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Microscópio electrónico escaneando

Microscópio electrónico escaneando, Total: 302 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Microscópio electrónico escaneando son: Equipo óptico, Óptica y medidas ópticas., Química analítica, Educación, Vocabularios, Dispositivos de visualización electrónica., Protección contra el crimen, Termodinámica y mediciones de temperatura., Medidas lineales y angulares., Tratamiento superficial y revestimiento., Materiales de construcción, Calidad del aire, Fotografía, Pinturas y barnices, Productos de hierro y acero., Dispositivos semiconductores, Circuitos integrados. Microelectrónica, pruebas de metales, Fibras textiles, Cerámica, Metales no ferrosos, Equipo medico, Optoelectrónica. Equipo láser, Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., Física. Química, Ingredientes de pintura, Dispositivos de almacenamiento de datos, Aplicaciones de imágenes de documentos, Sistemas de microprocesador, tubos electronicos, Pesca y cría de peces., Metrología y medición en general..


International Organization for Standardization (ISO), Microscópio electrónico escaneando

  • ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
  • ISO 22493:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
  • ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • ISO 9220:1988 Recubrimientos metálicos; medición del espesor del recubrimiento; método de microscopio electrónico de barrido
  • ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método para evaluar dimensiones críticas mediante CD-SEM.
  • ISO/WD TR 23683:2023 Análisis químico de superficies: microscopía con sonda de barrido. Directrices para la cuantificación experimental de la concentración de portadores en dispositivos semiconductores mediante microscopía con sonda de barrido eléctrica.
  • ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
  • ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
  • ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
  • ISO 14966:2002 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
  • ISO 22493:2014 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
  • ISO 11312:1993 Fotografía; dimensiones de la película; película para uso en escáner electrónico
  • ISO 16067-2:2004 Fotografía - Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas - Mediciones de resolución espacial - Parte 2: Escáneres de películas
  • ISO 14966:2002/cor 1:2007 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido; Corrigendum técnico 1
  • ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías: caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva
  • ISO 16067-1:2003 Fotografía - Mediciones de resolución espacial de escáneres electrónicos para imágenes fotográficas - Parte 1: Escáneres para medios reflectantes
  • ISO 21550:2004 Fotografía - Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas - Mediciones de rango dinámico
  • ISO 16000-27:2014 Aire interior - Parte 27: Determinación del polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)
  • ISO 17751-2:2014 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido.
  • ISO 17751-2:2023 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido.
  • ISO 17751-2:2016 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido.
  • ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles utilizando un microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
  • ISO 12653-1:2000 Imágenes electrónicas - Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina - Parte 1: Características

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Microscópio electrónico escaneando

  • JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • JIS K 3850-1:2006 Determinación de partículas fibrosas en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
  • JIS K 3850-1:2000 Método de medición de partículas fibrosas en suspensión en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
  • JIS K 0149-1:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • JIS R 1633:1998 Método de preparación de muestras de cerámicas finas y polvos cerámicos finos para observación con microscopio electrónico de barrido.
  • JIS K 7542:1993 Dimensiones de la película fotográfica para uso en escáner electrónico.
  • JIS T 1507:1989 Equipo de diagnóstico ultrasónico de escaneo lineal electrónico.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Microscópio electrónico escaneando

  • KS M 0044-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • KS I 0051-1999(2019) Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • KS I 0051-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Vocabulario
  • KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
  • KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Vocabulario
  • KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • KS D ISO 9220-2009(2022) Recubrimientos metálicos-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopio electrónico de barrido
  • KS D ISO 9220-2009(2017) Recubrimientos metálicos-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopio electrónico de barrido
  • KS D ISO 9220:2009 Recubrimientos metálicos-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopio electrónico de barrido
  • KS D ISO 16700-2013(2018) Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • KS A ISO 16067-2-2005(2020) Fotografía-Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas-Medición de resolución espacial-Parte 2: Escáneres de película
  • KS A ISO 16067-2:2005 Fotografía-Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas-Medición de resolución espacial-Parte 2: Escáneres de películas
  • KS A ISO 16067-1:2005 Fotografía-Medidas de resolución espacial de escáneres electrónicos para imágenes fotográficas-Parte 1: Escáneres para medios reflectantes
  • KS A ISO 16067-1-2005(2020) Fotografía-Medidas de resolución espacial de escáneres electrónicos para imágenes fotográficas-Parte 1: Escáneres para medios reflectantes
  • KS X ISO/IEC 15780:2013 Tecnología de la información-Cartucho de cinta magnética de 8 mm de ancho-Grabación de escaneo helicoidal-AIT-1 formato
  • KS A ISO 21550:2005 Fotografía-Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas-Medidas de rango dinámico
  • KS A ISO 21550-2005(2020) Fotografía-Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas-Medidas de rango dinámico
  • KS K ISO 17751-2:2019 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido.
  • KS X ISO 12653-1-2007(2017) Imágenes electrónicas-Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina-Parte 1:Características
  • KS X ISO 12653-1-2007(2022) Imágenes electrónicas-Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina-Parte 1:Características
  • KS X ISO 12653-1:2007 Imágenes electrónicas-Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina-Parte 1:Características
  • KS C IEC TR 61948-3:2020 Instrumentación de medicina nuclear. Pruebas de rutina. Parte 3: Tomógrafos por emisión de positrones.
  • KS C IEC TR 61948-3:2017 Instrumentación de medicina nuclear ─ Pruebas de rutina ─ Parte 3: Tomógrafos por emisión de positrones

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Microscópio electrónico escaneando

  • JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)

Professional Standard - Machinery, Microscópio electrónico escaneando

  • JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
  • JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas
  • JB/T 7503-1994 Espesor de la sección transversal de recubrimientos metálicos Método de medición mediante microscopio electrónico de barrido

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Microscópio electrónico escaneando

  • JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
  • JJG 550-1988 Reglamento de verificación del microscopio electrónico de barrido.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Microscópio electrónico escaneando

  • ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E766-98 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E986-97 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E986-04(2017) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E766-14 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E766-98(2008)e1 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E986-04 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E986-04(2010) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
  • ASTM C1723-16(2022) Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
  • ASTM C1723-10 Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
  • ASTM C1723-16
  • ASTM E766-14(2019) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E2382-04(2020) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
  • ASTM E766-14e1
  • ASTM E2382-04 Guía de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
  • ASTM E2382-04(2012) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
  • ASTM B748-90(2006) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM B748-90(1997) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E2142-08(2015) Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E2142-08 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E2142-08(2023) Standard Test Methods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the Scanning Electron Microscope
  • ASTM E2090-00 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas por limpiadores de salas limpias mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
  • ASTM E2090-12 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
  • ASTM B748-90(2010) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E2142-01 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E2809-13 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X en exámenes de pintura forense
  • ASTM B748-90(2021) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E1588-95(2001) Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía dispersiva
  • ASTM E1588-08 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
  • ASTM E1588-10 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
  • ASTM E1588-95 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía dispersiva
  • ASTM B748-90(2016) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM B748-90(2001) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM F1372-93(1999) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
  • ASTM F1372-93(2020) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
  • ASTM E1588-20 Práctica estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
  • ASTM F1372-93(2005) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
  • ASTM F1372-93(2012)
  • ASTM D605-82(1996)e1 Especificación estándar para pigmento de silicato de magnesio (talco)
  • ASTM D6059-96(2011) Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido
  • ASTM E280-98(2004)e1 Radiografías de referencia estándar para piezas fundidas de acero de paredes pesadas (de 4 &189; a 12 pulgadas [114 a 305 mm])
  • ASTM E1588-07e1 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
  • ASTM E1588-07 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
  • ASTM E280-21 Radiografías de referencia estándar para piezas fundidas de acero de paredes pesadas (de 412 a 12 pulg. (114 a 305 mm))
  • ASTM E2809-22 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X de dispersión de energía (SEM/EDS) en exámenes forenses de polímeros
  • ASTM E2090-06 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
  • ASTM E2090-12(2020) Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
  • ASTM D8231-19 Práctica estándar para el uso de un sistema de escaneo electrónico de bajo voltaje para detectar y localizar grietas en membranas impermeabilizantes y para techos
  • ASTM E3309-21 Guía estándar para informes de análisis forense de residuos de disparos de cebador (pGSR) mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía (SEM/EDS)

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Microscópio electrónico escaneando

  • GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas
  • GB/T 33838-2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Métodos para evaluar la nitidez de la imagen.

British Standards Institution (BSI), Microscópio electrónico escaneando

  • 18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
  • BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • BS EN ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
  • BS ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas por CDSEM
  • 21/30394409 DC BS ENISO 9220. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • BS EN ISO 9220:2022 Cambios rastreados. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • BS ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
  • 18/30344520 DC BS ISO 21466. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas mediante CD-SEM
  • BS ISO 16700:2016 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen
  • BS CECC 00013:1985 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos: especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores
  • BS ISO 19749:2021 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
  • BS EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
  • BS ISO 14966:2002 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
  • BS ISO 22493:2014 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
  • 18/30375050 DC BS ISO 14966. Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
  • BS ISO 16067-2:2004 Fotografía. Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas. Medidas de resolución espacial. Escáneres de película
  • BS ISO 16067-1:2003 Fotografía. Mediciones de resolución espacial para escáneres electrónicos de imágenes fotográficas. Escáneres para medios reflectantes
  • 18/30351679 DC BS ISO 19749. Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
  • BS EN ISO 17751-2:2023 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas: método de microscopía electrónica de barrido
  • BS EN ISO 17751-2:2016 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana, otras fibras animales especiales y sus mezclas. Método de microscopía electrónica de barrido.
  • BS ISO 21550:2004 Fotografía - Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas - Mediciones de rango dinámico
  • 12/30228339 DC BS ISO 16000-27. Aire interior. Parte 27. Determinación de polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)
  • DD ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.
  • BS ISO 12653-1:2000 Imagen electrónica - Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina - Características
  • BS ISO 12653-1:2001 Imágenes electrónicas. Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina. Características
  • BS ISO 12653-2:2000 Imágenes electrónicas - Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina - Método de uso
  • BS ISO 12653-2:2001 Imágenes electrónicas. Objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de Office. Metodo de uso
  • BS DD ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.
  • PD IEC/TR 61948-3:2018 Cambios rastreados. Instrumentación de medicina nuclear. Pruebas de rutina. Tomógrafos por emisión de positrones

KR-KS, Microscópio electrónico escaneando

  • KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
  • KS C ISO 19749-2023 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.
  • KS K ISO 17751-2-2019 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido.
  • KS C IEC TR 61948-3-2020 Instrumentación de medicina nuclear. Pruebas de rutina. Parte 3: Tomógrafos por emisión de positrones.

Professional Standard - Education, Microscópio electrónico escaneando

  • JY/T 0584-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía electrónica de barrido.
  • JY/T 010-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de barrido analítica.

Professional Standard - Petroleum, Microscópio electrónico escaneando

  • SY/T 5162-2014 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
  • SY/T 5162-1997 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
  • SY 5162-2014 Método de análisis de microscopía electrónica de barrido para muestras de rocas

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Microscópio electrónico escaneando

  • DB31/T 297-2003 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de barrido.

国家能源局, Microscópio electrónico escaneando

  • SY/T 5162-2021 Método de análisis por microscopía electrónica de barrido de muestras de rocas.

Association Francaise de Normalisation, Microscópio electrónico escaneando

  • NF X21-005:2006 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
  • NF A91-108:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
  • NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
  • XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
  • XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido: métodos para evaluar la nitidez de la imagen
  • NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
  • NF T25-111-4:1991 Fibras de carbono- Textura y estructura- Parte 4: Fractografía mediante microscopio electrónico de barrido
  • NF EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías: determinación del tamaño de partículas y distribución de formas mediante microscopía electrónica de barrido.
  • NF X21-010:2009 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario.
  • NF Z42-010-1:1992 Imágenes electrónicas - Escaneo de documentos de oficina - parte 1:Subcontratación de escaneo - Guía de instrucciones técnicas detalladas para oficinas
  • NF ISO 16000-27:2014 Aire interior - Parte 27: determinación del polvo fibroso depositado en las superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)
  • NF Z42-010-2:1993 Imágenes electrónicas - Escaneo de documentos de oficina - Parte 2: Adquisición de sistemas electrónicos de gestión de imágenes - Directrices para una solicitud de propuestas
  • NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 Aire interior - Parte 27: determinación del polvo fibroso sedimentado en las superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)
  • NF G07-142-2*NF EN ISO 17751-2:2016 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: método de microscopía electrónica de barrido.
  • FD T16-203:2011 Nanotecnologías: Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva

Professional Standard - Judicatory, Microscópio electrónico escaneando

Group Standards of the People's Republic of China, Microscópio electrónico escaneando

  • T/QGCML 1940-2023
  • T/CSTM 00795-2022 Datos experimentales de materiales: requisitos para imágenes de microscopio electrónico de barrido.
  • T/CSTM 00229-2020 Identificación de materiales de grafeno en materiales de recubrimiento Método de microscopio electrónico de barrido-espectrómetro de dispersión de energía
  • T/CSTM 00346-2021 Clasificación automática y estadística de las inclusiones en el acero. Método del espectro de dispersión de energía del microscopio electrónico de barrido.
  • T/NLIA 004-2021 Método de prueba de tracción SEM in situ para aleaciones de aluminio fabricadas con aditivos
  • T/GAIA 017-2022 Determinación del contenido de flúor en el revestimiento superficial de aluminio y aleaciones de aluminio. Método del microscopio electrónico de barrido y espectrómetro de energía dispersiva.
  • T/SAS 0003-2018 Cristales de centelleo de germanato de bismuto para tomografía por emisión de positrones
  • T/CIRA 42-2022 Método de detección de uniformidad de escaneo de haz de acelerador de electrones para varillas de aluminio utilizadas en el procesamiento de radiación

SE-SIS, Microscópio electrónico escaneando

RU-GOST R, Microscópio electrónico escaneando

  • GOST R 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido
  • GOST R 8.636-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de calibración
  • GOST 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Método de verificación
  • GOST R 8.631-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de verificación
  • GOST ISO 16000-27-2017 Aire interior. Parte 27. Determinación de polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)
  • GOST R 56109-2014 Equipos eléctricos médicos. Tomógrafos por emisión de positrones junto con equipos de rayos X para tomografía computarizada. Requisitos técnicos para compras gubernamentales.
  • GOST R 8.593-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de verificación
  • GOST R 56108-2014 Equipos eléctricos médicos. Tomógrafo por emisión de positrones. Requisitos técnicos para compras gubernamentales.
  • GOST 19438.21-1979 Válvulas y válvulas electrónicas de baja potencia para cascadas de salida de escaneo de líneas de TV. Métodos de medición de parámetros eléctricos y prueba de tiempo de servicio.

Danish Standards Foundation, Microscópio electrónico escaneando

  • DS/EN ISO 9220:1995
  • DS/ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.
  • DS/ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías: caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva
  • DS/IEC/TR 61948-3:2006

German Institute for Standardization, Microscópio electrónico escaneando

  • DIN EN ISO 9220:2022-05 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022); Versión alemana EN ISO 9220:2022
  • DIN EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021); Versión alemana e inglesa prEN ISO 9220:2021
  • DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)
  • DIN EN ISO 19749:2023-07 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021); Versión alemana EN ISO 19749:2023
  • DIN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988); Versión alemana EN ISO 9220:1994
  • DIN ISO 16000-27:2014-11 Aire interior. Parte 27: Determinación del polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo) (ISO 16000-27:2014)
  • DIN EN ISO 17751-2:2016-11 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido (ISO 17751-2:2016); Versión alemana EN ISO 17751-2:2016 / Nota: Se sustituirá por DIN EN ISO 17751-2 (2022-09).
  • DIN EN ISO 17751-2:2022-09 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido (ISO/DIS 17751-2:2022); Versión alemana e inglesa prEN ISO 17751-2:2022 / Nota: Fecha de emisión 2022-08-19*I...
  • DIN ISO 16000-27:2014 Aire interior. Parte 27: Determinación del polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo) (ISO 16000-27:2014)

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Microscópio electrónico escaneando

  • GB/T 17359-1998
  • GB/T 16594-1996 Medición de longitud de grado en micras por SEM
  • GB/T 18295-2001 Método de análisis de muestras de arenisca de yacimientos de petróleo y gas mediante microscopio electrónico de barrido.
  • GB/T 17722-1999 Medición de espesor chapado en oro por SEM
  • GB/T 16594-2008 Reglas generales para la medición de longitud en escala de micras mediante SEM
  • GB/T 20307-2006 Reglas generales para la medición de longitud a escala nanométrica mediante SEM
  • GB/T 31563-2015 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • GB/T 17362-2008 Método de análisis del espectro de energía de rayos X con microscopio electrónico de barrido para productos de oro
  • GB/T 17362-1998
  • GB/T 19267.6-2003 Examen físico y químico de rastros de evidencia en ciencias forenses. Parte 6: Microscopía electrónica de barrido.
  • GB/T 30834-2014 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero. Microscopio electrónico de barrido
  • GB/T 36422-2018 Fibra sintética. Método de prueba para micromorfología y diámetro. Método de microscopio electrónico de barrido.
  • GB/T 30834-2022 Clasificación y clasificación de inclusiones en acero: método del microscopio electrónico de barrido.
  • GB/T 28873-2012 Guía general de microscopía electrónica de barrido ambiental para efectos biológicos sobre topografía inducidos por nanopartículas.
  • GB/T 27788-2011 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
  • GB/T 23414-2009 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
  • GB/T 25189-2010 Análisis de microhaz. Método de determinación de parámetros de análisis cuantitativo de SEM-EDS.
  • GB/T 17361-1998
  • GB/T 19267.6-2008 Examen físico y químico de rastros de evidencia en ciencias forenses. Parte 6: Microscopio electrónico de barrido/espectrometría de dispersión de energía de rayos X
  • GB/T 17361-2013 Análisis de microhaces. Identificación de minerales arcillosos autigénicos en rocas sedimentarias mediante microscopio electrónico de barrido y espectrómetro de energía dispersiva.
  • GB/T 14593-2008 Método de análisis cuantitativo de cachemira, lana y sus mezclas. Método de microscopio electrónico de barrido.
  • GB/Z 26083-2010 Determinación de ftalocianina sustituida con octaacoxilo de cobre (Ⅱ) en una superficie de grafito (microscopio de efecto túnel)
  • GB/T 20493.1-2006 Prueba de imagen electrónica Traget para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina Parte 1: Características

Professional Standard - Commodity Inspection, Microscópio electrónico escaneando

  • SN/T 4388-2015 Identificación del cuero. Microscopía electrónica de barrido y microscopía óptica.
  • SN/T 3009-2011 Identificación de la corrosión del agua de mar en superficies metálicas mediante SEM.
  • SN/T 2649.1-2010 Determinación de amianto en cosméticos para importación y exportación. Parte 1: Método de difracción de rayos X y microscopía electrónica de barrido.

ES-UNE, Microscópio electrónico escaneando

  • UNE-EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
  • UNE-EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías - Mediciones de distribuciones de tamaño y forma de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2023.)
  • UNE-EN ISO 17751-2:2016 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido (ISO 17751-2:2016)

European Committee for Standardization (CEN), Microscópio electrónico escaneando

  • EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
  • prEN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).
  • EN ISO 9220:1994 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método de microscopio electrónico de barrido (ISO 9220: 1988)
  • EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021)
  • prEN ISO 17751-2 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido (ISO/DIS 17751-2:2022)

Professional Standard - Public Safety Standards, Microscópio electrónico escaneando

  • GA/T 1939-2021 Ciencias forenses Examen de puntos actuales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
  • GA/T 1938-2021 Ciencia forense Inspección de metales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
  • GA/T 1937-2021 Ciencia forense Inspección de caucho Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
  • GA/T 1522-2018 Ciencia forense Disparo Inspección de residuos Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
  • GA/T 1521-2018 Ciencia forense Plásticos Examen de composición elemental Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
  • GA/T 1519-2018 Ciencia forense Tóner Composición elemental Inspección Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
  • GA/T 909-2010 Método de recolección y empaquetado de rastros de evidencia: residuos de disparos (examen SEM/EDS)
  • GA/T 1418-2017 Examen de composición elemental de evidencia de vidrio de ciencia forense Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía
  • GA/T 823.3-2018 Métodos de examen de evidencia de pintura en ciencia forense Parte 3: Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
  • GA/T 1520-2018 Ciencia forense polvo negro, polvo pirotécnico inspección de composición de elementos microscopio electrónico de barrido/espectrometría de energía de rayos X

Association of German Mechanical Engineers, Microscópio electrónico escaneando

  • VDI 3866 Blatt 5-2004 Determinación de amianto en productos técnicos - Método de microscopía electrónica de barrido
  • VDI 3866 Blatt 5-2017 Determinación de amianto en productos técnicos - Método de microscopía electrónica de barrido
  • VDI 3861 Blatt 2-2008 Emisiones de fuentes estacionarias - Medición de partículas fibrosas inorgánicas en los gases de escape - Método de microscopía electrónica de barrido
  • VDI 3492-2004 Medición del aire interior - Medición del aire ambiente - Medición de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
  • VDI 3492-2013 Medición del aire interior - Medición del aire ambiente - Medición de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido

AENOR, Microscópio electrónico escaneando

  • UNE-EN ISO 9220:1996 RECUBRIMIENTOS METÁLICOS. MEDICIÓN DEL ESPESOR DEL RECUBRIMIENTO. MÉTODO DEL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO. (ISO 9220:1988).

Lithuanian Standards Office , Microscópio electrónico escaneando

  • LST EN ISO 9220:2001 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Microscópio electrónico escaneando

  • DB32/T 3459-2018 Microscopía electrónica de barrido para medir la cobertura de microáreas de películas de grafeno
  • DB32/T 4546-2023 Especificaciones técnicas para la inspección automatizada de imágenes de diatomeas mediante microscopios electrónicos de barrido.

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Microscópio electrónico escaneando

  • DB35/T 110-2000 Sonda electrónica y microscopio electrónico de barrido Método de análisis del espectro de energía de rayos X para la detección de evidencia física de pintura

AT-ON, Microscópio electrónico escaneando

  • OENORM EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).

Professional Standard - Chemical Industry, Microscópio electrónico escaneando

  • HG/T 3640-1999 Fotografía. Dimensión de la película. Película para uso en escáner electrónico.

未注明发布机构, Microscópio electrónico escaneando

  • BS CECC 13:1985(1999) Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos: Especificaciones básicas: Inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores.

BE-NBN, Microscópio electrónico escaneando

  • NBN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Microscópio electrónico escaneando

  • DB44/T 1527-2015 Método de evaluación de la claridad de la imagen del microscopio electrónico de barrido del análisis de microhaz
  • DB44/T 1216-2013 Caracterización del grafeno mediante microscopía electrónica de barrido y espectroscopia de rayos X.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Microscópio electrónico escaneando

  • GB/T 38783-2020 Método de determinación del espesor del recubrimiento para compuestos de metales preciosos mediante microscopio electrónico de barrido.
  • GB/T 27788-2020 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Pautas para calibrar la ampliación de imágenes
  • GB/T 35099-2018 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido con espectrometría de rayos X de energía dispersiva: análisis de morfología y elementos de partículas finas individuales en el aire ambiente.
  • GB/T 39867-2021 Cristal de centelleo de germanato de bismuto para tomografía por emisión de positrones
  • GB/T 40826-2021 Método de prueba para disponer manualmente la longitud de las grapas de cachemira depilada: método de escáner de superficie plana

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Microscópio electrónico escaneando

  • GJB 737.11-1993 Métodos de prueba para productos químicos pirotécnicos Determinación del tamaño de partículas Microscopía electrónica de barrido

NEMA - National Electrical Manufacturers Association, Microscópio electrónico escaneando

  • NEMA NU 2-2012 Medidas de rendimiento de los tomógrafos por emisión de positrones
  • NEMA NU 2-2018 Medidas de rendimiento de los tomógrafos por emisión de positrones (PET)

American National Standards Institute (ANSI), Microscópio electrónico escaneando

  • ANSI/ASTM D6059:2001 Método de prueba para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido

工业和信息化部, Microscópio electrónico escaneando

  • SJ/T 11759-2020 Medición de la relación de aspecto de la línea de rejilla del electrodo de células fotovoltaicas Microscopía confocal de barrido láser
  • YS/T 1491-2021 Método para determinar la esfericidad de una aleación en polvo de alta temperatura a base de níquel mediante microscopía electrónica de barrido.

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Microscópio electrónico escaneando

  • CNS 14197-1998 Equipo de diagnóstico ultrasónico de escaneo lineal eléctrico.

PT-IPQ, Microscópio electrónico escaneando

  • NP 3081-1985 COMPONENTES ELECTR?NICOS Inspec??o de pastilhas^de semicondutores em microscópio electrónico de varrimento Especifica??o de base

Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), Microscópio electrónico escaneando

  • SMPTE EG 25-2003 Escaneo de telecine para transferencia de películas a televisión
  • SMPTE 293M-2003 Televisión - Línea Activa 720 X 483 a 59,94 Hz Producción de Escaneo Progresivo - Representación Digital
  • SMPTE 294M-2001 Televisión Línea Activa 720 X 483 a 59,94 Hz Producción de Escaneo Progresivo - Interfaces Bit-Serial

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Microscópio electrónico escaneando

  • GJB 5891.6-2006 Método de prueba de carga de material para iniciar un dispositivo explosivo Parte 6: Medición del tamaño de grano Microscopía electrónica de barrido

US-FCR, Microscópio electrónico escaneando

  • FCR 21 CFR PART 212-2015 BUENAS PRÁCTICAS ACTUALES DE FABRICACIÓN DE MEDICAMENTOS PARA TOMOGRAFÍA POR EMISIÓN DE POSITRON
  • FCR 21 CFR PART 212-2013 BUENAS PRÁCTICAS ACTUALES DE FABRICACIÓN DE MEDICAMENTOS PARA TOMOGRAFÍA POR EMISIÓN DE POSITRON
  • FCR 21 CFR PART 212-2014 BUENAS PRÁCTICAS ACTUALES DE FABRICACIÓN DE MEDICAMENTOS PARA TOMOGRAFÍA POR EMISIÓN DE POSITRON

Professional Standard - Electron, Microscópio electrónico escaneando

  • SJ/T 11008-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos - Circuitos integrados de TV semiconductores - Circuitos de barrido de línea y campo CD11235CP
  • SJ/T 10987-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos - Circuitos integrados de TV semiconductores - Circuitos de barrido de campo magnético CD5435CP
  • SJ/T 11087-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos - Circuitos integrados semiconductores - Circuitos de procesamiento de crominancia y barrido horizontal y vertical CD7698CP
  • SJ/T 10784-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos - Circuitos integrados semiconductores - Circuitos de barrido horizontal y vertical CD7609CP (Aplicable para certificación)

GOSTR, Microscópio electrónico escaneando

  • PNST 508-2020 Nanotecnologías. Nanotubos de carbono de pared simple. Caracterización mediante microscopía electrónica de barrido y espectrometría de rayos X de energía dispersiva.

Professional Standard - Military and Civilian Products, Microscópio electrónico escaneando

  • WJ 2299-1995 Reglamento de verificación del espectrómetro de barrido secuencial de plasma acoplado inductivamente

BELST, Microscópio electrónico escaneando

  • STB 2210-2011 Materiales nanocarbonados y no carbonados y compuestos basados en ellos. Método para determinar parámetros mediante mediciones de microscopía electrónica de barrido.
  • STB 2209-2011 Materiales nanocarbonados y no carbonados y compuestos basados en ellos. La técnica para determinar la composición elemental mediante mediciones de microscopía electrónica de barrido.

International Telecommunication Union (ITU), Microscópio electrónico escaneando

  • ITU-R BR.1374-1-2001 Dimensiones del área escaneada de películas cinematográficas de 16 mm y 35 mm utilizadas en televisión
  • ITU-R SM.1839 SPANISH-2007 Procedimiento de prueba para medir la velocidad de exploración de los receptores de comprobaci髇 t閏nica radioel閏trica
  • ITU-R BR.1441 FRENCH-2000 COMPROMISO DE DIMENSIONES DEL ÁREA ESCANEADA PARA TELEVISIÓN A PARTIR DE PELÍCULAS DE PANTALLA ANCHA DE 35 mm
  • ITU-R BR.1441 SPANISH-2000 COMPROMISO DE DIMENSIONES DEL ÁREA ESCANEADA PARA TELEVISIÓN A PARTIR DE PELÍCULAS DE PANTALLA ANCHA DE 35 mm
  • ITU-R BT.1358-1-2007 Parámetros de estudio de sistemas de televisión progresiva de 625 y 525 líneas.

Inner Mongolia Provincial Standard of the People's Republic of China, Microscópio electrónico escaneando

  • DB15/T 1341-2018 Especificación para la calibración del escáner electrónico para la tabla de longitud de fila de mano de cachemira cardada
  • DB15/T 981-2016 Método de prueba de longitud de fila de mano de cachemira cardada método de escáner electrónico de tablero de dibujo

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, Microscópio electrónico escaneando

  • DB37/T 420.2-2004 Protocolo de diagnóstico de la enfermedad del dedo de escorpión en peces de maricultura, parte 2: método de diagnóstico por microscopía electrónica de barrido

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Microscópio electrónico escaneando

  • SMPTE EG 25:2003 EG 25:2003 - Directrices de ingeniería SMPTE - Escaneo de telecine para transferencia de películas a televisión

Professional Standard - Aviation, Microscópio electrónico escaneando

  • HB 20094.4-2012 Método de prueba para la determinación de metales de desgaste en líquidos operativos para la aviación. Parte 4: Microscopía electrónica de barrido y espectrometría de energía dispersiva.

Indonesia Standards, Microscópio electrónico escaneando

  • SNI IEC/TR 61948-3:2012 Instrumentación de medicina nuclear - Pruebas de rutina - Parte 3: Tomógrafos por emisión de positrones

ZA-SANS, Microscópio electrónico escaneando

  • SANS 12653-1:2006 Imágenes electrónicas: objetivo de prueba para el escaneo en blanco y negro de documentos de oficina Parte 1: Características




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