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¿Son iguales un difractómetro de rayos X y un medidor de tensión de rayos X?
¿Son iguales un difractómetro de rayos X y un medidor de tensión de rayos X?, Total: 9 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en ¿Son iguales un difractómetro de rayos X y un medidor de tensión de rayos X? son: Pruebas no destructivas, Medidas lineales y angulares., Química analítica.
American National Standards Institute （ANSI), ¿Son iguales un difractómetro de rayos X y un medidor de tensión de rayos X?
- ANSI/ASTM E915:1996 Método para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
American Society for Testing and Materials (ASTM), ¿Son iguales un difractómetro de rayos X y un medidor de tensión de rayos X?
- ASTM E915-96 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM E915-16 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM E915-96(2002) Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM E915-19 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM E915-10 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM E915-21 Práctica estándar para verificar la alineación de instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM E1217-11(2019) Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
RU-GOST R, ¿Son iguales un difractómetro de rayos X y un medidor de tensión de rayos X?
- GOST R 8.698-2010 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Parámetros dimensionales de nanopartículas y películas delgadas. Método de medición mediante un difractómetro de dispersión de rayos X de ángulo pequeño