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Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión.

Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión., Total: 99 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión. son: pruebas de metales, Química analítica, Calidad del aire, Productos de la industria textil., Óptica y medidas ópticas., Medidas lineales y angulares., Protección contra mercancías peligrosas, Pilas y baterías galvánicas., Pinturas y barnices, Equipo óptico, Materiales semiconductores, Métodos generales de pruebas y análisis para productos alimenticios., Bebidas, Papel y cartón, ingeniería de energía nuclear.

工业和信息化部, Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión.

YB/T 4676-2018 Análisis de fases precipitadas en acero mediante microscopía electrónica de transmisión

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión.

KS D 2716-2008 Medición del diámetro de nanopartículas－Microscopio electrónico de transmisión
KS D 2716-2008(2018) Medición del diámetro de nanopartículas－Microscopio electrónico de transmisión
KS I ISO 13794-2008(2018) Aire ambiente－Determinación de fibras de amianto－Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia indirecta
KS I ISO 10312-2008(2018) Aire ambiente－Determinación de fibras de amianto－Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa
KS C IEC 62485-6:2022 Requisitos de seguridad para baterías secundarias e instalaciones de baterías. Parte 6: Funcionamiento seguro de baterías de iones de litio en aplicaciones de tracción.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión.

GB/T 35098-2018 Análisis de microhaz—Microscopía electrónica de transmisión—Método de identificación morfológica de virus vegetales mediante microscopía electrónica de transmisión
GB/T 41064-2021 Análisis químico de superficies—Perfiles de profundidad—Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas

KR-KS, Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión.

KS D 2716-2023 Medición del diámetro de nanopartículas: microscopio electrónico de transmisión
KS C IEC 62485-6-2022 Requisitos de seguridad para baterías secundarias e instalaciones de baterías. Parte 6: Funcionamiento seguro de baterías de iones de litio en aplicaciones de tracción.

Group Standards of the People's Republic of China, Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión.

T/CNTAC 21-2018 Método de prueba para la identificación de materiales de grafeno en fibras: método de microscopio electrónico de transmisión (TEM)
T/ZACA 022-2020 Determinación de dióxido de azufre en la destilación automática de alimentos - espectrometría de emisión de plasma acoplado inductivamente
T/NAIA 0154-2022 Determinación del dióxido de azufre total en vino mediante espectrometría de emisión de plasma acoplado inductivamente

American Society for Testing and Materials (ASTM), Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión.

ASTM E3143-18a Práctica estándar para realizar microscopía electrónica de criotransmisión de liposomas
ASTM E3143-18 Práctica estándar para realizar microscopía electrónica de criotransmisión de liposomas
ASTM E3143-18b Práctica estándar para realizar microscopía electrónica de criotransmisión de liposomas
ASTM E3143-18b(2023) Práctica estándar para realizar microscopía electrónica de criotransmisión de liposomas
ASTM D6056-96(2011) Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de transmisión
ASTM D6281-98 Método de prueba estándar para la concentración de asbesto en el aire en atmósferas ambientales e interiores determinada por microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa (TEM)
ASTM D5756-02 Método de prueba estándar para muestreo por microvacío y análisis indirecto de polvo mediante microscopía electrónica de transmisión para concentración de masa de asbesto
ASTM D5756-95 Método de prueba estándar para muestreo por microvacío y análisis indirecto de polvo mediante microscopía electrónica de transmisión para concentración de masa de asbesto
ASTM D5755-95 Método de prueba estándar para muestreo por microvacío y análisis indirecto de polvo mediante microscopía electrónica de transmisión para concentraciones de números de estructura de asbesto
ASTM D5755-02 Método de prueba estándar para muestreo por microvacío y análisis indirecto de polvo mediante microscopía electrónica de transmisión para concentraciones de números de estructura de asbesto
ASTM D6480-05(2010) Método de prueba estándar para muestreo de superficies por limpieza, preparación indirecta y análisis de concentración del número de estructuras de asbesto mediante microscopía electrónica de transmisión
ASTM D5756-02(2008) Método de prueba estándar para muestreo por microvacío y análisis indirecto de polvo mediante microscopía electrónica de transmisión para carga superficial de masa de asbesto
ASTM D6281-06 Método de prueba estándar para la concentración de asbesto en el aire en atmósferas ambientales e interiores determinada por microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa (TEM)
ASTM D6281-04 Método de prueba estándar para la concentración de asbesto en el aire en atmósferas ambientales e interiores determinada por microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa (TEM)
ASTM D6281-09 Método de prueba estándar para la concentración de asbesto en el aire en atmósferas ambientales e interiores determinada por microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa (TEM)
ASTM D6281-15 Método de prueba estándar para la concentración de asbesto en el aire en atmósferas ambientales e interiores determinada por microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa (TEM)
ASTM D8526-23 Método de prueba estándar para procedimientos analíticos mediante microscopía electrónica de transmisión para la determinación de la concentración de nanotubos de carbono y partículas que contienen nanotubos de carbono en el ambiente
ASTM E2809-13 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X en exámenes de pintura forense
ASTM D7201-06(2020) Práctica estándar para el muestreo y recuento de fibras suspendidas en el aire, incluidas las fibras de asbesto, en el lugar de trabajo, mediante microscopía de contraste de fase (con la opción de microscopía electrónica de transmisión)
ASTM D7201-06(2011) Práctica estándar para el muestreo y recuento de fibras suspendidas en el aire, incluidas las fibras de asbesto, en el lugar de trabajo, mediante microscopía de contraste de fase (con la opción de microscopía electrónica de transmisión)
ASTM D5755-03 Método de prueba estándar para muestreo por microvacío y análisis indirecto de polvo mediante microscopía electrónica de transmisión para carga superficial del número de estructura del asbesto
ASTM D5755-09 Método de prueba estándar para muestreo por microvacío y análisis indirecto de polvo mediante microscopía electrónica de transmisión para carga superficial del número de estructura del asbesto
ASTM D5755-09(2014)e1 Método de prueba estándar para muestreo por microvacío y análisis indirecto de polvo mediante microscopía electrónica de transmisión para carga superficial del número de estructura del asbesto
ASTM D6480-05 Método de prueba estándar para muestreo de superficies por limpieza, preparación indirecta y análisis de concentración del número de estructuras de asbesto mediante microscopía electrónica de transmisión
ASTM E280-98(2004)e1 Radiografías de referencia estándar para piezas fundidas de acero de paredes pesadas (de 4 &189; a 12 pulgadas [114 a 305 mm])
ASTM E280-21 Radiografías de referencia estándar para piezas fundidas de acero de paredes pesadas (de 412 a 12 pulg. (114 a 305 mm))
ASTM E2809-22 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X de dispersión de energía (SEM/EDS) en exámenes forenses de polímeros

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión.

JIS K 3850-3:2000 Método de medición de partículas fibrosas suspendidas en el aire. Parte 3: Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia indirecta.
JIS K 3850-2:2000 Método de medición de partículas fibrosas en el aire. Parte 2: Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa.

International Organization for Standardization (ISO), Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión.

ISO/CD 19214:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
ISO 21363:2020 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de transmisión.
ISO 13794:2019 Aire ambiente. Determinación de fibras de amianto. Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia indirecta.
ISO 10312:2019 Aire ambiente. Determinación de fibras de amianto. Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa.
ISO 20263:2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la posición de la interfaz en la imagen transversal de los materiales estratificados.
ISO/TS 22292:2021 Nanotecnologías: reconstrucción de imágenes en 3D de nanoobjetos sostenidos por varillas mediante microscopía electrónica de transmisión
ISO 19214:2017 Análisis de microhaz - Microscopía electrónica analítica - Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión
ISO 17109:2022 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para determinar la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Profundidad de pulverización p.
ISO 17109:2015 Análisis químico de superficies - Perfilado de profundidad - Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X, espectroscopía de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas
ISO 29301:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de transmisión analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia que tienen estructuras periódicas

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión.

GB/T 18873-2002 Especificación general del microscopio electrónico de transmisión (TEM): microanálisis cuantitativo del espectro dispersivo de energía de rayos X (EDS) para muestras biológicas delgadas
GB/T 18873-2008 Guía general de microanálisis cuantitativo con microscopio electrónico de transmisión (TEM) y espectrometría de dispersión de energía de rayos X (EDS) para muestras biológicas delgadas
GB/T 28044-2011 Guía general del método de detección del efecto biológico de nanomateriales mediante microscopio electrónico de transmisión (TEM)
GB/T 17507-2008 Especificación general de estándares biológicos delgados para microanálisis EDS de rayos X en microscopio electrónico de transmisión
GB/Z 21738-2008 Estructuras fundamentales de nanomateriales unidimensionales. Caracterización por microscopía electrónica de transmisión de alta resolución.
GB/T 29851-2013 Método de prueba para medir boro y aluminio en materiales de silicio utilizados para aplicaciones fotovoltaicas mediante espectrometría de masas de iones secundarios
GB/T 2679.11-1993 Papel y cartón. Análisis cualitativo de cargas minerales y recubrimientos minerales. Método SEM/EDAX
GB/T 29852-2013 Método de prueba para medir fósforo, arsénico y antimonio en materiales de silicio utilizados para aplicaciones fotovoltaicas mediante espectrometría de masas de iones secundarios
GB/T 9489.2-1988 Determinación de CaO,MgO,SiO2,Fe2O3,TiO2 en polvo de alundum mediante ICP-AES

European Committee for Standardization (CEN), Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión.

EN ISO 21363:2022 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión (ISO 21363:2020)

AENOR, Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión.

UNE 77236:1999 AIRE AMBIENTE. DETERMINACIÓN DE LAS FIBRAS DE AMIANTO. MÉTODO DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE TRANSMISIÓN DIRECTA.

British Standards Institution (BSI), Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión.

15/30292710 DC BS ISO 19214. Directrices para la determinación de la dirección de crecimiento de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
BS ISO 10312:2019 Aire ambiente. Determinación de fibras de amianto. Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa.
BS ISO 13794:2019 Aire ambiente. Determinación de fibras de amianto. Método de microscopía electrónica de transmisión de transferencia indirecta.
PD ISO/TS 22292:2021 Nanotecnologías. Reconstrucción de imágenes en 3D de nanoobjetos soportados por varillas mediante microscopía electrónica de transmisión
BS PD ISO/TS 22292:2021 Nanotecnologías. Reconstrucción de imágenes en 3D de nanoobjetos soportados por varillas mediante microscopía electrónica de transmisión
BS ISO 17109:2022 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, espectroscopía electrónica Auger y perfilado del departamento de pulverización catódica por espectrometría de masas de iones secundarios utilizando una o varias capas delgadas...
BS ISO 17109:2015 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X, espectroscopia electrónica Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas.
21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1. Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando sistemas simples y...
18/30381784 DC BS EN 62485-6. Requisitos de seguridad para baterías secundarias e instalaciones de baterías. Parte 6. Operación segura de baterías de iones de litio en aplicaciones de tracción
BS ISO 29301:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de transmisión analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia que tienen estructuras periódicas

Association Francaise de Normalisation, Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión.

NF ISO 10312:2020 Aire ambiente - Dosificación de fibras de amigo - Método por microscopie électronique à transmisión por transferencia directa
NF C58-485-6*NF EN IEC 62485-6:2021 Requisitos de seguridad para baterías secundarias e instalaciones de baterías. Parte 6: funcionamiento seguro de baterías de iones de litio en aplicaciones de tracción.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión.

GB/T 34168-2017 Método de prueba del efecto biológico de los materiales de nanopartículas de oro y plata mediante microscopio electrónico de transmisión.
GB/T 33839-2017 Métodos de microscopio electrónico de transmisión para muestras biológicas que contienen nanomateriales de carbono que implican efectos biológicos.

German Institute for Standardization, Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión.

DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)
DIN EN IEC 62485-6:2021 Requisitos de seguridad para baterías secundarias e instalaciones de baterías. Parte 6: Funcionamiento seguro de baterías de iones de litio en aplicaciones de tracción (IEC 62485-6:2021); Versión alemana EN IEC 62485-6:2021

RU-GOST R, Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión.

GOST R 8.697-2010 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Espaciamientos interpenares en cristales. Método de medición mediante microscopio electrónico de transmisión.

Danish Standards Foundation, Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión.

DS/ISO/TS 22292:2021 Nanotecnologías: reconstrucción de imágenes en 3D de nanoobjetos sostenidos por varillas mediante microscopía electrónica de transmisión
DS/EN IEC 62485-6:2021 Requisitos de seguridad para baterías secundarias e instalaciones de baterías. Parte 6: Funcionamiento seguro de baterías de iones de litio en aplicaciones de tracción.

American National Standards Institute （ANSI), Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión.

ASTM D6281-23 Método de prueba estándar para la concentración de asbesto en el aire en atmósferas ambientales e interiores según lo determinado por microscopía electrónica de transmisión y transferencia directa (TEM) (paquete PDF estándar + Redline)

Professional Standard - Commodity Inspection, Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión.

SN/T 2649.1-2010 Determinación de amianto en cosméticos para importación y exportación. Parte 1: Método de difracción de rayos X y microscopía electrónica de barrido.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión.

EN IEC 62485-6:2021 Requisitos de seguridad para baterías secundarias e instalaciones de baterías. Parte 6: Funcionamiento seguro de baterías de iones de litio en aplicaciones de tracción.

International Electrotechnical Commission (IEC), Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión.

IEC 62485-6:2021 Requisitos de seguridad para baterías secundarias e instalaciones de baterías. Parte 6: Funcionamiento seguro de baterías de iones de litio en aplicaciones de tracción.
IEC 62485-6:2021/COR1:2023 Corrigendum 1 - Requisitos de seguridad para baterías secundarias e instalaciones de baterías - Parte 6: Operación segura de baterías de iones de litio en aplicaciones de tracción

ES-UNE, Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión.

UNE-EN IEC 62485-6:2021 Requisitos de seguridad para baterías secundarias e instalaciones de baterías - Parte 6: Operación segura de baterías de iones de litio en aplicaciones de tracción (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2021.)

Professional Standard - Electron, Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión.

SJ/T 10553-2021 Método de análisis espectroquímico de emisión de impurezas en ZrO2 para uso en cerámica electrónica.
SJ/T 10552-2021 Método de análisis espectroquímico de emisión de impurezas en TiO2 para uso en cerámica electrónica.
SJ/T 10552-1994 Método de análisis espectroquímico de emisión de impurezas en TiO2 para uso en cerámica electrónica.
SJ/T 10553-1994 Método de análisis espectroquímico de emisión de impurezas en ZrO2 para uso en cerámica electrónica.
SJ/T 10551-1994 Método de análisis espectroquímico de emisión de impurezas en AL203 para uso en cerámica electrónica.
SJ/T 10551-2021 La medición del análisis del espectro de emisión para el óxido de aluminio utilizado en cerámica electrónica.

国家质量监督检验检疫总局, Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión.

SN/T 4758-2017 Determinación del contenido de óxido férrico, dióxido de silicio y dióxido de circonio en rutilo mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente

Lithuanian Standards Office , Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión.

LST EN IEC 62485-6:2021 Requisitos de seguridad para baterías secundarias e instalaciones de baterías. Parte 6: Funcionamiento seguro de baterías de iones de litio en aplicaciones de tracción (IEC 62485-6:2021)

PL-PKN, Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión.

PN-EN IEC 62485-6-2021-09 E Requisitos de seguridad para baterías secundarias e instalaciones de baterías. Parte 6: Funcionamiento seguro de baterías de iones de litio en aplicaciones de tracción (IEC 62485-6:2021)

Guizhou Provincial Standard of the People's Republic of China, Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión.

DB52/T 1074-2015 Determinación de fósforo y calcio en dihidrógenofosfato de calcio mediante espectrometría de emisión de plasma acoplado inductivamente

Professional Standard - Nuclear Industry, Electrones secundarios en microscopía electrónica de transmisión.

EJ/T 1106-2016 Determinación de tantalio, torio y hafnio en polvos y gránulos de dióxido de uranio mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente