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Rastermikroskopie

Für die Rastermikroskopie gibt es insgesamt 40 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Rastermikroskopie die folgenden Kategorien: Nichteisenmetalle, Längen- und Winkelmessungen, Luftqualität, Optische Ausrüstung, Oberflächenbehandlung und Beschichtung, Wortschatz, Kriminalprävention, erziehen.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Rastermikroskopie

• KS D 2714-2016 Rastersondenmikroskop – Methode für Querkraftmikroskop
• KS D ISO 9220:2009 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• KS D ISO 9220-2009(2022) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• KS D ISO 9220-2009(2017) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• KS I 0051-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie

German Institute for Standardization, Rastermikroskopie

• DIN EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:1988); Deutsche Fassung EN ISO 9220:1994
• DIN EN ISO 9220:2022-05 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:2022); Deutsche Fassung EN ISO 9220:2022
• DIN EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO/DIS 9220:2021); Deutsche und englische Version prEN ISO 9220:2021

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Rastermikroskopie

• JIS K 3850-1:2006 Bestimmung luftgetragener Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
• JIS K 3850-1:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
• JIS K 0149-1:2008 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung

Professional Standard - Commodity Inspection, Rastermikroskopie

• SN/T 4388-2015 Lederidentifizierung. Rasterelektronenmikroskopie und optische Mikroskopie

British Standards Institution (BSI), Rastermikroskopie

• BS EN ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
• BS EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
• 21/30394409 DC BS ENISO 9220. Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
• BS ISO 14966:2019 Umgebungsluft. Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel. Methode der Rasterelektronenmikroskopie

Professional Standard - Education, Rastermikroskopie

• JY/T 010-1996 Allgemeine Prinzipien der analytischen Rasterelektronenmikroskopie
• JY/T 0582-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der Rastersondenmikroskopie
• JY/T 0584-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der Rasterelektronenmikroskopie

European Committee for Standardization (CEN), Rastermikroskopie

• EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
• EN ISO 9220:1994 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode (ISO 9220: 1988)
• prEN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)

Association Francaise de Normalisation, Rastermikroskopie

• NF A91-108:1995 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode.
• NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
• NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren

Danish Standards Foundation, Rastermikroskopie

• DS/EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren

International Organization for Standardization (ISO), Rastermikroskopie

• ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• ISO 9220:1988 Metallische Beschichtungen; Messung der Schichtdicke; Rasterelektronenmikroskop-Methode
• ISO 22493:2008 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Vokabeln
• ISO 14966:2019 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode

Group Standards of the People's Republic of China, Rastermikroskopie

• T/SPSTS 030-2023 Messung der Blattgröße von Graphenmaterial mittels Rasterelektronenmikroskopie

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Rastermikroskopie

• DB32/T 3459-2018 Rasterelektronenmikroskopie zur Messung der Mikroflächenbedeckung von Graphenfilmen

Professional Standard - Machinery, Rastermikroskopie

• JB/T 6842-1993 Testmethode des Rasterelektronenmikroskops

AENOR, Rastermikroskopie

• UNE-EN ISO 9220:1996 METALLISCHE BESCHICHTUNGEN. MESSUNG DER BESCHICHTUNGSDICKE. VERFAHREN MIT EINEM RASTERELEKTRONENMIKROSKOP. (ISO 9220:1988).

Lithuanian Standards Office , Rastermikroskopie

• LST EN ISO 9220:2001 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)

AT-ON, Rastermikroskopie

• OENORM EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Rastermikroskopie

• GB/T 19267.6-2003 Physikalische und chemische Untersuchung von Spuren in der Forensik – Teil 6: Rasterelektronenmikroskopie

SE-SIS, Rastermikroskopie

• SIS SS-ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode

Association of German Mechanical Engineers, Rastermikroskopie

• VDI 3861 Blatt 2-2008 Emissionen aus stationären Quellen – Messung anorganischer Faserpartikel im Abgas – Rasterelektronenmikroskopie-Methode

ES-UNE, Rastermikroskopie

• UNE-EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)

Sonstige:   Rastermikroskop, Rastermikroskop, Rasterelektronenmikroskopie, Rasterelektronenmikroskopie, Rasterelektronenmikroskopie, Scanning-Sampling-Methode, Mikroskop-Scan, Mikroskop-Scan, SEM, Schnellscan-Methode, Methode zum Scannen von Partikeln, Methode zum Scannen von Partikeln, Methode zum Scannen der Umwelt, Scanmethode, Mikroskopie, SEM, Rastermikroskopie, Lichtscanverfahren, Methode zum Scannen der Umwelt, Methode zum Scannen von Instrumenten.