jis+c+5402

Für die jis+c+5402 gibt es insgesamt 126 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst jis+c+5402 die folgenden Kategorien: Elektromechanische Komponenten für elektronische und Telekommunikationsgeräte.

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Japanese Industrial Standards Committee (JISC), jis+c+5402

JIS C 8309:2019
JIS C 5261:1993
JIS C 8328:2019
JIS C 2330:2014
JIS C 5402:1992 Verfahren zum Testen von Steckverbindern zur Verwendung in elektronischen Geräten
JIS C 9335-2-17:2021
JIS C 5402-1:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 1: Allgemeines
JIS C 5402 AMD 1:2014 Methode zur Prüfung von Steckverbindern zur Verwendung in elektronischen Geräten (Änderung 1)
JIS C 5402-1:2022 Steckverbinder für elektrische und elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 1: Fachgrundspezifikation
JIS C 5402-19-3:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 19-3: Chemische Beständigkeitsprüfungen – Prüfung 19c: Flüssigkeitsbeständigkeit
JIS C 5402-16-20:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 16-20: Mechanische Prüfungen an Kontakten und Anschlüssen – Prüfung 16t: Mechanische Festigkeit (drahtgebundener Anschluss lötfreier Verbindungen)
JIS C 5402-15-8:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 15-8: Steckverbinderprüfungen (mechanisch) – Prüfung 15h: Kontakthaltesystem, Beständigkeit gegen Werkzeuganwendung
JIS C 5402-14-7:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 14-7: Dichtungsprüfungen – Prüfung 14g: Einwirkendes Wasser
JIS C 5402-13-1:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 13-1: Mechanische Betriebsprüfungen – Prüfung 13a: Eingriffs- und Trennkräfte
JIS C 5402-12-6:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 12-6: Lötprüfungen – Prüfung 12f: Abdichtung gegen Flussmittel und Reinigungslösungsmittel beim maschinellen Löten
JIS C 5402-11-14:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 11-14: Klimaprüfungen – Prüfung 11p: Korrosionsprüfung bei fließendem Einzelgas
JIS C 5402-11-8:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 11-8: Klimaprüfungen – Prüfung 11h: Sand und Staub
JIS C 5402-11-7:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 11-7: Klimaprüfungen – Prüfung 11g: Korrosionsprüfung mit fließendem Mischgas
JIS C 5402-11-1:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 11-1: Klimaprüfungen – Prüfung 11a: Klimasequenz
JIS C 5402-10-4:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 10-4: Überlastprüfungen – Prüfung 10d: Elektrische Überlast
JIS C 5402-1-100:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 1-100: Allgemeines – Anwendbare Veröffentlichungen
JIS C 5402-1-4:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 1-4: Allgemeine Prüfung – Prüfung 1d: Wirksamkeit des Berührungsschutzes (berührungssicher)
JIS C 5402-1-3:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 1-3: Allgemeine Prüfung – Prüfung 1c: Elektrische Eingriffslänge
JIS C 5402-11-2:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 11-2: Klimaprüfungen – Prüfung 11b: Kombinierte/sequentielle Kälte, niedriger Luftdruck und feuchte Hitze
JIS C 5402-6-4:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 6-4: Dynamische Belastungsprüfungen – Prüfung 6d: Vibration (sinusförmig)
JIS C 5402-6-3:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Tests und Messungen – Teil 6-3: Dynamische Belastungstests – Test 6c: Schock
JIS C 5402-23-3:2005 Elektromechanische Komponenten für elektronische Geräte – Grundlegende Prüfverfahren und Messmethoden – Teil 23-3: Prüfung 23c: Abschirmwirkung von Steckverbindern und Zubehör
JIS C 5402-20-2:2005 Elektromechanische Komponenten für elektronische Geräte – Grundlegende Prüfverfahren und Messmethoden – Teil 20-2: Prüfung 20b – Entflammbarkeitsprüfungen – Feuerfestigkeit
JIS C 5402-12-7:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Tests und Messungen – Teil 12-7: Löttests – Test 12g: Lötbarkeit, Benetzungsausgleichsmethode
JIS C 5402-11-13:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 11-13: Klimaprüfungen – Prüfung 11n: Gasdichtheit, lötfreie gewickelte Verbindungen
JIS C 5402-5-1:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 5-1: Strombelastbarkeitsprüfungen – Prüfung 5a: Temperaturanstieg
JIS C 5402-4-3:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Tests und Messungen – Teil 4-3: Spannungsbelastungstests – Test 4c: Spannungsnachweis vorisolierter Crimphülsen
JIS C 5402-4-2:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 4-2: Spannungsbelastungsprüfungen – Prüfung 4b: Teilentladung
JIS C 5402-3-1:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 3-1: Isolationsprüfungen – Prüfung 3a: Isolationswiderstand
JIS C 5402-2-6:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 2-6: Elektrische Durchgangs- und Kontaktwiderstandsprüfungen – Prüfung 2f: Elektrischer Durchgang des Gehäuses (Gehäuses).
JIS C 5402-2-3:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 2-3: Elektrische Durchgangs- und Kontaktwiderstandsprüfungen – Prüfung 2c: Änderung des Kontaktwiderstands
JIS C 5402-1-2:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 1-2: Allgemeine Prüfung – Prüfung 1b: Prüfung von Abmessungen und Masse
JIS C 5402-1-1:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 1-1: Allgemeine Prüfung – Prüfung 1a: Sichtprüfung
JIS C 5402-6-2:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Tests und Messungen – Teil 6-2: Dynamische Belastungstests – Test 6b: Stoß
JIS C 5402-6-1:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Tests und Messungen – Teil 6-1: Dynamische Belastungstests – Test 6a: Beschleunigung, stationärer Zustand
JIS C 5402-5-2:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 5-2: Strombelastbarkeitsprüfungen – Prüfung 5b: Strom-Temperatur-Derating
JIS C 5402-11-12:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 11-12: Klimaprüfungen – Prüfung 11m: Feuchte Hitze, zyklisch
JIS C 5402-11-11:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 11-11: Klimaprüfungen – Prüfung 11k: Niedriger Luftdruck
JIS C 5402-11-10:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 11-10: Klimaprüfungen – Prüfung 11j: Kälte
JIS C 5402-11-9:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 11-9: Klimaprüfungen – Prüfung 11i: Trockene Hitze
JIS C 5402-11-6:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 11-6: Klimaprüfungen – Prüfung 11f: Korrosion, Salznebel
JIS C 5402-11-5:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 11-5: Klimaprüfungen – Prüfung 11e: Schimmelbildung
JIS C 5402-11-4:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 11-4: Klimaprüfungen – Prüfung 11d: Schnelle Temperaturänderung
JIS C 5402-11-3:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 11-3: Klimaprüfungen – Prüfung 11c: Feuchte Hitze, stationärer Zustand
JIS C 5402-2-1:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 2-1: Elektrische Durchgangs- und Kontaktwiderstandsprüfungen – Prüfung 2a: Kontaktwiderstand – Millivolt-Pegelmethode
JIS C 5402-2-2:2005 Steckverbinder für elektrische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 2-2: Elektrische Durchgangs- und Kontaktwiderstandsprüfungen – Prüfung 2b: Kontaktwiderstand – Spezifizierte Prüfstrommethode
JIS C 5402-2-5:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 2-5: Elektrische Durchgangs- und Kontaktwiderstandsprüfungen – Prüfung 2e: Kontaktstörung
JIS C 5402-4-1:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 4-1: Spannungsbelastungsprüfungen – Prüfung 4a: Spannungsfestigkeit
JIS C 5402-1-100:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 1-100: Allgemeines – Anwendbare Veröffentlichungen
JIS C 5402-10-4:2006 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 10-4: Schlagprüfungen (freie Bauteile), statische Belastungsprüfungen (feste Bauteile), Dauertests und Überlastprüfungen – Prüfung 10d: Elektrische Überlastung (Steckverbinder)
JIS C 5402-11-14:2006 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 11-14: Klimaprüfungen – Prüfung 11p: Korrosionsprüfung bei fließendem Einzelgas
JIS C 5402-11-7:2006 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 11-7: Klimaprüfungen – Prüfung 11g: Korrosionsprüfung mit fließendem Mischgas
JIS C 5402-23-4:2006 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 23-4: Abschirm- und Filterprüfungen – Prüfung 23d: Übertragungsleitungsreflexionen im Zeitbereich
JIS C 5402-13-2:2012 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 13-2: Mechanische Betriebsprüfungen – Prüfung 13b: Steck- und Ziehkräfte
JIS C 5402-16-2:2012 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 16-2: Mechanische Prüfungen an Kontakten und Anschlüssen – Prüfung 16b: Eingeschränkter Zugang
JIS C 5402-16-4:2012 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 16-4: Mechanische Prüfungen an Kontakten und Anschlüssen – Prüfung 16d: Zugfestigkeit (Crimpverbindungen)
JIS C 5402-16-5:2012 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 16-5: Mechanische Prüfungen an Kontakten und Anschlüssen – Prüfung 16e: Haltekraft des Messgeräts (elastische Kontakte)
JIS C 5402-16-7:2012 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 16-7: Mechanische Prüfungen an Kontakten und Anschlüssen – Prüfung 16g: Messung der Kontaktverformung nach dem Crimpen
JIS C 5402-15-2:2014 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 15-2: Steckverbinderprüfungen (mechanisch) – Prüfung 15b: Einstecksicherung im Gehäuse (axial)
JIS C 5402-15-3:2014 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 15-3: Steckverbinderprüfungen (mechanisch) – Prüfung 15c: Einstecksicherung im Gehäuse (Torsion)
JIS C 5402-15-5:2014 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 15-5: Steckverbinderprüfungen (mechanisch) – Prüfung 15e: Kontakthaltung im Einsatz, Kabelnutation
JIS C 5402-16-1:2014 Steckverbinder für elektronische Geräte – Tests und Messungen – Teil 16-1: Mechanische Tests an Kontakten und Anschlüssen – Test 16a: Beschädigung der Sonde
JIS C 5402-16-6:2014 Steckverbinder für elektronische Geräte – Tests und Messungen – Teil 16-6: Mechanische Tests an Kontakten und Anschlüssen – Test 16f: Robustheit von Anschlüssen
JIS C 5402-13-5:2014 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 13-5: Mechanische Betriebsprüfungen – Prüfung 13e: Polarisations- und Kodierungsmethode
JIS C 5402-15-4:2014 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 15-4: Steckverbinderprüfungen (mechanische Prüfungen) – Prüfung 15d: Kraft zum Einführen, Lösen und Herausziehen von Kontakten
JIS C 5402-16-3:2014 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 16-3: Mechanische Prüfungen an Kontakten und Anschlüssen – Prüfung 16c: Kontaktbiegefestigkeit
JIS C 5402-15-1:2014 Steckverbinder für elektronische Geräte.Prüfungen und Messungen.Teil 15-1: Steckverbinderprüfungen (mechanisch).Prüfung 15a: Kontakthaltung im Einsatz
JIS C 5402-15-6:2014 Steckverbinder für elektronische Geräte.Prüfungen und Messungen.Teil 15-6: Steckverbinderprüfungen (mechanische Prüfungen).Prüfung 15f: Wirksamkeit von Steckverbinderkupplungsvorrichtungen
JIS C 5402-1-100:2014 Steckverbinder für elektronische Geräte.Prüfungen und Messungen.Teil 1-100: Allgemeines.Anwendbare Veröffentlichungen
JIS C 5402-16-8:2015 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 16-8: Mechanische Prüfungen an Kontakten und Anschlüssen – Prüfung 16h: Isolierende Griffigkeit (Crimpverbindungen)
JIS C 5402-17-1:2015 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 17-1: Kabelklemmenprüfungen – Prüfung 17a: Robustheit der Kabelklemmen
JIS C 5402-17-2:2015 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 17-2: Kabelklemmtests – Test 17b: Kabelklemmenwiderstand gegenüber Kabeldrehung
JIS C 5402-16-9:2015 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 16-9: Mechanische Prüfungen an Kontakten und Anschlüssen – Prüfung 16i: Haltekraft der Erdungskontaktfeder
JIS C 5402-16-13:2015 Steckverbinder für elektronische Geräte – Tests und Messungen – Teil 16-13: Mechanische Tests an Kontakten und Anschlüssen – Test 16m: Abwickelnde, lötfreie gewickelte Verbindungen
JIS C 5402-17-4:2015 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 17-4: Kabelklemmprüfungen – Prüfung 17d: Widerstandsfähigkeit der Kabelklemmung gegenüber Kabeltorsion
JIS C 5402-7-1:2016 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 7-1: Schlagprüfungen (freie Steckverbinder) – Prüfung 7a: Freier Fall (wiederholt)
JIS C 5402-8-1:2016 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 8-1: Statische Belastungsprüfungen (feste Steckverbinder) – Prüfung 8a: Statische Belastung, quer
JIS C 5402-8-3:2016 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 8-3: Statische Belastungsprüfungen (feste Steckverbinder) – Prüfung 8c: Robustheit des Betätigungshebels
JIS C 5402-9-1:2016 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 9-1: Dauertests – Prüfung 9a: Mechanischer Betrieb
JIS C 5402-14-2:2016 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 14-2: Dichtigkeitsprüfungen – Prüfung 14b: Dichtheit – Feine Luftleckage
JIS C 5402-14-4:2016 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 14-4: Dichtungsprüfungen – Prüfung 14d: Eintauchen – Wasserdicht
JIS C 5402-14-5:2016 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 14-5: Dichtungsprüfungen – Prüfung 14e: Eintauchen bei niedrigem Luftdruck
JIS C 5402-14-6:2016 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 14-6: Dichtungsprüfungen – Prüfung 14f: Grenzflächenabdichtung
JIS C 5402-8-2:2016 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 8-2: Statische Belastungsprüfungen (feste Steckverbinder) – Prüfung 8b: Statische Belastung, axial
JIS C 5402-12-1:2016 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 12-1: Lötprüfungen – Prüfung 12a: Lötbarkeit, Benetzung, Lötbadmethode
JIS C 5402-12-2:2016 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 12-2: Lötprüfungen – Prüfung 12b: Lötbarkeit, Benetzung, Lötkolbenmethode
JIS C 5402-12-4:2016 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 12-4: Lötprüfungen – Prüfung 12d: Beständigkeit gegen Löthitze, Lötbadmethode
JIS C 5402-22-1:2016 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 22-1: Kapazitätsprüfungen – Prüfung 22a: Kapazität
JIS C 5402-17-3:2018 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 17-3: Kabelklemmprüfungen – Prüfung 17c: Kabelklemmenwiderstand gegenüber Kabelzug (Zug)
JIS C 5402-13-1:2015 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 13-1: Mechanische Betriebsprüfungen – Prüfung 13a: Eingriffs- und Trennkräfte
JIS C 5402-7-2:2019 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 7-2: Schlagprüfungen (freie Steckverbinder) – Prüfung 7b: Schlag auf mechanische Festigkeit
JIS C 5402-9-2:2019 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 9-2: Dauertests – Prüfung 9b: Elektrische Belastung und Temperatur
JIS C 5402-12-5:2016 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 12-5: Lötprüfungen – Prüfung 12e: Beständigkeit gegen Löthitze, Lötkolbenmethode
JIS C 5402-11-1:2022 Steckverbinder für elektrische und elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 11-1: Klimaprüfungen – Prüfung 11a – Klimasequenz