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Medición de geometría
Medición de geometría, Total: 15 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Medición de geometría son: Alambres y cables eléctricos., Comunicaciones de fibra óptica., pruebas de metales, Metales no ferrosos, Equipos para la industria química., Tratamiento superficial y revestimiento., Materiales semiconductores, Vocabularios, Joyería, Ingeniería vial.
RU-GOST R, Medición de geometría
- GOST 15634.0-1970 Cable magnético. Procedimiento de prueba para las dimensiones y aumento de las dimensiones debido a la medición del revestimiento.
- GOST 32825-2014 Carreteras de uso general para automóviles. Pavimentos. Métodos de medición de las dimensiones geométricas de los daños.
American National Standards Institute (ANSI), Medición de geometría
工业和信息化部, Medición de geometría
- SJ/T 11630-2016 Método de prueba para las dimensiones geométricas de obleas de silicio para células solares.
- HG/T 2637-2017 Método para detectar dimensiones geométricas de piezas revestidas de vidrio.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Medición de geometría
- GB/T 15077-2008 Métodos de medición del tamaño geométrico de metales preciosos y sus materiales de aleación.
- GB/T 15077-1994 Métodos de medición del tamaño geométrico de metales preciosos y sus materiales de aleación.
HU-MSZT, Medición de geometría
- MNOSZ 2795-1956 DETERMINACIÓN DE LAS DIMENSIONES GEOMÉTRICAS DE LA HELICITACIÓN
Professional Standard - Chemical Industry, Medición de geometría
- HG/T 2637-2007 Métodos de detección de dimensiones geométricas para piezas revestidas de vidrio.
- HG/T 2637-1994 Método para detectar dimensiones geométricas de piezas revestidas de vidrio.
- HG/T 2637-2011 Método para detectar dimensiones geométricas de piezas revestidas de vidrio.
German Institute for Standardization, Medición de geometría
- DIN 50441-1:1996 Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores. Determinación de las dimensiones geométricas de obleas semiconductoras. Parte 1: Espesor y variación de espesor.
- DIN 50441-5:2001 Ensayos de materiales para la tecnología de semiconductores. Determinación de las dimensiones geométricas de obleas semiconductoras. Parte 5: Términos de forma y desviación de planitud.
Professional Standard - Light Industry, Medición de geometría
- QB/T 4888-2015 Métodos de medición del tamaño geométrico de joyas y accesorios de metales preciosos.