Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

Für die Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop gibt es insgesamt 274 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop die folgenden Kategorien: Optische Ausrüstung, Nichteisenmetalle, Optik und optische Messungen, Längen- und Winkelmessungen, analytische Chemie, Wortschatz, erziehen, Kriminalprävention, Thermodynamik und Temperaturmessung, Elektronische Anzeigegeräte, Luftqualität, Oberflächenbehandlung und Beschichtung, Baumaterial, Zerstörungsfreie Prüfung, Mechanischer Test, Stahlprodukte, Textilfaser, Keramik, Farben und Lacke, Medizinische Wissenschaften und Gesundheitsgeräte integriert, Prüfung von Metallmaterialien, Optoelektronik, Lasergeräte, Physik Chemie, Zutaten für die Farbe.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

JIS K 0132:1997 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
JIS K 3850-1:2006 Bestimmung luftgetragener Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
JIS K 0149-1:2008 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
JIS K 3850-1:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
JIS K 0147-2:2017 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular – Teil 2: Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden
JIS R 1633:1998 Verfahren zur Probenvorbereitung von Feinkeramik und Feinkeramikpulvern für die Rasterelektronenmikroskopbeobachtung

International Organization for Standardization (ISO), Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

ISO/TS 21383:2021 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Qualifizierung des Rasterelektronenmikroskops für quantitative Messungen
ISO 22493:2008 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Vokabeln
ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
ISO 9220:1988 Metallische Beschichtungen; Messung der Schichtdicke; Rasterelektronenmikroskop-Methode
ISO 27911:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Definition und Kalibrierung der lateralen Auflösung eines optischen Nahfeldmikroskops
ISO/WD TR 23683:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Leitfaden zur experimentellen Quantifizierung der Trägerkonzentration in Halbleiterbauelementen mithilfe der elektrischen Rastersondenmikroskopie
ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methode zur Bewertung kritischer Abmessungen mittels CD-SEM
ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
ISO 11039:2012 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Messung der Driftrate
ISO 18115-2:2021 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular – Teil 2: Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden
ISO 22493:2014 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Vokabeln
ISO 28600:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Datenübertragungsformat für die Rastersondenmikroskopie
ISO 14966:2019 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
ISO 11775:2015 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung der Normalfederkonstanten des Cantilevers
ISO 21222:2020 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmodule für nachgiebige Materialien unter Verwendung des Rasterkraftmikroskops und der Zweipunkt-JKR-Methode
ISO 14966:2002 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
ISO 18115-2:2010 Analysieren chemischer Oberflächen – Vokabeln – Teil 2: Termes utilisés en microscopie à sonde à balayage (Erstausgabe)
ISO 11952:2019 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung geometrischer Größen mittels SPM: Kalibrierung von Messsystemen
ISO 11952:2014 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung geometrischer Größen mittels SPM: Kalibrierung von Messsystemen
ISO 14966:2002/cor 1:2007 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode; Technische Berichtigung 1
ISO 18115-2:2013 Chemische Oberflächenanalyse.Vokabular.Teil 2: Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden
ISO/TS 10798:2011 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse
ISO 16000-27:2014 Raumluft - Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)
ISO 17751-2:2014 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode
ISO 17751-2:2023 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode
ISO 17751-2:2016 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle, anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

KS D 2714-2016(2021) Rastersondenmikroskop – Methode für Querkraftmikroskop
KS D 2714-2016 Rastersondenmikroskop – Methode für Querkraftmikroskop
KS D ISO 22493-2012(2017) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
KS D ISO 22493:2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
KS I 0051-1999(2019) Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS M 0044-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS D ISO 22493:2012 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
KS I 0051-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS D ISO 16700-2013(2018) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS D ISO 16700:2013 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS D 2714-2006 Rastersondenmikroskop-Methode für Querkraftmikroskope
KS D ISO 9220:2009 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 9220-2009(2022) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 9220-2009(2017) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D 2713-2016 Bewertung der räumlichen Auflösung von NSOM (Near-field Scanning Optical Microscope)
KS D 2713-2016(2021) Bewertung der räumlichen Auflösung von NSOM (Near-field Scanning Optical Microscope)
KS K ISO 17751-2:2019 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

JJF 1916-2021 Kalibrierungsspezifikation für Rasterelektronenmikroskope (REM)
JJF 1351-2012 Kalibrierungsspezifikation für Rastersondenmikroskope

Professional Standard - Machinery, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

JB/T 6842-1993 Testmethode des Rasterelektronenmikroskops
JB/T 5384-1991 Rasterelektronenmikroskop – Technische Spezifikation
JB/T 7503-1994 Dicke des Querschnitts von Metallbeschichtungen Rasterelektronenmikroskop-Messmethode

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

JJG(教委) 11-1992 Vorschriften zur Kalibrierung von Rasterelektronenmikroskopen
JJG 550-1988 Verifizierungsregelung des Rasterelektronenmikroskops

Professional Standard - Commodity Inspection, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

SN/T 4388-2015 Lederidentifizierung. Rasterelektronenmikroskopie und optische Mikroskopie
SN/T 3009-2011 Identifizierung von Meerwasserkorrosion auf metallischen Oberflächen mittels REM
SN/T 2649.1-2010 Bestimmung von Asbest in Kosmetika für den Import und Export. Teil 1: Röntgenbeugungs- und Rasterelektronenmikroskopie-Methode

KR-KS, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

KS D ISO 22493-2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
KS D ISO 16700-2023 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS C ISO 19749-2023 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
KS K ISO 17751-2-2019 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode

American Society for Testing and Materials (ASTM), Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

ASTM E2382-04 Leitfaden zu Scanner- und Spitzenartefakten in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
ASTM E2382-04(2012) Standardhandbuch für Scanner- und Spitzenartefakte in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
ASTM E2382-04(2020) Standardhandbuch für Scanner- und Spitzenartefakte in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
ASTM E766-98(2003) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-98 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E986-04 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E986-04(2010) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E986-97 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E986-04(2017) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E766-14 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-98(2008)e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM C1723-16(2022) Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM C1723-10 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM C1723-16 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM E766-14(2019) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-14e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E1813-96e1 Standardpraxis zum Messen und Berichten der Sondenspitzenform in der Rastersondenmikroskopie
ASTM E1813-96(2002) Standardpraxis zum Messen und Berichten der Sondenspitzenform in der Rastersondenmikroskopie
ASTM E1813-96(2007) Standardpraxis zum Messen und Berichten der Sondenspitzenform in der Rastersondenmikroskopie
ASTM B748-90(1997) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM B748-90(2006) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM E2142-08(2015) Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
ASTM E2142-08 Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
ASTM E2142-08(2023) Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
ASTM B748-90(2010) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM E2809-13 Standardhandbuch für den Einsatz von Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektrometrie bei forensischen Farbuntersuchungen
ASTM B748-90(2021) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM E2090-00 Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die von Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
ASTM E2090-12 Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die aus Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
ASTM E1588-95(2001) Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Spektroskopie
ASTM E1588-08 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
ASTM E1588-10 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
ASTM E2142-01 Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
ASTM E1588-95 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Spektroskopie
ASTM B748-90(2016) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM B748-90(2001) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM F1372-93(1999) Standardtestmethode für die Rasterelektronenmikroskop-Analyse (REM) des metallischen Oberflächenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen
ASTM E1588-20 Standardpraxis für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
ASTM F1372-93(2020) Standardtestmethode für die Rasterelektronenmikroskop-Analyse (REM) des metallischen Oberflächenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen
ASTM D605-82(1996)e1 Standardspezifikation für Magnesiumsilikatpigment (Talk)
ASTM D6059-96(2011) Standardtestmethode zur Bestimmung der Konzentration luftgetragener einkristalliner Keramikwhisker in der Arbeitsumgebung mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM F1438-93(1999) Standardtestmethode zur Bestimmung der Oberflächenrauheit mittels Rastertunnelmikroskopie für Komponenten von Gasverteilungssystemen
ASTM F1438-93(2020) Standardtestmethode zur Bestimmung der Oberflächenrauheit mittels Rastertunnelmikroskopie für Komponenten von Gasverteilungssystemen
ASTM E280-98(2004)e1 Standard-Referenzröntgenaufnahmen für dickwandige (4 &189; bis 12 Zoll [114 bis 305 mm]) Stahlgussteile
ASTM E1588-07 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
ASTM E2809-22 Standardhandbuch für den Einsatz von Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektroskopie (SEM/EDS) bei forensischen Polymeruntersuchungen
ASTM F1372-93(2012) Standardtestmethode für die Rasterelektronenmikroskop-Analyse (REM) des metallischen Oberflächenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen
ASTM E1588-07e1 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
ASTM F1372-93(2005) Standardtestmethode für die Rasterelektronenmikroskop-Analyse (REM) des metallischen Oberflächenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen
ASTM E280-21 Standard-Referenzröntgenaufnahmen für dickwandige (412 bis 12 Zoll (114 bis 305 mm)) Stahlgussteile
ASTM F1438-93(2012) Standardtestmethode zur Bestimmung der Oberflächenrauheit mittels Rastertunnelmikroskopie für Komponenten von Gasverteilungssystemen

Group Standards of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

T/SPSTS 032-2023 Allgemeine Spezifikationen für die elektrochemische Rastermikroskopie
T/QGCML 1940-2023 Rasterelektronenmikroskop-In-situ-Hochtemperatur-Mechanikprüfgerät
T/SPSTS 030-2023 Messung der Blattgröße von Graphenmaterial mittels Rasterelektronenmikroskopie
T/CSTM 00795-2022 Materialexperimentelle Daten – Anforderungen für Rasterelektronenmikroskopbilder
T/CSTM 00229-2020 Identifizierung von Graphenmaterialien in Beschichtungsmaterialien Rasterelektronenmikroskop-Energiedispersionsspektrometer-Methode
T/NLIA 004-2021 In-situ-REM-Zugversuchsmethode für additiv gefertigte Aluminiumlegierungen
T/CSTM 00346-2021 Automatische Klassifizierung und Statistik für Einschlüsse in Stahl – Energiedispersive Spektrummethode des Rasterelektronenmikroskops
T/GAIA 017-2022 Bestimmung des Fluorgehalts in der Oberflächenbeschichtung von Aluminium und Aluminiumlegierungen – Rasterelektronenmikroskop- und energiedispersives Spektrometerverfahren

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

GB/T 33834-2017 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Rasterelektronenmikroskopanalyse biologischer Proben
GB/T 36052-2018 Chemische Oberflächenanalyse – Datenübertragungsformat für die Rastersondenmikroskopie
GB/T 33838-2017 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe

Professional Standard - Education, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

JY/T 0584-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der Rasterelektronenmikroskopie
JY/T 010-1996 Allgemeine Prinzipien der analytischen Rasterelektronenmikroskopie
JY/T 0582-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der Rastersondenmikroskopie
JY/T 0586-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der konfokalen Laser-Scanning-Mikroskopie

British Standards Institution (BSI), Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

18/30319114 DC BS ISO 20171. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Markiertes Bilddateiformat für Rasterelektronenmikroskopie (TIFF/SEM)
BS EN ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
BS ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
BS EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
BS ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen durch CDSEM
BS ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
BS ISO 18115-2:2013 Chemische Oberflächenanalyse. Wortschatz. Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
BS ISO 28600:2011 Chemische Oberflächenanalyse. Datenübertragungsformat für die Rastersondenmikroskopie
BS ISO 27911:2011 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Definition und Kalibrierung der lateralen Auflösung eines optischen Nahfeldmikroskops
18/30344520 DC BS ISO 21466. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen mittels CD-SEM
BS ISO 19749:2021 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
BS ISO 18115-2:2021 Chemische Oberflächenanalyse. Wortschatz – Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden
BS EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
BS ISO 22493:2014 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Wortschatz
BS ISO 14966:2019 Umgebungsluft. Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel. Methode der Rasterelektronenmikroskopie
BS ISO 18115-2:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular – Begriffe aus der Rastersondenmikroskopie
BS ISO 11775:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Bestimmung der Normalfederkonstanten des Auslegers
18/30351679 DC BS ISO 19749. Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
BS ISO 14966:2002 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
18/30375050 DC BS ISO 14966. Umgebungsluft. Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel. Methode der Rasterelektronenmikroskopie
BS ISO 21222:2020 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmoduli für nachgiebige Materialien mittels Rasterkraftmikroskop und der Zweipunkt-JKR-Methode
19/30351707 DC BS ISO 21222. Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmoduli für nachgiebige Materialien mittels Rasterkraftmikroskop und der Zweipunkt-JKR-Methode
BS ISO 11952:2019 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Bestimmung geometrischer Größen mittels SPM: Kalibrierung von Messsystemen
BS EN ISO 17751-2:2023 Textilien. Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
12/30265696 DC BS ISO 18115-2 AMD1. Chemische Oberflächenanalyse. Wortschatz. Teil 2. Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden
DD ISO/TS 10798:2011 Nanotechnologien. Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse
BS EN ISO 17751-2:2016 Textilien. Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen. Methode der Rasterelektronenmikroskopie
12/30228339 DC BS ISO 16000-27. Innenluft. Teil 27. Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)
BS DD ISO/TS 10798:2011 Nanotechnologien. Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse

Professional Standard - Petroleum, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

SY/T 5162-2014 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
SY/T 5162-1997 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
SY 5162-2014 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode für Gesteinsproben

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

DB31/T 297-2003 Kalibrierungsmethode für die Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops

国家能源局, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

SY/T 5162-2021 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode von Gesteinsproben

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

GB/T 29190-2012 Messmethoden der Driftrate des Rastersondenmikroskops
GB/T 42659-2023 Oberflächenchemische Analyse Rastersondenmikroskopie Bestimmung geometrischer Größen mittels Rastersondenmikroskopie: Messsystemkalibrierung
GB/T 18295-2001 Analysemethode einer Sandsteinprobe aus Erdöl- und Gaslagerstätten mittels Rasterelektronenmikroskop
GB/T 16594-1996 Längenmessung im Mikrometerbereich mittels REM
GB/T 16594-2008 Allgemeine Regeln für die Längenmessung im Mikrometerbereich mittels REM
GB/T 19267.6-2003 Physikalische und chemische Untersuchung von Spuren in der Forensik – Teil 6: Rasterelektronenmikroskopie
GB/T 27788-2011 Mikrostrahlanalyse.Rasterelektronenmikroskopie.Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
GB/T 23414-2009 Mikrostrahlanalyse.Rasterelektronenmikroskopie.Wortschatz
GB/T 31563-2015 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskop-Methode
GB/T 36422-2018 Chemiefaser.Testmethode für Mikromorphologie und Durchmesser.Rasterelektronenmikroskop-Methode
GB/T 28873-2012 Allgemeiner Leitfaden zur Umwelt-Rasterelektronenmikroskopie für biologische Effekte auf die Topographie, die durch Nanopartikel hervorgerufen werden
GB/T 17722-1999 Vergoldete Dickenmessung mittels REM
GB/T 17361-2013 Mikrostrahlanalyse. Identifizierung authentischer Tonminerale in Sedimentgesteinen mittels Rasterelektronenmikroskop und energiedispersivem Spektrometer
GB/T 17361-1998 Methode zur Identifizierung authentischer Tonminerale in Sedimentgesteinen mittels SEM und XEDS
GB/T 20307-2006 Allgemeine Regeln für die Längenmessung im Nanometerbereich mittels REM
GB/T 19267.6-2008 Physikalische und chemische Untersuchung von Spuren in der Forensik. Teil 6: Rasterelektronenmikroskop/Röntgenenergiedispersive Spektrometrie
GB/T 25189-2010 Mikrostrahlanalyse. Bestimmungsmethode für quantitative Analyseparameter von SEM-EDS
GB/T 17362-2008 Methode zur Analyse des Röntgenenergiespektrums mit einem Rasterelektronenmikroskop für Goldprodukte
GB/T 17362-1998 Zerstörungsfreie Methode der Röntgen-EDS-Analyse mit REM für Goldschmuck
GB/T 30834-2014 Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl. Rasterelektronenmikroskop
GB/T 30834-2022 Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl – Rasterelektronenmikroskop-Methode
GB/T 17359-1998 Allgemeine Spezifikation der quantitativen Röntgen-EDS-Analyse für EPMA und SEM
GB/Z 26083-2010 Bestimmung von Kupfer(Ⅱ)-octaakoxyl-substituiertem Phthalocyanin auf Graphitoberfläche (Rastertunnelmikroskop)
GB/T 14593-2008 Quantitative Analysemethode für Kaschmir, Wolle und deren Mischungen. Rasterelektronenmikroskop-Methode

Professional Standard - Judicatory, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

SF/T 0139-2023 Bodeninspektion Rasterelektronenmikroskop/Röntgenenergiespektrometrie

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

DB32/T 3459-2018 Rasterelektronenmikroskopie zur Messung der Mikroflächenbedeckung von Graphenfilmen
DB32/T 4546-2023 Technische Spezifikationen für die automatisierte Inspektion von Diatomeenbildern mittels Rasterelektronenmikroskopen

Association Francaise de Normalisation, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

NF X21-005:2006 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung.
NF A91-108:1995 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
NF T25-111-4:1991 Kohlenstofffasern – Textur und Struktur – Teil 4: Fraktographie mittels Rasterelektronenmikroskop
NF EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Bestimmung der Partikelgrößen- und Formverteilung mittels Rasterelektronenmikroskopie
NF X21-069-2:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular – Teil 2: Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden.
NF X21-010:2009 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Vokabeln.
NF ISO 16000-27:2014 Raumluft - Teil 27: Bestimmung von auf Oberflächen abgelagertem Faserstaub mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)
FD T16-203:2011 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse
NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 Raumluft - Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)
NF G07-142-2*NF EN ISO 17751-2:2016 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode

SE-SIS, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

SIS SS-ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
SIS SS CECC 00013-1985 Grundlegende Spezifikation: Rasterelektronenmikroskopische Inspektion von Halbleiterchips

European Committee for Standardization (CEN), Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
EN ISO 9220:1994 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode (ISO 9220: 1988)
EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021)
prEN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)

RU-GOST R, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

GOST R 8.594-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope
GOST R 8.636-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methoden zur Kalibrierung
GOST 8.594-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methode zur Überprüfung
GOST R 8.631-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methoden zur Überprüfung
GOST 8.593-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methode zur Überprüfung
GOST R 8.630-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methoden zur Überprüfung
GOST R 8.635-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methode zur Kalibrierung
GOST R 8.593-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methode zur Überprüfung
GOST R ISO 27911-2015 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Definition und Kalibrierung der lateralen Auflösung eines optischen Nahfeldmikroskops
GOST ISO 16000-27-2017 Innenluft. Teil 27. Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)

Danish Standards Foundation, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

DS/EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
DS/ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
DS/ISO/TS 10798:2011 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse

German Institute for Standardization, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

DIN EN ISO 9220:2022-05 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:2022); Deutsche Fassung EN ISO 9220:2022
DIN EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO/DIS 9220:2021); Deutsche und englische Version prEN ISO 9220:2021
DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotechnologien - Methoden zur Vorbereitung und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Transmissionsrasterelektronenmikroskopie (TSEM)
DIN EN ISO 19749:2023-07 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021); Deutsche Fassung EN ISO 19749:2023
DIN EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:1988); Deutsche Fassung EN ISO 9220:1994
DIN ISO 16000-27:2014-11 Raumluft – Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode) (ISO 16000-27:2014)
DIN EN ISO 17751-2:2016-11 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Verfahren (ISO 17751-2:2016); Deutsche Fassung EN ISO 17751-2:2016 / Hinweis: Wird durch DIN EN ISO 17751-2 (2022-09) ersetzt.
DIN EN ISO 17751-2:2022-09 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Verfahren (ISO/DIS 17751-2:2022); Deutsche und englische Version prEN ISO 17751-2:2022 / Hinweis: Ausgabedatum 19.08.2022*I...

ES-UNE, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

UNE-EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
UNE-EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen durch Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021) (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Mai 2023.)
UNE-EN ISO 17751-2:2016 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode (ISO 17751-2:2016)

Professional Standard - Public Safety Standards, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

GA/T 1938-2021 Forensische Metallinspektion Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1937-2021 Forensische Wissenschaft Gummiinspektion Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1939-2021 Forensische Wissenschaft Aktuelle Stichprobenuntersuchung Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1522-2018 Forensische Wissenschaft, Untersuchung von Schießrückständen, Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1521-2018 Forensische Wissenschaft, Untersuchung der Elementarzusammensetzung von Kunststoffen, Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1519-2018 Forensische Wissenschaft Prüfung der Tonerelementzusammensetzung Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 909-2010 Sammel- und Verpackungsmethode für Spurenspuren – Schussrückstände (SEM/EDS-Untersuchung)
GA/T 1520-2018 Forensische Wissenschaft Schwarzpulver, pyrotechnische Pulverelementzusammensetzungsprüfung Rasterelektronenmikroskop/Röntgenenergiespektrometrie
GA/T 823.3-2018 Methoden zur Untersuchung von Farbspuren in der Forensik Teil 3: Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1418-2017 Untersuchung der Elementzusammensetzung von forensischen Glasbeweisen, Rasterelektronenmikroskopie/Energiespektroskopie

AENOR, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

UNE-EN ISO 9220:1996 METALLISCHE BESCHICHTUNGEN. MESSUNG DER BESCHICHTUNGSDICKE. VERFAHREN MIT EINEM RASTERELEKTRONENMIKROSKOP. (ISO 9220:1988).

Lithuanian Standards Office , Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

LST EN ISO 9220:2001 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

DB44/T 1527-2015 Mikrostrahlanalyse-Rasterelektronenmikroskop-Bildklarheitsbewertungsmethode

AT-ON, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

OENORM EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)

Association of German Mechanical Engineers, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Bestimmung geometrischer Größen mittels Rastersondenmikroskopen - Kalibrierung von Messsystemen
VDI 3861 Blatt 2-2008 Emissionen aus stationären Quellen – Messung anorganischer Faserpartikel im Abgas – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
VDI 3866 Blatt 5-2004 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten – Rasterelektronenmikroskopische Methode
VDI 3866 Blatt 5-2017 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten – Rasterelektronenmikroskopische Methode
VDI 3492-2004 Raumluftmessung - Raumluftmessung - Messung anorganischer Faserpartikel - Rasterelektronenmikroskopie-Methode
VDI 3492-2013 Raumluftmessung - Raumluftmessung - Messung anorganischer Faserpartikel - Rasterelektronenmikroskopie-Methode

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

GB/T 27788-2020 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
GB/T 35099-2018 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie mit energiedispersiver Röntgenspektrometrie – Morphologie und Elementanalyse einzelner feiner Partikel in der Umgebungsluft
GB/T 38783-2020 Methode zur Schichtdickenbestimmung für Edelmetallverbundwerkstoffe mittels Rasterelektronenmikroskop

工业和信息化部, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

SJ/T 11759-2020 Messung des Seitenverhältnisses von Photovoltaik-Zellenelektroden-Gitterlinien durch konfokale Laser-Scanning-Mikroskopie
YS/T 1491-2021 Methode zur Bestimmung der Sphärizität von Hochtemperaturlegierungspulvern auf Nickelbasis mittels Rasterelektronenmikroskopie

BE-NBN, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

NBN EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)

未注明发布机构, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

JIS K 0182:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung der Normalfederkonstanten des Cantilevers
BS CECC 13:1985(1999) Harmonisiertes System zur Qualitätsbewertung elektronischer Komponenten: Grundspezifikation: Rasterelektronenmikroskop-Inspektion von Halbleiterchips
DIN ISO 16000-27 E:2012-12 Raumluft - Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)

American National Standards Institute （ANSI), Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

ANSI/ASTM D6059:2001 Testverfahren zur Bestimmung der Konzentration luftgetragener einkristalliner Keramikwhisker in der Arbeitsumgebung mittels Rasterelektronenmikroskopie

未注明发布机构, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

JIS K 0182:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung der Normalfederkonstanten des Cantilevers
BS CECC 13:1985(1999) Harmonisiertes System zur Qualitätsbewertung elektronischer Komponenten: Grundspezifikation: Rasterelektronenmikroskop-Inspektion von Halbleiterchips
DIN ISO 16000-27 E:2012-12 Raumluft - Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

GJB 737.11-1993 Prüfmethoden für pyrotechnische Chemikalien Partikelgrößenbestimmung Rasterelektronenmikroskopie

GOSTR, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

PNST 508-2020 Nanotechnologien. Einwandige Kohlenstoffnanoröhren. Charakterisierung mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrie

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

GJB 5891.6-2006 Prüfverfahren zum Laden von Material zur Zündung von Sprengkörpern Teil 6: Messung der Korngröße Rasterelektronenmikroskopie

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

DB35/T 110-2000 Elektronensonden- und Rasterelektronenmikroskop-Röntgenenergiespektrum-Analyseverfahren zur Erkennung physischer Farbspuren

BELST, Rasterelektronenmikroskop und Rastermikroskop

STB 2210-2011 Nanogroße Kohlenstoff- und Nicht-Kohlenstoffmaterialien und darauf basierende Verbundwerkstoffe. Verfahren zur Bestimmung von Parametern mittels Rasterelektronenmikroskopie-Messungen