning Optical Microscope)
KS D 2713-2016(2021) Bewertung der räumlichen Auflösung von NSOM (Near-field Scanning Optical Microscope)
KS B ISO 8038-1:2006 Optik und optische Instrumente – Mikroskope – Schraubgewinde für Objektive und zugehörige Objektivrevolver – Teil 1: Schraubgewindetyp RMS (4/5 Zoll × 1/36 Zoll)

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Rastersondenmikroskop und optisches Mikroskop

JJF 1351-2012 Kalibrierungsspezifikation für Rastersondenmikroskope

Professional Standard - Education, Rastersondenmikroskop und optisches Mikroskop

JY/T 0582-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der Rastersondenmikroskopie
JY/T 0586-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der konfokalen Laser-Scanning-Mikroskopie

International Organization for Standardization (ISO), Rastersondenmikroskop und optisches Mikroskop

ISO 27911:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Definition und Kalibrierung der lateralen Auflösung eines optischen Nahfeldmikroskops
ISO/WD TR 23683:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Leitfaden zur experimentellen Quantifizierung der Trägerkonzentration in Halbleiterbauelementen mithilfe der elektrischen Rastersondenmikroskopie
ISO 11039:2012 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Messung der Driftrate
ISO 18115-2:2021 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular – Teil 2: Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden
ISO 28600:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Datenübertragungsformat für die Rastersondenmikroskopie
ISO 22493:2008 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Vokabeln
ISO 21222:2020 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmodule für nachgiebige Materialien unter Verwendung des Rasterkraftmikroskops und der Zweipunkt-JKR-Methode
ISO 11775:2015 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung der Normalfederkonstanten des Cantilevers
ISO 18115-2:2010 Analysieren chemischer Oberflächen – Vokabeln – Teil 2: Termes utilisés en microscopie à sonde à balayage (Erstausgabe)
ISO 11952:2019 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung geometrischer Größen mittels SPM: Kalibrierung von Messsystemen
ISO 11952:2014 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung geometrischer Größen mittels SPM: Kalibrierung von Messsystemen
ISO 18115-2:2013 Chemische Oberflächenanalyse.Vokabular.Teil 2: Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden
ISO 8038-2:2001 Optik und optische Instrumente – Gewinde für Mikroskopobjektive und zugehörige Objektivrevolver – Teil 2: Gewindetyp M25 x 0,75 mm
ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
ISO 23729:2022 Chemische Oberflächenanalyse – Rasterkraftmikroskopie – Leitfaden für das Wiederherstellungsverfahren für Rasterkraftmikroskopbilder, die durch eine endliche Sondengröße erweitert wurden
ISO 8038-1:1997 Optik und optische Instrumente – Mikroskope – Schraubgewinde für Objektive und zugehörige Objektivrevolver – Teil 1: Schraubgewinde Typ RMS (4/5 Zoll×1/36 Zoll)
ISO 13083:2015 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Standards zur Definition und Kalibrierung der räumlichen Auflösung von elektrischen Rastersondenmikroskopen (ESPMs) wie SSRM und SCM für die 2D-Dotierstoff-Bildgebung und andere Zwecke

British Standards Institution (BSI), Rastersondenmikroskop und optisches Mikroskop

BS ISO 27911:2011 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Definition und Kalibrierung der lateralen Auflösung eines optischen Nahfeldmikroskops
BS ISO 18115-2:2013 Chemische Oberflächenanalyse. Wortschatz. Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden
BS ISO 28600:2011 Chemische Oberflächenanalyse. Datenübertragungsformat für die Rastersondenmikroskopie
BS ISO 18115-2:2021 Chemische Oberflächenanalyse. Wortschatz – Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden
BS ISO 11039:2012 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Messung der Driftrate
BS ISO 18115-2:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular – Begriffe aus der Rastersondenmikroskopie
BS ISO 11775:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Bestimmung der Normalfederkonstanten des Auslegers
BS ISO 21222:2020 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmoduli für nachgiebige Materialien mittels Rasterkraftmikroskop und der Zweipunkt-JKR-Methode
19/30351707 DC BS ISO 21222. Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmoduli für nachgiebige Materialien mittels Rasterkraftmikroskop und der Zweipunkt-JKR-Methode
BS ISO 11952:2019 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Bestimmung geometrischer Größen mittels SPM: Kalibrierung von Messsystemen
12/30265696 DC BS ISO 18115-2 AMD1. Chemische Oberflächenanalyse. Wortschatz. Teil 2. Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden
BS ISO 23729:2022 Chemische Oberflächenanalyse. Rasterkraftmikroskopie. Leitfaden für das Wiederherstellungsverfahren für Rasterkraftmikroskopbilder, die durch eine endliche Sondengröße erweitert wurden
BS ISO 10936-1:2017 Optik und Photonik. Operationsmikroskope. Anforderungen und Testmethoden
21/30412880 DC BS ISO 23729. Chemische Oberflächenanalyse. Rasterkraftmikroskopie. Leitfaden für das Wiederherstellungsverfahren für Rasterkraftmikroskopbilder, die durch eine endliche Sondengröße erweitert wurden
BS ISO 13083:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Standards zur Definition und Kalibrierung der räumlichen Auflösung von elektrischen Rastersondenmikroskopen (ESPMs) wie SSRM und SCM für die 2D-Dotierstoff-Bildgebung und andere Zwecke

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Rastersondenmikroskop und optisches Mikroskop

GB/T 42659-2023 Oberflächenchemische Analyse Rastersondenmikroskopie Bestimmung geometrischer Größen mittels Rastersondenmikroskopie: Messsystemkalibrierung
GB/T 29190-2012 Messmethoden der Driftrate des Rastersondenmikroskops
GB/T 22461.2-2023 Glossar der chemischen Oberflächenanalyse Teil 2: Rastersondenmikroskopie-Terminologie
GB/T 17361-2013 Mikrostrahlanalyse. Identifizierung authentischer Tonminerale in Sedimentgesteinen mittels Rasterelektronenmikroskop und energiedispersivem Spektrometer
GB/T 42543-2023 Bestimmung der normalen elastischen Konstante eines Auslegerbalkens durch oberflächenchemische Analyse, Rastersondenmikroskopie

Professional Standard - Commodity Inspection, Rastersondenmikroskop und optisches Mikroskop

SN/T 4388-2015 Lederidentifizierung. Rasterelektronenmikroskopie und optische Mikroskopie

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Rastersondenmikroskop und optisches Mikroskop

GB/T 36052-2018 Chemische Oberflächenanalyse – Datenübertragungsformat für die Rastersondenmikroskopie

Group Standards of the People's Republic of China, Rastersondenmikroskop und optisches Mikroskop

T/SPSTS 032-2023 Allgemeine Spezifikationen für die elektrochemische Rastermikroskopie
T/QGCML 1940-2023 Rasterelektronenmikroskop-In-situ-Hochtemperatur-Mechanikprüfgerät

American Society for Testing and Materials (ASTM), Rastersondenmikroskop und optisches Mikroskop

ASTM E2382-04 Leitfaden zu Scanner- und Spitzenartefakten in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
ASTM E2382-04(2012) Standardhandbuch für Scanner- und Spitzenartefakte in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
ASTM E1813-96e1 Standardpraxis zum Messen und Berichten der Sondenspitzenform in der Rastersondenmikroskopie
ASTM E1813-96(2002) Standardpraxis zum Messen und Berichten der Sondenspitzenform in der Rastersondenmikroskopie
ASTM E1813-96(2007) Standardpraxis zum Messen und Berichten der Sondenspitzenform in der Rastersondenmikroskopie
ASTM E986-97 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E986-04(2017) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E2090-00 Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die von Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
ASTM E2090-12 Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die aus Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie

Association Francaise de Normalisation, Rastersondenmikroskop und optisches Mikroskop

NF X21-069-2:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular – Teil 2: Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Rastersondenmikroskop und optisches Mikroskop

JIS K 0147-2:2017 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular – Teil 2: Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden
JIS K 3850-1:2006 Bestimmung luftgetragener Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
JIS K 3850-1:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
JIS K 0149-1:2008 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung

RU-GOST R, Rastersondenmikroskop und optisches Mikroskop

GOST R ISO 27911-2015 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Definition und Kalibrierung der lateralen Auflösung eines optischen Nahfeldmikroskops
GOST 8.593-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methode zur Überprüfung
GOST R 8.635-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methode zur Kalibrierung
GOST 29214-1991 Optik und optische Instrumente. Mikroskope. Anschlussmaße von Rohrschienen und Rohrschlitzen
GOST R 8.630-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methoden zur Überprüfung

Association of German Mechanical Engineers, Rastersondenmikroskop und optisches Mikroskop

VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Bestimmung geometrischer Größen mittels Rastersondenmikroskopen - Kalibrierung von Messsystemen
DVS 2310-1-1984 Anleitung zur metallographischen Schliffherstellung und Auswertung thermisch gespritzter Schichten unter dem Lichtmikroskop

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, Rastersondenmikroskop und optisches Mikroskop

VDI/VDE 2656 Blatt 1-2006 Bestimmung geometrischer Messgrößen mit Rastersondermikroskopen - Kalibrierung von Messsystemen

未注明发布机构, Rastersondenmikroskop und optisches Mikroskop

JIS K 0182:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung der Normalfederkonstanten des Cantilevers

Professional Standard - Public Safety Standards, Rastersondenmikroskop und optisches Mikroskop

GA/T 1938-2021 Forensische Metallinspektion Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1937-2021 Forensische Wissenschaft Gummiinspektion Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1939-2021 Forensische Wissenschaft Aktuelle Stichprobenuntersuchung Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1522-2018 Forensische Wissenschaft, Untersuchung von Schießrückständen, Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1521-2018 Forensische Wissenschaft, Untersuchung der Elementarzusammensetzung von Kunststoffen, Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1519-2018 Forensische Wissenschaft Prüfung der Tonerelementzusammensetzung Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie

工业和信息化部, Rastersondenmikroskop und optisches Mikroskop

SJ/T 11759-2020 Messung des Seitenverhältnisses von Photovoltaik-Zellenelektroden-Gitterlinien durch konfokale Laser-Scanning-Mikroskopie