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optische Mikroskopie im Nahfeld

Für die optische Mikroskopie im Nahfeld gibt es insgesamt 6 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst optische Mikroskopie im Nahfeld die folgenden Kategorien: analytische Chemie, Optische Ausrüstung, Nichteisenmetalle.

International Organization for Standardization (ISO), optische Mikroskopie im Nahfeld

• ISO 27911:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Definition und Kalibrierung der lateralen Auflösung eines optischen Nahfeldmikroskops

British Standards Institution (BSI), optische Mikroskopie im Nahfeld

• BS ISO 27911:2011 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Definition und Kalibrierung der lateralen Auflösung eines optischen Nahfeldmikroskops

RU-GOST R, optische Mikroskopie im Nahfeld

• GOST R ISO 27911-2015 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Definition und Kalibrierung der lateralen Auflösung eines optischen Nahfeldmikroskops

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), optische Mikroskopie im Nahfeld

• KS D 2713-2006 Bewertung der räumlichen Auflösung von NSOM (Near-field Scanning Optical Microscope)
• KS D 2713-2016 Bewertung der räumlichen Auflösung von NSOM (Near-field Scanning Optical Microscope)
• KS D 2713-2016(2021) Bewertung der räumlichen Auflösung von NSOM (Near-field Scanning Optical Microscope)

Sonstige:   Optische Nahfeld-Rastermikroskopie, Optische Nahfeldfokussierung, Optische Nahfeldmikroskopie, Optische Nahfeldmikroskopie, Nahfeldoptik von Leica, Rasternde optische Nahfeldmikroskopie, Optische Nahfeldmikroskopie, Nahfeldoptik + Mikroskopie, Optische Nahfeldabtastung, Optische Nahfeldsonde, Prinzipien der Nahfeldoptik, Optische Nahfeldmikroskopie+, in der optischen Nahfeld-Rastermikroskopie, Optisches Nahfeld-Rastermikroskop, Optisches Nahfeld-Rastermikroskop, Optisches Nahfeld-Infrarot, Optisches Nahfeld-Infrarot, Optische Nahfeldmikroskopie an der Oberfläche, optische Mikroskopie im Nahfeld, Optische Nahfeldkorrektur.