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espectrómetro de energía de rayos x

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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en espectrómetro de energía de rayos x son: Química analítica, Mediciones de radiación, Pruebas no destructivas, ingeniería de energía nuclear, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Productos petrolíferos en general, Óptica y medidas ópticas., Medidas lineales y angulares..


SE-SIS, espectrómetro de energía de rayos x

  • SIS SS IEC 759:1986 Instrumentación nuclear. Procedimientos de prueba para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores.

International Organization for Standardization (ISO), espectrómetro de energía de rayos x

  • ISO 16129:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X.
  • ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
  • ISO 15472:2010 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
  • ISO 15472:2001 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
  • ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad

British Standards Institution (BSI), espectrómetro de energía de rayos x

  • BS ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
  • BS ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
  • BS ISO 16129:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, espectrómetro de energía de rayos x

  • GB/T 20726-2006 Especificación instrumental para espectrómetros de rayos X de energía dispersiva con detectores de semiconductores.
  • GB/T 25184-2010 Método de verificación para espectrómetros de fotoelectrones de rayos X.
  • GB/T 11685-2003 Procedimientos de medición para sistemas detectores de rayos X de semiconductores y espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores.
  • GB/T 31364-2015 Métodos de prueba para el rendimiento principal del espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva
  • GB/T 22571-2008 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.
  • GB/T 21006-2007 Análisis químico de superficies. Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
  • GB/T 20726-2015

CZ-CSN, espectrómetro de energía de rayos x

  • CSN 35 6575 Z1-1997 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), espectrómetro de energía de rayos x

  • KS C IEC 60759:2009 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
  • KS C IEC 60759-2009(2019) Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
  • KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies-Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger-Linealidad de escala de intensidad
  • KS D ISO 15470-2005(2020) Análisis químico de superficies-Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X-Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • KS D ISO 21270-2005(2020) Análisis químico de superficies-Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger-Linealidad de escala de intensidad

International Electrotechnical Commission (IEC), espectrómetro de energía de rayos x

  • IEC 60759:1983 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
  • IEC 60759:1983/AMD1:1991 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores; enmienda 1

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), espectrómetro de energía de rayos x

  • ANSI/IEEE Std 759-1984 Procedimientos de prueba estándar IEEE para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores

American Society for Testing and Materials (ASTM), espectrómetro de energía de rayos x

  • ASTM E1217-11(2019) Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM E996-04 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM E996-10 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM E2108-16 Práctica estándar para la calibración de la escala de energía de unión de electrones de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM E902-94(1999) Práctica estándar para verificar las características operativas de los espectrómetros de fotoelectrones de rayos X

German Institute for Standardization, espectrómetro de energía de rayos x

  • DIN ISO 16129:2020 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
  • DIN ISO 16129:2020-11 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
  • DIN 51577-4:1994 Ensayos de hidrocarburos de aceites minerales y productos similares; determinación del contenido de cloro y bromo; Análisis mediante espectrometría de rayos X de energía dispersiva con instrumentos de bajo coste.
  • DIN ISO 15472:2020-05 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles
  • DIN ISO 15632:2022-09 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA) (ISO 15632:2...
  • DIN ISO 15472:2020 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, espectrómetro de energía de rayos x

  • JJF 2024-2023 Especificaciones de calibración para espectrómetros de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva

IN-BIS, espectrómetro de energía de rayos x

  • IS 12737-1988 PROCEDIMIENTOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA ESPECTRÓMETROS DE ENERGÍA DE RAYOS X DE SEMICONDUCTOR

工业和信息化部/国家能源局, espectrómetro de energía de rayos x

  • JB/T 12962.2-2016 Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva Parte 2: Analizadores elementales
  • JB/T 12962.1-2016 Espectrómetros de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva Parte 1: Técnicas generales
  • JB/T 12962.3-2016 Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva Parte 3: Analizador de espesor de recubrimiento

Professional Standard - Electron, espectrómetro de energía de rayos x

  • SJ/T 10714-1996 Práctica estándar para comprobar las características de funcionamiento de los espectrómetros de fotoelectrones de rayos X.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, espectrómetro de energía de rayos x

  • GB/T 22571-2017 Análisis químico de superficies: espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.

KR-KS, espectrómetro de energía de rayos x

  • KS D ISO 15472-2003(2023) Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Calibración de escala de energía

Association Francaise de Normalisation, espectrómetro de energía de rayos x

  • NF X21-055:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía.

未注明发布机构, espectrómetro de energía de rayos x

  • BS ISO 21270:2004(2010) Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, espectrómetro de energía de rayos x

  • GB/T 40196-2021 Método para analizar CCA y ACQ en madera tratada con conservantes y conservantes de madera mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X




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