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Calibración de microscopio
Calibración de microscopio, Total: 16 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Calibración de microscopio son: Metrología y medición en general., Equipo óptico, Medidas lineales y angulares..
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Calibración de microscopio
- JJF 1914-2021 Especificación de calibración para microscopios metalúrgicos
- JJF 1402-2013
- JJF 1092-2002 Especificación de calibración para microscopios de sección óptica
- JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)
- JJF 1351-2012 Especificación de calibración para microscopios de sonda de barrido
- JJF(机械) 1066-2021 Especificación de calibración de rendimiento para microscopios ultrasónicos
- JJF(机械)1066-2021 Especificación de calibración del rendimiento del microscopio de ultrasonido
Group Standards of the People's Republic of China, Calibración de microscopio
- T/CSTM 00162-2020 Métodos de calibración para microscopio electrónico de transmisión.
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Calibración de microscopio
- KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
International Organization for Standardization (ISO), Calibración de microscopio
- ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
- ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
Association Francaise de Normalisation, Calibración de microscopio
- NF X21-005:2006 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
RU-GOST R, Calibración de microscopio
- GOST R 8.636-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de calibración
- GOST R 8.635-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de calibración
British Standards Institution (BSI), Calibración de microscopio
- BS ISO 16700:2016 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Calibración de microscopio
- JIS K 0149-1:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes