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Cómo determinar el pico de electrones Auger en pruebas de espectroscopía de fotoelectrones de rayos X

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General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Cómo determinar el pico de electrones Auger en pruebas de espectroscopía de fotoelectrones de rayos X

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American Society for Testing and Materials (ASTM), Cómo determinar el pico de electrones Auger en pruebas de espectroscopía de fotoelectrones de rayos X

ASTM E1217-11(2019) Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X

International Organization for Standardization (ISO), Cómo determinar el pico de electrones Auger en pruebas de espectroscopía de fotoelectrones de rayos X

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British Standards Institution (BSI), Cómo determinar el pico de electrones Auger en pruebas de espectroscopía de fotoelectrones de rayos X

BS ISO 20903:2019 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
BS ISO 20903:2011 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
BS ISO 17109:2015 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X, espectroscopia electrónica Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas.
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21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1. Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando sistemas simples y...

Association Francaise de Normalisation, Cómo determinar el pico de electrones Auger en pruebas de espectroscopía de fotoelectrones de rayos X

NF X21-058:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.

Standard Association of Australia （SAA）, Cómo determinar el pico de electrones Auger en pruebas de espectroscopía de fotoelectrones de rayos X

AS ISO 18118:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Cómo determinar el pico de electrones Auger en pruebas de espectroscopía de fotoelectrones de rayos X

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