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electrones en microscopio electrónico

electrones en microscopio electrónico, Total: 500 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en electrones en microscopio electrónico son: Óptica y medidas ópticas., Química analítica, Calidad del aire, Equipo óptico, pruebas de metales, Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Metrología y medición en general., Vocabularios, Educación, Componentes electrónicos en general., Conjuntos de componentes electrónicos., Optoelectrónica. Equipo láser, Dispositivos de visualización electrónica., Protección contra el crimen, Termodinámica y mediciones de temperatura., Medidas lineales y angulares., Tratamiento superficial y revestimiento., Equipo medico, Productos de hierro y acero., Dibujos tecnicos, Materiales de construcción, Materias primas para caucho y plástico., Materiales para el refuerzo de composites., Materiales para la construcción aeroespacial., Pinturas y barnices, Dispositivos semiconductores, Circuitos integrados. Microelectrónica, Física. Química, Sistemas de energía fluida, Papel y cartón, Alimentos para animales, Cerámica, Sistemas y componentes de fluidos aeroespaciales., Condiciones y procedimientos de prueba en general., Ingredientes de pintura, Fotografía, Materiales semiconductores, Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., ingeniería de energía nuclear, Productos de la industria química., producción de metales, Protección contra mercancías peligrosas, Fibras textiles, Equipos e instrumentos a bordo., Equipos y sistemas eléctricos aeroespaciales., Aplicaciones de imágenes de documentos, Aplicaciones de la tecnología de la información..

International Organization for Standardization (ISO), electrones en microscopio electrónico

ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
ISO/CD 25498:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas utilizando un microscopio electrónico de transmisión.
ISO/CD 19214:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
ISO 15932:2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Vocabulario
ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
ISO 25498:2018 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión
ISO 22493:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
ISO 19214:2017 Análisis de microhaz - Microscopía electrónica analítica - Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión
ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la resolución de energía para el análisis del espectro de pérdida de energía de los electrones.
ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método para evaluar dimensiones críticas mediante CD-SEM.
ISO 11884-2:2007 Óptica y fotónica. Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos. Parte 2: Microscopios de alto rendimiento.
ISO 9220:1988 Recubrimientos metálicos; medición del espesor del recubrimiento; método de microscopio electrónico de barrido
ISO 13794:1999 Aire ambiente - Determinación de fibras de amianto - Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia indirecta
ISO 10312:1995 Aire ambiente - Determinación de fibras de amianto - Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa
ISO/CD 20263:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la posición de la interfaz en la imagen transversal de los materiales estratificados.
ISO 11884-1:2006 Óptica y fotónica. Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos. Parte 1: Microscopios estereoscópicos para uso general.
ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
ISO 21363:2020 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de transmisión.
ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Microscopía de fuerza atómica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito.
ISO 24639:2022 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
ISO 20263:2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la posición de la interfaz en la imagen transversal de los materiales estratificados.
ISO/WD TR 23683:2023 Análisis químico de superficies: microscopía con sonda de barrido. Directrices para la cuantificación experimental de la concentración de portadores en dispositivos semiconductores mediante microscopía con sonda de barrido eléctrica.
ISO 13794:2019 Aire ambiente. Determinación de fibras de amianto. Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia indirecta.
ISO 10312:2019 Aire ambiente. Determinación de fibras de amianto. Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa.
ISO 22493:2014 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
ISO 5061:2002 Piensos para animales - Determinación de la cáscara de semillas de ricino - Método microscópico
ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
ISO/TS 22292:2021 Nanotecnologías: reconstrucción de imágenes en 3D de nanoobjetos sostenidos por varillas mediante microscopía electrónica de transmisión
ISO 14966:2002 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
ISO/TS 10797:2012 Nanotecnologías - Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de transmisión
ISO 29301:2017 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia con estructuras periódicas
ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles utilizando un microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
ISO 14966:2002/cor 1:2007 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido; Corrigendum técnico 1
ISO/FDIS 29301:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes utilizando materiales de referencia con estructuras periódicas.
ISO 29301:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes utilizando materiales de referencia con estructuras periódicas.
ISO 29301:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de transmisión analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia que tienen estructuras periódicas
ISO 23692:2021 Análisis por microhaz - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis cuantitativo de la segregación dendrítica de Mn en productos de acero fundido continuamente
ISO 14880-2:2006 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 2: Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda
ISO 16000-27:2014 Aire interior - Parte 27: Determinación del polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)
ISO 14880-4:2006 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 4: Métodos de prueba para propiedades geométricas
ISO 19463:2018 Análisis de microhaces - Microanalizador de sonda electrónica (EPMA) - Directrices para realizar procedimientos de garantía de calidad
ISO 16592:2006 Análisis por microhaz - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante un método de curva de calibración
ISO 16592:2012 Análisis por microhaz - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante un método de curva de calibración
ISO 17751-2:2014 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido.
ISO 17751-2:2023 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido.
ISO 17751-2:2016 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido.

Professional Standard - Machinery, electrones en microscopio electrónico

JB/T 5480-1991 Diafragma de microscopio electrónico.
JB/T 5481-1991 Filamento de lámpara de microscopio electrónico.
JB/T 9352-1999 Método de prueba para el microscopio electrónico de transmisión.
JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
JB/T 5383-1991 Especificación para microscopio electrónico de transmisión.
JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas
JB/T 5584-1991 Método de prueba de amplificación por microscopio electrónico de transmisión.
JB/T 5585-1991 Método de prueba de resolución del microscopio electrónico de transmisión.
JB/T 5586-1991 Clasificación y parámetro básico del microscopio electrónico de transmisión.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), electrones en microscopio electrónico

JIS K 3850-1:2006 Determinación de partículas fibrosas en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
JIS K 3850-1:2000 Método de medición de partículas fibrosas en suspensión en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
JIS K 3850-3:2000 Método de medición de partículas fibrosas suspendidas en el aire. Parte 3: Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia indirecta.
JIS K 3850-2:2000 Método de medición de partículas fibrosas en el aire. Parte 2: Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa.
JIS K 0149-1:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
JIS R 1633:1998 Método de preparación de muestras de cerámicas finas y polvos cerámicos finos para observación con microscopio electrónico de barrido.
JIS H 7804:2005 Método para la determinación del tamaño de partículas en catalizadores metálicos mediante microscopio electrónico.
JIS R 1683:2007 Método de prueba para la rugosidad superficial de películas delgadas cerámicas mediante microscopía de fuerza atómica.
JIS R 1683:2014 Método de prueba para la rugosidad superficial de películas delgadas cerámicas mediante microscopía de fuerza atómica.

British Standards Institution (BSI), electrones en microscopio electrónico

BS ISO 25498:2018 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión.
18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
BS ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
BS ISO 8036:2006 Óptica y fotónica - Microscopios - Líquidos de inmersión para microscopía óptica
BS ISO 11884-2:2007 Óptica y fotónica. Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos. Microscopios de alto rendimiento
BS ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas por CDSEM
BS ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
BS ISO 11884-1:2006 Óptica y fotónica - Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos - Microscopios estereoscópicos de uso general
BS ISO 24639:2022 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
BS EN ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
20/30380369 DC BS ISO 23420. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
BS ISO 13794:1999 Aire ambiente - Determinación de fibras de amianto - Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia indirecta
BS ISO 20263:2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la posición de la interfaz en la imagen transversal de los materiales estratificados.
21/30404763 DC BS ISO 24639. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
BS ISO 16700:2016 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen
18/30344520 DC BS ISO 21466. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas mediante CD-SEM
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
BS ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito
BS CECC 00013:1985 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos: especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores
PD ISO/TS 10797:2012 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de transmisión.
15/30292710 DC BS ISO 19214. Directrices para la determinación de la dirección de crecimiento de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
BS EN ISO 9220:2022 Cambios rastreados. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
BS ISO 13794:2019 Aire ambiente. Determinación de fibras de amianto. Método de microscopía electrónica de transmisión de transferencia indirecta.
BS ISO 10312:2019 Aire ambiente. Determinación de fibras de amianto. Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa.
BS ISO 15932:2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Vocabulario
BS ISO 22493:2014 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
21/30412880 DC BS ISO 23729. Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito
BS ISO 5061:2002 Piensos para animales - Determinación de la cáscara de semillas de ricino - Método microscópico
PD ISO/TS 22292:2021 Nanotecnologías. Reconstrucción de imágenes en 3D de nanoobjetos soportados por varillas mediante microscopía electrónica de transmisión
BS ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
BS ISO 19749:2021 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
BS EN ISO 21363:2022 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión.
BS EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
BS ISO 21363:2020 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión.
BS PD ISO/TS 22292:2021 Nanotecnologías. Reconstrucción de imágenes en 3D de nanoobjetos soportados por varillas mediante microscopía electrónica de transmisión
BS ISO 14966:2002 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
18/30375050 DC BS ISO 14966. Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
BS EN ISO 14880-2:2007 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda
19/30394914 DC BS ISO 15632. Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía para uso en un microscopio de sonda electrónica o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)
18/30351714 DC BS ISO 21363. Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión.
18/30351679 DC BS ISO 19749. Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
BS ISO 29301:2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia con estructuras periódicas.
BS ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
BS EN ISO 17751-2:2023 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas: método de microscopía electrónica de barrido
19/30351707 DC BS ISO 21222. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
BS ISO 29301:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de transmisión analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia que tienen estructuras periódicas
BS DD ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.
BS EN ISO 17751-2:2016 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana, otras fibras animales especiales y sus mezclas. Método de microscopía electrónica de barrido.
12/30228339 DC BS ISO 16000-27. Aire interior. Parte 27. Determinación de polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)
DD ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.
BS EN ISO 14880-3:2006 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Métodos de prueba para propiedades ópticas distintas de las aberraciones del frente de onda
BS EN IEC 62435-7:2021 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Dispositivos microelectromecánicos.
BS ISO 16592:2012 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante un método de curva de calibración
BS EN ISO 10685-1:2011 Óptica oftálmica. Catálogo electrónico e identificación de monturas de gafas y gafas de sol. Identificación de productos y jerarquía de productos del catálogo electrónico.
PD IEC TR 62977-2-5:2018 Dispositivos de visualización electrónicos. Pantallas transparentes. Medidas de características ópticas.
BS ISO 10312:1995 Aire ambiente. Determinación de fibras de amianto. Método de microscopía electrónica de transmisión de transferencia directa.
BS 8426:2003 Un código de prácticas para el soporte electrónico en sistemas de aprendizaje electrónico

工业和信息化部, electrones en microscopio electrónico

YB/T 4676-2018 Análisis de fases precipitadas en acero mediante microscopía electrónica de transmisión
SJ/T 11635-2016 Determinación de iones carbonato en el desarrollo de soluciones para la industria electrónica mediante valoración potenciométrica automática.
SJ/T 11759-2020 Medición de la relación de aspecto de la línea de rejilla del electrodo de células fotovoltaicas Microscopía confocal de barrido láser

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), electrones en microscopio electrónico

KS M 0044-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS I 0051-1999(2019) Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
KS D 2716-2008 Medición del diámetro de nanopartículas－Microscopio electrónico de transmisión
KS I 0051-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS D 2716-2008(2018) Medición del diámetro de nanopartículas－Microscopio electrónico de transmisión
KS P ISO 10936-2:2020 Óptica y fotónica. Microscopios quirúrgicos. Parte 2: Peligro luminoso procedente de los microscopios quirúrgicos utilizados en cirugía ocular.
KS D ISO 16700-2013(2018) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
KS I ISO 13794-2008(2018) Aire ambiente－Determinación de fibras de amianto－Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia indirecta
KS D ISO 9220-2009(2022) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220-2009(2017) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D 8544-2006 Recubrimiento metálico-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopía electrónica de transmisión
KS D 8544-2016(2021) Revestimiento metálico－Medición del espesor del revestimiento－Método de microscopía electrónica de transmisión
KS B ISO 11884-2:2011 Óptica y fotónica－Requisitos mínimos para microscopio estereoscópico－Parte 2: Microscopios de alto rendimiento
KS D ISO 9220:2009 Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS I ISO 10312:2008 Aire ambiente-Determinación de fibras de amianto-Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa
KS I ISO 13794:2008 Aire ambiente－Determinación de fibras de amianto－Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia indirecta
KS I ISO 10312-2008(2018) Aire ambiente－Determinación de fibras de amianto－Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa
KS I ISO 4407:2012 Potencia de fluido hidráulico-Contaminación de fluidos-Determinación de contaminación por partículas mediante el método de conteo mediante microscopio óptico
KS D ISO 23833:2022 Análisis de microhaces — Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) — Vocabulario
KS B ISO 19012-1-2016(2021) Óptica y fotónica－Designación de objetivos del microscopio－Parte 1：Planitud del campo/Plano
KS B ISO 8040-2006(2021) Óptica y fotónica — Microscopios — Dimensiones de las conexiones de portaobjetos y ranuras para tubos
KS B ISO 8478-2006(2016) Óptica y fotónica — Microscopios — Dimensiones de las conexiones de portaobjetos y ranuras para tubos
KS B ISO 8478-2006(2021) Óptica y fotónica — Microscopios — Dimensiones de las conexiones de portaobjetos y ranuras para tubos
KS B ISO 8040-2006(2016) Óptica y fotónica — Microscopios — Dimensiones de las conexiones de portaobjetos y ranuras para tubos
KS D ISO 16592-2011(2016) Análisis de microhaz－Microanálisis con sonda electrónica－Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante un método de curva de calibración
KS D ISO TR 17270:2007 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de transmisión analítica－Informe técnico sobre la determinación de los parámetros experimentales para la espectroscopía de pérdida de energía electrónica.
KS B ISO 14880-2:2013 Óptica y fotónica ― Conjuntos de microlentes ― Parte 2: Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda
KS B ISO 14880-2:2008 Óptica y fotónica-Arrays de microlentes-Parte 2: Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda
KS C IEC 60151-16-2003(2008) Mediciones de las propiedades eléctricas de tubos y válvulas electrónicos －Parte 16: Métodos de medición para tubos de televisión
KS C IEC 61988-3-2-2005(2020) Interfaz eléctrica de paneles de visualización de plasma.
KS D ISO 14595:2012 Análisis de microhaces-Microanálisis con sonda electrónica-Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM)
KS K ISO 17751-2:2019 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido.
KS D ISO 16592:2011 Análisis de microhaz－Microanálisis con sonda electrónica－Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante un método de curva de calibración

Association of German Mechanical Engineers, electrones en microscopio electrónico

DVS 2803-1974 Soldadura por haz de electrones en microscopía (encuesta)
VDI 3861 Blatt 2-2008 Emisiones de fuentes estacionarias - Medición de partículas fibrosas inorgánicas en los gases de escape - Método de microscopía electrónica de barrido
DVS 2801-1968 Soldadura por resistencia en microscopía (encuesta)
VDI 3492-2004 Medición del aire interior - Medición del aire ambiente - Medición de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
VDI 3492-2013 Medición del aire interior - Medición del aire ambiente - Medición de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido

KR-KS, electrones en microscopio electrónico

KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS D 2716-2023 Medición del diámetro de nanopartículas: microscopio electrónico de transmisión
KS P ISO 10936-2-2020 Óptica y fotónica. Microscopios quirúrgicos. Parte 2: Peligro luminoso procedente de los microscopios quirúrgicos utilizados en cirugía ocular.
KS C ISO 19749-2023 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.
KS C ISO 21363-2023 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de transmisión.
KS D ISO 23833-2022 Análisis de microhaces — Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) — Vocabulario
KS B ISO 19012-1-2016 Óptica y fotónica－Designación de objetivos del microscopio－Parte 1：Planitud del campo/Plano
KS D ISO TR 17270-2007 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de transmisión analítica－Informe técnico sobre la determinación de los parámetros experimentales para la espectroscopía de pérdida de energía electrónica.
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ASTM E2142-08(2015) Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
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ASTM C1723-16(2022) Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
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ASTM E3143-18b(2023) Práctica estándar para realizar microscopía electrónica de criotransmisión de liposomas
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ASTM E2859-11(2017) Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
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ASTM E2809-13 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X en exámenes de pintura forense
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ASTM D3849-02 Método de prueba estándar para la caracterización morfológica del negro de humo mediante microscopía electrónica
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ASTM D5756-02 Método de prueba estándar para muestreo por microvacío y análisis indirecto de polvo mediante microscopía electrónica de transmisión para concentración de masa de asbesto
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ASTM D6056-96(2011) Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de transmisión
ASTM D5755-95 Método de prueba estándar para muestreo por microvacío y análisis indirecto de polvo mediante microscopía electrónica de transmisión para concentraciones de números de estructura de asbesto
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ASTM D5756-02(2008) Método de prueba estándar para muestreo por microvacío y análisis indirecto de polvo mediante microscopía electrónica de transmisión para carga superficial de masa de asbesto
ASTM D7201-06(2020) Práctica estándar para el muestreo y recuento de fibras suspendidas en el aire, incluidas las fibras de asbesto, en el lugar de trabajo, mediante microscopía de contraste de fase (con la opción de microscopía electrónica de transmisión)
ASTM B748-90(2010) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM D605-82(1996)e1 Especificación estándar para pigmento de silicato de magnesio (talco)
ASTM D6059-96(2011) Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM E280-98(2004)e1 Radiografías de referencia estándar para piezas fundidas de acero de paredes pesadas (de 4 &189; a 12 pulgadas [114 a 305 mm])
ASTM E280-21 Radiografías de referencia estándar para piezas fundidas de acero de paredes pesadas (de 412 a 12 pulg. (114 a 305 mm))
ASTM E2809-22 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X de dispersión de energía (SEM/EDS) en exámenes forenses de polímeros
ASTM B748-90(2021) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2859-11 Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
ASTM D7201-06(2011) Práctica estándar para el muestreo y recuento de fibras suspendidas en el aire, incluidas las fibras de asbesto, en el lugar de trabajo, mediante microscopía de contraste de fase (con la opción de microscopía electrónica de transmisión)
ASTM D6281-98 Método de prueba estándar para la concentración de asbesto en el aire en atmósferas ambientales e interiores determinada por microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa (TEM)
ASTM E1588-95(2001) Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía dispersiva
ASTM E1588-08 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E1588-10 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E1588-95 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía dispersiva
ASTM B748-90(2016) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM B748-90(2001) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM D6480-05(2010) Método de prueba estándar para muestreo de superficies por limpieza, preparación indirecta y análisis de concentración del número de estructuras de asbesto mediante microscopía electrónica de transmisión
ASTM F1372-93(1999) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
ASTM F1372-93(2020) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
ASTM F60-68(1983)e2 Métodos para la detección y enumeración de contaminantes microbiológicos en el agua utilizada para procesar dispositivos electrónicos y microelectrónicos
ASTM E1588-20 Práctica estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM D6281-06 Método de prueba estándar para la concentración de asbesto en el aire en atmósferas ambientales e interiores determinada por microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa (TEM)
ASTM D6281-04 Método de prueba estándar para la concentración de asbesto en el aire en atmósferas ambientales e interiores determinada por microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa (TEM)
ASTM D6281-09 Método de prueba estándar para la concentración de asbesto en el aire en atmósferas ambientales e interiores determinada por microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa (TEM)
ASTM D6281-15 Método de prueba estándar para la concentración de asbesto en el aire en atmósferas ambientales e interiores determinada por microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa (TEM)
ASTM F1372-93(2005) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
ASTM F1372-93(2012)
ASTM D5755-03 Método de prueba estándar para muestreo por microvacío y análisis indirecto de polvo mediante microscopía electrónica de transmisión para carga superficial del número de estructura del asbesto
ASTM D5755-09 Método de prueba estándar para muestreo por microvacío y análisis indirecto de polvo mediante microscopía electrónica de transmisión para carga superficial del número de estructura del asbesto
ASTM D5755-09(2014)e1 Método de prueba estándar para muestreo por microvacío y análisis indirecto de polvo mediante microscopía electrónica de transmisión para carga superficial del número de estructura del asbesto
ASTM E1588-07e1 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM E1588-07 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM D8526-23 Método de prueba estándar para procedimientos analíticos mediante microscopía electrónica de transmisión para la determinación de la concentración de nanotubos de carbono y partículas que contienen nanotubos de carbono en el ambiente
ASTM E2530-06 Práctica estándar para calibrar el aumento Z de un microscopio de fuerza atómica a niveles de desplazamiento subnanométrico utilizando pasos monoatómicos de Si(111)
ASTM E3060-23 Standard Guide for Subvisible Particle Measurement in Biopharmaceutical Manufacturing Using Dynamic (Flow) Imaging Microscopy
ASTM F1263-11(2019) Guía estándar para el análisis de datos de sobreprueba en pruebas de radiación de piezas electrónicas
ASTM E2090-06 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
ASTM E2090-12(2020) Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), electrones en microscopio electrónico

IPC TM-650 2.6.22-1995 Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico.
IPC J-STD-035-1999 Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados no herméticos
IPC/JEDEC J-STD-035-1999 Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados no herméticos [Reemplazado: IPC TM-650 2.6.22]

International Electrotechnical Commission (IEC), electrones en microscopio electrónico

IEC PAS 62191:2000 Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados no herméticos.
IEC TR 62240-2:2018 Gestión de procesos para aviónica – Capacidad de los componentes electrónicos en funcionamiento – Parte 2: Vida útil de los microcircuitos semiconductores

RU-GOST R, electrones en microscopio electrónico

GOST 21006-1975 Microscopios electrónicos. Términos, definiciones y símbolos de letras.
GOST R 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido
GOST R 8.636-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de calibración
GOST 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Método de verificación
GOST R 8.631-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de verificación
GOST R 8.697-2010 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Espaciamientos interpenares en cristales. Método de medición mediante microscopio electrónico de transmisión.
GOST ISO 16000-27-2017 Aire interior. Parte 27. Determinación de polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)
GOST R 8.593-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de verificación

German Institute for Standardization, electrones en microscopio electrónico

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