ZH
RU
EN

microscopio de barrido

microscopio de barrido, Total: 102 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en microscopio de barrido son: Metales no ferrosos, Equipo óptico, Medidas lineales y angulares., Vocabularios, Óptica y medidas ópticas., Química analítica, Calidad del aire, Educación, Protección contra el crimen, Dispositivos de visualización electrónica., Tratamiento superficial y revestimiento., Materiales de construcción, Pruebas no destructivas, Pruebas mecánicas.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), microscopio de barrido

KS D 2714-2016 Microscopio de sonda de barrido－Método para microscopio de fuerza lateral
KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS D 2714-2016(2021) Microscopio de sonda de barrido－Método para microscopio de fuerza lateral
KS M 0044-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS I 0051-1999(2019) Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS I 0051-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS D ISO 16700-2013(2018) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
KS D 2714-2006 Microscopio de sonda de barrido-Método para microscopio de fuerza lateral
KS D 2713-2016 Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
KS D 2713-2016(2021) Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
KS D ISO 9220:2009 Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220-2009(2022) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220-2009(2017) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes

British Standards Institution (BSI), microscopio de barrido

18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
BS ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas por CDSEM
BS EN ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
BS ISO 18115-2:2013 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
18/30344520 DC BS ISO 21466. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas mediante CD-SEM
BS ISO 16700:2016 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen
BS ISO 28600:2011 Análisis químico de superficies. Formato de transferencia de datos para microscopía con sonda de barrido.
BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
BS ISO 18115-2:2021 Análisis químico de superficies. Vocabulario: términos utilizados en microscopía de sonda de barrido

International Organization for Standardization (ISO), microscopio de barrido

ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
ISO/WD TR 23683:2023 Análisis químico de superficies: microscopía con sonda de barrido. Directrices para la cuantificación experimental de la concentración de portadores en dispositivos semiconductores mediante microscopía con sonda de barrido eléctrica.
ISO 22493:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método para evaluar dimensiones críticas mediante CD-SEM.
ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
ISO 9220:1988 Recubrimientos metálicos; medición del espesor del recubrimiento; método de microscopio electrónico de barrido
ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO 11039:2012 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Medición de la tasa de deriva
ISO 18115-2:2021 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 2: Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.

BE-NBN, microscopio de barrido

NBN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), microscopio de barrido

JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
JIS K 3850-1:2006 Determinación de partículas fibrosas en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
JIS K 3850-1:2000 Método de medición de partículas fibrosas en suspensión en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
JIS K 0149-1:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes

German Institute for Standardization, microscopio de barrido

DIN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988); Versión alemana EN ISO 9220:1994
DIN EN ISO 9220:2022-05 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022); Versión alemana EN ISO 9220:2022

KR-KS, microscopio de barrido

KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, microscopio de barrido

JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)
JJF 1351-2012 Especificación de calibración para microscopios de sonda de barrido

Professional Standard - Machinery, microscopio de barrido

JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, microscopio de barrido

JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
JJG 550-1988 Reglamento de verificación del microscopio electrónico de barrido.

Professional Standard - Education, microscopio de barrido

JY/T 0582-2020 Reglas generales para los métodos analíticos de microscopía de sonda de barrido
JY/T 0584-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía electrónica de barrido.
JY/T 010-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de barrido analítica.
JY/T 0586-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía confocal de barrido láser.

American Society for Testing and Materials (ASTM), microscopio de barrido

ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-98 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2382-04(2020) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
ASTM E2382-04 Guía de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
ASTM E986-97 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-04(2017) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-14 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-98(2008)e1 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2382-04(2012) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
ASTM E986-04 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-04(2010) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM C1723-16(2022) Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM C1723-10 Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM C1723-16
ASTM E2090-00 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas por limpiadores de salas limpias mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
ASTM E2090-12 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
ASTM E1813-96e1 Práctica estándar para medir e informar la forma de la punta de la sonda en microscopía de sonda de barrido
ASTM E1813-96(2002) Práctica estándar para medir e informar la forma de la punta de la sonda en microscopía de sonda de barrido
ASTM E1813-96(2007) Práctica estándar para medir e informar la forma de la punta de la sonda en microscopía de sonda de barrido
ASTM E766-14(2019) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido

Professional Standard - Petroleum, microscopio de barrido

SY/T 5162-2014 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
SY/T 5162-1997 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
SY 5162-2014 Método de análisis de microscopía electrónica de barrido para muestras de rocas

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, microscopio de barrido

DB31/T 297-2003 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de barrido.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, microscopio de barrido

GB/T 29190-2012 Métodos de medición de la tasa de deriva del microscopio de sonda de barrido.
GB/T 42659-2023 Análisis químico de superficies Microscopía de sonda de barrido Determinación de cantidades geométricas mediante microscopía de sonda de barrido: calibración del sistema de medición
GB/T 18295-2001 Método de análisis de muestras de arenisca de yacimientos de petróleo y gas mediante microscopio electrónico de barrido.

国家能源局, microscopio de barrido

SY/T 5162-2021 Método de análisis por microscopía electrónica de barrido de muestras de rocas.

Professional Standard - Commodity Inspection, microscopio de barrido

SN/T 4388-2015 Identificación del cuero. Microscopía electrónica de barrido y microscopía óptica.

Association Francaise de Normalisation, microscopio de barrido

XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido: métodos para evaluar la nitidez de la imagen
NF A91-108:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
NF X21-005:2006 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.

Professional Standard - Judicatory, microscopio de barrido

SF/T 0139-2023

SE-SIS, microscopio de barrido

SIS SS-ISO 9220:1989
SIS SS CECC 00013-1985 Especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores

European Committee for Standardization (CEN), microscopio de barrido

EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).

RU-GOST R, microscopio de barrido

GOST R 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, microscopio de barrido

GB/T 36052-2018 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos para microscopía de sonda de barrido
GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas

Danish Standards Foundation, microscopio de barrido

DS/EN ISO 9220:1995

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, microscopio de barrido

DB32/T 3459-2018 Microscopía electrónica de barrido para medir la cobertura de microáreas de películas de grafeno

ES-UNE, microscopio de barrido

UNE-EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).

Association of German Mechanical Engineers, microscopio de barrido

VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Determinación de cantidades geométricas mediante el uso de microscopios de sonda de barrido - Calibración de sistemas de medición

Professional Standard - Public Safety Standards, microscopio de barrido

GA/T 1938-2021 Ciencia forense Inspección de metales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1937-2021 Ciencia forense Inspección de caucho Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X