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La mayoría de los microscopios Microscopios electrónicos de barrido

La mayoría de los microscopios Microscopios electrónicos de barrido, Total: 240 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en La mayoría de los microscopios Microscopios electrónicos de barrido son: Metales no ferrosos, Equipo óptico, Óptica y medidas ópticas., Vocabularios, Química analítica, Educación, Medidas lineales y angulares., Calidad del aire, Protección contra el crimen, Termodinámica y mediciones de temperatura., Dispositivos de visualización electrónica., Tratamiento superficial y revestimiento., Materiales de construcción, Pruebas no destructivas, Pruebas mecánicas, Productos de hierro y acero., Cerámica, Fibras textiles, Pinturas y barnices, Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., Dispositivos semiconductores, Circuitos integrados. Microelectrónica, Ingredientes de pintura, Física. Química.


Korean Agency for Technology and Standards (KATS), La mayoría de los microscopios Microscopios electrónicos de barrido

  • KS D 2714-2016(2021) Microscopio de sonda de barrido-Método para microscopio de fuerza lateral
  • KS D 2714-2016 Microscopio de sonda de barrido-Método para microscopio de fuerza lateral
  • KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Vocabulario
  • KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
  • KS M 0044-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • KS I 0051-1999(2019) Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Vocabulario
  • KS I 0051-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • KS D ISO 16700-2013(2018) Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • KS D ISO 9220:2009 Recubrimientos metálicos-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopio electrónico de barrido
  • KS D ISO 9220-2009(2022) Recubrimientos metálicos-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopio electrónico de barrido
  • KS D ISO 9220-2009(2017) Recubrimientos metálicos-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopio electrónico de barrido
  • KS D 2714-2006 Microscopio de sonda de barrido-Método para microscopio de fuerza lateral
  • KS D 2713-2016 Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
  • KS D 2713-2016(2021) Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
  • KS K ISO 17751-2:2019 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), La mayoría de los microscopios Microscopios electrónicos de barrido

  • JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • JIS K 3850-1:2006 Determinación de partículas fibrosas en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
  • JIS K 3850-1:2000 Método de medición de partículas fibrosas en suspensión en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
  • JIS K 0149-1:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • JIS K 0147-2:2017 Análisis químico de superficies - Vocabulario - Parte 2: Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido
  • JIS R 1633:1998 Método de preparación de muestras de cerámicas finas y polvos cerámicos finos para observación con microscopio electrónico de barrido.

International Organization for Standardization (ISO), La mayoría de los microscopios Microscopios electrónicos de barrido

  • ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
  • ISO 22493:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
  • ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • ISO 9220:1988 Recubrimientos metálicos; medición del espesor del recubrimiento; método de microscopio electrónico de barrido
  • ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • ISO/WD TR 23683:2023 Análisis químico de superficies: microscopía con sonda de barrido. Directrices para la cuantificación experimental de la concentración de portadores en dispositivos semiconductores mediante microscopía con sonda de barrido eléctrica.
  • ISO 27911:2011 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano
  • ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
  • ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método para evaluar dimensiones críticas mediante CD-SEM.
  • ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
  • ISO 11039:2012 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Medición de la tasa de deriva
  • ISO 18115-2:2021 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 2: Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
  • ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles utilizando un microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
  • ISO 28600:2011 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos para microscopía de sonda de barrido
  • ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
  • ISO 11775:2015
  • ISO 14966:2002 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
  • ISO 14966:2002/cor 1:2007 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido; Corrigendum técnico 1
  • ISO 18115-2:2010 Analyse chimique des Surfaces — Vocabulaire — Partie 2: Termes utilisés en microscopie à sonde à balayage (Première édition)
  • ISO 11952:2019 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: calibración de sistemas de medición.
  • ISO 11952:2014 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: calibración de sistemas de medición
  • ISO 18115-2:2013 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 2: Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
  • ISO 16000-27:2014 Aire interior - Parte 27: Determinación del polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)
  • ISO 17751-2:2014 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido.
  • ISO 17751-2:2023 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido.
  • ISO 17751-2:2016 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido.

Professional Standard - Commodity Inspection, La mayoría de los microscopios Microscopios electrónicos de barrido

  • SN/T 4388-2015 Identificación del cuero. Microscopía electrónica de barrido y microscopía óptica.
  • SN/T 2649.1-2010 Determinación de amianto en cosméticos para importación y exportación. Parte 1: Método de difracción de rayos X y microscopía electrónica de barrido.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, La mayoría de los microscopios Microscopios electrónicos de barrido

  • JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)
  • JJF 1351-2012 Especificación de calibración para microscopios de sonda de barrido

Professional Standard - Machinery, La mayoría de los microscopios Microscopios electrónicos de barrido

  • JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
  • JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, La mayoría de los microscopios Microscopios electrónicos de barrido

  • JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
  • JJG 550-1988 Reglamento de verificación del microscopio electrónico de barrido.

KR-KS, La mayoría de los microscopios Microscopios electrónicos de barrido

  • KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
  • KS C ISO 19749-2023 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.
  • KS K ISO 17751-2-2019 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas. Parte 2: Método de microscopía electrónica de barrido.

British Standards Institution (BSI), La mayoría de los microscopios Microscopios electrónicos de barrido

  • 18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
  • BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • BS EN ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
  • BS ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas por CDSEM
  • BS ISO 27911:2011 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano.
  • BS ISO 18115-2:2013 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
  • 21/30394409 DC BS ENISO 9220. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • 18/30344520 DC BS ISO 21466. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas mediante CD-SEM
  • BS ISO 16700:2016 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen
  • BS ISO 28600:2011 Análisis químico de superficies. Formato de transferencia de datos para microscopía con sonda de barrido.
  • BS ISO 19749:2021 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
  • BS EN ISO 9220:2022 Cambios rastreados. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • BS ISO 18115-2:2021 Análisis químico de superficies. Vocabulario: términos utilizados en microscopía de sonda de barrido
  • BS EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
  • BS ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
  • BS ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
  • 18/30351679 DC BS ISO 19749. Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
  • BS ISO 18115-2:2010 Análisis químico de superficies - Vocabulario - Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido
  • BS ISO 11775:2015 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Determinación de las constantes elásticas normales en voladizo.
  • 19/30351707 DC BS ISO 21222. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
  • BS ISO 14966:2002 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
  • 18/30375050 DC BS ISO 14966. Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
  • BS CECC 00013:1985 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos: especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores
  • BS ISO 11952:2019 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: Calibración de sistemas de medida
  • BS EN ISO 17751-2:2023 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas: método de microscopía electrónica de barrido
  • DD ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.
  • 12/30265696 DC BS ISO 18115-2 AMD1. Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 2. Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
  • BS EN ISO 17751-2:2016 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana, otras fibras animales especiales y sus mezclas. Método de microscopía electrónica de barrido.
  • BS DD ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.
  • 12/30228339 DC BS ISO 16000-27. Aire interior. Parte 27. Determinación de polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, La mayoría de los microscopios Microscopios electrónicos de barrido

  • GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas
  • GB/T 36052-2018 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos para microscopía de sonda de barrido

Professional Standard - Education, La mayoría de los microscopios Microscopios electrónicos de barrido

  • JY/T 0584-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía electrónica de barrido.
  • JY/T 010-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de barrido analítica.
  • JY/T 0582-2020 Reglas generales para los métodos analíticos de microscopía de sonda de barrido
  • JY/T 0586-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía confocal de barrido láser.

American Society for Testing and Materials (ASTM), La mayoría de los microscopios Microscopios electrónicos de barrido

  • ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E766-98 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E2382-04(2020) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
  • ASTM E2382-04 Guía de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
  • ASTM E2382-04(2012) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
  • ASTM E986-97 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E986-04(2017) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E766-14 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E986-04 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E986-04(2010) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E766-98(2008)e1 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM C1723-16(2022) Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
  • ASTM C1723-10 Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
  • ASTM C1723-16
  • ASTM E766-14(2019) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E766-14e1
  • ASTM E1813-96e1 Práctica estándar para medir e informar la forma de la punta de la sonda en microscopía de sonda de barrido
  • ASTM E1813-96(2002) Práctica estándar para medir e informar la forma de la punta de la sonda en microscopía de sonda de barrido
  • ASTM E1813-96(2007) Práctica estándar para medir e informar la forma de la punta de la sonda en microscopía de sonda de barrido
  • ASTM B748-90(2006) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM B748-90(1997) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E2142-08(2015) Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E2142-08 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E2142-08(2023) Standard Test Methods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the Scanning Electron Microscope
  • ASTM E2090-00 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas por limpiadores de salas limpias mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
  • ASTM E2090-12 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
  • ASTM B748-90(2010) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E2809-13 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X en exámenes de pintura forense
  • ASTM B748-90(2021) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E1588-95(2001) Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía dispersiva
  • ASTM E1588-08 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
  • ASTM E1588-10 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
  • ASTM E2142-01 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E1588-95 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía dispersiva
  • ASTM B748-90(2016) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM B748-90(2001) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM F1372-93(1999) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
  • ASTM E1588-20 Práctica estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
  • ASTM F1372-93(2020) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
  • ASTM D605-82(1996)e1 Especificación estándar para pigmento de silicato de magnesio (talco)
  • ASTM D6059-96(2011) Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido
  • ASTM F1372-93(2005) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
  • ASTM E280-98(2004)e1 Radiografías de referencia estándar para piezas fundidas de acero de paredes pesadas (de 4 &189; a 12 pulgadas [114 a 305 mm])
  • ASTM E1588-07e1 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
  • ASTM E1588-07 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
  • ASTM E280-21 Radiografías de referencia estándar para piezas fundidas de acero de paredes pesadas (de 412 a 12 pulg. (114 a 305 mm))
  • ASTM E2809-22 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X de dispersión de energía (SEM/EDS) en exámenes forenses de polímeros
  • ASTM F1372-93(2012)
  • ASTM F1438-93(1999) Método de prueba estándar para la determinación de la rugosidad de la superficie mediante microscopía de túnel de barrido para componentes del sistema de distribución de gas
  • ASTM F1438-93(2020) Método de prueba estándar para la determinación de la rugosidad de la superficie mediante microscopía de túnel de barrido para componentes del sistema de distribución de gas
  • ASTM F1438-93(2012)

Professional Standard - Petroleum, La mayoría de los microscopios Microscopios electrónicos de barrido

  • SY/T 5162-2014 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
  • SY/T 5162-1997 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
  • SY 5162-2014 Método de análisis de microscopía electrónica de barrido para muestras de rocas

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, La mayoría de los microscopios Microscopios electrónicos de barrido

  • DB31/T 297-2003 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de barrido.

国家能源局, La mayoría de los microscopios Microscopios electrónicos de barrido

  • SY/T 5162-2021 Método de análisis por microscopía electrónica de barrido de muestras de rocas.

Professional Standard - Judicatory, La mayoría de los microscopios Microscopios electrónicos de barrido

Group Standards of the People's Republic of China, La mayoría de los microscopios Microscopios electrónicos de barrido

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, La mayoría de los microscopios Microscopios electrónicos de barrido

  • GB/T 29190-2012 Métodos de medición de la tasa de deriva del microscopio de sonda de barrido.
  • GB/T 18295-2001 Método de análisis de muestras de arenisca de yacimientos de petróleo y gas mediante microscopio electrónico de barrido.
  • GB/T 42659-2023 Análisis químico de superficies Microscopía de sonda de barrido Determinación de cantidades geométricas mediante microscopía de sonda de barrido: calibración del sistema de medición
  • GB/T 16594-1996 Medición de longitud de grado en micras por SEM
  • GB/T 19267.6-2003 Examen físico y químico de rastros de evidencia en ciencias forenses. Parte 6: Microscopía electrónica de barrido.
  • GB/T 16594-2008 Reglas generales para la medición de longitud en escala de micras mediante SEM
  • GB/T 17361-2013 Análisis de microhaces. Identificación de minerales arcillosos autigénicos en rocas sedimentarias mediante microscopio electrónico de barrido y espectrómetro de energía dispersiva.
  • GB/T 28873-2012 Guía general de microscopía electrónica de barrido ambiental para efectos biológicos sobre topografía inducidos por nanopartículas.
  • GB/T 27788-2011 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
  • GB/T 19267.6-2008 Examen físico y químico de rastros de evidencia en ciencias forenses. Parte 6: Microscopio electrónico de barrido/espectrometría de dispersión de energía de rayos X
  • GB/T 17361-1998
  • GB/T 36422-2018 Fibra sintética. Método de prueba para micromorfología y diámetro. Método de microscopio electrónico de barrido.
  • GB/T 25189-2010 Análisis de microhaz. Método de determinación de parámetros de análisis cuantitativo de SEM-EDS.
  • GB/Z 26083-2010 Determinación de ftalocianina sustituida con octaacoxilo de cobre (Ⅱ) en una superficie de grafito (microscopio de efecto túnel)

Association Francaise de Normalisation, La mayoría de los microscopios Microscopios electrónicos de barrido

  • NF X21-005:2006 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
  • XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
  • XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido: métodos para evaluar la nitidez de la imagen
  • NF A91-108:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
  • NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
  • NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
  • NF T25-111-4:1991 Fibras de carbono- Textura y estructura- Parte 4: Fractografía mediante microscopio electrónico de barrido
  • NF EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías: determinación del tamaño de partículas y distribución de formas mediante microscopía electrónica de barrido.
  • NF X21-069-2:2010 Análisis químico de superficies - Vocabulario - Parte 2: términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
  • NF ISO 16000-27:2014 Aire interior - Parte 27: determinación del polvo fibroso depositado en las superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)
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