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Métodos de prueba de microscopía electrónica de barrido.

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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Métodos de prueba de microscopía electrónica de barrido. son: Equipo óptico, Optoelectrónica. Equipo láser.

Professional Standard - Machinery, Métodos de prueba de microscopía electrónica de barrido.

• JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Métodos de prueba de microscopía electrónica de barrido.

• KS I 0051-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.

Group Standards of the People's Republic of China, Métodos de prueba de microscopía electrónica de barrido.

• T/NLIA 004-2021 Método de prueba de tracción SEM in situ para aleaciones de aluminio fabricadas con aditivos

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