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analizador óptico

analizador óptico, Total: 490 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en analizador óptico son: Medicina de laboratorio, Equipo óptico, Óptica y medidas ópticas., Química analítica, Equipos para la industria química., Sistemas de automatización industrial, Medidas lineales y angulares., Optoelectrónica. Equipo láser, ingeniería de energía nuclear, Comunicaciones de fibra óptica., Vocabularios, Equipos de medida especiales para uso en telecomunicaciones., Pruebas eléctricas y electrónicas., Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Equipo medico, pruebas de metales, Metales no ferrosos, Productos de la industria textil., Minerales metalíferos, Equipos de diagnóstico, mantenimiento y prueba., Análisis del tamaño de partículas. tamizado, Calidad del agua, Ferroaleaciones, Pruebas ambientales, Dibujos tecnicos, Cerámica, Pulpas, Papel y cartón, Pruebas no destructivas, Protección de radiación, Refractarios, Metales ferrosos, Ciencias de la información. Publicación, Juegos de caracteres y codificación de información., Estandarización. Reglas generales, Astronomía. Geodesia. Geografía, Tecnología gráfica, Condiciones y procedimientos de prueba en general., Mediciones de radiación, Aplicaciones de la tecnología de la información..


U.S. Air Force, analizador óptico

Professional Standard - Medicine, analizador óptico

Professional Standard - Machinery, analizador óptico

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, analizador óptico

  • GB/T 20732-2006 Analizador de diámetro de fibra óptica.
  • GB/T 42754-2023 Reglas generales para la evaluación del desempeño de analizadores de químicos secos.
  • GB/T 26328-2010 Filtros de interferencia óptica para analizador bioquímico.
  • GB/T 25481-2010 Analizador de espectro ultravioleta/visible en línea
  • GB/T 26332.1-2010 Óptica e instrumentos ópticos. Recubrimientos ópticos. Parte 1: Definiciones
  • GB/T 25476-2010 Analizador de gases láser sintonizable
  • GB/T 22571-2008 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.
  • GB/T 21006-2007 Análisis químico de superficies. Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
  • GB/T 42360-2023 Análisis espectroscópico de fluorescencia de rayos X de reflexión total de agua para análisis químico de superficies
  • GB/T 41949-2022 Partícula─Analizador láser de tamaño de partículas─Requisitos técnicos
  • GB 16355-1996 Normas de protección radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
  • GB/T 7729-1987 Análisis químico de productos metalúrgicos. Regla general para métodos espectrofotométricos.
  • GB 7729-1987 Principios generales de espectrofotometría para análisis químicos de productos metalúrgicos.
  • GB/T 12085.4-2010 Óptica e instrumentos ópticos. Métodos de ensayo medioambiental. Parte 4: Niebla salina.
  • GB/T 12085.6-2010 Óptica e instrumentos ópticos. Métodos de ensayo medioambiental. Parte 6: Polvo.
  • GB/T 12085.11-2010 Óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba ambientales. Parte 11: Crecimiento de moho.
  • GB/T 12085.12-2010 Óptica e instrumentos ópticos.Métodos de ensayo medioambientales.Parte 12:Contaminación
  • GB/T 12085.14-2010 Óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba ambientales. Parte 14: Rocío, escarcha, hielo.

ZA-SANS, analizador óptico

  • SANS 62129:2008 Calibración de analizadores de espectro óptico.
  • SANS 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, analizador óptico

  • JJF 1361-2012 Programa de Evaluación de Patrones de Analizadores Quimioluminiscentes de NO/NO
  • JJF 1849-2020 Especificación de calibración para analizadores de quimioluminiscencia de microplacas
  • JJF 1302-2011 Programa de Evaluación de Patrones para Teodolitos Ópticos
  • JJF 1568-2016 Especificación para la calibración de analizadores de flujo espectrofotométricos
  • JJF 1142-2006 Especificación de calibración para analizadores de acústica de edificios
  • JJF 1211-2008 Especificación de calibración para analizadores de tamaño de partículas por dispersión de luz estática
  • JJF 1362-2012 Programa de evaluación de patrones de analizadores de gases de combustión
  • JJF 2036-2023 Especificaciones de calibración para analizadores bioquímicos secos.
  • JJF 1383-2012 Especificación de calibración para medidores portátiles de glucosa en sangre
  • JJF 1405-2013 Programa de Evaluación de Patrones de Analizadores de Carbono Orgánico Total

Association Francaise de Normalisation, analizador óptico

  • NF C46-251-6*NF EN 61207-6:2015 Expresión del rendimiento de los analizadores de gases. Parte 6: analizadores fotométricos.
  • NF C46-256:1994 Expresión del rendimiento de los analizadores de gases. Parte 6: analizadores fotométricos.
  • NF S10-040:1998 Óptica e instrumentos ópticos. Función de transferencia óptica. Definiciones y relaciones matemáticas.
  • NF C93-845:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
  • NF EN 61207-6:2015 Expresión del rendimiento del analizador de gases - Parte 6: analizadores fotométricos
  • NF S10-005-2*NF ISO 9211-2:2010 Óptica y fotónica - Recubrimientos ópticos - Parte 2: propiedades ópticas.
  • NF S10-011:1995 Óptica e instrumentos ópticos. Recubrimientos ópticos. Parte 2: propiedades ópticas.
  • NF S12-133-1*NF EN ISO 8598-1:2014 Óptica e instrumentos ópticos - Focímetros - Parte 1: instrumentos de uso general
  • NF A06-590:2005 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Guía para el análisis espectrométrico de emisión óptica de chispa.
  • NF S10-005-1:2010 Óptica y fotónica - Recubrimientos ópticos - Parte 1: definiciones.
  • NF S10-005:1995 Óptica e instrumentos ópticos. Recubrimientos ópticos. Parte 1: definiciones.
  • NF S12-111*NF EN ISO 8429:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Oftalmología. Escala de esfera graduada.
  • NF X11-682:1984 Análisis del tamaño de partículas mediante sedimentación por gravedad en un líquido Método de ocultación - Fotosedimentómetro
  • NF X21-055:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía.
  • NF C93-805-3-1*NF EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
  • NF C46-253*NF EN 61207-3:2002 Analizadores de gases - Expresión de rendimiento - Parte 3: analizadores de oxígeno paramagnéticos.
  • NF S10-010:1995 Óptica e instrumentos ópticos. Recubrimientos ópticos. Parte 3: durabilidad medioambiental.
  • NF C93-846-1*NF EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Parte 1: analizadores de espectro óptico.
  • NF X21-054*NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
  • NF EN ISO 8598-1:2014 Óptica e instrumentos ópticos - Frontofocómetros - Parte 1: instrumentos para casos generales
  • NF C93-805-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
  • NF A06-819:1968 Analizar la química del zinc - Dosificación espectrofotométrica del indio
  • NF S10-021:2006 Óptica e instrumentos ópticos - Recubrimientos ópticos - Parte 4: métodos de ensayo específicos.
  • NF S10-021:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Recubrimientos ópticos. Parte 4: métodos de prueba específicos.
  • NF C46-251-7*NF EN 61207-7:2014 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas. Parte 7: analizadores de gas láser semiconductores sintonizables.
  • NF X11-672:1996 Análisis del tamaño de partículas. Espectroscopia de correlación de fotones.
  • NF A06-409:1979 Análisis químico del plomo - Determinación espectrofotométrica de arsénico
  • NF A06-813:1967 Análisis químico del zinc. Determinación espectrofotométrica de hierro.
  • NF EN 61207-7:2014 Expresión del rendimiento del analizador de gases: Parte 7: Analizadores de gases láser semiconductores sintonizables
  • NF C93-805-5-2*NF EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
  • NF A06-012*NF EN 14242:2005 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Método espectrométrico de emisión óptica-plasma acoplado inductivo
  • NF A06-840:1998 Zinc y aleaciones de zinc. Análisis espectrométrico de emisión óptica.
  • NF S12-024-1:1988 ÓPTICA E INSTRUMENTOS ÓPTICOS. MICROSCOPIOS. CUBRE VIDRIOS. PARTE 1: TOLERANCIAS DIMENSIONALES, ESPESORES Y PROPIEDADES ÓPTICAS.
  • NF S10-008-1:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Elaboración de planos de elementos y sistemas ópticos. Parte 1: generales.
  • NF C93-805-1-2*NF EN 61290-1-2:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-2: parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro eléctrico.
  • NF S12-021-1:1988 ÓPTICA E INSTRUMENTOS ÓPTICOS. MICROSCOPIOS. DIAPOSITIVAS. PARTE 1: DIMENSIONES, PROPIEDADES ÓPTICAS Y MARCADO.
  • NF A06-725:1992 Analyse chimique du cuivre - Dosage de l'oxygène - Méthode instrumentale.
  • NF A06-404:1975 Análisis químico del plomo. Determinación espectrofotométrica de bismuto.
  • NF A06-588:1970 Análisis químico del aluminio. Determinación espectrofotométrica de vanadio.
  • NF A10-813:1972 Análisis químico del ferro-tungsteno. Determinación espectrofotométrica de estaño.
  • NF A06-612:1976 Análisis químico del magnesio. Determinación espectrofotométrica de cobre.
  • NF A06-410:1976 Análisis químico del plomo. Determinación espectrofotométrica de antimonio.
  • NF A06-408:1979 Análisis químico del plomo. Determinación espectrofotométrica de arsénico.
  • NF A06-401:1975 Análisis químico del plomo. Determinación espectrofotométrica de cobre.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, analizador óptico

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, analizador óptico

  • CNS 14341-1999 Analizador de espectro óptico
  • CNS 6490-1980 Términos técnicos de química analítica (parte óptica)
  • CNS 8861-1982 Método de prueba para aparatos de vidrio para análisis químicos
  • CNS 10006-1984 Método para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de hierro y acero.

Professional Standard - Chemical Industry, analizador óptico

  • HG/T 4094-2009 Analizador de oxígeno electroquímico químico en línea
  • HG/T 4376-2012 Analizador de humedad de trazas láser en línea para la industria química

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), analizador óptico

  • JIS C 6183:1992 Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
  • JIS K 0215:2005 Términos técnicos de química analítica (parte del instrumento analítico)
  • JIS K 0215:2016 Términos técnicos de química analítica (parte del instrumento analítico)
  • JIS C 6192:2008 Calibración de analizadores de espectro óptico.
  • JIS C 6122-3-1:2011 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
  • JIS K 0212:2007 Términos técnicos de química analítica (parte óptica)
  • JIS K 0212:2016 Términos técnicos de química analítica (parte óptica)
  • JIS M 8205:2000 Minerales de hierro: análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
  • JIS C 6122-10-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
  • JIS K 0166:2011 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
  • JIS K 0165:2011 Análisis químico de superficies -- Espectrómetros de electrones Auger de media resolución -- Calibración de escalas de energía para análisis elemental
  • JIS K 0212:1990 Términos técnicos de química analítica (parte óptica)
  • JIS K 0162:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • JIS C 6183-1:2019 Analizadores de espectro óptico. Parte 1: Métodos de prueba.
  • JIS C 6122-1-1:2011 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico
  • JIS R 3503 AMD 1:2007 Aparatos de vidrio para análisis químicos (Enmienda 1)
  • JIS B 7912-1:2014 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 1: Teoría
  • JIS K 0142:2000 Análisis químico de superficies - Formatos de información

Group Standards of the People's Republic of China, analizador óptico

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), analizador óptico

  • KS M 0014-2017(2022) Aparato para análisis químicos.
  • KS M 0124-2011 Términos técnicos de química analítica (parte del instrumento analítico)
  • KS C IEC 61207-6-2014(2019) Expresión del rendimiento de los analizadores de gases. Parte 6: Analizadores fotométricos.
  • KS B ISO 9211-2:2001 Óptica e instrumentos ópticos-Recubrimientos ópticos-Parte 2:Propiedades ópticas
  • KS B ISO 9211-2-2016(2021) Óptica e instrumentos ópticos-Recubrimientos ópticos-Parte 2:Propiedades ópticas
  • KS B ISO 9211-2:2016 Óptica e instrumentos ópticos-Recubrimientos ópticos-Parte 2:Propiedades ópticas
  • KS D ISO 15472:2003 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X-Calibración de escalas de energía
  • KS M 0124-2017 Términos técnicos de química analítica (parte del instrumento analítico)
  • KS M 0124-2017(2022) Términos técnicos de química analítica (parte del instrumento analítico)
  • KS B ISO 10109-12:2006 Óptica e instrumentos ópticos-Requisitos medioambientales-Parte 12:Condiciones de transporte para instrumentos ópticos
  • KS B ISO 10109-12-2006(2021) Óptica e instrumentos ópticos. Requisitos medioambientales. Parte 12: Condiciones de transporte de instrumentos ópticos.
  • KS B ISO 10109-12-2006(2016) Óptica e instrumentos ópticos. Requisitos medioambientales. Parte 12: Condiciones de transporte de instrumentos ópticos.
  • KS B ISO 9211-1:2002 Óptica e instrumentos ópticos-Recubrimientos ópticos-Parte 1:Definiciones
  • KS B ISO 9211-1:2017 Óptica e instrumentos ópticos-Recubrimientos ópticos-Parte 1:Definiciones
  • KS B ISO 9211-1-2017(2022) Óptica e instrumentos ópticos-Recubrimientos ópticos-Parte 1:Definiciones
  • KS L 2303-2010 Aparatos de vidrio para análisis químicos.
  • KS L 2303-2015 Aparatos de vidrio para análisis químicos.
  • KS C 6918-1995 Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
  • KS M 0129-2013 Términos técnicos de química analítica (parte óptica)
  • KS D ISO 17974-2011(2021) Análisis químico de superficies-Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución-Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
  • KS D ISO 17973-2011(2021) Análisis químico de superficies-Espectrómetros de electrones Auger de resolución media-Calibración de escalas de energía para análisis elemental
  • KS B ISO 10109-7:2004 Óptica e instrumentos ópticos-Requisitos ambientales-Parte 7:Requisitos de prueba para instrumentos de medición óptica
  • KS B ISO 10109-11-2006(2016) Óptica e instrumentos ópticos. Requisitos medioambientales. Parte 11: Instrumentos ópticos para condiciones de uso en exteriores.
  • KS B ISO 10109-7-2004(2019) Óptica e instrumentos ópticos-Requisitos ambientales-Parte 7:Requisitos de prueba para instrumentos de medición óptica
  • KS B ISO 10109-11-2006(2021) Óptica e instrumentos ópticos. Requisitos medioambientales. Parte 11: Instrumentos ópticos para condiciones de uso en exteriores.
  • KS M 0129-2013(2018) Términos técnicos de química analítica (parte óptica)
  • KS M 0028-2009(2019) Reglas generales para el análisis espectroquímico de emisión de luz.
  • KS D ISO 14706-2003(2018) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total
  • KS D ISO 17974:2011 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución-Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
  • KS B ISO 9211-3:2001 Óptica e instrumentos ópticos-Recubrimientos ópticos-Parte 3:Durabilidad ambiental
  • KS B ISO 9211-3-2016(2021) Óptica e instrumentos ópticos-Recubrimientos ópticos-Parte 3: Durabilidad ambiental
  • KS B ISO 9211-3:2016 Óptica e instrumentos ópticos-Recubrimientos ópticos-Parte 3: Durabilidad ambiental
  • KS B ISO 10109-11:2006 Óptica e instrumentos ópticos-Requisitos ambientales-Parte 11:Instrumentos ópticos para condiciones de uso en exteriores
  • KS D ISO 17973:2011 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de electrones Auger de resolución media-Calibración de escalas de energía para análisis elemental
  • KS B ISO 10934-1:2004 Óptica e instrumentos ópticos-Vocabulario de microscopía-Parte 1:Microscopía óptica
  • KS B ISO 9211-4-2016(2021) Óptica e instrumentos ópticos-Recubrimientos ópticos-Parte 4:Métodos de prueba específicos
  • KS B ISO 10934-1:2019 Óptica e instrumentos ópticos. Vocabulario de microscopía. Parte 1: Microscopía óptica.
  • KS D ISO 15470-2005(2020) Análisis químico de superficies-Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X-Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • KS B ISO 12857-2-2002(2017) Óptica e instrumentos ópticos-Instrumentos geodésicos-Procedimientos de campo para determinar la precisión-Parte 2: Teodolitos
  • KS B ISO 14135-1:2006 Óptica e instrumentos ópticos-Especificaciones para miras telescópicas-Parte 1: Instrumentos de uso general
  • KS B ISO 14135-1-2016(2021) Óptica e instrumentos ópticos-Especificaciones para miras telescópicas-Parte 1: Instrumentos de uso general
  • KS B ISO 14135-1:2016 Óptica e instrumentos ópticos-Especificaciones para miras telescópicas-Parte 1: Instrumentos de uso general
  • KS D ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies-Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X-Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • KS B ISO 9211-4:2001 Óptica e instrumentos ópticos-Recubrimientos ópticos-Parte 4:Métodos de prueba específicos
  • KS B ISO 9336-3-2001(2021) Óptica e instrumentos ópticos-Función de transferencia óptica-Aplicación-Parte 3: Telescopios
  • KS B ISO 9211-4:2016 Óptica e instrumentos ópticos-Recubrimientos ópticos-Parte 4:Métodos de prueba específicos
  • KS B ISO 9336-3-2001(2016) Óptica e instrumentos ópticos-Función de transferencia óptica-Aplicación-Parte 3: Telescopios
  • KS B ISO 9211-4-2023 Recubrimientos ópticos para óptica e instrumentos ópticos Parte 4: Métodos de prueba específicos
  • KS C 6918-1995(2020) Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
  • KS B ISO 14135-2:2006 Óptica e instrumentos ópticos-Especificaciones para miras telescópicas-Parte 2: Instrumentos de alto rendimiento
  • KS B ISO 14135-2-2016(2021) Óptica e instrumentos ópticos-Especificaciones para miras telescópicas-Parte 2: Instrumentos de alto rendimiento
  • KS B ISO 14135-2:2016 Óptica e instrumentos ópticos-Especificaciones para miras telescópicas-Parte 2: Instrumentos de alto rendimiento
  • KS B ISO 8036-1:2006 Óptica e instrumentos ópticos-Microscopios-Parte 1:Aceite de inmersión para uso general en microscopía óptica.
  • KS B ISO 8036-1:2008 Óptica e instrumentos ópticos-Microscopios-Parte 1:Aceite de inmersión para uso general en microscopía óptica.
  • KS B ISO 12857-2-2002(2022) Óptica e instrumentos ópticos-Instrumentos geodésicos-Procedimientos de campo para determinar la precisión-Parte 2: Teodolitos
  • KS B ISO 12857-1-2002(2022) Óptica e instrumentos ópticos-Instrumentos geodésicos-Procedimientos de campo para determinar la precisión-Parte 1:Niveles
  • KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies-Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger-Linealidad de escala de intensidad
  • KS B ISO 10110-1:2007 Óptica e instrumentos ópticos-Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos-Parte 1:General
  • KS L 2302-2012 Forma y dimensiones de aparatos de vidrio para análisis químicos.
  • KS L 2302-1987 Forma y dimensiones de aparatos de vidrio para análisis químicos.
  • KS B ISO 10934-2:2011 Óptica e instrumentos ópticos-Vocabulario para microscopía-Parte 2:Técnicas avanzadas en microscopía óptica
  • KS D ISO 21270-2005(2020) Análisis químico de superficies-Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger-Linealidad de escala de intensidad
  • KS B ISO 12857-1:2002 Óptica e instrumentos ópticos-Instrumentos geodésicos-Procedimientos de campo para determinar la precisión-Parte 1:Niveles
  • KS B ISO 12857-2:2002 Óptica e instrumentos ópticos-Instrumentos geodésicos-Procedimientos de campo para determinar la precisión-Parte 2: Teodolitos
  • KS B ISO 9022-12:2002 Óptica e instrumentos ópticos-Métodos de prueba ambientales-Parte 12: Contaminación
  • KS B ISO 9022-4:2003 Óptica e instrumentos ópticos-Métodos de prueba ambientales-Parte 4: Niebla salina
  • KS B ISO 9022-6:2002 Óptica e instrumentos ópticos-Métodos de prueba ambientales-Parte 6:Polvo
  • KS B ISO 9022-4:2013 Óptica e instrumentos ópticos ― Métodos de prueba ambientales ― Parte 4: Niebla salina
  • KS B ISO 9022-7:2002 Óptica e instrumentos ópticos-Métodos de prueba ambientales-Parte 7:Goteo, lluvia
  • KS B ISO 10109-4:2006 Óptica e instrumentos ópticos-Requisitos ambientales-Parte 4:Requisitos de prueba para sistemas telescópicos
  • KS B ISO 9022-12:2017 Óptica e instrumentos ópticos-Métodos de prueba ambientales-Parte 12: Contaminación
  • KS B ISO 9022-12-2017(2022) Óptica e instrumentos ópticos-Métodos de prueba ambientales-Parte 12: Contaminación
  • KS B ISO 9022-6-2017(2022) Óptica e instrumentos ópticos-Métodos de prueba ambientales-Parte 6:Polvo
  • KS B ISO 9022-6:2017 Óptica e instrumentos ópticos-Métodos de prueba ambientales-Parte 6:Polvo
  • KS B ISO 9022-7:2017 Óptica e instrumentos ópticos-Métodos de prueba ambientales-Parte 7:Goteo, lluvia
  • KS B ISO 10934-2-2011(2021) Óptica e instrumentos ópticos-Vocabulario para microscopía-Parte 2:Técnicas avanzadas en microscopía óptica
  • KS B ISO 10934-2-2011(2016) Óptica e instrumentos ópticos-Vocabulario para microscopía-Parte 2:Técnicas avanzadas en microscopía óptica
  • KS B ISO TR 14999-2:2011 Óptica y fotónica-Medida interferométrica de elementos ópticos y sistemas ópticos-Parte 2:Técnicas de medida y evaluación
  • KS B ISO 9336-3:2001 Óptica e instrumentos ópticos-Función de transferencia óptica-Aplicación-Parte 3: Telescopios
  • KS B ISO 9336-3-2023 Aplicaciones de las funciones de transferencia de luz en óptica e instrumentos ópticos Parte 3: Telescopios
  • KS C IEC 61290-10-1:2005 Amplificadores ópticos-Métodos de prueba-Parte 10-1:Parámetros multicanal-Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico
  • KS D ISO 19319-2005(2020) Análisis químico de superficies-Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X-Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
  • KS B ISO 10109-6:2002 Óptica e instrumentos ópticos-Requisitos ambientales-Parte 6: Requisitos de prueba para dispositivos ópticos médicos
  • KS B ISO 10110-6:2007 Óptica e instrumentos ópticos-Preparación de dibujos para elementos y sistemas ópticos-Parte 6:Tolerancias de centrado
  • KS B ISO 10109-6-2002(2017) Óptica e instrumentos ópticos-Requisitos ambientales-Parte 6:Requisitos de prueba para dispositivos ópticos médicos
  • KS L 2301-2015 Método de prueba de aparatos de vidrio para análisis químicos.
  • KS L 2301-2010 Método de prueba de aparatos de vidrio para análisis químicos.
  • KS L 2302-2017 Forma y dimensiones de aparatos de vidrio para análisis químicos.
  • KS L 2301-1978 Método de prueba de aparatos de vidrio para análisis químicos.
  • KS D ISO 14975:2011 Análisis químico de superficies-Formatos de información
  • KS D ISO 14975-2011(2016) Análisis químico de superficies-Formatos de información

Professional Standard - Nuclear Industry, analizador óptico

  • EJ/T 684-1992 Analizador de fluorescencia de rayos X excitado con fuente portátil
  • EJ/T 684-2016 Analizador de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía portátil
  • EJ/T 823-1994 Analizador de uranio de trazas de fluorescencia láser
  • EJ/T 823-2016 Analizador de trazas de uranio fluorescente
  • EJ/T 633-1992 Analizador de fluorescencia de rayos X dispersivo de energía de excitación de tubos
  • EJ/T 767-1993 Analizador de fluorescencia de rayos X excitado por fuentes radiactivas.

国家药监局, analizador óptico

  • YY/T 1792-2021 Analizador de inmunocromatografía de fluorescencia
  • YY/T 1155-2019 Inmunoanalizador de luminiscencia completamente automático

RU-GOST R, analizador óptico

  • GOST 3178-1975
  • GOST R ISO 9211-2-2014 Óptica e instrumentos ópticos. Recubrimientos ópticos. Parte 2. Propiedades ópticas
  • GOST R ISO 9211-1-2014 Óptica e instrumentos ópticos. Recubrimientos ópticos. Parte 1. Términos y definiciones
  • GOST 1367.11-1983 Antimonio. Método de análisis químico-espectral.
  • GOST 12224.1-1978 Osmímo. Método de análisis químico-espectral.
  • GOST R ISO 9211-4-2016 Óptica e instrumentos ópticos. Recubrimientos ópticos. Parte 4. Métodos de prueba específicos
  • GOST 8.114-1974 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Comparadores ópticos de longitud verticales. Métodos y medios de verificación.
  • GOST R ISO 17123-4-2011 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 4. Medidores de distancia electroópticos (instrumentos EDM)
  • GOST 16274.1-1977 Bismuto. Método de análisis espectroquímico.
  • GOST 29103-1991 Tungsteno, molibdeno. Requisitos generales para métodos de análisis químico y espectral.

KR-KS, analizador óptico

  • KS D ISO 14707-2003(2023) Análisis químico de superficies - Espectroscopia de emisión de descarga luminosa (GD-OES) - Introducción
  • KS B ISO 9211-2-2016 Óptica e instrumentos ópticos-Recubrimientos ópticos-Parte 2:Propiedades ópticas
  • KS B ISO 10109-12-2023 Óptica e instrumentos ópticos. Requisitos medioambientales. Parte 12: Condiciones de transporte de instrumentos ópticos.
  • KS B ISO 9211-1-2017 Óptica e instrumentos ópticos-Recubrimientos ópticos-Parte 1:Definiciones
  • KS B ISO 10109-11-2023 Óptica e instrumentos ópticos. Requisitos medioambientales. Parte 11: Instrumentos ópticos para condiciones de uso en exteriores.
  • KS B ISO 9211-3-2016 Óptica e instrumentos ópticos-Recubrimientos ópticos-Parte 3: Durabilidad ambiental
  • KS M 0129-2013(2023) Términos técnicos de química analítica (parte óptica)
  • KS D ISO 14706-2003(2023) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total
  • KS B ISO 10934-1-2019 Óptica e instrumentos ópticos. Vocabulario de microscopía. Parte 1: Microscopía óptica.
  • KS B ISO 9211-4-2016 Óptica e instrumentos ópticos-Recubrimientos ópticos-Parte 4:Métodos de prueba específicos
  • KS B ISO 14135-1-2016 Óptica e instrumentos ópticos-Especificaciones para miras telescópicas-Parte 1: Instrumentos de uso general
  • KS D ISO 15472-2003(2023) Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Calibración de escala de energía
  • KS B ISO 14135-2-2016 Óptica e instrumentos ópticos-Especificaciones para miras telescópicas-Parte 2: Instrumentos de alto rendimiento
  • KS B ISO 8036-1-2006 Óptica e instrumentos ópticos-Microscopios-Parte 1:Aceite de inmersión para uso general en microscopía óptica.
  • KS B ISO 9022-6-2017 Óptica e instrumentos ópticos-Métodos de prueba ambientales-Parte 6:Polvo
  • KS B ISO 9022-7-2017 Óptica e instrumentos ópticos-Métodos de prueba ambientales-Parte 7:Goteo, lluvia
  • KS B ISO 9022-12-2017 Óptica e instrumentos ópticos-Métodos de prueba ambientales-Parte 12: Contaminación

European Committee for Standardization (CEN), analizador óptico

  • CEN EN 62129-2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
  • CEN EN 62129-2006_ Calibración de analizadores de espectro óptico.
  • EN ISO 8429:1996 Óptica e Instrumentos Ópticos - Oftalmología - Escala de Dial Graduada
  • EN 14726:2005 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Directrices para el análisis espectrométrico de emisión óptica por chispa
  • PREN 14726-2003 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Directrices para el análisis espectrométrico de emisión óptica por chispa
  • EN 14242:2004 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Análisis espectral de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente
  • CEN EN 14726-2005 Aluminio y aleaciones de aluminio. Análisis químico. Directrices para el análisis espectrométrico de emisión óptica por chispa.

Hunan Provincial Standard of the People's Republic of China, analizador óptico

  • DB43/T 1897-2020 Requisitos técnicos generales para fuentes de luz de referencia para analizadores de inmunoensayo por quimioluminiscencia.

German Institute for Standardization, analizador óptico

  • DIN EN 61207-6:1995 Expresión del rendimiento de los analizadores de gases. Parte 6: Analizadores fotométricos (IEC 61207-6:1994); Versión alemana EN 61207-6:1994
  • DIN EN 61207-6:2016-03 Expresión del rendimiento de los analizadores de gases. Parte 6: Analizadores fotométricos (IEC 61207-6:2014); Versión alemana EN 61207-6:2015 / Nota: DIN EN 61207-6 (1995-02) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 30 de diciembre de 2017.
  • DIN ISO 16331-1:2020-09 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de laboratorio para probar instrumentos de topografía y construcción. Parte 1: Rendimiento de los distanciómetros láser portátiles (ISO 16331-1:2017).
  • DIN EN ISO 8598-1:2015-01 Óptica e instrumentos ópticos - Focímetros - Parte 1: Instrumentos de uso general (ISO 8598-1:2014); Versión alemana EN ISO 8598-1:2014
  • DIN ISO 10109-12:2005 Óptica e instrumentos ópticos. Requisitos medioambientales. Parte 12: Condiciones de transporte de instrumentos ópticos (ISO 10109-12:2004).
  • DIN EN ISO 8429:1996 Óptica e instrumentos ópticos - Oftalmología - Escala graduada (ISO 8429:1986); Versión alemana EN ISO 8429:1996
  • DIN ISO 10109-6:2007 Óptica y fotónica. Requisitos medioambientales. Parte 6: Requisitos de prueba para instrumentos ópticos médicos (ISO 10109-6:2005) Versión en inglés de DIN ISO 10109-6:2007-02.
  • DIN ISO 16331-1:2020 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de laboratorio para probar instrumentos de topografía y construcción. Parte 1: Rendimiento de los distanciómetros láser portátiles (ISO 16331-1:2017).
  • DIN EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-3-1:2003); Versión alemana EN 61290-3-1:2003
  • DIN EN 62129:2007 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006); Versión alemana EN 62129:2006
  • DIN ISO 13321:2004 Análisis del tamaño de partículas. Espectroscopía de correlación de fotones (ISO 13321:1996)
  • DIN ISO 14135-1:2005 Óptica e instrumentos ópticos. Especificaciones para miras telescópicas. Parte 1: Instrumentos de uso general (ISO 14135-1:2003)
  • DIN ISO 10109-11:2002 Óptica e instrumentos ópticos. Requisitos medioambientales. Parte 11: Instrumentos ópticos para condiciones de uso en exteriores (ISO 10109-11:2001).
  • DIN ISO 14135-2:2005 Óptica e instrumentos ópticos. Especificaciones para miras telescópicas. Parte 2: Instrumentos de alto rendimiento (ISO 14135-2:2003)
  • DIN EN 61207-7:2015-07 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas. Parte 7: Analizadores de gas láser semiconductores sintonizables (IEC 61207-7:2013); Versión alemana EN 61207-7:2013 / Nota: Aplica en conjunto con DIN EN 61207-1 (2011-04).
  • DIN EN 14242:2004 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Análisis espectral de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente; Versión alemana EN 14242:2004
  • DIN EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-5-2:2003); Versión alemana EN 61290-5-2:2004
  • DIN ISO 9211-4:2008 Óptica e instrumentos ópticos. Recubrimientos ópticos. Parte 4: Métodos de prueba específicos (ISO 9211-4:2006); versión en inglés de DIN ISO 9211-4:2008-06.
  • DIN 51009:2013-11 Análisis espectral atómico óptico: principios y definiciones.
  • DIN ISO 12858-3:2019-10 Óptica e instrumentos ópticos. Dispositivos auxiliares para instrumentos geodésicos. Parte 3: Bases nivelantes (ISO 12858-3:2005)
  • DIN ISO 9022-12:2000 Óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba ambientales. Parte 12: Contaminación (ISO 9022-12:1994)
  • DIN ISO 9022-4:2003 Óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba ambientales. Parte 4: Niebla salina (ISO 9022-4:2002)
  • DIN 66223-5:1985 Fuentes para reconocimiento óptico de caracteres; formato para escáner de mano
  • DIN ISO 15472:2020-05 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles
  • DIN ISO 12858-1:2016-04 Óptica e instrumentos ópticos. Dispositivos auxiliares para instrumentos geodésicos. Parte 1: Miras de nivelación Invar (ISO 12858-1:2014)
  • DIN ISO 8037-1:2003 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios; Diapositivas - Parte 1: Dimensiones, propiedades ópticas y marcado (ISO 8037-1:1986)

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, analizador óptico

  • EN 61207-6:1994 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas Parte 6: Analizadores fotométricos
  • EN 61290-5-1:2000 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico

ES-UNE, analizador óptico

  • UNE-EN 61207-6:2015 Expresión de prestaciones de analizadores de gases - Parte 6: Analizadores fotométricos (Ratificada por AENOR en febrero de 2015.)
  • UNE-EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos ópticos de medida de longitud de onda/frecuencia - Parte 1: Analizadores de espectro óptico (Ratificada por AENOR en julio de 2016.)
  • UNE-EN 61207-7:2013 Expresión de prestaciones de analizadores de gases - Parte 7: Analizadores de gases láser semiconductores sintonizables (Ratificada por AENOR en enero de 2014.)
  • UNE-EN 61207-7:2013/AC:2015 Expresión de prestaciones de analizadores de gases - Parte 7: Analizadores de gases láser semiconductores sintonizables (Ratificada por AENOR en septiembre de 2015.)

British Standards Institution (BSI), analizador óptico

  • BS EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Analizadores de espectro óptico
  • BS EN 62129:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
  • BS EN 61207-6:2015 Cambios rastreados. Expresión de rendimiento de analizadores de gases. Analizadores fotométricos
  • BS EN ISO 8429:1987 Óptica e instrumentos ópticos - Oftalmología - Escala graduada
  • BS EN 14726:2005 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Directrices para el análisis espectrométrico de emisión óptica por chispa
  • BS EN 61290-10-1:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
  • BS EN 61290-10-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico
  • BS EN 61290-10-2:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros multicanal. Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
  • BS EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
  • BS ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
  • BS EN 61207-7:2014 Expresión de rendimiento de analizadores de gases. Analizadores de gases láser semiconductores sintonizables
  • BS ISO 17973:2003 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
  • BS ISO 16331-1:2017 Cambios rastreados. Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de laboratorio para pruebas de instrumentos de topografía y construcción. Rendimiento de los distanciómetros láser portátiles
  • BS ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
  • BS EN 61290-10-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado
  • BS ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • BS ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
  • BS ISO 9211-4:1997 Óptica e instrumentos ópticos - Recubrimientos ópticos - Métodos de ensayo específicos
  • BS 1428-D5:1955 Aparatos microquímicos - Análisis volumétrico - Especificación para micropipeta con patrón de jeringa
  • BS ISO 9022-17:1994 Óptica e instrumentos ópticos - Métodos de ensayo medioambientales - Contaminación combinada, radiación solar
  • BS EN 61290-1-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
  • BS EN 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
  • BS EN 61290-1-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
  • BS ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
  • BS EN 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de resta de fuente interpolada mediante un analizador de espectro óptico
  • BS EN 14242:2004 Aluminio y aleaciones de aluminio - Análisis químico - Análisis espectral de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente
  • BS ISO 18115-3:2022 Análisis químico de superficies. Vocabulario: términos utilizados en el análisis de interfaces ópticas
  • BS EN 12019:1998 Zinc y aleaciones de zinc: análisis espectrométrico de emisión óptica
  • BS EN 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros de la figura de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
  • BS EN 61290-3-1:2004 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica. Métodos de prueba para parámetros de figura de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
  • BS 1902-9.2:1987 Métodos de ensayo de materiales refractarios - Análisis químico por métodos instrumentales - Análisis de refractarios de sílice mediante fluorescencia de rayos X
  • BS ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
  • BS ISO 78-2:1999 Química - Diseño de normas - Métodos de análisis químico
  • BS EN 60746-1:2003 Expresión de rendimiento de analizadores electroquímicos - General
  • BS EN 60746-2:2003 Expresión de rendimiento de analizadores electroquímicos - valor de pH.
  • BS ISO 14975:2000 Análisis químico de superficies - Formatos de información
  • BS ISO 14975:2001 Análisis químico de superficies. Formatos de información

Defense Logistics Agency, analizador óptico

International Electrotechnical Commission (IEC), analizador óptico

  • IEC PAS 62129:2004 Calibración de analizadores de espectro óptico.
  • IEC 62129:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
  • IEC 61207-3:1998 Analizadores de gas - Expresión de rendimiento - Parte 3: Analizadores de oxígeno paramagnéticos
  • IEC 61290-10-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-1: Parámetros multicanal; Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
  • IEC 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido; Método del analizador de espectro óptico.
  • IEC 61290-10-1:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-1: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico.
  • IEC 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
  • IEC 61290-1-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
  • IEC 61290-2-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica. Analizador de espectro óptico.
  • IEC 61290-10-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-2: Parámetros multicanal; Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
  • IEC 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Parte 1: Analizadores de espectro óptico.
  • IEC 61290-5-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 5-2: Parámetros de reflectancia; Método del analizador de espectro eléctrico.
  • IEC 61207-3:2002/COR2:2003 Analizadores de gas - Expresión de rendimiento - Parte 3: Analizadores de oxígeno paramagnéticos; Corrigendum técnico 2
  • IEC 61290-1-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificaciones básicas. Parte 1-1: Métodos de prueba para parámetros de ganancia. Analizador de espectro óptico.
  • IEC 61290-5-1:2000 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico
  • IEC 61290-1-2:2005 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-2: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro eléctrico.

Danish Standards Foundation, analizador óptico

European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), analizador óptico

  • EN 61207-6:2015 Expresión del rendimiento de los analizadores de gases. Parte 6: Analizadores fotométricos.
  • EN 62129:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico (Incorpora corrección de errores de diciembre de 2006)
  • EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
  • EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Parte 1: Analizadores de espectro óptico.
  • EN 61207-7:2013 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas. Parte 7: Analizadores de gas láser semiconductores sintonizables.

International Organization for Standardization (ISO), analizador óptico

  • ISO 9211-2:1994 Óptica e instrumentos ópticos. Recubrimientos ópticos. Parte 2: Propiedades ópticas.
  • ISO 8598-1:2014 Óptica e instrumentos ópticos - Focímetros - Parte 1: Instrumentos de uso general
  • ISO 10109-12:2004
  • ISO 9211-1:1994 Óptica e instrumentos ópticos. Recubrimientos ópticos. Parte 1: Definiciones.
  • ISO 8429:1986 Óptica e instrumentos ópticos; Oftalmología; Escala de esfera graduada
  • ISO 10109-7:2001 Óptica e instrumentos ópticos. Requisitos medioambientales. Parte 7: Requisitos de prueba para instrumentos ópticos de medida.
  • ISO 15472:2010 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
  • ISO 15472:2001 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
  • ISO 17331:2004/Amd 1:2010 Análisis químico de superficies: métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF); Enmienda 1
  • ISO 17123-7:2005 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 7: Instrumentos ópticos de plomería.
  • ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
  • ISO 9211-3:1994 Óptica e instrumentos ópticos. Recubrimientos ópticos. Parte 3: Durabilidad ambiental.
  • ISO 10109-11:2001 Óptica e instrumentos ópticos. Requisitos medioambientales. Parte 11: Instrumentos ópticos para condiciones de uso en exteriores.
  • ISO 17973:2016 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
  • ISO 17973:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
  • ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
  • ISO 10934-1:2002 Óptica e instrumentos ópticos - Vocabulario de microscopía - Parte 1: Microscopía óptica
  • ISO 10934:2020 Óptica e instrumentos ópticos. Vocabulario de microscopía. Parte 1: Microscopía óptica.
  • ISO 9344:1996 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Retículas para oculares
  • ISO 13321:1996 Análisis del tamaño de partículas: espectroscopia de correlación de fotones
  • ISO 12857-3:1997 Óptica e instrumentos ópticos - Instrumentos geodésicos - Procedimientos de campo para determinar la precisión - Parte 3: Distancimetros electroópticos (instrumentos EDM)
  • ISO 17123-9:2018 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 9: Escáneres láser terrestres.
  • ISO 14135-1:2003 Óptica e instrumentos ópticos. Especificaciones para miras telescópicas. Parte 1: Instrumentos de uso general.
  • ISO 15470:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • ISO 9211-4:2006 Óptica e instrumentos ópticos. Recubrimientos ópticos. Parte 4: Métodos de prueba específicos.
  • ISO 9211-4:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Recubrimientos ópticos. Parte 4: Métodos de prueba específicos.
  • ISO 17123-4:2001 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 4: Medidores de distancia electroópticos (instrumentos EDM).
  • ISO 14135-2:2003
  • ISO 12858-2:1999 Óptica e instrumentos ópticos. Dispositivos auxiliares para instrumentos geodésicos. Parte 2: Trípodes.
  • ISO 12858-3:2005 Óptica e instrumentos ópticos. Dispositivos auxiliares para instrumentos geodésicos. Parte 3: Bases nivelantes.
  • ISO 12858-2:2020 Óptica e instrumentos ópticos. Dispositivos auxiliares para instrumentos geodésicos. Parte 2: Trípodes.
  • ISO 17123-4:2012 Óptica e instrumentos ópticos. Procedimientos de campo para probar instrumentos geodésicos y topográficos. Parte 4: Medidores de distancia electroópticos (mediciones EDM a reflectores).
  • ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis
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