Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

Für die Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie gibt es insgesamt 322 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie die folgenden Kategorien: analytische Chemie, Optik und optische Messungen, Metrologie und Messsynthese, Optische Ausrüstung, erziehen, Optoelektronik, Lasergeräte, Prüfung von Metallmaterialien, technische Zeichnung, Oberflächenbehandlung und Beschichtung, Verbundverstärkte Materialien, Luftqualität, Wortschatz, Schweißen, Hartlöten und Niedertemperaturschweißen, Physik Chemie, Kriminalprävention, Elektronische Komponenten und Komponenten, Umfangreiche elektronische Komponenten, Längen- und Winkelmessungen, Elektronische Anzeigegeräte, Thermodynamik und Temperaturmessung, Baumaterial, Rohstoffe für Gummi und Kunststoffe, Papier und Pappe, Stahlprodukte, Farben und Lacke, Gefahrgutschutz, Keramik, Medizinische Wissenschaften und Gesundheitsgeräte integriert.

International Organization for Standardization (ISO), Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

ISO/CD 25498:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Elektronenbeugungsanalyse ausgewählter Bereiche unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
ISO 25498:2010 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Selektierte Elektronenbeugungsanalyse mit einem Transmissionselektronenmikroskop
ISO 25498:2018 Mikrostrahlanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Elektronenbeugungsanalyse ausgewählter Bereiche unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
ISO/CD 19214:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der scheinbaren Wachstumsrichtung drahtförmiger Kristalle mittels Transmissionselektronenmikroskopie
ISO/TS 21383:2021 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Qualifizierung des Rasterelektronenmikroskops für quantitative Messungen
ISO 19214:2017 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der scheinbaren Wachstumsrichtung drahtförmiger Kristalle mittels Transmissionselektronenmikroskopie
ISO 15932:2013 Mikrostrahlanalyse.Analytische Elektronenmikroskopie.Wortschatz
ISO 22493:2008 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Vokabeln
ISO 21363:2020 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
ISO 13794:2019 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
ISO 10312:2019 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie
ISO/TS 10797:2012 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Transmissionselektronenmikroskopie
ISO/TS 22292:2021 Nanotechnologien – 3D-Bildrekonstruktion von stabgestützten Nanoobjekten mittels Transmissionselektronenmikroskopie
ISO 20263:2017 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der Grenzflächenposition im Querschnittsbild der Schichtmaterialien
ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methode zur Bewertung kritischer Abmessungen mittels CD-SEM
ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
ISO 9220:1988 Metallische Beschichtungen; Messung der Schichtdicke; Rasterelektronenmikroskop-Methode
ISO 23420:2021 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
ISO 13794:1999 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
ISO 10312:1995 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie
ISO 29301:2010 Mikrostrahlanalyse – Analytische Transmissionselektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
ISO/WD TR 23683:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Leitfaden zur experimentellen Quantifizierung der Trägerkonzentration in Halbleiterbauelementen mithilfe der elektrischen Rastersondenmikroskopie
ISO 24639:2022 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Kalibrierungsverfahren der Energieskala für die Elementaranalyse durch Elektronenenergieverlustspektroskopie
ISO/CD 20263:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der Grenzflächenposition im Querschnittsbild der Schichtmaterialien
ISO 14966:2019 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
ISO 14966:2002 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
ISO 29301:2017 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen

British Standards Institution (BSI), Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

BS ISO 25498:2018 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Elektronenbeugungsanalyse ausgewählter Bereiche unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
BS ISO 25498:2010 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Selektierte Elektronenbeugungsanalyse mit einem Transmissionselektronenmikroskop
18/30319114 DC BS ISO 20171. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Markiertes Bilddateiformat für Rasterelektronenmikroskopie (TIFF/SEM)
BS EN ISO 14880-1:2005 Optik und Photonik – Mikrolinsenarray – Wortschatz
PD ISO/TS 10797:2012 Nanotechnologien. Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Transmissionselektronenmikroskopie
BS ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
BS EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
BS ISO 21363:2020 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
15/30292710 DC BS ISO 19214. Richtlinien zur Bestimmung der Wachstumsrichtung drahtförmiger Kristalle mittels Transmissionselektronenmikroskopie
BS ISO 13794:2019 Umgebungsluft. Bestimmung von Asbestfasern. Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
BS ISO 10312:2019 Umgebungsluft. Bestimmung von Asbestfasern. Methode der Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie
PD ISO/TS 22292:2021 Nanotechnologien. 3D-Bildrekonstruktion von stabgestützten Nanoobjekten mittels Transmissionselektronenmikroskopie
BS EN ISO 14880-1:2016 Optik und Photonik. Mikrolinsenarrays. Wortschatz und allgemeine Eigenschaften
18/30351714 DC BS ISO 21363. Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
BS ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen durch CDSEM
BS ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
BS PD ISO/TS 22292:2021 Nanotechnologien. 3D-Bildrekonstruktion von stabgestützten Nanoobjekten mittels Transmissionselektronenmikroskopie
BS EN ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
BS EN ISO 14880-4:2006 Optik und Photonik – Mikrolinsenarrays – Prüfmethoden für geometrische Eigenschaften
BS EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
BS ISO 23420:2021 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
BS ISO 24639:2022 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Kalibrierungsverfahren der Energieskala für die Elementaranalyse mittels Elektronenenergieverlustspektroskopie
18/30344520 DC BS ISO 21466. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen mittels CD-SEM
BS ISO 13794:1999 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
BS ISO 19749:2021 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
20/30380369 DC BS ISO 23420. Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
BS EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
21/30404763 DC BS ISO 24639. Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Kalibrierungsverfahren der Energieskala für die Elementaranalyse mittels Elektronenenergieverlustspektroskopie
BS ISO 29301:2010 Mikrostrahlanalyse – Analytische Transmissionselektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
BS ISO 20263:2017 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Grenzflächenposition im Querschnittsbild der Schichtmaterialien
BS ISO 14966:2019 Umgebungsluft. Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel. Methode der Rasterelektronenmikroskopie
18/30351679 DC BS ISO 19749. Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
DD ISO/TS 10798:2011 Nanotechnologien. Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse
BS DD ISO/TS 10798:2011 Nanotechnologien. Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse
19/30394914 DC BS ISO 15632. Mikrostrahlanalyse. Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer für den Einsatz im Elektronenstrahlmikroskop oder einem Elektronenstrahlmikroanalysator (EPMA)
BS ISO 10312:1995 Umgebungsluft. Bestimmung von Asbestfasern. Methode der Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie
BS ISO 14966:2002 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
18/30375050 DC BS ISO 14966. Umgebungsluft. Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel. Methode der Rasterelektronenmikroskopie

Professional Standard - Machinery, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

JB/T 9352-1999 Testmethode für das Transmissionselektronenmikroskop
JB/T 5383-1991 Spezifikation für Transmissionselektronenmikroskop
JB/T 5586-1991 Klassifizierung und Grundparameter des Transmissionselektronenmikroskops
JB/T 5584-1991 Testmethode der Transmissionselektronenmikroskop-Verstärkung
JB/T 5585-1991 Testmethode für die Auflösung eines Transmissionselektronenmikroskops
JB/T 5480-1991 Membran des Elektronenmikroskops
JB/T 5481-1991 Lampenfaden des Elektronenmikroskops
JB/T 6842-1993 Testmethode des Rasterelektronenmikroskops
JB/T 5384-1991 Rasterelektronenmikroskop – Technische Spezifikation

Group Standards of the People's Republic of China, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

T/CSTM 00162-2020 Kalibrierungsmethoden für Transmissionselektronenmikroskope
T/CSTM 00166.3-2020 Charakterisierung von Graphenmaterialien Teil 3 Transmissionselektronenmikroskop
T/QGCML 1940-2023 Rasterelektronenmikroskop-In-situ-Hochtemperatur-Mechanikprüfgerät
T/SPSTS 030-2023 Messung der Blattgröße von Graphenmaterial mittels Rasterelektronenmikroskopie

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

JJG(地质) 1016-1990 Kalibrierungsvorschriften für die Transmissionselektronenmikroskopie
JJG(教委) 12-1992 Kalibrierungsvorschriften für die Transmissionselektronenmikroskopie
JJG(教委) 11-1992 Vorschriften zur Kalibrierung von Rasterelektronenmikroskopen
JJG 550-1988 Verifizierungsregelung des Rasterelektronenmikroskops

Professional Standard - Education, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

JY/T 011-1996 Allgemeine Prinzipien der Transmissionselektronenmikroskopie
JY/T 0581-2020 Allgemeine Regeln für Analysemethoden der Transmissionselektronenmikroskopie
JY/T 0584-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der Rasterelektronenmikroskopie
JY/T 010-1996 Allgemeine Prinzipien der analytischen Rasterelektronenmikroskopie

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

GB/T 18907-2002 Methode der Elektronenbeugung ausgewählter Flächen für Transmissionselektronenmikroskope
GB/T 18907-2013 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Selektierte Elektronenbeugungsanalyse unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
GB 7667-1996 Die Dosis der aus dem Elektronenmikroskop austretenden Röntgenstrahlen
GB 7667-2003 Die Dosis der aus dem Elektronenmikroskop austretenden Röntgenstrahlen
GB/T 21637-2008 Methode zur morphologischen Identifizierung des Coronavirus mittels Transmissionselektronenmikroskopie
GB/T 28044-2011 Allgemeiner Leitfaden zur Nachweismethode für die biologische Wirkung von Nanomaterialien mittels Transmissionselektronenmikroskop (TEM)
GB/T 18873-2002 Allgemeine Spezifikation des Transmissionselektronenmikroskops (TEM) – quantitative Mikroanalyse mit röntgenenergiedispersivem Spektrum (EDS) für dünne biologische Proben
GB/T 18873-2008 Allgemeiner Leitfaden zur quantitativen Mikroanalyse mit Transmissionselektronenmikroskop (TEM) und energiedispersiver Röntgenspektrometrie (EDS) für dünne biologische Proben
GB/T 17507-2008 Allgemeine Spezifikation dünner biologischer Standards für die Röntgen-EDS-Mikroanalyse im Transmissionselektronenmikroskop
GB/Z 21738-2008 Grundlegende Strukturen eindimensionaler Nanomaterialien. Charakterisierung durch hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie
GB/T 43610-2023 Transmissionselektronenmikroskopische Methode zur Bestimmung der scheinbaren Wachstumsrichtung linearer Kristalle mittels Mikrostrahlanalyse und Elektronenmikroskopie
GB/T 17507-1998 Allgemeine Spezifikation dünner biologischer Standards für die Röntgen-EDS-Mikroanalyse im Elektronenmikroskop
GB/T 18295-2001 Analysemethode einer Sandsteinprobe aus Erdöl- und Gaslagerstätten mittels Rasterelektronenmikroskop
GB/T 19267.6-2003 Physikalische und chemische Untersuchung von Spuren in der Forensik – Teil 6: Rasterelektronenmikroskopie
GB/T 19267.6-2008 Physikalische und chemische Untersuchung von Spuren in der Forensik. Teil 6: Rasterelektronenmikroskop/Röntgenenergiedispersive Spektrometrie
GB/T 2679.11-2008 Papier und Karton. Qualitative Analyse von mineralischem Füllstoff und mineralischer Beschichtung. SEM/EDAX-Methode
GB/T 17361-1998 Methode zur Identifizierung authentischer Tonminerale in Sedimentgesteinen mittels SEM und XEDS
GB/T 2679.11-1993 Papier und Karton. Qualitative Analyse von mineralischen Füllstoffen und mineralischen Beschichtungen. SEM/EDAX-Methode
GB/T 17361-2013 Mikrostrahlanalyse. Identifizierung authentischer Tonminerale in Sedimentgesteinen mittels Rasterelektronenmikroskop und energiedispersivem Spektrometer
GB/T 30543-2014 Nanotechnologien. Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Transmissionselektronenmikroskopie
GB/T 28873-2012 Allgemeiner Leitfaden zur Umwelt-Rasterelektronenmikroskopie für biologische Effekte auf die Topographie, die durch Nanopartikel hervorgerufen werden

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

GB/T 35098-2018 Mikrostrahlanalyse – Transmissionselektronenmikroskopie – Morphologische Identifizierungsmethode von Pflanzenviren durch Transmissionselektronenmikroskopie

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

DB31/T 315-2004 Kalibrierungsmethode für die Vergrößerung eines Transmissionselektronenmikroskops
DB31/T 297-2003 Kalibrierungsmethode für die Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

KS D 2716-2008 Messung des Nanopartikeldurchmessers – Transmissionselektronenmikroskop
KS D 2716-2008(2018) Messung des Nanopartikeldurchmessers – Transmissionselektronenmikroskop
KS D 8544-2006 Metallische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – Transmissionselektronenmikroskopie-Methode
KS D 8544-2016(2021) Metallische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – Transmissionselektronenmikroskopie-Methode
KS D ISO 22493-2012(2017) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
KS D ISO 22493:2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
KS D ISO 22493:2012 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
KS I 0051-1999(2019) Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS M 0044-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS I ISO 10312-2008(2018) Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie
KS I 0051-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS D ISO 16700:2013 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS I ISO 13794-2008(2018) Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
KS D ISO 16700-2013(2018) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS D ISO 9220:2009 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 9220-2009(2022) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 9220-2009(2017) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS I ISO 10312:2008 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie
KS I ISO 13794:2008 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
KS D ISO TR 17270:2007 Mikrostrahlanalyse – Analytische Transmissionselektronenmikroskopie – Technischer Bericht zur Bestimmung der experimentellen Parameter für die Elektronenenergieverlustspektroskopie

KR-KS, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

KS D 2716-2023 Messung des Nanopartikeldurchmessers – Transmissionselektronenmikroskop
KS D ISO 22493-2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
KS C ISO 21363-2023 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
KS D ISO 16700-2023 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS C ISO 19749-2023 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
KS D ISO TR 17270-2007 Mikrostrahlanalyse – Analytische Transmissionselektronenmikroskopie – Technischer Bericht zur Bestimmung der experimentellen Parameter für die Elektronenenergieverlustspektroskopie
KS D ISO 15632-2023 Mikrostrahlanalyse – Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer (EDS) zur Verwendung mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) oder einem

工业和信息化部, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

YB/T 4676-2018 Analyse ausgefällter Phasen in Stahl mittels Transmissionselektronenmikroskopie

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

JIS K 0132:1997 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
JIS K 3850-1:2006 Bestimmung luftgetragener Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
JIS K 3850-1:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
JIS K 3850-3:2000 Messmethode für luftgetragene Faserpartikel – Teil 3: Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
JIS K 3850-2:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 2: Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie-Verfahren
JIS K 0149-1:2008 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
JIS R 1633:1998 Verfahren zur Probenvorbereitung von Feinkeramik und Feinkeramikpulvern für die Rasterelektronenmikroskopbeobachtung

German Institute for Standardization, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotechnologien - Methoden zur Vorbereitung und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Transmissionsrasterelektronenmikroskopie (TSEM)
DIN EN ISO 21363:2022-03 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020); Deutsche Fassung EN ISO 21363:2022
DIN EN ISO 9220:2022-05 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:2022); Deutsche Fassung EN ISO 9220:2022
DIN EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO/DIS 9220:2021); Deutsche und englische Version prEN ISO 9220:2021
DIN EN ISO 19749:2023-07 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021); Deutsche Fassung EN ISO 19749:2023
DIN EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:1988); Deutsche Fassung EN ISO 9220:1994

Association Francaise de Normalisation, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

NF ISO 15932:2014 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Wortschatz
NF T16-404:2020 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
FD T16-209:2012 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Transmissionselektronenmikroskopie
NF ISO 13794:2020 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transfer-Transmissionselektronenmikroskopie
NF X21-005:2006 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung.
NF EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Bestimmung der Partikelgrößen- und Formverteilung mittels Transmissionselektronenmikroskopie
NF ISO 10312:2020 Umgebungsluft – Dosierung der Luftfasern – Methode der elektronischen Mikroskopie zur Übertragung durch direkte Übertragung
NF X43-050:2021 Luftqualität – Bestimmung der Asbestfaserkonzentration mittels Transmissionselektronenmikroskopie – Indirekte Methode
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
NF A91-108:1995 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
NF T25-111-4:1991 Kohlenstofffasern – Textur und Struktur – Teil 4: Fraktographie mittels Rasterelektronenmikroskop
NF EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Bestimmung der Partikelgrößen- und Formverteilung mittels Rasterelektronenmikroskopie
NF X43-050:1996 Luftqualität. Bestimmung der Asbestfaserkonzentration mittels Transmissionselektronenmikroskopie. Indirekte Methode.
FD T16-203:2011 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse

American Society for Testing and Materials (ASTM), Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

ASTM E3143-18a Standardpraxis für die Durchführung der Kryo-Transmissionselektronenmikroskopie von Liposomen
ASTM E3143-18 Standardpraxis für die Durchführung der Kryo-Transmissionselektronenmikroskopie von Liposomen
ASTM E3143-18b Standardpraxis für die Durchführung der Kryo-Transmissionselektronenmikroskopie von Liposomen
ASTM E3143-18b(2023) Standardpraxis für die Durchführung der Kryo-Transmissionselektronenmikroskopie von Liposomen
ASTM E766-98(2003) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-98 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM D7201-06(2020) Standardverfahren zur Probenahme und Zählung luftgetragener Fasern, einschließlich Asbestfasern, am Arbeitsplatz mittels Phasenkontrastmikroskopie (mit der Option der Transmissionselektronenmikroskopie)
ASTM E2090-00 Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die von Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
ASTM E2090-12 Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die aus Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
ASTM E986-04 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E986-04(2010) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM D7201-06(2011) Standardverfahren zur Probenahme und Zählung luftgetragener Fasern, einschließlich Asbestfasern, am Arbeitsplatz mittels Phasenkontrastmikroskopie (mit der Option der Transmissionselektronenmikroskopie)
ASTM E986-97 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E986-04(2017) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E766-14 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-98(2008)e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM D5756-02 Standardtestmethode für die Probenahme im Mikrovakuum und die indirekte Analyse von Staub mittels Transmissionselektronenmikroskopie auf Asbestmassenkonzentration
ASTM D5756-95 Standardtestmethode für die Probenahme im Mikrovakuum und die indirekte Analyse von Staub mittels Transmissionselektronenmikroskopie auf Asbestmassenkonzentration
ASTM C1723-16(2022) Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM C1723-10 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM C1723-16 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM D3849-13 Standardtestmethode für Rußmdash; Morphologische Charakterisierung von Ruß mittels Elektronenmikroskopie
ASTM D3849-14 Standardtestmethode für Rußmdash; Morphologische Charakterisierung von Ruß mittels Elektronenmikroskopie
ASTM D5755-95 Standardtestmethode für die Probenahme im Mikrovakuum und die indirekte Analyse von Staub mittels Transmissionselektronenmikroskopie auf Konzentrationen der Asbeststrukturzahl
ASTM D5755-02 Standardtestmethode für die Probenahme im Mikrovakuum und die indirekte Analyse von Staub mittels Transmissionselektronenmikroskopie auf Konzentrationen der Asbeststrukturzahl
ASTM D5756-02(2008) Standardtestmethode für die Probenahme im Mikrovakuum und die indirekte Analyse von Staub mittels Transmissionselektronenmikroskopie auf Asbestmassen-Oberflächenbeladung
ASTM D5755-03 Standardtestmethode für die Probenahme im Mikrovakuum und die indirekte Analyse von Staub mittels Transmissionselektronenmikroskopie für die Strukturzahl-Oberflächenbeladung von Asbest
ASTM D5755-09 Standardtestmethode für die Probenahme im Mikrovakuum und die indirekte Analyse von Staub mittels Transmissionselektronenmikroskopie für die Strukturzahl-Oberflächenbeladung von Asbest
ASTM D5755-09(2014)e1 Standardtestmethode für die Probenahme im Mikrovakuum und die indirekte Analyse von Staub mittels Transmissionselektronenmikroskopie für die Strukturzahl-Oberflächenbeladung von Asbest
ASTM D3849-95a(2000) Standardtestmethode für Ruß – Primäraggregatabmessungen aus elektronenmikroskopischer Bildanalyse
ASTM D3849-07 Standardtestmethode zur morphologischen Charakterisierung von Ruß mittels Elektronenmikroskopie
ASTM E766-14(2019) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM D3849-22 Standardtestmethode für Ruß – Morphologische Charakterisierung von Ruß mittels Elektronenmikroskopie
ASTM D6056-96(2011) Standardtestverfahren zur Bestimmung der Konzentration luftgetragener einkristalliner Keramikwhisker in der Arbeitsumgebung mittels Transmissionselektronenmikroskopie
ASTM D6281-06 Standardtestmethode für die Asbestkonzentration in der Luft in der Umgebungs- und Innenraumatmosphäre, bestimmt durch Transmissionselektronenmikroskopie und Direkttransfer (TEM)
ASTM D6281-04 Standardtestmethode für die Asbestkonzentration in der Luft in der Umgebungs- und Innenraumatmosphäre, bestimmt durch Transmissionselektronenmikroskopie und Direkttransfer (TEM)
ASTM D6281-09 Standardtestmethode für die Asbestkonzentration in der Luft in der Umgebungs- und Innenraumatmosphäre, bestimmt durch Transmissionselektronenmikroskopie und Direkttransfer (TEM)
ASTM E766-14e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E2142-08(2015) Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
ASTM E2142-08 Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
ASTM E2142-08(2023) Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
ASTM E2809-13 Standardhandbuch für den Einsatz von Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektrometrie bei forensischen Farbuntersuchungen
ASTM D3849-02 Standardtestmethode zur morphologischen Charakterisierung von Ruß mittels Elektronenmikroskopie
ASTM D3849-04 Standardtestmethode zur morphologischen Charakterisierung von Ruß mittels Elektronenmikroskopie
ASTM B748-90(1997) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM B748-90(2006) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM D6480-05(2010) Standardtestmethode für Wischproben von Oberflächen, indirekte Vorbereitung und Analyse der Asbeststrukturzahlkonzentration durch Transmissionselektronenmikroskopie
ASTM D3849-14a Standardtestmethode für Ruß – Morphologische Charakterisierung von Ruß mittels Elektronenmikroskopie
ASTM D6281-15 Standardtestmethode für die Asbestkonzentration in der Luft in der Umgebungs- und Innenraumatmosphäre, bestimmt durch Transmissionselektronenmikroskopie und Direkttransfer (TEM)
ASTM D6281-98 Standardtestmethode für die Asbestkonzentration in der Luft in der Umgebungs- und Innenraumatmosphäre, bestimmt durch Transmissionselektronenmikroskopie und Direkttransfer (TEM)
ASTM E1588-07 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
ASTM E1588-07e1 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
ASTM B748-90(2010) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM E1588-20 Standardpraxis für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
ASTM E2142-01 Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
ASTM B748-90(2021) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM D6480-05 Standardtestmethode für Wischproben von Oberflächen, indirekte Vorbereitung und Analyse der Asbeststrukturzahlkonzentration durch Transmissionselektronenmikroskopie
ASTM D8526-23 Standardtestmethode für analytische Verfahren unter Verwendung der Transmissionselektronenmikroskopie zur Bestimmung der Konzentration von Kohlenstoffnanoröhren und Kohlenstoffnanoröhren enthaltenden Partikeln in der Umgebung
ASTM E280-98(2004)e1 Standard-Referenzröntgenaufnahmen für dickwandige (4 &189; bis 12 Zoll [114 bis 305 mm]) Stahlgussteile
ASTM E2809-22 Standardhandbuch für den Einsatz von Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektroskopie (SEM/EDS) bei forensischen Polymeruntersuchungen
ASTM E280-21 Standard-Referenzröntgenaufnahmen für dickwandige (412 bis 12 Zoll (114 bis 305 mm)) Stahlgussteile
ASTM E1588-95(2001) Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Spektroskopie
ASTM E1588-08 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
ASTM E1588-10 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
ASTM E1588-95 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Spektroskopie
ASTM B748-90(2016) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

JJF 1916-2021 Kalibrierungsspezifikation für Rasterelektronenmikroskope (REM)

PH-BPS, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

PNS ISO 21363:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

GB/T 34331-2017 Testmethode des Cucumber-Green-Mottle-Mosaik-Virus mittels Transmissionselektronenmikroskopie
GB/T 33834-2017 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Rasterelektronenmikroskopanalyse biologischer Proben
GB/T 34168-2017 Testmethode für die biologische Wirkung von Gold- und Silber-Nanopartikelmaterialien mittels Transmissionselektronenmikroskop
GB/T 33839-2017 Methoden des Transmissionselektronenmikroskops für biologische Proben, die Kohlenstoffnanomaterialien mit biologischer Wirkung enthalten
GB/T 34831-2017 Nanotechnologien – Elektronenmikroskopische Bildgebung von Edelmetall-Nanopartikeln – Ringförmige Dunkelfeld-Bildgebungsmethode mit großem Winkel
GB/T 34002-2017 Mikrostrahlanalyse – Analytische Transmissionselektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen

Association of German Mechanical Engineers, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

DVS 2803-1974 Elektronenstrahlschweißen in der Mikroskopie (Umfrage)
VDI 3861 Blatt 2-2008 Emissionen aus stationären Quellen – Messung anorganischer Faserpartikel im Abgas – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
VDI 3492-2004 Raumluftmessung - Raumluftmessung - Messung anorganischer Faserpartikel - Rasterelektronenmikroskopie-Methode
VDI 3492-2013 Raumluftmessung - Raumluftmessung - Messung anorganischer Faserpartikel - Rasterelektronenmikroskopie-Methode

Danish Standards Foundation, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

DS/ISO/TS 10797:2012 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Transmissionselektronenmikroskopie
DS/EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
DS/ISO/TS 22292:2021 Nanotechnologien – 3D-Bildrekonstruktion von stabgestützten Nanoobjekten mittels Transmissionselektronenmikroskopie
DS/ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
DS/ISO/TS 10798:2011 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse

RU-GOST R, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

GOST 21006-1975 Elektronenmikroskope. Begriffe, Definitionen und Buchstabensymbole
GOST R 8.594-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope
GOST R 8.636-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methoden zur Kalibrierung
GOST 8.594-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methode zur Überprüfung
GOST R 8.697-2010 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Interpenarabstände in Kristallen. Verfahren zur Messung mittels Transmissionselektronenmikroskop
GOST R 8.631-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methoden zur Überprüfung

European Committee for Standardization (CEN), Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020)
prEN ISO 21363:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020)
EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021)
EN ISO 9220:1994 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode (ISO 9220: 1988)
prEN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)

Professional Standard - Judicatory, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

SF/T 0139-2023 Bodeninspektion Rasterelektronenmikroskop/Röntgenenergiespektrometrie

ES-UNE, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

UNE-EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und -formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020) (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Februar 2022.)
UNE-EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
UNE-EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen durch Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021) (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Mai 2023.)

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

IPC J-STD-035-1999 Akustische Mikroskopie für nicht hermetisch gekapselte elektronische Komponenten
IPC TM-650 2.6.22-1995 Akustische Mikroskopie für kunststoffverkapselte elektronische Komponenten
IPC/JEDEC J-STD-035-1999 Akustische Mikroskopie für nicht hermetisch gekapselte elektronische Komponenten [Ersetzt: IPC TM-650 2.6.22]

AENOR, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

UNE 77236:1999 UMGEBUNGSLUFT. BESTIMMUNG VON ASBESTFASERN. VERFAHREN DER DIREKTÜBERTRAGUNGSELEKTRONENMIKROSKOPIE.
UNE-EN ISO 9220:1996 METALLISCHE BESCHICHTUNGEN. MESSUNG DER BESCHICHTUNGSDICKE. VERFAHREN MIT EINEM RASTERELEKTRONENMIKROSKOP. (ISO 9220:1988).

AT-ON, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

OENORM EN ISO 21363:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020)
OENORM EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)

International Electrotechnical Commission (IEC), Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

ISO TS 10797:2012 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Transmissionselektronenmikroskopie
IEC PAS 62191:2000 Akustische Mikroskopie für nichthermetisch gekapselte elektronische Komponenten
ISO TS 22292:2021 Nanotechnologien – 3D-Bildrekonstruktion von stabgestützten Nanoobjekten mittels Transmissionselektronenmikroskopie
IEC TS 62607-6-2:2023 Nanofertigung – Wichtige Kontrollmerkmale – Teil 6-2: Graphen – Anzahl der Schichten: Rasterkraftmikroskopie, optische Transmission, Raman-Spektroskopie

Professional Standard - Petroleum, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

SY/T 5162-2014 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
SY/T 5162-1997 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
SY 5162-2014 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode für Gesteinsproben

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

JEDEC J-STD-035-1999 Akustische Mikroskopie für nichthermetisch gekapselte elektronische Komponenten

国家能源局, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

SY/T 5162-2021 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode von Gesteinsproben

未注明发布机构, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

DIN EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Partikelformverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
DIN EN ISO 21363 E:2021-09 Nanotechnology Measurement of Particle Size and Shape Distribution by Transmission Electron Microscopy (Draft)
BS CECC 13:1985(1999) Harmonisiertes System zur Qualitätsbewertung elektronischer Komponenten: Grundspezifikation: Rasterelektronenmikroskop-Inspektion von Halbleiterchips

Professional Standard - Public Safety Standards, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

GA/T 1939-2021 Forensische Wissenschaft Aktuelle Stichprobenuntersuchung Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1938-2021 Forensische Metallinspektion Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1937-2021 Forensische Wissenschaft Gummiinspektion Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1522-2018 Forensische Wissenschaft, Untersuchung von Schießrückständen, Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 909-2010 Sammel- und Verpackungsmethode für Spurenspuren – Schussrückstände (SEM/EDS-Untersuchung)
GA/T 1521-2018 Forensische Wissenschaft, Untersuchung der Elementarzusammensetzung von Kunststoffen, Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1519-2018 Forensische Wissenschaft Prüfung der Tonerelementzusammensetzung Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1520-2018 Forensische Wissenschaft Schwarzpulver, pyrotechnische Pulverelementzusammensetzungsprüfung Rasterelektronenmikroskop/Röntgenenergiespektrometrie
GA/T 823.3-2018 Methoden zur Untersuchung von Farbspuren in der Forensik Teil 3: Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

DB32/T 3459-2018 Rasterelektronenmikroskopie zur Messung der Mikroflächenbedeckung von Graphenfilmen

SE-SIS, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

SIS SS-ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
SIS SS CECC 00013-1985 Grundlegende Spezifikation: Rasterelektronenmikroskopische Inspektion von Halbleiterchips

GOSTR, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

PNST 507-2020 Nanotechnologien. Einwandige Kohlenstoffnanoröhren. Charakterisierung mittels Transmissionselektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrie
PNST 508-2020 Nanotechnologien. Einwandige Kohlenstoffnanoröhren. Charakterisierung mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrie

IT-UNI, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

UNI 7604-1976 Elektronenmikroskopische Untersuchung metallischer Werkstoffe mittels Replikattechnik. Herstellung von Replikaten für die Mikrofraktographie-Untersuchung.
UNI 7329-1974 Elektronenmikroskopische Untersuchung metallischer Werkstoffe mittels Replikattechnik. Herstellung von Replikaten zur Mikrostrukturuntersuchung.

IX-IX-IEC, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

IEC TS 62607-6-17:2023 Nanofertigung – Wichtige Kontrollmerkmale – Teil 6-17: Material auf Graphenbasis – Ordnungsparameter: Röntgenbeugung und Transmissionselektronenmikroskopie

Lithuanian Standards Office , Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

LST EN ISO 9220:2001 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)

Professional Standard - Commodity Inspection, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

SN/T 2649.1-2010 Bestimmung von Asbest in Kosmetika für den Import und Export. Teil 1: Röntgenbeugungs- und Rasterelektronenmikroskopie-Methode

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

GJB 5384.22-2005 Leistungstestverfahren für pyrotechnische Zusammensetzungen Teil 21: Konzentrationsbestimmung der Mengen fester Rauchpartikel Elektronenmikroskopische Methode
GJB 5384.23-2005 Leistungstestverfahren für pyrotechnische Zusammensetzungen Teil 23: Bestimmung der Partikelgrößenverteilung für feste Rauchpartikel Elektronenmikroskopische Methode

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

GJB 8684.22-2015 Prüfverfahren für pyrotechnische Eigenschaften – Teil 22: Bestimmung der Anzahlkonzentration von Rauchfeststoffpartikeln mittels Elektronenmikroskopie
GJB 8684.23-2015 Prüfverfahren für pyrotechnische Eigenschaften – Teil 23: Bestimmung der Partikelgrößenverteilung von Rauchfeststoffpartikeln mittels Elektronenmikroskopie

BE-NBN, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

NBN EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)

IPC - Association Connecting Electronics Industries, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

IPC/JEDEC J-STD-035 CD-1999 Akustische Mikroskopie für nicht hermetisch gekapselte elektronische Komponenten (Enthält Änderung 1: Januar 2007)

VN-TCVN, Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

TCVN 6502-1999 Umgebungsluft.Bestimmung von Asbestfasern.Methode der Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie

American National Standards Institute （ANSI), Transmissionselektronenmikroskopie und Elektronenmikroskopie

ANSI/ASTM D6059:2001 Testverfahren zur Bestimmung der Konzentration luftgetragener einkristalliner Keramikwhisker in der Arbeitsumgebung mittels Rasterelektronenmikroskopie
ANSI/ASTM D6056:2001 Testverfahren zur Bestimmung der Konzentration luftgetragener einkristalliner Keramikwhisker in der Arbeitsumgebung mittels Transmissionselektronenmikroskopie
ASTM D6281-23 Standardtestmethode für die Asbestkonzentration in der Luft in der Umgebungs- und Innenatmosphäre, bestimmt durch Transmissionselektronenmikroskopie Direct Transfer (TEM) (Standard + Redline PDF Bundle)