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Equipos microelectrónicos.
Equipos microelectrónicos., Total: 25 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Equipos microelectrónicos. son: Dispositivos semiconductores, Sistemas de vehículos de carretera, Condensadores, Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones..
European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Equipos microelectrónicos.
- EN 62047-20:2014 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 20: Giroscopios
- EN 62047-19:2013 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 19: Brújulas electrónicas.
- EN 62047-5:2012 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 5: Conmutadores MEMS de RF
- EN 62047-5:2011 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 5: Conmutadores MEMS de RF
- EN 62047-4:2010 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 4: Especificación genérica para MEMS
- EN 62047-7:2011 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 7: Filtro MEMS BAW y duplexor para control y selección de radiofrecuencia
Danish Standards Foundation, Equipos microelectrónicos.
Lithuanian Standards Office , Equipos microelectrónicos.
- LST EN 62047-5-2011 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 5: Conmutadores MEMS de RF (IEC 62047-5:2011).
- LST EN 62047-1-2006 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 1: Términos y definiciones (IEC 62047-1:2005)
British Standards Institution (BSI), Equipos microelectrónicos.
- BS ISO 7588-3:1999 Vehículos de carretera - Dispositivos de conmutación eléctricos/electrónicos - Microrelés
- BS IEC 62047-40:2021 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Métodos de prueba del umbral del interruptor de choque inercial microelectromecánico.
- BS IEC 62047-38:2021 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Método de prueba para la resistencia de adhesión de pasta de polvo metálico en interconexión MEMS
Association Francaise de Normalisation, Equipos microelectrónicos.
German Institute for Standardization, Equipos microelectrónicos.
- DIN EN 62047-20:2015 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 20: Giroscopios (IEC 62047-20:2014); Versión alemana EN 62047-20:2014
- DIN EN 62047-8:2011 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 8: Método de prueba de flexión de tiras para medir la propiedad de tracción de películas delgadas (IEC 62047-8:2011); Versión alemana EN 62047-8:2011
International Electrotechnical Commission (IEC), Equipos microelectrónicos.
- IEC 62047-16:2015 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 16: Métodos de prueba para determinar tensiones residuales de películas MEMS - Métodos de curvatura de oblea y deflexión del haz en voladizo
American Society for Testing and Materials (ASTM), Equipos microelectrónicos.
- ASTM F71-68(1999) Práctica estándar para el uso de la clave morfológica para la identificación rápida de fibras para el control de la contaminación en dispositivos electrónicos y microelectrónica (retirada en 2005)
SAE - SAE International, Equipos microelectrónicos.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Equipos microelectrónicos.
- GB 6253-1986 Especificación para tipos de condensadores variables recortadores de clase B para equipos electrónicos
- GB/T 6253-1986 Especificación de tipo para condensadores de ajuste variable tipo B en equipos electrónicos