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Medición de parámetros con láser de femtosegundo

Medición de parámetros con láser de femtosegundo, Total: 113 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Medición de parámetros con láser de femtosegundo son: Optoelectrónica. Equipo láser, Mediciones de radiación, Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., tubos electronicos, Vocabularios, Comunicaciones de fibra óptica., Dispositivos semiconductores, Dispositivos de visualización electrónica., ingeniería de energía solar.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Medición de parámetros con láser de femtosegundo

GB/T 7257-2013 Métodos de medición de parámetros para láser de helio-neón.
GB/T 15175-2012 Métodos de medición para el parámetro principal de los láseres de estado sólido.
GB/T 15175-1994 Métodos de medición del parámetro principal de los láseres de estado sólido.
GB/T 41572-2022 Métodos de medición de los principales parámetros del láser pulsado en el dominio del tiempo.
GB/T 22181.21-2008 Paneles de visualización de plasma. Parte 2-1: Métodos de medición. Óptico
GB/T 22181.22-2008 Paneles de visualización de plasma. Parte 2-2: Métodos de medición. Optoeléctrico

RU-GOST R, Medición de parámetros con láser de femtosegundo

GOST R 51106-1997
GOST 25678-1983 Instrumentos para medidas de energía láser de pulso. Tipos. Parametros basicos. Métodos de medición de parámetros básicos.
GOST 25677-1983
GOST 25373-1982 Láseres de medición. Tipos. Parametros basicos. Requerimientos técnicos
GOST 25312-1982 Medición de transductores de radiación láser termoeléctricos térmicos. Tipos y parámetros básicos. Métodos de medición
GOST R 50737-1995 Interruptores pasivos láser. Métodos de medición y evaluación de parámetros.
GOST 24714-1981 Láseres. Los métodos de medición de los parámetros de radiación. Reglas generales
GOST 25370-1982 Medición de fotomultiplicadores. Parámetros básicos, métodos de medición de parámetros básicos.
GOST 25811-1983 Significa medir la potencia promedio de salida del láser. Tipos. Parametros basicos. Métodos de medición
GOST 8.357-1979 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Instrumentos de medición de radiación láser. Rangos energéticos, espectrales y temporales.
GOST 8.444-1981 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Instrumentos estándar para mediciones de parámetros dinámicos de transductores de medición por láser de impulsos. Métodos y medios de verificación.
GOST 21815.0-1986 Tubos intensificadores de imagen y convertidor de imágenes. Reglas comunes para medir parámetros eléctricos, visuales y ópticos.
GOST 25368-1982 Medios para medir la potencia máxima de la radiación láser pulsada. Tipos y parámetros principales. Métodos de medición
GOST 24453-1980 Mediciones de parámetros y características del láser. Términos, definiciones y símbolos de letras.
GOST 11612.0-1981 Fotomultiplicadores. Métodos de medición de los parámetros eléctricos y luminotécnicos.
GOST 28953-1991 Dispositivo de transferencia de carga fotosensible. Métodos de medición de parámetros.
GOST 17772-1988 Detectores fotoeléctricos semiconductores y dispositivos fotoeléctricos receptores. Métodos de medición de parámetros fotoeléctricos y determinación de características.
GOST 8.198-1985 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Norma especial estatal y calendario de verificación estatal para los medios que miden la potencia de radiación del láser pulsado y los parámetros dinámicos de los detectores láser en el rango de longitud de onda de 0,4-10,6 um
GOST 17038.5-1979 Detectores de centelleo de radiaciones ionizantes. Método para medir la constante espectrométrica del fotomultiplicador utilizada para la determinación del parámetro de centelleo del detector.
GOST R 59607-2021 Óptica y fotónica. Detectores fotoeléctricos semiconductores. Dispositivos fotoeléctricos y fotorreceptores. Métodos de medición de parámetros fotoeléctricos y determinación de características.
GOST 19868-1974 Amplificadores lineales espectrométricos para detectores transistorizados de radiaciones ionizantes. Métodos de medición de parámetros.
GOST R 59606-2021 Óptica y fotónica. Dispositivos fotodetectores de segunda y próxima generación. Métodos de medición de parámetros fotoeléctricos y determinación de características.

ES-UNE, Medición de parámetros con láser de femtosegundo

UNE-EN ISO 12005:2022 Láseres y equipos relacionados con el láser - Métodos de ensayo de parámetros del haz láser - Polarización (ISO 12005:2022) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2022.)
UNE-EN ISO 11670:2004/AC:2005 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para los parámetros del haz láser. Estabilidad posicional del haz (ISO 11670:2003/Cor.1:2004).

Professional Standard - Electron, Medición de parámetros con láser de femtosegundo

SJ 20762-1999 Métodos de medición de parámetros de láseres de gas.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Medición de parámetros con láser de femtosegundo

GJB 894-1990 Pruebas de parámetros de radiación láser militar
GJB 8361-2015 Método de prueba de parámetros del instrumento de prueba de energía de potencia láser militar
GJB 894A-1999 Método de prueba de parámetros de radiación láser militar.
GJB 3489-1998 Método de medición de parámetros ópticos del simulador solar.
GJB 3489A-2019 Método de medición de parámetros ópticos del simulador solar.

Danish Standards Foundation, Medición de parámetros con láser de femtosegundo

DS/EN ISO 12005:2003 Láseres y equipos relacionados con el láser - Métodos de prueba para parámetros del rayo láser - Polarización
DS/EN ISO 11670/AC:2005 Láseres y equipos relacionados con el láser - Métodos de prueba para los parámetros del haz láser - Estabilidad posicional del haz
DS/EN ISO 11670:2003 Láseres y equipos relacionados con el láser - Métodos de prueba para los parámetros del haz láser - Estabilidad posicional del haz
DS/EN 62341-6-1:2011
DS/ISO 1878:1989 Clasificación de instrumentos y dispositivos para la medición y evaluación de los parámetros geométricos del acabado superficial.

German Institute for Standardization, Medición de parámetros con láser de femtosegundo

DIN EN ISO 12005:2022-11 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para los parámetros del rayo láser. Polarización (ISO 12005:2022); Versión alemana EN ISO 12005:2022
DIN EN ISO 11670:2003-10 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para los parámetros del haz láser. Estabilidad posicional del haz (ISO 11670:2003); Versión alemana EN ISO 11670:2003
DIN EN ISO 12005:2021 Láseres y equipos relacionados con el láser - Métodos de prueba para parámetros del rayo láser - Polarización (ISO/DIS 12005:2021); Versión alemana e inglesa prEN ISO 12005:2021
DIN EN 62341-6-1:2011-07 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED). Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos (IEC 62341-6-1:2009); Versión alemana EN 62341-6-1:2011

Association Francaise de Normalisation, Medición de parámetros con láser de femtosegundo

NF EN ISO 12005:2022 Láseres y equipos relacionados con el láser - Métodos para probar los parámetros del rayo láser - Polarización
NF EN ISO 11670:2003 Láseres y equipos relacionados con el láser - Métodos para probar los parámetros del rayo láser - Estabilidad de la orientación del rayo
E11-016:1987 Instrumentos de medida de longitud. Conteo de franjas, interferómetros con fuente láser.
NF EN IEC 60444-6:2021 Medición de parámetros de resonadores de cuarzo - Parte 6: medición de la dependencia del nivel de excitación (DNE)
NF C93-805-1-3:2006 Amplificador óptico - Métodos de prueba - Parte 1-3: parámetros de potencia y ganancia - Método del medidor de potencia óptica.
NF C93-805-1-3*NF EN IEC 61290-1-3:2021 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-3: parámetros de potencia y ganancia. Método del medidor de potencia óptica.
NF C96-541-6-1*NF EN 62341-6-1:2011 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos.
NF EN 62341-6-1:2011 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos
NF C93-807-2-10*NF EN 61280-2-10:2006 Procedimientos de prueba del subsistema de comunicación de fibra óptica - Parte 2-10: sistemas digitales - Medición de chirrido resuelto en el tiempo y factor alfa de transmisores láser.
NF C57-323:2008 Dispositivos fotovoltaicos - Parte 3: principios de medición para dispositivos solares fotovoltaicos (PV) terrestres con datos de irradiancia espectral de referencia.

GOSTR, Medición de parámetros con láser de femtosegundo

GOST 24469-1980 Instrumentos para la medición de parámetros de radiación láser. Requisitos técnicos generales
GOST IEC 62341-6-1-2016 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED). Parte 6-1. Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos.

Group Standards of the People's Republic of China, Medición de parámetros con láser de femtosegundo

T/GDCKCJH 021-2020 Métodos de determinación de los principales parámetros del láser de fibra de frecuencia única.
T/GDCKCJH 022-2020 Métodos de determinación de los principales parámetros del láser de fibra de pulso ultracorto.

Professional Standard - Machinery, Medición de parámetros con láser de femtosegundo

JB/T 9491-1999 Método de medición del parámetro principal de los láseres He-Ne
JB/T 6249-1992 Método de prueba de los principales parámetros de los láseres de helio cadmio.
JB/T 9489-1999 Método de medición del parámetro principal de los láseres de iones de argón
JB/T 6250.1-1992 Método de prueba de los principales parámetros de los láseres de onda continua YAG.
JB/T 6250.2-1992 Método de prueba de los principales parámetros de los láseres de pulso YAG.
JB/T 5748-1991 Método de prueba de los principales parámetros del láser de rubí.
JB/T 5749-1991 Método de prueba de los principales parámetros del láser de vidrio de neodimio.
JB/T 9490-1999 Método de medición de parámetros principales para láseres de CO2
JB/T 9490-2013 Método de prueba del parámetro principal del láser de CO2

AT-ON, Medición de parámetros con láser de femtosegundo

OENORM EN ISO 12005:2021 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para los parámetros del rayo láser. Polarización (ISO/DIS 12005:2021)

European Committee for Standardization (CEN), Medición de parámetros con láser de femtosegundo

prEN ISO 12005:2021 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para los parámetros del rayo láser. Polarización (ISO/DIS 12005:2021)

British Standards Institution (BSI), Medición de parámetros con láser de femtosegundo

BS EN ISO 12005:2022 Cambios rastreados. Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para parámetros del rayo láser. Polarización
21/30406472 DC BS EN ISO 12005. Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para parámetros del rayo láser. Polarización
BS EN 62341-6-1:2011 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED). Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos.
BS EN 60904-3:2008 Dispositivos fotovoltaicos. Parte 3: Principios de medición de dispositivos solares fotovoltaicos (PV) terrestres con datos de irradiancia espectral de referencia.
BS EN 60904-3:2016 Dispositivos fotovoltaicos. Principios de medición para dispositivos solares fotovoltaicos (PV) terrestres con datos de irradiancia espectral de referencia
BS EN 61280-2-10:2005 Procedimientos de prueba del subsistema de comunicación de fibra óptica - Sistemas digitales - Medición de chirrido resuelto en el tiempo y factor alfa de transmisores láser

Hunan Provincial Standard of the People's Republic of China, Medición de parámetros con láser de femtosegundo

DB43/T 1776-2020 Método de prueba para los principales parámetros del láser de fibra continua de alta energía.

Lithuanian Standards Office , Medición de parámetros con láser de femtosegundo

LST EN ISO 11670:2004 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para los parámetros del haz láser. Estabilidad posicional del haz (ISO 11670:2003).
LST EN ISO 11670:2004/AC:2005 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para los parámetros del haz láser. Estabilidad posicional del haz (ISO 11670:2003/Cor.1:2004).

AENOR, Medición de parámetros con láser de femtosegundo

UNE-EN ISO 11670:2004 Láseres y equipos relacionados con el láser. Métodos de prueba para los parámetros del haz láser. Estabilidad posicional del haz (ISO 11670:2003).

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Medición de parámetros con láser de femtosegundo

IEEE Std 2065-2020 Guía IEEE para requisitos de parámetros y métodos de prueba para láser de fibra industrial
IEEE P2065/D5, Sep 2020 Borrador de guía aprobado por IEEE para requisitos de parámetros y método de prueba para láser de fibra industrial

Association of German Mechanical Engineers, Medición de parámetros con láser de femtosegundo

DVS 3203-2-1988 Garantía de calidad de los trabajos de soldadura con rayo láser de CO2 - Ensayo de parámetros de soldadura

CZ-CSN, Medición de parámetros con láser de femtosegundo

CSN 35 8850 Cast.3-1987 Fotoacopladores. Métodos de medición de los principales parámetros.
CSN 35 6535-1983 Instrumentos electrónicos de medida. Analizadores de espectros de procesos sucesivos. Nomenclatura de parámetros
CSN 25 2300-1972 Clasificación de instrumentos y aparatos o medida de los parámetros geométricos de acabado superficial.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Medición de parámetros con láser de femtosegundo

KS C 6822-2000(2010) Amplificadores de fibra óptica-Métodos de prueba- Parte 2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica
KS C IEC 62341-6:2007 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) －Parte 6: Métodos de medición
KS C IEC 62341-6-1:2020 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED). Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos.
KS C IEC 60904-3-2010(2020) Dispositivos fotovoltaicos - Parte 3: Principios de medición para dispositivos solares fotovoltaicos (PV) terrestres con datos de irradiancia espectral de referencia

International Electrotechnical Commission (IEC), Medición de parámetros con láser de femtosegundo

IEC 62341-6-1:2017 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos
IEC 62341-6-1:2009 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos
IEC 62341-6-3:2017/COR1:2019 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos
IEC 62341-6-1:2022 RLV Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos
IEC 62341-6-1:2017 RLV Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos
IEC 62341-6-1:2022 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos
IEC 61290-2-3:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 2-3: Métodos de prueba para parámetros de potencia. Medidor de potencia óptica.
IEC 60904-3:2019 Dispositivos fotovoltaicos - Parte 3: Principios de medición para dispositivos solares fotovoltaicos (PV) terrestres con datos de irradiancia espectral de referencia
IEC 60904-3:2019 RLV Dispositivos fotovoltaicos - Parte 3: Principios de medición para dispositivos solares fotovoltaicos (PV) terrestres con datos de irradiancia espectral de referencia
IEC 61290-3:2000 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 3: Métodos de prueba para parámetros de factor de ruido.
IEC 61290-6-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 6-1: Métodos de prueba para parámetros de fuga de bombas. Demultiplexor óptico.
IEC 61290-2-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica. Analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-3:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 1-3: Métodos de prueba para parámetros de ganancia. Medidor de potencia óptica.

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Medición de parámetros con láser de femtosegundo

DB44/T 1528.2-2015 Pantallas estereoscópicas sin gafas Parte 2: Métodos de medición de parámetros fotoeléctricos
DB44/T 1528.1-2015 Pantallas estereoscópicas sin gafas Parte 1: Métodos de medición de parámetros ópticos

KR-KS, Medición de parámetros con láser de femtosegundo

KS C IEC 62341-6-1-2020 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED). Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Medición de parámetros con láser de femtosegundo

JIS C 6122-4-2:2013 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 4-2: Parámetros transitorios - Medición de parámetros de ganancia utilizando el método de fuente de banda ancha
JIS C 6122-4-1:2013 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 4-1: Parámetros transitorios. Medición de parámetros de ganancia mediante el método de dos longitudes de onda.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Medición de parámetros con láser de femtosegundo

EN 62341-6-1:2011 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos
EN 60904-3:2008 Dispositivos fotovoltaicos - Parte 3: Principios de medición para dispositivos solares fotovoltaicos (PV) terrestres con datos de irradiancia espectral de referencia

International Organization for Standardization (ISO), Medición de parámetros con láser de femtosegundo

ISO 1878:1974 Falta el título: documento en papel heredado
ISO 1878:1983 Clasificación de instrumentos y dispositivos para la medición y evaluación de los parámetros geométricos del acabado superficial.

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Medición de parámetros con láser de femtosegundo

EN 60904-3:1993 Dispositivos fotovoltaicos Parte 3: Principios de medición para dispositivos solares fotovoltaicos (PV) terrestres con datos de irradiancia espectral de referencia