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RURastertunnelmikroskopie und Atomkraft
Für die Rastertunnelmikroskopie und Atomkraft gibt es insgesamt 12 relevante Standards.
In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Rastertunnelmikroskopie und Atomkraft die folgenden Kategorien: Längen- und Winkelmessungen, Thermodynamik und Temperaturmessung, analytische Chemie.
American Society for Testing and Materials (ASTM), Rastertunnelmikroskopie und Atomkraft
- ASTM E2382-04 Leitfaden zu Scanner- und Spitzenartefakten in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
- ASTM E2382-04(2012) Standardhandbuch für Scanner- und Spitzenartefakte in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
- ASTM E2382-04(2020) Standardhandbuch für Scanner- und Spitzenartefakte in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
RU-GOST R, Rastertunnelmikroskopie und Atomkraft
- GOST R 8.593-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methode zur Überprüfung
- GOST 8.593-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methode zur Überprüfung
- GOST R 8.635-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methode zur Kalibrierung
Group Standards of the People's Republic of China, Rastertunnelmikroskopie und Atomkraft
German Institute for Standardization, Rastertunnelmikroskopie und Atomkraft
- DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotechnologien - Methoden zur Vorbereitung und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Transmissionsrasterelektronenmikroskopie (TSEM)
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Rastertunnelmikroskopie und Atomkraft
- GB/Z 26083-2010 Bestimmung von Kupfer(Ⅱ)-octaakoxyl-substituiertem Phthalocyanin auf Graphitoberfläche (Rastertunnelmikroskop)
International Organization for Standardization (ISO), Rastertunnelmikroskopie und Atomkraft
- ISO 21222:2020 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmodule für nachgiebige Materialien unter Verwendung des Rasterkraftmikroskops und der Zweipunkt-JKR-Methode
British Standards Institution (BSI), Rastertunnelmikroskopie und Atomkraft
- BS ISO 21222:2020 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmoduli für nachgiebige Materialien mittels Rasterkraftmikroskop und der Zweipunkt-JKR-Methode
- 19/30351707 DC BS ISO 21222. Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmoduli für nachgiebige Materialien mittels Rasterkraftmikroskop und der Zweipunkt-JKR-Methode