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difracción de rayos X y difracción de rayos X policristalinos

difracción de rayos X y difracción de rayos X policristalinos, Total: 401 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en difracción de rayos X y difracción de rayos X policristalinos son: Educación, Óptica y medidas ópticas., Química analítica, Pruebas no destructivas, Plástica, pruebas de metales, Vocabularios, Metales no ferrosos, químicos inorgánicos, Refractarios, Protección de radiación, Productos de la industria química., producción de metales, Seguridad Ocupacional. Higiene industrial, Componentes de tuberías y tuberías., muelles, Materiales semiconductores, Materiales para el refuerzo de composites., Combustibles, Calidad del agua, Materiales de construcción, Cerámica, Centrales eléctricas en general, Tratamiento superficial y revestimiento., Ingredientes de pintura, Minerales no metalíferos, Productos de caucho y plástico., Calidad del aire, Física. Química, Equipo medico, Vaso, Fotografía, Odontología, Equipos eléctricos para trabajar en condiciones especiales., Astronomía. Geodesia. Geografía, ingeniería de energía nuclear, Mediciones de radiación, Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Medidas lineales y angulares., Protección contra el crimen, Análisis del tamaño de partículas. tamizado, Fluidos aislantes, Medicina de laboratorio.


National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, difracción de rayos X y difracción de rayos X policristalinos

Professional Standard - Education, difracción de rayos X y difracción de rayos X policristalinos

  • JY/T 0587-2020 Principios generales de los métodos de difracción de rayos X de policristales.
  • JY/T 009-1996 Principios generales del método de derivación de rayos X de policristales con objetivo giratorio
  • JY/T 0588-2020 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difracción de rayos X de cristal único
  • JY/T 008-1996 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difractómetro de rayos X de cristal único de cuatro círculos

Professional Standard - Machinery, difracción de rayos X y difracción de rayos X policristalinos

  • JB/T 11144-2011 difractómetro de rayos X
  • JB/T 9400-1999 Especificación para difractómetro de rayos X.
  • JB/T 9400-2010 Especificación del difractómetro de rayos X.
  • JB/T 8426-1996 Revestimiento metálico. Método de prueba de difracción de rayos X para recubrimientos de aleación de níquel-fósforo
  • JB/T 5482-2011 Aparato de orientación de rayos X.
  • JB/T 5482-2004 Condiciones técnicas del instrumento de orientación de cristales de rayos X.

PT-IPQ, difracción de rayos X y difracción de rayos X policristalinos

Professional Standard - Agriculture, difracción de rayos X y difracción de rayos X policristalinos

  • 77药典 四部-2015 0451 Método de difracción de rayos X
  • 57药典 四部-2020 0451 Método de difracción de rayos X
  • 2355药典 二部-2010 Apéndice IX Método de difracción de polvo de rayos FX
  • 784兽药典 一部-2015 Apéndice Contenido 0400 Espectroscopia 0451 Difracción de rayos X
  • SN/T 5579-2023 Determinación del grado de grafitización de materiales de carbono. Método de difracción de rayos X.
  • SN/T 5499-2023 Determinación del contenido de talco en productos minerales Método de ajuste de espectro completo por difracción de rayos X
  • SN/T 3797-2014 Método de detección de fibras de circonio en materiales refractarios de construcción Método de difracción de rayos X
  • SN/T 3323.7-2023 Incrustación de óxido de hierro - Parte 7: Determinación del contenido de α-SiO2 libre Método del valor K de difracción de rayos X

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), difracción de rayos X y difracción de rayos X policristalinos

  • KS M 0043-2009 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
  • KS M 0043-2009(2019) Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
  • KS A 4028-2006(2011) Insignias de película de rayos γ y rayos X duros
  • KS A 4028-1985 Insignias de película de rayos γ y rayos X duros
  • KS M ISO 20203-2016(2021) Materiales carbonosos utilizados en la producción de aluminio-Coque calcinado-Determinación del tamaño de cristalito (Lc) de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X
  • KS M ISO 20203:2011 Materiales carbonosos utilizados en la producción de aluminio-Coque calcinado-Determinación del tamaño de cristalito (Lc) de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X
  • KS M ISO 20203:2016 Materiales carbonosos utilizados en la producción de aluminio-Coque calcinado-Determinación del tamaño de cristalito (Lc) de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X
  • KS B ISO 5576:2022 Ensayos no destructivos — Radiología industrial de rayos X y rayos gamma — Vocabulario
  • KS B ISO 5576-2016(2021) Ensayos no destructivos-Radiología industrial de rayos X y rayos gamma-Vocabulario
  • KS C IEC 60627:2003 Equipos de diagnóstico por imágenes de rayos X-Características de las rejillas antidispersión mamográficas y de uso general
  • KS D 0287-2005(2020) Método de prueba estándar para determinar el parámetro elástico efectivo para mediciones de tensión residual por difracción de rayos X
  • KS B ISO 5576:2001 Ensayos no destructivos-Radiología industrial de rayos X y rayos gamma-Vocabulario
  • KS B ISO 5576:2016 Ensayos no destructivos-Radiología industrial de rayos X y rayos gamma-Vocabulario
  • KS D 0287-2005 Método de prueba estándar para determinar el parámetro elástico efectivo para mediciones de tensión residual por difracción de rayos X
  • KS B ISO 5579-2016(2021) Ensayos no destructivos-Examen radiográfico de materiales metálicos mediante rayos X y gamma-Reglas básicas
  • KS A 4915-1981(2001) RAYOS X DE AGUA FANTASMA DE PECHO Y ABDOMEN
  • KS M 3106-2001 Láminas de metacrilato con contenido de plomo para protección contra rayos X y rayos γ.
  • KS A 4919-1994(2009) Requisitos generales para dosímetros personales de rayos X y rayos γ.
  • KS A IEC 61137-2003(2013) Instrumentación de protección radiológica-Conjunto de monitoreo de contaminación de superficies del personal instalado-Emisores X y gamma de baja energía
  • KS C IEC 60627:2019 Equipos de diagnóstico por imágenes de rayos X. Características de las rejillas antidispersión mamográficas y de uso general.
  • KS A 4047-1982(1997) MEDIDORES DE ALARMAS DE EXPOSICIÓN PERSONAL PARA RAYOS X Y R
  • KS A 4047-1982 MEDIDORES DE ALARMAS DE EXPOSICIÓN PERSONAL PARA RAYOS X Y R

British Standards Institution (BSI), difracción de rayos X y difracción de rayos X policristalinos

  • BS EN 13925-2:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
  • BS EN 13925-3:2005(2009) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
  • BS EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
  • BS EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
  • BS EN 13925-1:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
  • BS EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
  • BS EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos
  • BS ISO 22278:2020 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de prueba para la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo
  • 20/30360821 DC BS ISO 22278. Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de prueba para la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo
  • BS EN 15305:2008 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
  • BS ISO 22262-3:2016 Calidad del aire. Grandes materiales. Determinación cuantitativa de amianto mediante el método de difracción de rayos X.
  • BS ISO 20203:2005 Materiales carbonosos utilizados en la producción de aluminio. Coca calcinada. Determinación del tamaño de cristalitos de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X.
  • BS ISO 20203:2006 Materiales carbonosos utilizados en la producción de aluminio - Coque calcinado - Determinación del tamaño de los cristalitos de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X
  • BS ISO 16258-2:2015 Aire del lugar de trabajo. Análisis de sílice cristalina respirable mediante difracción de rayos X. Método por análisis indirecto.
  • BS ISO 16258-1:2015 Aire del lugar de trabajo. Análisis de sílice cristalina respirable mediante difracción de rayos X. Método directo en filtro
  • BS EN 60406:1997 Especificación para casetes radiográficos y casetes mamográficos utilizados para el diagnóstico médico por rayos X
  • BS EN IEC 60806:2022 Cambios rastreados. Determinación del campo de radiación simétrico máximo de conjuntos de tubos de rayos X y conjuntos de fuentes de rayos X para diagnóstico médico
  • BS 6058:1990 Método de especificación y verificación de las características de los tubos de rayos X de ánodo giratorio y de los conjuntos de tubos de rayos X utilizados en el diagnóstico médico.
  • BS 6058:1989 Método de especificación y verificación de las características de los tubos de rayos X de ánodo giratorio y de los conjuntos de tubos de rayos X utilizados en el diagnóstico médico.
  • BS EN ISO 17636-2:2013 Ensayos no destructivos de soldaduras. Pruebas radiográficas. Técnicas de rayos X y gamma con detectores digitales.
  • BS ISO 19950:2015 Óxido de aluminio utilizado principalmente para la producción de aluminio. Determinación del contenido de alfa alúmina. Método que utiliza áreas de picos netos de difracción de rayos X
  • BS EN ISO 17636-1:2022 Cambios rastreados. Ensayos no destructivos de soldaduras. Pruebas radiográficas. Técnicas de rayos X y gamma con película.
  • BS ISO 20804:2022 Determinación de la superficie específica de sistemas porosos y de partículas mediante dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)
  • BS EN 16407-2:2014 Pruebas no destructivas. Inspección radiográfica de corrosión y depósitos en tuberías mediante rayos X y gamma. Inspección radiográfica de doble pared.
  • BS EN 16407-1:2014 Pruebas no destructivas. Inspección radiográfica de corrosión y depósitos en tuberías mediante rayos X y gamma. Inspección radiográfica tangencial
  • BS EN ISO 17636-2:2022 Ensayos no destructivos de soldaduras. Pruebas radiográficas: técnicas de rayos X y gamma con detectores digitales.

工业和信息化部, difracción de rayos X y difracción de rayos X policristalinos

  • SH/T 1827-2019 Determinación de la cristalinidad de plásticos mediante el método de difracción de rayos X.
  • YS/T 1178-2017 Método de difracción de rayos X de análisis de fase de escoria de aluminio.
  • YB/T 172-2020 Análisis de fase cuantitativa de ladrillos de sílice mediante el método de difracción de rayos X.
  • YB/T 5338-2019 Método de difractómetro de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita en acero.
  • YB/T 5360-2020 Determinación de cifras polares cuantitativas de materiales metálicos mediante el método de difracción de rayos X.
  • HG/T 5705-2020 Determinación del contenido de fase de dióxido de titanio en catalizadores de hidrogenación mediante el método de difracción de rayos X.
  • YS/T 1160-2016 Análisis de fase cuantitativa del polvo de silicio industrial Determinación del contenido de sílice Método del valor K de difracción de rayos X
  • YS/T 1344.3-2020 Método de análisis químico de polvo de óxido de indio dopado con estaño Parte 3: Análisis de fase Método de análisis de difracción de rayos X

American Society for Testing and Materials (ASTM), difracción de rayos X y difracción de rayos X policristalinos

  • ASTM UOP905-20 Aglomeración de platino por difracción de rayos X
  • ASTM UOP905-08 Aglomeración de platino por difracción de rayos X
  • ASTM UOP905-91 Aglomeración de platino por difracción de rayos X
  • ASTM D5187-91(2007) Método de prueba estándar para la determinación del tamaño de los cristalitos (LC de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X)
  • ASTM D934-80(2003) Prácticas estándar para la identificación de compuestos cristalinos en depósitos formados en agua mediante difracción de rayos X
  • ASTM D5187-91(2002) Método de prueba estándar para la determinación del tamaño de cristalitos (Lc) de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X
  • ASTM D5187-91(1997) Método de prueba estándar para la determinación del tamaño de cristalitos (Lc) de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X
  • ASTM D5357-98 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
  • ASTM D8352-20 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita beta mediante difracción de rayos X
  • ASTM D5357-03(2008)e1 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
  • ASTM D5357-03(2013) Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
  • ASTM E1426-14(2019)e1 Método de prueba estándar para determinar las constantes elásticas de rayos X para su uso en la medición de tensiones residuales mediante técnicas de difracción de rayos X
  • ASTM D5357-03 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
  • ASTM D5357-19 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
  • ASTM D934-08 Prácticas estándar para la identificación de compuestos cristalinos en depósitos formados en agua mediante difracción de rayos X
  • ASTM D934-80(1999) Prácticas estándar para la identificación de compuestos cristalinos en depósitos formados en agua mediante difracción de rayos X
  • ASTM D5758-01(2021) Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita ZSM-5 mediante difracción de rayos X
  • ASTM D5187-10 Método de prueba estándar para la determinación del tamaño de los cristalitos (LC de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X)
  • ASTM D5758-01(2011)e1 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita ZSM-5 mediante difracción de rayos X
  • ASTM D934-22 Prácticas estándar para la identificación de compuestos cristalinos en depósitos formados en agua mediante difracción de rayos X
  • ASTM D934-13 Prácticas estándar para la identificación de compuestos cristalinos en depósitos formados en agua mediante difracción de rayos X
  • ASTM D5758-01(2015) Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita ZSM-5 mediante difracción de rayos X
  • ASTM D5187-10(2015)e1 Método de prueba estándar para la determinación del tamaño de cristalitos (Lc) de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X
  • ASTM E1426-14 Método de prueba estándar para determinar las constantes elásticas de rayos X para su uso en la medición de tensiones residuales mediante técnicas de difracción de rayos X
  • ASTM D5380-93(2003) Método de prueba estándar para la identificación de pigmentos cristalinos y extensores en pintura mediante análisis de difracción de rayos X
  • ASTM D5380-93(2021) Método de prueba estándar para la identificación de pigmentos cristalinos y extensores en pintura mediante análisis de difracción de rayos X
  • ASTM E915-96 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
  • ASTM E915-16 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
  • ASTM E915-96(2002) Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
  • ASTM D5187-21 Método de prueba estándar para la determinación del tamaño de cristalitos (Lc) de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X
  • ASTM E915-19 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
  • ASTM E2860-12 Método de prueba estándar para medición de tensión residual mediante difracción de rayos X para aceros para rodamientos
  • ASTM E915-10 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
  • ASTM E915-21 Práctica estándar para verificar la alineación de instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
  • ASTM E2860-20 Método de prueba estándar para medición de tensión residual mediante difracción de rayos X para aceros para rodamientos
  • ASTM E3294-22 Guía estándar para el análisis forense de materiales geológicos mediante difracción de rayos X en polvo
  • ASTM F3419-22 Método de prueba estándar para la caracterización mineral de materiales de superficie equinos mediante técnicas de difracción de rayos X (DRX)
  • ASTM D3720-90(2005) Método de prueba estándar para determinar la relación entre anatasa y rutilo en pigmentos de dióxido de titanio mediante difracción de rayos X
  • ASTM F2024-10(2016) Práctica estándar para la determinación por difracción de rayos X del contenido de fases de recubrimientos de hidroxiapatita pulverizados con plasma
  • ASTM F2024-10(2021) Práctica estándar para la determinación por difracción de rayos X del contenido de fases de recubrimientos de hidroxiapatita pulverizados con plasma
  • ASTM D3906-19 Método de prueba estándar para la determinación de intensidades relativas de difracción de rayos X de materiales que contienen zeolita tipo faujasita
  • ASTM F2024-00 Práctica estándar para la determinación por difracción de rayos X del contenido de fases de recubrimientos de hidroxiapatita pulverizados con plasma
  • ASTM D3906-03(2008) Método de prueba estándar para la determinación de intensidades relativas de difracción de rayos X de materiales que contienen zeolita tipo faujasita
  • ASTM D3906-97 Método de prueba estándar para la determinación de intensidades relativas de difracción de rayos X de materiales que contienen zeolita tipo faujasita
  • ASTM E1426-98 Método de prueba estándar para determinar el parámetro elástico efectivo para mediciones de tensión residual por difracción de rayos X
  • ASTM E1426-98(2009)e1 Método de prueba estándar para determinar el parámetro elástico efectivo para mediciones de tensión residual por difracción de rayos X
  • ASTM F2024-10 Práctica estándar para la determinación por difracción de rayos X del contenido de fases de recubrimientos de hidroxiapatita pulverizados con plasma
  • ASTM D3720-90(2011) Método de prueba estándar para determinar la relación entre anatasa y rutilo en pigmentos de dióxido de titanio mediante difracción de rayos X
  • ASTM D3720-90(2019) Método de prueba estándar para determinar la relación entre anatasa y rutilo en pigmentos de dióxido de titanio mediante difracción de rayos X
  • ASTM D3720-90(1999) Método de prueba estándar para determinar la relación entre anatasa y rutilo en pigmentos de dióxido de titanio mediante difracción de rayos X
  • ASTM D3906-03(2013) Método de prueba estándar para la determinación de intensidades relativas de difracción de rayos X de materiales que contienen zeolita tipo faujasita
  • ASTM D3906-03 Método de prueba estándar para la determinación de intensidades relativas de difracción de rayos X de materiales que contienen zeolita tipo faujasita
  • ASTM D4926-89(1994)e1 Método de prueba estándar para el contenido de alúmina gamma en catalizadores que contienen sílice y alúmina mediante difracción de rayos X en polvo
  • ASTM D4926-06(2011) Método de prueba estándar para el contenido de alúmina gamma en catalizadores que contienen sílice y alúmina mediante difracción de rayos X en polvo
  • ASTM C1365-06 Método de prueba estándar para la determinación de la proporción de fases en el cemento Portland y el clinker de cemento Portland mediante análisis de difracción de rayos X en polvo
  • ASTM C1365-06(2011) Método de prueba estándar para la determinación de la proporción de fases en el cemento Portland y el clinker de cemento Portland mediante análisis de difracción de rayos X en polvo
  • ASTM D5758-01(2007)e1 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita ZSM-5 mediante difracción de rayos X
  • ASTM D5758-01 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita ZSM-5 mediante difracción de rayos X
  • ASTM D4926-89(2001) Método de prueba estándar para el contenido de alúmina gamma en catalizadores que contienen sílice y alúmina mediante difracción de rayos X en polvo
  • ASTM C1365-98 Método de prueba estándar para la determinación de la proporción de fases en el cemento Portland y el clinker de cemento Portland mediante análisis de difracción de rayos X en polvo
  • ASTM C1365-98(2004) Método de prueba estándar para la determinación de la proporción de fases en el cemento Portland y el clinker de cemento Portland mediante análisis de difracción de rayos X en polvo
  • ASTM D4926-06 Método de prueba estándar para el contenido de alúmina gamma en catalizadores que contienen sílice y alúmina mediante difracción de rayos X en polvo

Universal Oil Products Company (UOP), difracción de rayos X y difracción de rayos X policristalinos

  • UOP 905-2008 Aglomeración de platino por difracción de rayos X

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, difracción de rayos X y difracción de rayos X policristalinos

  • GB/T 34612-2017 Método de medición de la curva de oscilación de difracción de doble cristal de rayos X de cristales de zafiro

German Institute for Standardization, difracción de rayos X y difracción de rayos X policristalinos

  • DIN EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003
  • DIN EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 1: Principios generales; Versión alemana EN 13925-1:2003
  • DIN EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
  • DIN EN 13925-3:2005-07 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
  • DIN EN 13925-2:2003-07 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003
  • DIN EN 13925-1:2003-07 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 1: Principios generales; Versión alemana EN 13925-1:2003
  • DIN EN 1330-11:2007-09 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos; Versión trilingüe EN 1330-11:2007
  • DIN EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos; Versión trilingüe EN 1330-11:2007
  • DIN EN 15305:2009-01 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008
  • DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008, corrección de errores según DIN EN 15305:2009-01; Versión alemana EN 15305:2008/AC:2009
  • DIN EN 15305:2009 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008
  • DIN 51418-1:2008 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Definiciones y principios básicos
  • DIN 6836:1963 Tubos de rayos X y generadores de rayos X de un solo tanque; soportes para mesas y soportes de aplicación de rayos X, dimensiones para el montaje
  • DIN 51418-1:1996 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Definiciones y principios básicos
  • DIN 50433-1:1976 Ensayos de materiales inorgánicos semiconductores; determinación de la orientación de monocristales mediante difracción de rayos X
  • DIN 51418-1:2008-08 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 1: Definiciones y principios básicos
  • DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008, corrección de errores según DIN EN 15305:2009-01; Versión alemana EN 15305:2008/AC:2009
  • DIN 51418-2:2015 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
  • DIN 51418-2:1996 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
  • DIN EN 12698-2:2007 Análisis químico de refractarios de carburo de silicio unidos con nitruro. Parte 2: métodos XRD Versión en inglés de DIN EN 12698-2:2007-06
  • DIN 51418-2:2015-03 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
  • DIN 6868-4:1987 Aseguramiento de la calidad de la imagen en el diagnóstico radiológico; comprobación de constancia en radioscopía con intensificador de imágenes de rayos X y fotografía desde la pantalla de salida del intensificador de imágenes de rayos X
  • DIN EN 60627:2006 Equipos de diagnóstico por imágenes de rayos X. Características de las rejillas antidispersión mamográficas y de uso general (IEC 60627:2001); Versión alemana EN 60627:2001
  • DIN 51003:2004 Fluorescencia de rayos X de reflexión total: principios y definiciones
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  • DIN 6868-150:2022 Garantía de calidad de la imagen en departamentos de rayos X de diagnóstico. Parte 150: Prueba de aceptación de equipos médicos de rayos X radiográficos y fluoroscópicos.
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  • EN 16407-1:2012 Ensayos no destructivos - Inspección radiográfica de corrosión y depósitos en tuberías mediante rayos X y gamma - Parte 1: Inspección radiográfica tangencial
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  • NF EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 3: equipos
  • NF EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 1: principios generales
  • NF A09-020-11*NF EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos.
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  • NF C74-121:2002 Equipos de diagnóstico por imágenes de rayos X - Características de las rejillas antidispersión mamográficas y de uso general.
  • NF A09-254-2*NF EN ISO 20769-2:2018 Ensayos no destructivos. Inspección radiográfica de la corrosión y depósitos en tuberías mediante rayos X y gamma. Parte 2: inspección radiográfica de doble pared.
  • NF A09-254-1*NF EN ISO 20769-1:2018 Ensayos no destructivos. Inspección radiográfica de la corrosión y depósitos en tuberías mediante rayos X y gamma. Parte 1: inspección radiográfica tangencial.
  • NF S92-502:2006 Laboratorio de análisis de biología médica - Antroporadiamétricos - Conteos de pulmones - Mediciones de emisores X y gamma de baja energía (menos de 200 keV).
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Danish Standards Foundation, difracción de rayos X y difracción de rayos X policristalinos

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  • DS/EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
  • DS/EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.
  • DS/EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos
  • DS/EN 15305/AC:2009 Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
  • DS/EN 15305:2008 Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
  • DS/EN ISO 17636-1:2013 Ensayos no destructivos de soldaduras - Ensayos radiográficos - Parte 1: Técnicas de rayos X y gamma con película
  • DS/EN 13068-3:2001 Ensayos no destructivos - Ensayos radioscópicos - Parte 3: Principios generales de los ensayos radioscópicos de materiales metálicos mediante rayos X y gamma

Lithuanian Standards Office , difracción de rayos X y difracción de rayos X policristalinos

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  • UNE-EN 13925-1:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.
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SAE - SAE International, difracción de rayos X y difracción de rayos X policristalinos

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国家质量监督检验检疫总局, difracción de rayos X y difracción de rayos X policristalinos

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IT-UNI, difracción de rayos X y difracción de rayos X policristalinos

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Professional Standard - Commodity Inspection, difracción de rayos X y difracción de rayos X policristalinos

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水利部, difracción de rayos X y difracción de rayos X policristalinos

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Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, difracción de rayos X y difracción de rayos X policristalinos

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Professional Standard - Electron, difracción de rayos X y difracción de rayos X policristalinos

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  • T/CASAS 014-2021 Método de medición para la flexión del plano basal de un sustrato de SiC. Difractometría de rayos X de alta resolución.
  • T/YXNX 004-2021 Determinación de la fase de mullita en refractarios de aluminio-silicio -Método de ajuste de espectro completo para difracción de rayos X
  • T/IAWBS 017-2022 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de curva de oscilación de rayos X de cristal doble de sustrato de cristal único de diamante
  • T/IAWBS 015-2021 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de la curva de oscilación de rayos X de cristal doble del sustrato de cristal único de Ga2O3
  • T/IAWBS 016-2022 Método de prueba FWHM de curva oscilante de doble cristal de rayos X para oblea única de carburo de silicio

Standard Association of Australia (SAA), difracción de rayos X y difracción de rayos X policristalinos

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