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Microscopía electrónica de barrido x

Microscopía electrónica de barrido x, Total: 152 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Microscopía electrónica de barrido x son: Protección contra el crimen, Equipo óptico, Medidas lineales y angulares., Tratamiento superficial y revestimiento., Óptica y medidas ópticas., Pinturas y barnices, Calidad del aire, Química analítica, Materiales de construcción, Termodinámica y mediciones de temperatura., Física. Química, Fibras textiles, Metales no ferrosos, Pruebas no destructivas, Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., pruebas de metales, Protección de radiación, Dispositivos semiconductores, Circuitos integrados. Microelectrónica, Productos de hierro y acero., Equipo medico, Ingredientes de pintura.

Professional Standard - Judicatory, Microscopía electrónica de barrido x

SF/T 0139-2023

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Microscopía electrónica de barrido x

DB35/T 110-2000 Sonda electrónica y microscopio electrónico de barrido Método de análisis del espectro de energía de rayos X para la detección de evidencia física de pintura

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Microscopía electrónica de barrido x

JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
JJG 550-1988 Reglamento de verificación del microscopio electrónico de barrido.

Professional Standard - Public Safety Standards, Microscopía electrónica de barrido x

GA/T 1939-2021 Ciencias forenses Examen de puntos actuales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1938-2021 Ciencia forense Inspección de metales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1937-2021 Ciencia forense Inspección de caucho Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1522-2018 Ciencia forense Disparo Inspección de residuos Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1521-2018 Ciencia forense Plásticos Examen de composición elemental Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1519-2018 Ciencia forense Tóner Composición elemental Inspección Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1520-2018 Ciencia forense polvo negro, polvo pirotécnico inspección de composición de elementos microscopio electrónico de barrido/espectrometría de energía de rayos X
GA/T 823.3-2018 Métodos de examen de evidencia de pintura en ciencia forense Parte 3: Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1418-2017 Examen de composición elemental de evidencia de vidrio de ciencia forense Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía
GA/T 909-2010 Método de recolección y empaquetado de rastros de evidencia: residuos de disparos (examen SEM/EDS)

International Organization for Standardization (ISO), Microscopía electrónica de barrido x

ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías: caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ISO 9220:1988 Recubrimientos metálicos; medición del espesor del recubrimiento; método de microscopio electrónico de barrido
ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
ISO 14966:2002 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
ISO 16000-27:2014 Aire interior - Parte 27: Determinación del polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)
ISO 14966:2002/cor 1:2007 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido; Corrigendum técnico 1

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Microscopía electrónica de barrido x

GB/T 17362-2008 Método de análisis del espectro de energía de rayos X con microscopio electrónico de barrido para productos de oro
GB/T 17362-1998
GB/T 17359-1998
GB/T 16594-1996 Medición de longitud de grado en micras por SEM
GB/T 31563-2015 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
GB/T 17722-1999 Medición de espesor chapado en oro por SEM
GB/T 19267.6-2008 Examen físico y químico de rastros de evidencia en ciencias forenses. Parte 6: Microscopio electrónico de barrido/espectrometría de dispersión de energía de rayos X
GB/T 16594-2008 Reglas generales para la medición de longitud en escala de micras mediante SEM
GB/T 20307-2006 Reglas generales para la medición de longitud a escala nanométrica mediante SEM
GB/T 28873-2012 Guía general de microscopía electrónica de barrido ambiental para efectos biológicos sobre topografía inducidos por nanopartículas.
GB/T 17361-1998
GB/T 36422-2018 Fibra sintética. Método de prueba para micromorfología y diámetro. Método de microscopio electrónico de barrido.
GB/T 25758.1-2010 Ensayos no destructivos. Características de los puntos focales en sistemas industriales de rayos X para su uso en ensayos no destructivos. Parte 1: Método de escaneo
GB/T 19267.6-2003 Examen físico y químico de rastros de evidencia en ciencias forenses. Parte 6: Microscopía electrónica de barrido.
GB/T 25189-2010 Análisis de microhaz. Método de determinación de parámetros de análisis cuantitativo de SEM-EDS.

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Microscopía electrónica de barrido x

DB32/T 4546-2023 Especificaciones técnicas para la inspección automatizada de imágenes de diatomeas mediante microscopios electrónicos de barrido.
DB32/T 3459-2018 Microscopía electrónica de barrido para medir la cobertura de microáreas de películas de grafeno

American Society for Testing and Materials (ASTM), Microscopía electrónica de barrido x

ASTM E2809-13 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X en exámenes de pintura forense
ASTM C1723-16(2022) Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM C1723-10 Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM C1723-16
ASTM E280-98(2004)e1 Radiografías de referencia estándar para piezas fundidas de acero de paredes pesadas (de 4 &189; a 12 pulgadas [114 a 305 mm])
ASTM E280-21 Radiografías de referencia estándar para piezas fundidas de acero de paredes pesadas (de 412 a 12 pulg. (114 a 305 mm))
ASTM E2809-22 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X de dispersión de energía (SEM/EDS) en exámenes forenses de polímeros
ASTM E1588-07e1 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM E1588-07 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM B748-90(2006) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM B748-90(1997) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E1588-20 Práctica estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM E3284-23 Standard Practice for Training in the Forensic Examination of Primer Gunshot Residue (pGSR) Using Scanning Electron Microscopy/Energy Dispersive X-Ray Spectrometry (SEM/EDS)
ASTM B748-90(2010) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM B748-90(2021) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM B748-90(2001) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM B748-90(2016) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2142-01 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
ASTM E3309-21 Guía estándar para informes de análisis forense de residuos de disparos de cebador (pGSR) mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía (SEM/EDS)
ASTM F1372-93(1999) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
ASTM F1372-93(2020) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
ASTM D605-82(1996)e1 Especificación estándar para pigmento de silicato de magnesio (talco)
ASTM D6059-96(2011) Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido

Association of German Mechanical Engineers, Microscopía electrónica de barrido x

VDI 3866 Blatt 5-2004 Determinación de amianto en productos técnicos - Método de microscopía electrónica de barrido
VDI 3866 Blatt 5-2017 Determinación de amianto en productos técnicos - Método de microscopía electrónica de barrido
VDI 3861 Blatt 2-2008 Emisiones de fuentes estacionarias - Medición de partículas fibrosas inorgánicas en los gases de escape - Método de microscopía electrónica de barrido
VDI 3492-2004 Medición del aire interior - Medición del aire ambiente - Medición de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
VDI 3492-2013 Medición del aire interior - Medición del aire ambiente - Medición de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido

Professional Standard - Aviation, Microscopía electrónica de barrido x

HB 20094.4-2012 Método de prueba para la determinación de metales de desgaste en líquidos operativos para la aviación. Parte 4: Microscopía electrónica de barrido y espectrometría de energía dispersiva.

Group Standards of the People's Republic of China, Microscopía electrónica de barrido x

T/QGCML 1940-2023
T/CSTM 00229-2020 Identificación de materiales de grafeno en materiales de recubrimiento Método de microscopio electrónico de barrido-espectrómetro de dispersión de energía
T/GAIA 017-2022 Determinación del contenido de flúor en el revestimiento superficial de aluminio y aleaciones de aluminio. Método del microscopio electrónico de barrido y espectrómetro de energía dispersiva.
T/CIRA 42-2022 Método de detección de uniformidad de escaneo de haz de acelerador de electrones para varillas de aluminio utilizadas en el procesamiento de radiación

Professional Standard - Commodity Inspection, Microscopía electrónica de barrido x

SN/T 2649.1-2010 Determinación de amianto en cosméticos para importación y exportación. Parte 1: Método de difracción de rayos X y microscopía electrónica de barrido.

British Standards Institution (BSI), Microscopía electrónica de barrido x

BS EN ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
BS ISO 14966:2002 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
BS ISO 19749:2021 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
BS EN ISO 9220:2022 Cambios rastreados. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
BS EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
DD ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.
BS ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
18/30335408 DC BS IEC 62963. Instrumentación de protección radiológica. Sistemas de inspección por tomografía computarizada (CT) por rayos X líquidos en botella/lata
BS CECC 00013:1985 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos: especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores
18/30351679 DC BS ISO 19749. Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
BS IEC 62945:2018 Instrumentación de protección radiológica. Medición del rendimiento de las imágenes de los sistemas de control de seguridad por tomografía computarizada (CT) por rayos X
BS IEC 62963:2020 Instrumentación de protección radiológica. Sistemas de inspección por tomografía computarizada (CT) de rayos X de líquidos embotellados/enlatados
18/30375050 DC BS ISO 14966. Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
BS DD ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.

Professional Standard - Machinery, Microscopía electrónica de barrido x

JB/T 7503-1994 Espesor de la sección transversal de recubrimientos metálicos Método de medición mediante microscopio electrónico de barrido

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Microscopía electrónica de barrido x

GJB 737.11-1993 Métodos de prueba para productos químicos pirotécnicos Determinación del tamaño de partículas Microscopía electrónica de barrido

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Microscopía electrónica de barrido x

KS D ISO 9220:2009 Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220-2009(2022) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220-2009(2017) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido

SE-SIS, Microscopía electrónica de barrido x

SIS SS-ISO 9220:1989

European Committee for Standardization (CEN), Microscopía electrónica de barrido x

EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
EN ISO 9220:1994 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método de microscopio electrónico de barrido (ISO 9220: 1988)
EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021)
prEN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).

Association Francaise de Normalisation, Microscopía electrónica de barrido x

NF A91-108:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
NF EN 12543-1:1999 Ensayos no destructivos - Características de los focos emisores de los tubos de rayos X industriales utilizados en ensayos no destructivos - Parte 1: método de escaneo
NF EN ISO 14096-2:2020 Ensayos no destructivos. Calificación de los sistemas de escaneo de películas de rayos X. Parte 2: requisitos mínimos.
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
NF EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías: determinación del tamaño de partículas y distribución de formas mediante microscopía electrónica de barrido.
FD T16-203:2011 Nanotecnologías: Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva
NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 Aire interior - Parte 27: determinación del polvo fibroso sedimentado en las superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)
NF C74-221*NF EN 61262-1:1994 Equipos eléctricos médicos. Características de los intensificadores de imágenes de rayos X electroópticos. Parte 1: determinación del tamaño del campo de entrada.
NF ISO 16000-27:2014 Aire interior - Parte 27: determinación del polvo fibroso depositado en las superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)

RU-GOST R, Microscopía electrónica de barrido x

GOST R 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido
GOST R 8.636-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de calibración
GOST 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Método de verificación
GOST R 8.631-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de verificación
GOST R 8.593-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de verificación
GOST ISO 16000-27-2017 Aire interior. Parte 27. Determinación de polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)

Danish Standards Foundation, Microscopía electrónica de barrido x

DS/EN ISO 9220:1995
DS/ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.
DS/EN 12543-1:2002 Ensayos no destructivos. Características de los puntos focales en sistemas industriales de rayos X para su uso en ensayos no destructivos. Parte 1: Método de escaneo.
DS/ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías: caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva

German Institute for Standardization, Microscopía electrónica de barrido x

DIN EN ISO 9220:2022-05 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022); Versión alemana EN ISO 9220:2022
DIN EN 12543-1:1999-12 Ensayos no destructivos. Características de los puntos focales en sistemas industriales de rayos X para su uso en ensayos no destructivos. Parte 1: Método de escaneo; Versión alemana EN 12543-1:1999
DIN EN 12543-1:1999 Ensayos no destructivos. Características de los puntos focales en sistemas industriales de rayos X para su uso en ensayos no destructivos. Parte 1: Método de escaneo; Versión alemana EN 12543-1:1999
DIN EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021); Versión alemana e inglesa prEN ISO 9220:2021
DIN EN ISO 19749:2023-07 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021); Versión alemana EN ISO 19749:2023
DIN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988); Versión alemana EN ISO 9220:1994
DIN ISO 16000-27:2014 Aire interior. Parte 27: Determinación del polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo) (ISO 16000-27:2014)
DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)
DIN ISO 16000-27:2014-11 Aire interior. Parte 27: Determinación del polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo) (ISO 16000-27:2014)

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Microscopía electrónica de barrido x

GB/T 38783-2020 Método de determinación del espesor del recubrimiento para compuestos de metales preciosos mediante microscopio electrónico de barrido.
GB/T 35097-2018 Análisis de microhaz: microscopía electrónica de barrido con espectrometría de rayos X de energía dispersiva: determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas en el aire ambiente.

ES-UNE, Microscopía electrónica de barrido x

UNE-EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
UNE-EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías - Mediciones de distribuciones de tamaño y forma de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2023.)

工业和信息化部, Microscopía electrónica de barrido x

YS/T 1491-2021 Método para determinar la esfericidad de una aleación en polvo de alta temperatura a base de níquel mediante microscopía electrónica de barrido.
SJ/T 11759-2020 Medición de la relación de aspecto de la línea de rejilla del electrodo de células fotovoltaicas Microscopía confocal de barrido láser

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Microscopía electrónica de barrido x

JIS K 3850-1:2006 Determinación de partículas fibrosas en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
JIS K 3850-1:2000 Método de medición de partículas fibrosas en suspensión en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Microscopía electrónica de barrido x

GJB 5891.6-2006 Método de prueba de carga de material para iniciar un dispositivo explosivo Parte 6: Medición del tamaño de grano Microscopía electrónica de barrido

AENOR, Microscopía electrónica de barrido x

UNE-EN ISO 9220:1996 RECUBRIMIENTOS METÁLICOS. MEDICIÓN DEL ESPESOR DEL RECUBRIMIENTO. MÉTODO DEL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO. (ISO 9220:1988).
UNE-EN 12543-1:2000 ENSAYO NO DESTRUCTIVO - CARACTERÍSTICAS DE LOS PUNTOS FOCALES EN SISTEMAS INDUSTRIALES DE RAYOS X PARA SU USO EN ENSAYO NO DESTRUCTIVO - PARTE 1: MÉTODO DE ESCANEO.

Lithuanian Standards Office , Microscopía electrónica de barrido x

LST EN ISO 9220:2001 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).
LST EN 12543-1-2001 Ensayos no destructivos. Características de los puntos focales en sistemas industriales de rayos X para su uso en ensayos no destructivos. Parte 1: Método de escaneo.

International Telecommunication Union (ITU), Microscopía electrónica de barrido x

ITU-R SM.1839 SPANISH-2007 Procedimiento de prueba para medir la velocidad de exploración de los receptores de comprobaci髇 t閏nica radioel閏trica

AT-ON, Microscopía electrónica de barrido x

OENORM EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).

KR-KS, Microscopía electrónica de barrido x

KS C ISO 19749-2023 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.

GOSTR, Microscopía electrónica de barrido x

PNST 508-2020 Nanotecnologías. Nanotubos de carbono de pared simple. Caracterización mediante microscopía electrónica de barrido y espectrometría de rayos X de energía dispersiva.

未注明发布机构, Microscopía electrónica de barrido x

BS CECC 13:1985(1999) Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos: Especificaciones básicas: Inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores.

BE-NBN, Microscopía electrónica de barrido x

NBN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).

International Electrotechnical Commission (IEC), Microscopía electrónica de barrido x

IEC 62945:2018 Instrumentación de protección radiológica: medición del rendimiento de las imágenes de los sistemas de control de seguridad por tomografía computarizada (CT) de rayos X

Professional Standard - Nuclear Industry, Microscopía electrónica de barrido x

EJ/T 20150.23-2018 Postiluminación del conjunto combustible de radiación de varillas PWR, parte 23: Análisis SEM de tubos de revestimiento de combustible

American National Standards Institute （ANSI), Microscopía electrónica de barrido x

ANSI/ASTM D6059:2001 Método de prueba para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido