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Prueba de sensibilidad

Prueba de sensibilidad, Total: 125 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Prueba de sensibilidad son: Materiales para la construcción aeroespacial., Dispositivos semiconductores, Aplicaciones de la tecnología de la información., Mediciones de vibraciones, golpes y vibraciones., Equipo medico, Telecomunicaciones en general, Accesorios electricos.

Military Standards (MIL-STD), Prueba de sensibilidad

DOD A-A-53918-1989 PROYECTOR, PRUEBA DE AGUIEDAD VISUAL

(U.S.) Telecommunications Industries Association , Prueba de sensibilidad

TIA TSB62-12-2001 Métodos de prueba de sensibilidad de microflexión ITM-12

TIA - Telecommunications Industry Association, Prueba de sensibilidad

TSB62-12-2001 Métodos de prueba de sensibilidad de microflexión ITM-12

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Prueba de sensibilidad

KS C IEC PAS 62179-2003(2008) Prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD): modelo de cuerpo humano (HBM)
KS B ISO 5347-15-2014(2019) Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes. Parte 15: Ensayos de sensibilidad acústica.
KS B ISO 5347-15:2014 Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes. Parte 15: Ensayos de sensibilidad acústica.
KS B ISO 5347-19:2014 Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes. Parte 19: Ensayos de sensibilidad al campo magnético.
KS B 0713-15-2001 Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes. Parte 15: Prueba de sensibilidad acústica.
KS B ISO 16063-33:2020 Métodos para la calibración de transductores de vibración y choque. Parte 33: Prueba de sensibilidad al campo magnético.
KS B 0713-19-2001 Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes. Parte 19: Prueba de sensibilidad al campo magnético.
KS B ISO 5347-16-2014(2019) Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes. Parte 16: Prueba de la sensibilidad al par de montaje.
KS B 0713-18-2001 Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes. Parte 18: Prueba de sensibilidad a la temperatura transitoria.
KS B 0713-17-2001 Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes. Parte 17: Prueba de sensibilidad a la temperatura fija.
KS B 0713-11-2001 Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes. Parte 11: Prueba de sensibilidad a las vibraciones transversales.
KS B 0713-16-2001 Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes. Parte 16: Prueba de la sensibilidad al par de montaje.
KS B ISO 5347-13:2014 Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes. Parte 13: Ensayo de la sensibilidad a la deformación base.
KS B ISO 5347-16:2014 Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes. Parte 16: Prueba de la sensibilidad al par de montaje.
KS B 0713-12-2001 Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes. Parte 12: Prueba de sensibilidad a los golpes transversales.
KS B ISO 5347-18:2014 Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes. Parte 18: Pruebas de sensibilidad a temperaturas transitorias.
KS B 0713-13-2001 Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes. Parte 13: Prueba de sensibilidad a la deformación base.

ESD - ESD ASSOCIATION, Prueba de sensibilidad

TR5.4-03-2011 Prueba de sensibilidad de descarga electrostática Prueba de sensibilidad de enganche de circuitos integrados CMOS/BiCMOS Prueba de enganche transitorio: estimulación transitoria de suministro de nivel de componente
TR5.4-04-2013 Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas Pruebas de enganche transitorio
SP5.5.1-2004 Prueba de sensibilidad Nivel de componente de pulso de línea de transmisión (TLP)
ESD DS5.3:1993 Prueba de sensibilidad de descarga electrostática del modelo de dispositivo cargado (CDM)
SP5.3.2-2004 Nivel de componente del modelo de dispositivo enchufado (SDM) de prueba de sensibilidad
STM5.5.1-2008 Prueba de sensibilidad de descarga electrostática – Pulso de línea de transmisión (TLP) – Nivel de componente
S5.3.1-2009 Prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas – Modelo de dispositivo cargado (CDM) – Nivel de componente
STM5.5.1-2014 Prueba de sensibilidad de descarga electrostática – Pulso de línea de transmisión (TLP) – Nivel de componente
STM5.5.1-2016 Prueba de sensibilidad de descarga electrostática – Pulso de línea de transmisión (TLP) – Nivel de dispositivo
JS-002-2014 Prueba de sensibilidad de descarga electrostática: modelo de dispositivo cargado (CDM): nivel de dispositivo
STM 5.3.1-1999 Prueba de sensibilidad de descarga electrostática Modelo de dispositivo cargado (cdm) Nivel de componente
TR5.5-04-2018 Prueba de sensibilidad de descarga electrostática Pulso de línea de transmisión (TLP): guía de usuario y aplicación
ESD DS5.3.1:2007 Estándar para pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas – Modelo de dispositivo cargado (CDM) – Nivel de componente
SP5.5.2-2007 PRUEBA DE SENSIBILIDAD DE DESCARGA ELECTROSTÁTICA - PULSO DE LÍNEA DE TRANSMISIÓN MUY RÁPIDO (VF-TLP) - NIVEL DE COMPONENTE
TR5.5-03-2014 Pruebas de sensibilidad de descarga electrostática – Pulso de línea de transmisión muy rápida (VF-TLP) – Análisis Round Robin
SP5.2.2-2012 Método de prueba alternativo del modelo de máquina de prueba de sensibilidad de descarga electrostática (MM): nivel de componente de clavija de señal dividida
SP5.4-2004 Prueba de sensibilidad de enganche de circuitos integrados CMOS/BiCMOS Prueba de enganche transitorio: estimulación transitoria de suministro de nivel de componente
TR5.3.1-01-2018 Para pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas, modelo de dispositivo cargado por contacto (CCDM) versus CDM inducido en campo (FICDM), un estudio de caso
SP5.3.3-2018 Prueba de sensibilidad de descarga electrostática Prueba del modelo de dispositivo cargado (CDM): nivel de componente CDM de contacto de baja impedancia como método alternativo de caracterización de CDM

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Prueba de sensibilidad

JEDEC JESD22-A115C-2010 Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD), modelo de máquina (MM)
JEDEC JESD22-A115B-2010 Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD), modelo de máquina (MM)

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Prueba de sensibilidad

DB32/T 3416-2018 Método de prueba de sensibilidad del lector de identificación por radiofrecuencia UHF

Electrostatic Discharge Association (ESDA), Prueba de sensibilidad

ANSI/ESD STM5.5.1-2008 Prueba de sensibilidad de descarga electrostática Pulso de línea de transmisión (TLP) - Nivel de componente
ANSI/ESD SP5.5.2-2007 Prueba de sensibilidad de descarga electrostática Pulso de línea de transmisión muy rápida (VF-TLP): nivel de componente

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Prueba de sensibilidad

GB/T 13823.4-1992 Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes. Pruebas de sensibilidad al campo magnético.
GB/T 13823.17-1996 Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes. Prueba de sensibilidad acústica.
GB/T 13823.8-1994 Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes. Pruebas de sensibilidad a las vibraciones transversales.
GB/T 13823.9-1994 Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes. Prueba de sensibilidad al choque transversal.
GB/T 13823.5-1992 Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes. Pruebas de sensibilidad al par de montaje.
GB/T 13823.6-1992 Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes. Prueba de sensibilidad a la deformación base.
GB/T 13823.15-1995 Métodos de calibración de captadores de vibraciones y golpes. Prueba de sensibilidad a la temperatura transitoria.
GB/T 20485.31-2011 Métodos para la calibración de transductores de vibración y choque. Parte 31: Prueba de sensibilidad a la vibración transversal.

British Standards Institution (BSI), Prueba de sensibilidad

BS IEC 62615:2010 Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas. Pulso de línea de transmisión (TLP). Nivel de componente
BS 6955-15:1994 Calibración de captadores de vibraciones y golpes. Método de prueba de sensibilidad acústica.
BS 6955-17:1994 Calibración de captadores de vibraciones y golpes. Método de prueba para sensibilidad a temperatura fija.
BS 6955-13:1994 Calibración de captadores de vibraciones y golpes. Método de prueba para la sensibilidad a la deformación base.
BS ISO 16063-33:2017 Métodos para la calibración de transductores de vibraciones y choques. Prueba de sensibilidad al campo magnético.
BS ISO 16063-34:2019 Métodos para la calibración de transductores de vibración y choque - Pruebas de sensibilidad a temperaturas fijas
BS EN 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de máquina (MM)
BS EN 60749-26:2006 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo del cuerpo humano (HBM)
BS EN 60749-27:2006+A1:2012 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM)
BS EN 60749-26:2014 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM)
18/30376778 DC BS ISO 16063-34. Métodos para la calibración de transductores de vibraciones y choques. Parte 34. Pruebas de sensibilidad a temperaturas fijas.
BS EN IEC 60749-26:2018 Cambios rastreados. Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM)
BS EN IEC 60749-28:2022 Cambios rastreados. Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de dispositivo cargado (CDM). nivel del dispositivo
20/30419235 DC BS EN 60749-28. Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 28. Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de dispositivo cargado (CDM). Nivel de dispositivo

BE-NBN, Prueba de sensibilidad

NBN S 21-109-1988 Componentes de los sistemas automáticos de detección de incendios. Parte 9: Prueba de sensibilidad al fuego.

FI-SFS, Prueba de sensibilidad

SFS 5179 E-1985 Esta norma está aprobada en inglés.

CEN - European Committee for Standardization, Prueba de sensibilidad

EN ISO 8596:2018 Óptica oftálmica - Pruebas de agudeza visual - Optotipos estándar y clínicos y su presentación

Association Francaise de Normalisation, Prueba de sensibilidad

NF S12-112:2009 Óptica oftálmica - Pruebas de agudeza visual - Optotipo estándar y su presentación.
E90-350-15:1994 Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes. Parte 15: pruebas de sensibilidad acústica.
NF E90-350-15:1994 Métodos para el ajuste de captadores de vibraciones y choques - Parte 15: ensayo de sensibilidad acústica.
NF E90-350-16:1994 Métodos para el ajuste de captadores de vibraciones y choques - Parte 16: ensayo de sensibilidad de pareja de serraje.
E90-350-17:1994 Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes. Parte 17: prueba de sensibilidad a la temperatura fija.
NF E90-350-17:1994 Métodos para el ajuste de captadores de vibraciones y choques - Parte 17: ensayo de sensibilidad a la temperatura fija.
NF ETS 300050:1994 Métodos para la calibración de sensores de vibración y choque - Parte 18: pruebas de sensibilidad a temperaturas transitorias.
NF EN 2591-209:1994 Métodos para la calibración de sensores de vibración y choque - Parte 18: pruebas de sensibilidad a temperaturas transitorias.
E90-350-16:1994 Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes. Parte 16: prueba de la sensibilidad al par de montaje.
NF E90-350-12:1994 Métodos para el ajuste de captadores de vibraciones y choques - Parte 12: ensayo de sensibilidad a los choques transversales.
NF EN 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).
NF EN 60749-27/A1:2013 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).
NF C96-022-26:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).
NF C96-022-27*NF EN 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).
NF B43-352*NF EN 13234:2007 Cerámica técnica avanzada - Propiedades mecánicas de los composites cerámicos a temperatura ambiente - Evaluación de la resistencia a la propagación de fisuras mediante ensayos de sensibilidad a la entalla

European Committee for Standardization (CEN), Prueba de sensibilidad

EN ISO 8596:2009 Óptica oftálmica - Pruebas de agudeza visual - Optotipo estándar y su presentación (ISO 8596:2009)
EN ISO 8596:2018/A1:2020 Óptica oftálmica - Pruebas de agudeza visual - Optotipos estándar y clínicos y su presentación - Enmienda 1 (ISO 8596:2017/Amd1:2019)

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Prueba de sensibilidad

GB/T 20485.33-2018 Métodos para la calibración de transductores de vibración y choque. Parte 33: Prueba de sensibilidad al campo magnético.

American National Standards Institute （ANSI), Prueba de sensibilidad

ANSI/ESD SP14.5-2021 Prueba de sensibilidad de descarga electrostática Inmunidad de campo cercano Componente de escaneo/módulo/nivel de PCB

International Organization for Standardization (ISO), Prueba de sensibilidad

ISO 5347-19:1993 Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes; parte 19: prueba de sensibilidad del campo magnético
ISO 16063-33:2017 Métodos para la calibración de transductores de vibración y choque - Parte 33: Prueba de sensibilidad al campo magnético
ISO 5347-15:1993 Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes; parte 15: prueba de sensibilidad acústica
ISO 5347-11:1993 Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes; parte 11: prueba de sensibilidad a la vibración transversal
ISO 5347-16:1993 Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes; parte 16: prueba de la sensibilidad al par de montaje
ISO 5347-13:1993 Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes; parte 13: prueba de sensibilidad a la deformación base
ISO 5347-18:1993 Métodos para la calibración de captadores de vibraciones y golpes; parte 18: prueba de sensibilidad a la temperatura transitoria
ISO 16063-31:2009/WD Amd 1 Métodos para la calibración de transductores de vibraciones y choques. Parte 31: Ensayos de sensibilidad a las vibraciones transversales. Enmienda 1.

KR-KS, Prueba de sensibilidad

KS B ISO 16063-33-2020 Métodos para la calibración de transductores de vibración y choque. Parte 33: Prueba de sensibilidad al campo magnético.

ZA-SANS, Prueba de sensibilidad

SANS 16063-31:2009 Métodos para la calibración de transductores de vibración y choque. Parte 31: Prueba de sensibilidad a la vibración transversal.

CZ-CSN, Prueba de sensibilidad

CSN 66 6408 Zb-1983 Změna b) - 4/83 ?SN 66 6408 Citlivost barevn?ch inverzních film?. Zkou?ení. Zna?ení na obalech
CSN 66 6403 Zb-1983 Změna b) - 4/83 ?SN 66 6403 Stanovenf citlivosti ?ernobíl?ch negativních materiál? pro obrazovou fotografías. Zkou?ení. Zna?eni na obalech
CSN 66 6405 Zb-1983 Změna b) - 4/83 ?SN 66 6405 Material fotográfico. Citlivost ?ernobíl?ch inverzních film?. Zkou?ení. Zna?ení na obalech.

RU-GOST R, Prueba de sensibilidad

GOST ISO 16063-31-2013 Vibración mecánica. Métodos para la calibración de transductores de vibraciones y choques. Parte 31. Pruebas de sensibilidad a las vibraciones transversales.

International Electrotechnical Commission (IEC), Prueba de sensibilidad

IEC 60749-27:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD); Modelo de máquina (MM)
IEC 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).
IEC 60749-26:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).
IEC 60749-27:2006+AMD1:2012 CSV Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).

Danish Standards Foundation, Prueba de sensibilidad

DS/EN 60749-27:2006
DS/EN 60749-27/A1:2013 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM).

ES-UNE, Prueba de sensibilidad

UNE-EN 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Parte 27: Ensayos de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de máquina (MM) (IEC 60749-27:2006) (Ratificada por AENOR en noviembre de 2006.)
UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012 Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Parte 27: Ensayos de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de máquina (MM) (Ratificada por AENOR en enero de 2013.)
UNE-EN IEC 60749-26:2018 Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Parte 26: Ensayos de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo del cuerpo humano (HBM) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2018.)
UNE-EN IEC 60749-28:2022 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de dispositivo cargado (CDM) - nivel de dispositivo (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2022.)
UNE-EN 60749-28:2017 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de dispositivo cargado (CDM) - nivel de dispositivo (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en agosto de 2017.)

International Telecommunication Union (ITU), Prueba de sensibilidad

ITU-R SM.2096-2016 Procedimiento de prueba para medir la sensibilidad del radiogoniómetro en el rango de frecuencia VHF/UHF
ITU-R SM.1840-2007 Procedimiento de prueba para medir la sensibilidad de los receptores de vigilancia radioeléctrica utilizando señales moduladas analógicamente

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, Prueba de sensibilidad

ITU-R SM.2096-0-2016 Procedimiento de prueba para medir la sensibilidad del radiogoniómetro en el rango de frecuencia VHF/UHF

German Institute for Standardization, Prueba de sensibilidad

DIN EN ISO 8596:2009 Óptica oftálmica - Pruebas de agudeza visual - Optotipo estándar y su presentación (ISO 8596:2009); Versión en inglés de DIN EN ISO 8596:2009-10

Lithuanian Standards Office , Prueba de sensibilidad

LST EN 60749-27-2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM) (IEC 60749-27:2006).
LST EN 60749-27-2006/A1-2013 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de máquina (MM) (IEC 60749-27:2006/A1:2012).

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Prueba de sensibilidad

EN 60749-27:2006 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos Parte 27: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de máquina (MM) (Incorpora la Enmienda A1: 2012)
EN IEC 60749-28:2022 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de dispositivo cargado (CDM) - nivel de dispositivo
EN 60749-28:2017 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de dispositivo cargado (CDM) - nivel de dispositivo

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Prueba de sensibilidad

IPC TM-650 2.6.9.1-1995 Prueba para determinar la sensibilidad de conjuntos electrónicos a la energía ultrasónica
IPC TM-650 2.6.9.2-1995 Prueba para determinar la sensibilidad de los componentes electrónicos a la energía ultrasónica

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., Prueba de sensibilidad

ASHRAE SF-98-20-1-1998 Método de prueba para describir la sensibilidad direccional de anemómetros para mediciones de baja velocidad en interiores