So messen Sie die Auflösung eines Mikroskops

Für die So messen Sie die Auflösung eines Mikroskops gibt es insgesamt 14 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst So messen Sie die Auflösung eines Mikroskops die folgenden Kategorien: analytische Chemie.

ISO/DIS 23124:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Messung der lateralen und axialen Auflösung des Raman-Mikroskops
ISO/FDIS 23124:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Messung der lateralen und axialen Auflösung eines Raman-Mikroskops
ISO 18337:2015 Chemische Oberflächenanalyse – Oberflächencharakterisierung – Messung der lateralen Auflösung eines konfokalen Fluoreszenzmikroskops
ISO 23420:2021 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
ISO 11952:2019 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung geometrischer Größen mittels SPM: Kalibrierung von Messsystemen

BS ISO 23420:2021 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
BS ISO 18337:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Oberflächencharakterisierung. Messung der lateralen Auflösung eines konfokalen Fluoreszenzmikroskops
23/30420097 DC BS ISO 23124 Oberflächenchemische Analyse. Messung der lateralen und axialen Auflösung des Raman-Mikroskops
20/30380369 DC BS ISO 23420. Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
BS ISO 11952:2019 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Bestimmung geometrischer Größen mittels SPM: Kalibrierung von Messsystemen
PD IEC TS 62607-9-1:2021 Nanofertigung. Wichtige Kontrollmerkmale. Rückverfolgbare ortsaufgelöste nanoskalige Streumagnetfeldmessungen. Magnetkraftmikroskopie

GOST R ISO 27911-2015 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Definition und Kalibrierung der lateralen Auflösung eines optischen Nahfeldmikroskops

IEC TS 62607-9-1:2021 Nanofertigung – Wichtige Kontrollmerkmale – Teil 9-1: Rückverfolgbare ortsaufgelöste nanoskalige Streumagnetfeldmessungen – Magnetkraftmikroskopie

DIN 22020-5:2005-02 Untersuchungen des Rohstoffes im Steinkohlenbergbau - Mikroskopische Untersuchungen von Steinkohle, Koks und Briketts - Teil 5: Reflexionsmessungen an Vitriniten / Hinweis: Neben dieser Norm behält die DIN 22020-5 (1986-09) bis 2005-07 ihre Gültigkeit -31.