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Parámetros de escaneo SEM

Parámetros de escaneo SEM, Total: 295 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Parámetros de escaneo SEM son: Equipo óptico, Química analítica, Óptica y medidas ópticas., Educación, Medidas lineales y angulares., Vocabularios, Tratamiento superficial y revestimiento., Calidad del aire, Dispositivos de visualización electrónica., Pruebas mecánicas, Protección contra el crimen, Termodinámica y mediciones de temperatura., Pinturas y barnices, pruebas de metales, Fibras textiles, Optoelectrónica. Equipo láser, Materiales de construcción, Metales no ferrosos, Física. Química, tubos electronicos, Productos de hierro y acero., Cerámica, Pesca y cría de peces., Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., Equipos de interfaz e interconexión., Redes de transmisión y distribución de energía., Dispositivos semiconductores, Circuitos integrados. Microelectrónica, Difusión de radio y televisión, Ingredientes de pintura, Pruebas ambientales, Productos de la industria textil., Accesorios electricos, Dispositivos de almacenamiento de datos.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Parámetros de escaneo SEM

JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
JIS K 0149-1:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
JIS K 3850-1:2006 Determinación de partículas fibrosas en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
JIS R 1633:1998 Método de preparación de muestras de cerámicas finas y polvos cerámicos finos para observación con microscopio electrónico de barrido.
JIS K 3850-1:2000 Método de medición de partículas fibrosas en suspensión en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.

International Organization for Standardization (ISO), Parámetros de escaneo SEM

ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
ISO 22493:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
ISO 9220:1988 Recubrimientos metálicos; medición del espesor del recubrimiento; método de microscopio electrónico de barrido
ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
ISO/WD TR 23683:2023 Análisis químico de superficies: microscopía con sonda de barrido. Directrices para la cuantificación experimental de la concentración de portadores en dispositivos semiconductores mediante microscopía con sonda de barrido eléctrica.
ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO 28600:2011 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos para microscopía de sonda de barrido
ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías: caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ISO 11775:2015
ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método para evaluar dimensiones críticas mediante CD-SEM.
ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
ISO 14966:2002 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
ISO 14966:2002/cor 1:2007 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido; Corrigendum técnico 1
ISO 16000-27:2014 Aire interior - Parte 27: Determinación del polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)
ISO/FDIS 17751-2 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido.
ISO 17751-2:2014 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido.
ISO 17751-2:2023 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido.
ISO 17751-2:2016 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Parámetros de escaneo SEM

ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-98 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-98(2008)e1 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-04 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-04(2010) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-14(2019) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-97 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-04(2017) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-14 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-14e1
ASTM C1723-16(2022) Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM C1723-10 Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM C1723-16
ASTM B748-90(2006) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM B748-90(1997) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2142-08(2015) Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
ASTM E2142-08 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
ASTM E2142-08(2023) Standard Test Methods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the Scanning Electron Microscope
ASTM E2041-03 Método estándar para estimar parámetros cinéticos mediante calorímetro diferencial de barrido utilizando el método de Borchardt y Daniels
ASTM E2041-99 Método estándar para estimar parámetros cinéticos mediante calorímetro diferencial de barrido utilizando el método de Borchardt y Daniels
ASTM E2041-01 Método estándar para estimar parámetros cinéticos mediante calorímetro diferencial de barrido utilizando el método de Borchardt y Daniels
ASTM B748-90(2010) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2041-08e1 Método estándar para estimar parámetros cinéticos mediante calorímetro diferencial de barrido utilizando el método de Borchardt y Daniels
ASTM E2809-13 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X en exámenes de pintura forense
ASTM B748-90(2021) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2070-13(2018) Método de prueba estándar para parámetros cinéticos mediante calorimetría diferencial de barrido utilizando métodos isotérmicos
ASTM E2041-13e1 Método de prueba estándar para estimar parámetros cinéticos mediante calorímetro de barrido diferencial utilizando el método de Borchardt y Daniels
ASTM E2041-23 Método de prueba estándar para estimar parámetros cinéticos mediante calorímetro de barrido diferencial utilizando el método de Borchardt y Daniels
ASTM E2070-23 Métodos de prueba estándar para parámetros cinéticos mediante calorimetría diferencial de barrido utilizando métodos isotérmicos
ASTM E1588-95(2001) Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía dispersiva
ASTM E1588-08 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E1588-10 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E2142-01 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
ASTM E1588-95 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía dispersiva
ASTM B748-90(2016) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM B748-90(2001) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2090-00 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas por limpiadores de salas limpias mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
ASTM E2090-12 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
ASTM E2041-13(2018) Método de prueba estándar para estimar parámetros cinéticos mediante calorímetro de barrido diferencial utilizando el método de Borchardt y Daniels
ASTM F1372-93(1999) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
ASTM E1588-20 Práctica estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM F1372-93(2020) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
ASTM D605-82(1996)e1 Especificación estándar para pigmento de silicato de magnesio (talco)
ASTM D6059-96(2011) Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM F1372-93(2005) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
ASTM E280-98(2004)e1 Radiografías de referencia estándar para piezas fundidas de acero de paredes pesadas (de 4 &189; a 12 pulgadas [114 a 305 mm])
ASTM E1588-07e1 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM E1588-07 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E280-21 Radiografías de referencia estándar para piezas fundidas de acero de paredes pesadas (de 412 a 12 pulg. (114 a 305 mm))
ASTM E2809-22 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X de dispersión de energía (SEM/EDS) en exámenes forenses de polímeros
ASTM F1372-93(2012)
ASTM E698-23 Método de prueba estándar para parámetros cinéticos para materiales térmicamente inestables utilizando calorimetría diferencial de barrido y el método Flynn/Wall/Ozawa
ASTM E2090-06 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
ASTM E2090-12(2020) Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
ASTM E2890-12 Método de prueba estándar para parámetros cinéticos de materiales térmicamente inestables mediante calorimetría diferencial de barrido utilizando el método Kissinger
ASTM E2890-12(2018) Método de prueba estándar para parámetros cinéticos de materiales térmicamente inestables mediante calorimetría diferencial de barrido utilizando el método Kissinger
ASTM E698-18 Método de prueba estándar para parámetros cinéticos para materiales térmicamente inestables utilizando calorimetría diferencial de barrido y el método Flynn/Wall/Ozawa
ASTM E698-16 Método de prueba estándar para parámetros cinéticos para materiales térmicamente inestables utilizando calorimetría diferencial de barrido y el método Flynn/Wall/Ozawa
ASTM E2890-12e1 Método de prueba estándar para parámetros cinéticos de materiales térmicamente inestables mediante calorimetría diferencial de barrido utilizando el método Kissinger
ASTM E2890-21 Método de prueba estándar para la determinación de parámetros cinéticos y orden de reacción para materiales térmicamente inestables mediante calorimetría diferencial de barrido utilizando los métodos de Kissinger y Farjas
ASTM E3309-21 Guía estándar para informes de análisis forense de residuos de disparos de cebador (pGSR) mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía (SEM/EDS)

Group Standards of the People's Republic of China, Parámetros de escaneo SEM

T/CSTM 00795-2022 Datos experimentales de materiales: requisitos para imágenes de microscopio electrónico de barrido.
T/QGCML 1940-2023
T/CSTM 00229-2020 Identificación de materiales de grafeno en materiales de recubrimiento Método de microscopio electrónico de barrido-espectrómetro de dispersión de energía
T/NLIA 004-2021 Método de prueba de tracción SEM in situ para aleaciones de aluminio fabricadas con aditivos
T/CSTM 00346-2021 Clasificación automática y estadística de las inclusiones en el acero. Método del espectro de dispersión de energía del microscopio electrónico de barrido.
T/GAIA 017-2022 Determinación del contenido de flúor en el revestimiento superficial de aluminio y aleaciones de aluminio. Método del microscopio electrónico de barrido y espectrómetro de energía dispersiva.
T/CIESC 0002-2020 Práctica estándar para la evaluación de métodos para la determinación de parámetros cinéticos mediante calorimetría y calorimetría diferencial de barrido
T/CES 183-2022 Especificación de la recopilación de datos mediante escaneo láser de vehículos aéreos no tripulados de ala fija para líneas aéreas de transmisión

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Parámetros de escaneo SEM

JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)

Professional Standard - Machinery, Parámetros de escaneo SEM

JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas
JB/T 7503-1994 Espesor de la sección transversal de recubrimientos metálicos Método de medición mediante microscopio electrónico de barrido

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Parámetros de escaneo SEM

JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
JJG 550-1988 Reglamento de verificación del microscopio electrónico de barrido.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Parámetros de escaneo SEM

GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas
GB/T 36052-2018 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos para microscopía de sonda de barrido

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Parámetros de escaneo SEM

KS M 0044-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS I 0051-1999(2019) Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS I 0051-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS D ISO 9220:2009 Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220-2009(2022) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220-2009(2017) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
KS D ISO 16700-2013(2018) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
KS K ISO 17751-2:2019 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido.

Professional Standard - Commodity Inspection, Parámetros de escaneo SEM

SN/T 4388-2015 Identificación del cuero. Microscopía electrónica de barrido y microscopía óptica.
SN/T 3009-2011 Identificación de la corrosión del agua de mar en superficies metálicas mediante SEM.
SN/T 2649.1-2010 Determinación de amianto en cosméticos para importación y exportación. Parte 1: Método de difracción de rayos X y microscopía electrónica de barrido.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Parámetros de escaneo SEM

GB/T 25189-2010 Análisis de microhaz. Método de determinación de parámetros de análisis cuantitativo de SEM-EDS.
GB/T 16594-1996 Medición de longitud de grado en micras por SEM
GB/T 31563-2015 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
GB/T 17722-1999 Medición de espesor chapado en oro por SEM
GB/T 16594-2008 Reglas generales para la medición de longitud en escala de micras mediante SEM
GB/T 20307-2006 Reglas generales para la medición de longitud a escala nanométrica mediante SEM
GB/T 17362-2008 Método de análisis del espectro de energía de rayos X con microscopio electrónico de barrido para productos de oro
GB/T 27788-2011 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
GB/T 17362-1998
GB/T 17359-1998
GB/T 30834-2014 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero. Microscopio electrónico de barrido
GB/T 18295-2001 Método de análisis de muestras de arenisca de yacimientos de petróleo y gas mediante microscopio electrónico de barrido.
GB/T 36422-2018 Fibra sintética. Método de prueba para micromorfología y diámetro. Método de microscopio electrónico de barrido.
GB/T 30834-2022 Clasificación y clasificación de inclusiones en acero: método del microscopio electrónico de barrido.
GB/T 14593-2008 Método de análisis cuantitativo de cachemira, lana y sus mezclas. Método de microscopio electrónico de barrido.
GB/T 19267.6-2003 Examen físico y químico de rastros de evidencia en ciencias forenses. Parte 6: Microscopía electrónica de barrido.
GB/T 28873-2012 Guía general de microscopía electrónica de barrido ambiental para efectos biológicos sobre topografía inducidos por nanopartículas.
GB/T 17361-1998
GB/T 17361-2013 Análisis de microhaces. Identificación de minerales arcillosos autigénicos en rocas sedimentarias mediante microscopio electrónico de barrido y espectrómetro de energía dispersiva.
GB/T 19267.6-2008 Examen físico y químico de rastros de evidencia en ciencias forenses. Parte 6: Microscopio electrónico de barrido/espectrometría de dispersión de energía de rayos X
GB/T 40905.2-2022 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido.

KR-KS, Parámetros de escaneo SEM

KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS C ISO 19749-2023 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.
KS K ISO 17751-2-2019 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido.

Professional Standard - Education, Parámetros de escaneo SEM

JY/T 0584-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía electrónica de barrido.
JY/T 010-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de barrido analítica.

Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), Parámetros de escaneo SEM

SMPTE 293M-2003 Televisión - Línea Activa 720 X 483 a 59,94 Hz Producción de Escaneo Progresivo - Representación Digital
SMPTE RP 86-1991 Parámetros de grabación de vídeo para grabación en cinta de televisión con barrido helicoidal tipo C de 1 pulgada
SMPTE 15M-1998 Grabación analógica de televisión: escaneo helicoidal tipo B de 1 pulgada: parámetros básicos del sistema
SMPTE ST 15M-1998 Grabación analógica de televisión: escaneo helicoidal tipo B de 1 pulgada: parámetros básicos del sistema
SMPTE ST 293M-2003 Televisión - Línea Activa 720 x 483 a 59,94 Hz Producción de Escaneo Progresivo - Representación Digital
SMPTE RP 84-1996 Frecuencias portadoras de referencia y características de preénfasis para grabación analógica de televisión con barrido helicoidal tipo B de 1 pulgada

British Standards Institution (BSI), Parámetros de escaneo SEM

18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
BS EN ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
BS ISO 28600:2011 Análisis químico de superficies. Formato de transferencia de datos para microscopía con sonda de barrido.
BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
BS ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
BS ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas por CDSEM
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
BS ISO 11775:2015 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Determinación de las constantes elásticas normales en voladizo.
BS ISO 19749:2021 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
BS EN ISO 9220:2022 Cambios rastreados. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
BS ISO 14966:2002 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
18/30375050 DC BS ISO 14966. Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
BS EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
BS ISO 16700:2016 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen
18/30344520 DC BS ISO 21466. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas mediante CD-SEM
18/30351679 DC BS ISO 19749. Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
BS CECC 00013:1985 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos: especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores
PD IEC/TR 61967-1-1:2015 Circuitos integrados. Medición de emisiones electromagnéticas. Condiciones generales y definiciones. Formato de intercambio de datos de escaneo de campo cercano
BS EN ISO 17751-2:2023 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas: método de microscopía electrónica de barrido
DD ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.
BS EN ISO 17751-2:2016 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana, otras fibras animales especiales y sus mezclas. Método de microscopía electrónica de barrido.
12/30228339 DC BS ISO 16000-27. Aire interior. Parte 27. Determinación de polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)
BS PD IEC/TR 61967-1-1:2015 Circuitos integrados. Medición de emisiones electromagnéticas. Condiciones generales y definiciones. Formato de intercambio de datos de escaneo de campo cercano
BS DD ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.

Professional Standard - Petroleum, Parámetros de escaneo SEM

SY/T 5162-2014 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
SY/T 5162-1997 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
SY 5162-2014 Método de análisis de microscopía electrónica de barrido para muestras de rocas
SY/T 0545-2012 Determinación de parámetros de propiedades térmicas de la precipitación de ceras en petróleo crudo. Método de prueba por calorimetría diferencial de barrido.
SY 0545-2012 Determinación de parámetros térmicos característicos de la precipitación de cera en calorimetría diferencial de barrido de petróleo crudo
SY/T 0545-1995 Determinación de parámetros térmicos característicos de la precipitación de cera en calorimetría diferencial de barrido de petróleo crudo

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Parámetros de escaneo SEM

DB31/T 297-2003 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de barrido.

Association of German Mechanical Engineers, Parámetros de escaneo SEM

VDI 3866 Blatt 5-2004 Determinación de amianto en productos técnicos - Método de microscopía electrónica de barrido
VDI 3866 Blatt 5-2017 Determinación de amianto en productos técnicos - Método de microscopía electrónica de barrido
VDI 3861 Blatt 2-2008 Emisiones de fuentes estacionarias - Medición de partículas fibrosas inorgánicas en los gases de escape - Método de microscopía electrónica de barrido
VDI 3492-2004 Medición del aire interior - Medición del aire ambiente - Medición de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
VDI 3492-2013 Medición del aire interior - Medición del aire ambiente - Medición de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido

国家能源局, Parámetros de escaneo SEM

SY/T 5162-2021 Método de análisis por microscopía electrónica de barrido de muestras de rocas.

International Telecommunication Union (ITU), Parámetros de escaneo SEM

ITU-R BT.1358-1-2007 Parámetros de estudio de sistemas de televisión progresiva de 625 y 525 líneas.
ITU-R BT.1358-1 SPANISH-2007 Parámetros de estudio de sistemas de televisión progresiva de 625 y 525 líneas.
ITU-R BT.1358-1 FRENCH-2007 Parámetros de estudio de sistemas de televisión progresiva de 625 y 525 líneas.
ITU-R BT.1362-1998
ITU-R BT.1362 FRENCH-1998 Interfaces para señales de vídeo por componentes digitales en sistemas de televisión de barrido progresivo de 525 y 625 líneas

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, Parámetros de escaneo SEM

ITU-R BT.1358-1998 Parámetros de estudio de los sistemas de televisión de barrido progresivo de 625 y 525 líneas

国家质量监督检验检疫总局, Parámetros de escaneo SEM

SN/T 4704-2016 Detección isotérmica de parámetros cinéticos Calorimetría diferencial de barrido

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Parámetros de escaneo SEM

DB44/T 1527-2015 Método de evaluación de la claridad de la imagen del microscopio electrónico de barrido del análisis de microhaz

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Parámetros de escaneo SEM

DB32/T 4546-2023 Especificaciones técnicas para la inspección automatizada de imágenes de diatomeas mediante microscopios electrónicos de barrido.
DB32/T 3459-2018 Microscopía electrónica de barrido para medir la cobertura de microáreas de películas de grafeno

Professional Standard - Judicatory, Parámetros de escaneo SEM

SF/T 0139-2023

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Parámetros de escaneo SEM

GB/T 27788-2020 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Pautas para calibrar la ampliación de imágenes
GB/T 38783-2020 Método de determinación del espesor del recubrimiento para compuestos de metales preciosos mediante microscopio electrónico de barrido.
GB/T 35099-2018 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido con espectrometría de rayos X de energía dispersiva: análisis de morfología y elementos de partículas finas individuales en el aire ambiente.
GB/T 35097-2018 Análisis de microhaz: microscopía electrónica de barrido con espectrometría de rayos X de energía dispersiva: determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas en el aire ambiente.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Parámetros de escaneo SEM

GJB 737.11-1993 Métodos de prueba para productos químicos pirotécnicos Determinación del tamaño de partículas Microscopía electrónica de barrido
GJB 8683.10-2015 Métodos de prueba para parámetros físicos de pirotecnia Parte 10: Determinación de la conductividad térmica mediante calorimetría diferencial de barrido
GJB 8683.8-2015 Métodos de prueba para parámetros físicos de pirotecnia Parte 8: Determinación continua de la capacidad calorífica específica Calorimetría diferencial de barrido
GJB 8683.11-2015 Métodos de prueba para parámetros físicos de pirotecnia Parte 11: Determinación de la temperatura de ignición espontánea Análisis térmico diferencial y calorimetría diferencial de barrido

SE-SIS, Parámetros de escaneo SEM

SIS SS-ISO 9220:1989
SIS SS CECC 00013-1985 Especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores

European Committee for Standardization (CEN), Parámetros de escaneo SEM

EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
EN ISO 9220:1994 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método de microscopio electrónico de barrido (ISO 9220: 1988)
EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021)
prEN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).

Association Francaise de Normalisation, Parámetros de escaneo SEM

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NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
NF X21-005:2006 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido: métodos para evaluar la nitidez de la imagen
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
NF T25-111-4:1991 Fibras de carbono- Textura y estructura- Parte 4: Fractografía mediante microscopio electrónico de barrido
NF EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías: determinación del tamaño de partículas y distribución de formas mediante microscopía electrónica de barrido.
NF ISO 16000-27:2014 Aire interior - Parte 27: determinación del polvo fibroso depositado en las superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)
FD T16-203:2011 Nanotecnologías: Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva
NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 Aire interior - Parte 27: determinación del polvo fibroso sedimentado en las superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)
NF G07-142-2*NF EN ISO 17751-2:2016 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: método de microscopía electrónica de barrido.

RU-GOST R, Parámetros de escaneo SEM

GOST R 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido
GOST R 8.636-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de calibración
GOST 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Método de verificación
GOST 19438.21-1979 Válvulas y válvulas electrónicas de baja potencia para cascadas de salida de escaneo de líneas de TV. Métodos de medición de parámetros eléctricos y prueba de tiempo de servicio.
GOST R 8.631-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de verificación
GOST R 53536-2009 Televisión de definición mejorada. Parámetros básicos del sistema digital con escaneo progresivo. Representaciones de señales analógicas y digitales. Interfaz digital paralela
GOST ISO 16000-27-2017 Aire interior. Parte 27. Determinación de polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)

Danish Standards Foundation, Parámetros de escaneo SEM

DS/EN ISO 9220:1995
DS/ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.
DS/ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías: caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva

German Institute for Standardization, Parámetros de escaneo SEM

DIN EN ISO 9220:2022-05 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022); Versión alemana EN ISO 9220:2022
DIN EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021); Versión alemana e inglesa prEN ISO 9220:2021
DIN EN ISO 19749:2023-07 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021); Versión alemana EN ISO 19749:2023
DIN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988); Versión alemana EN ISO 9220:1994
DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)
DIN ISO 16000-27:2014-11 Aire interior. Parte 27: Determinación del polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo) (ISO 16000-27:2014)
DIN EN ISO 17751-2:2016-11 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido (ISO 17751-2:2016); Versión alemana EN ISO 17751-2:2016 / Nota: Se sustituirá por DIN EN ISO 17751-2 (2022-09).
DIN EN ISO 17751-2:2022-09 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido (ISO/DIS 17751-2:2022); Versión alemana e inglesa prEN ISO 17751-2:2022 / Nota: Fecha de emisión 2022-08-19*I...
DIN ISO 16000-27:2014 Aire interior. Parte 27: Determinación del polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo) (ISO 16000-27:2014)

ES-UNE, Parámetros de escaneo SEM

UNE-EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
UNE-EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías - Mediciones de distribuciones de tamaño y forma de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2023.)
UNE-EN ISO 17751-2:2016 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido (ISO 17751-2:2016)

工业和信息化部, Parámetros de escaneo SEM

YS/T 1491-2021 Método para determinar la esfericidad de una aleación en polvo de alta temperatura a base de níquel mediante microscopía electrónica de barrido.
SJ/T 11759-2020 Medición de la relación de aspecto de la línea de rejilla del electrodo de células fotovoltaicas Microscopía confocal de barrido láser

Professional Standard - Public Safety Standards, Parámetros de escaneo SEM

GA/T 1939-2021 Ciencias forenses Examen de puntos actuales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1938-2021 Ciencia forense Inspección de metales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1937-2021 Ciencia forense Inspección de caucho Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1418-2017 Examen de composición elemental de evidencia de vidrio de ciencia forense Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía
GA/T 1522-2018 Ciencia forense Disparo Inspección de residuos Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1521-2018 Ciencia forense Plásticos Examen de composición elemental Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1519-2018 Ciencia forense Tóner Composición elemental Inspección Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 909-2010 Método de recolección y empaquetado de rastros de evidencia: residuos de disparos (examen SEM/EDS)
GA/T 1520-2018 Ciencia forense polvo negro, polvo pirotécnico inspección de composición de elementos microscopio electrónico de barrido/espectrometría de energía de rayos X
GA/T 823.3-2018 Métodos de examen de evidencia de pintura en ciencia forense Parte 3: Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Parámetros de escaneo SEM

GJB 5891.6-2006 Método de prueba de carga de material para iniciar un dispositivo explosivo Parte 6: Medición del tamaño de grano Microscopía electrónica de barrido
GJB 5382.10-2005 Métodos de prueba de parámetros físicos para pirotecnia. Parte 10: Determinación de la conductividad térmica. método DSC
GJB 5382.8-2005 Métodos de prueba de parámetros físicos para pirotecnia. Parte 8: Determinación de la capacidad calorífica específica. método DSC
GJB 5382.11-2005 Métodos de prueba de parámetros físicos para pirotecnia. Parte 11: Determinación de la temperatura de autoignición. Método DTA y DSC

AENOR, Parámetros de escaneo SEM

UNE-EN ISO 9220:1996 RECUBRIMIENTOS METÁLICOS. MEDICIÓN DEL ESPESOR DEL RECUBRIMIENTO. MÉTODO DEL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO. (ISO 9220:1988).

Lithuanian Standards Office , Parámetros de escaneo SEM

LST EN ISO 9220:2001 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).

未注明发布机构, Parámetros de escaneo SEM

JIS K 0182:2023 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Determinación de constantes elásticas normales en voladizo
BS CECC 13:1985(1999) Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos: Especificaciones básicas: Inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores.

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Parámetros de escaneo SEM

DB35/T 110-2000 Sonda electrónica y microscopio electrónico de barrido Método de análisis del espectro de energía de rayos X para la detección de evidencia física de pintura

AT-ON, Parámetros de escaneo SEM

OENORM EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).

BE-NBN, Parámetros de escaneo SEM

NBN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Parámetros de escaneo SEM

SMPTE ST 15:1998 ST 15:1998 - Estándar SMPTE - Para grabación analógica de televisión - Escaneo helicoidal tipo B de 1 pulgada - Parámetros básicos del sistema
SMPTE RP 86:1991 RP 86:1991 - Práctica recomendada SMPTE - Parámetros de grabación de vídeo para grabación en cinta de televisión con barrido helicoidal tipo C de 1 pulgada
ST 293:2003 ST 293:2003 - Estándar SMPTE - Para televisión - Línea activa 720 × 483 a producción de escaneo progresivo de 59,94 Hz - Representación digital
SMPTE ST 293:2003 ST 293:2003 - Estándar SMPTE - Para televisión - Línea activa 720 × 483 a producción de escaneo progresivo de 59,94 Hz - Representación digital
SMPTE RP 84:1996 RP 84:1996 - Práctica recomendada SMPTE - Frecuencias portadoras de referencia y características de preénfasis para grabación analógica de televisión de barrido helicoidal tipo B de 1 pulgada

BELST, Parámetros de escaneo SEM

STB 2210-2011 Materiales nanocarbonados y no carbonados y compuestos basados en ellos. Método para determinar parámetros mediante mediciones de microscopía electrónica de barrido.

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, Parámetros de escaneo SEM

DB37/T 420.2-2004 Protocolo de diagnóstico de la enfermedad del dedo de escorpión en peces de maricultura, parte 2: método de diagnóstico por microscopía electrónica de barrido

American National Standards Institute （ANSI), Parámetros de escaneo SEM

ANSI/ASTM D6059:2001 Método de prueba para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido
ANSI/INCITS 267-1996 Tecnología de la información: cartucho de cinta para computadora digital con escaneo helicoidal, 12,65 mm (0,498 pulg.), para intercambio de información, reemplaza a ANSI X3.267-1996

Defense Logistics Agency, Parámetros de escaneo SEM

DLA SMD-5962-93239 REV C-2013 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, ENLAZADORES DE RUTA DE ESCANEO CON BUS ID DE 4 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-91725 REV A-2008 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO CON LATCH OCTAL TIPO D, SALIDAS DE TRES ESTADOS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93239 REV B-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, ENLAZADORES DE RUTA DE ESCANEO CON BUS ID DE 4 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-91746 REV A-2008 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO CON BUFFER OCTAL, INVERTENCIA DE SALIDAS DE TRES ESTADOS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-91726 REV A-2008 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO CON BUFFER OCTAL, SALIDAS DE TRES ESTADOS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA DSCC-VID-V62/04729 REV A-2011 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR AVANZADO, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO ABT DE 3,3 V CON TRANSCEPTOR DE BUS UNIVERSAL DE 18 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA DSCC-VID-V62/04730 REV A-2011 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR AVANZADO, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO ABT DE 3,3 V CON TRANSCEPTOR DE BUS UNIVERSAL DE 18 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA DSCC-VID-V62/04731 REV A-2011 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR AVANZADO, DISPOSITIVO DE PRUEBA DE ESCANEO ABT DE 3,3 V CON TRANSCEPTOR Y REGISTROS DE 18 BITS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-96827 REV B-2010 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS RÁPIDO, REGISTRO DE ESCANEO DE DIAGNÓSTICO DE 8 BITS, ENTRADAS COMPATIBLES CON TTL Y OSCILACIÓN DE VOLTAJE DE SALIDA LIMITADA, SILICIO MONOLÍTICO

Professional Standard - Aviation, Parámetros de escaneo SEM

HB 20094.4-2012 Método de prueba para la determinación de metales de desgaste en líquidos operativos para la aviación. Parte 4: Microscopía electrónica de barrido y espectrometría de energía dispersiva.

未注明发布机构, Parámetros de escaneo SEM

JIS K 0182:2023 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Determinación de constantes elásticas normales en voladizo
BS CECC 13:1985(1999) Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos: Especificaciones básicas: Inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores.

Professional Standard - Nuclear Industry, Parámetros de escaneo SEM

EJ/T 20150.23-2018 Postiluminación del conjunto combustible de radiación de varillas PWR, parte 23: Análisis SEM de tubos de revestimiento de combustible

GOSTR, Parámetros de escaneo SEM

PNST 508-2020 Nanotecnologías. Nanotubos de carbono de pared simple. Caracterización mediante microscopía electrónica de barrido y espectrometría de rayos X de energía dispersiva.

IN-BIS, Parámetros de escaneo SEM

IS 233 Pt.6-1978 MÉTODOS PARA LA DETERMINACIÓN DE LOS PARÁMETROS DE LONGITUD DE LAS FIBRAS DE ALGODÓN PARTE VI ESTIMACIÓN DE LA LONGITUD Y LA UNIFORMIDAD DE LA LONGITUD MEDIANTE EL MÉTODO DE ESCANEADO ÓPTICO

International Electrotechnical Commission (IEC), Parámetros de escaneo SEM

IEC TR 61967-1-1:2010 Circuitos integrados - Medición de emisiones electromagnéticas - Parte 1: Condiciones generales y definiciones - Formato de intercambio de datos de escaneo de campo cercano
IEC TR 61967-1-1:2015 Circuitos integrados - Medición de emisiones electromagnéticas - Parte 1-1: Condiciones generales y definiciones - Formato de intercambio de datos de escaneo de campo cercano
IEC 61967-1-1:2010 Circuitos integrados – Medición de emisiones electromagnéticas – Parte 1-1: Condiciones generales y definiciones – Formato de intercambio de datos de escaneo de campo cercano