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xps y
xps y, Total: 10 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en xps y son: Química analítica.
British Standards Institution (BSI), xps y
- BS ISO 16531:2013 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Métodos para la alineación del haz de iones y la medición asociada de la corriente o la densidad de corriente para perfiles de profundidad en AES y XPS
- BS ISO 16243:2011 Análisis químico de superficies. Registro y presentación de informes de datos en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
- BS ISO 16531:2020 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Métodos para la alineación del haz de iones y la medición asociada de la corriente o la densidad de corriente para perfiles de profundidad en AES y XPS
- 19/30399949 DC BS ISO 16531. Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Métodos para la alineación del haz de iones y la medición asociada de la corriente o la densidad de corriente para perfiles de profundidad en AES y XPS
Association Francaise de Normalisation, xps y
- NF X21-073*NF ISO 16243:2012 Análisis químico de superficies: registro y generación de informes de datos en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS).
- NF ISO 16243:2012 Análisis químico de superficies: registro e informes de datos de espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
International Organization for Standardization (ISO), xps y
- ISO 16243:2011 Análisis químico de superficies: registro y generación de informes de datos en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
- ISO 16531:2020 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Métodos para la alineación del haz de iones y la medición asociada de la corriente o la densidad de corriente para el perfilado de profundidad en AES y XPS.
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, xps y
- GB/T 34326-2017 Análisis químico de superficie—Perfiles de profundidad—Métodos para la alineación del haz de iones y la medición asociada de corriente o densidad de corriente para perfiles de profundidad en AES y XPS
RU-GOST R, xps y
- GOST R ISO 16243-2016 Sistema estatal para asegurar la uniformidad de las mediciones. Análisis químico de superficies. Registro y presentación de informes de datos en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)