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Espectroscopía electrónica Auger Análisis de superficie Auger

Espectroscopía electrónica Auger Análisis de superficie Auger, Total: 88 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Espectroscopía electrónica Auger Análisis de superficie Auger son: Equipo óptico, Óptica y medidas ópticas., Química analítica, Componentes electrónicos en general., Medidas lineales y angulares., Pruebas no destructivas.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Espectroscopía electrónica Auger Análisis de superficie Auger

GB/T 26533-2011 Reglas generales para el análisis espectroscópico de electrones Auger.
GB/Z 32494-2016 Análisis de superficie Análisis químico Espectroscopía electrónica de Auger Interpretación de información química
GB/T 25187-2010 Análisis químico de superficies. Espectroscopia electrónica de Auger. Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados.
GB/T 28632-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral.
GB/T 29558-2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopia electrónica Auger. Escala de repetibilidad y constancia de intensidad.
GB/T 21006-2007 Análisis químico de superficies. Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
GB/T 29732-2013 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
GB/T 29731-2013 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución. Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos.
GB/T 29556-2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones de barrena y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral, el área de análisis y el área de muestra vistas por el analizador.
GB/T 28893-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
GB/T 30702-2014 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Espectroscopía electrónica Auger Análisis de superficie Auger

GB/T 36504-2018 Guía para el análisis de la contaminación de la superficie de la placa de circuito impreso: espectroscopia electrónica Auger
GB/T 29732-2021 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones de tornillo sin fin de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
GB/T 41064-2021 Análisis químico de superficies—Perfiles de profundidad—Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas

International Organization for Standardization (ISO), Espectroscopía electrónica Auger Análisis de superficie Auger

ISO/TR 18394:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Derivación de información química
ISO 16242:2011 Análisis químico de superficies: registro y presentación de datos en espectroscopia electrónica Auger (AES)
ISO/DIS 17973:2023 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
ISO/TR 18394:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Derivación de información química
ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
ISO/CD 17973 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
ISO 29081:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Informes de métodos utilizados para el control y corrección de carga
ISO 15471:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 15471:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 18516:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral
ISO/TR 19319:2003
ISO/DIS 18118:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
ISO/FDIS 18118:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
ISO 20903:2011 Análisis químico de superficies: espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X: métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
ISO 20903:2019 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
ISO 17109:2022 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para determinar la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Profundidad de pulverización p.
ISO 17109:2015 Análisis químico de superficies - Perfilado de profundidad - Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X, espectroscopía de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas
ISO 18118:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
ISO 18118:2015

British Standards Institution (BSI), Espectroscopía electrónica Auger Análisis de superficie Auger

PD ISO/TR 18394:2016 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de electrones Auger. Derivación de información química.
BS ISO 16242:2011 Análisis químico de superficies. Registro y presentación de datos en espectroscopia electrónica Auger (AES)
BS PD ISO/TR 18394:2016 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de electrones Auger. Derivación de información química.
BS ISO 29081:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Informes de métodos utilizados para el control y corrección de carga
BS ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
BS ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
BS ISO 15471:2016 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de electrones Auger. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
BS ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
BS ISO 17973:2016 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
BS ISO 24236:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Escala de repetibilidad y constancia de intensidad
BS ISO 18516:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral
BS ISO 20903:2011 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
23/30461294 DC BS ISO 18118. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
BS ISO 20903:2019 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
BS ISO 17109:2022 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, espectroscopía electrónica Auger y perfilado del departamento de pulverización catódica por espectrometría de masas de iones secundarios utilizando una o varias capas delgadas...
21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1. Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando sistemas simples y...
BS ISO 18118:2015 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
BS ISO 17109:2015 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X, espectroscopia electrónica Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas.
BS ISO 18118:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos

Association Francaise de Normalisation, Espectroscopía electrónica Auger Análisis de superficie Auger

NF ISO 16242:2012 Análisis químico de superficies: registro e informes de datos de espectroscopia electrónica de barrena (AES)
NF ISO 24236:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Repetibilidad y constancia de la escala de energía
NF X21-072*NF ISO 16242:2012 Análisis químico de superficies: registro y presentación de datos en espectroscopia electrónica Auger (AES).
NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros electrónicos de barrena de resolución media - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
NF ISO 29081:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Indicación de los métodos utilizados para el control y corrección de la carga
NF X21-059*NF ISO 24236:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Repetibilidad y constancia de escala de intensidad.
NF X21-068*NF ISO 29081:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Informes de métodos utilizados para el control y corrección de carga
NF ISO 17974:2009 Análisis químico de superficies - Espectrómetros electrónicos de barrena de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis de estados elementales y químicos
NF X21-067*NF ISO 17974:2009 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos.
NF X21-058:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.

German Institute for Standardization, Espectroscopía electrónica Auger Análisis de superficie Auger

DIN ISO 16242:2020-05 Análisis químico de superficies: registro y presentación de datos en espectroscopia electrónica Auger (AES) (ISO 16242:2011); Texto en ingles
DIN ISO 16242:2020 Análisis químico de superficies: registro y presentación de datos en espectroscopia electrónica Auger (AES) (ISO 16242:2011); Texto en ingles

Professional Standard - Electron, Espectroscopía electrónica Auger Análisis de superficie Auger

SJ/T 10457-1993 Guía estándar para espectroscopia electrónica de barrena de perfilado de profundidad

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Espectroscopía electrónica Auger Análisis de superficie Auger

KS D ISO 15471-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS D ISO 17973-2011(2016) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 17973-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS D ISO 21270-2005(2020) Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS D ISO 19319-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
KS D ISO 17974-2011(2016) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS D ISO 17974-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS D ISO 19319:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
KS D ISO 18118-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de h
KS D ISO 18118:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos

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BS ISO 18516:2006(2010) Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral.
BS ISO 21270:2004(2010) Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
BS ISO 17974:2002(2010) Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución. Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estado químico.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Espectroscopía electrónica Auger Análisis de superficie Auger

GB/T 32565-2016 Análisis químico de superficies: registro y generación de informes de datos en espectroscopía electrónica Auger (AES)
GB/T 32998-2016 Análisis químico de superficies: espectroscopia de electrones Auger: informes de los métodos utilizados para el control y la corrección de la carga.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Espectroscopía electrónica Auger Análisis de superficie Auger

JIS K 0161:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
JIS K 0167:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos

American Society for Testing and Materials (ASTM), Espectroscopía electrónica Auger Análisis de superficie Auger

ASTM E996-94(1999) Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X

RU-GOST R, Espectroscopía electrónica Auger Análisis de superficie Auger

GOST R ISO 16242-2016 Sistema estatal para asegurar la uniformidad de las mediciones. Análisis químico de superficies. Registro y presentación de datos en espectroscopia electrónica Auger (AES)

Standard Association of Australia （SAA）, Espectroscopía electrónica Auger Análisis de superficie Auger

AS ISO 17974:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
AS ISO 18118:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos