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microscopio electrónico de gran aumento

microscopio electrónico de gran aumento, Total: 40 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en microscopio electrónico de gran aumento son: Equipo óptico, Optoelectrónica. Equipo láser, Pilas y baterías galvánicas., Rectificadores. Convertidores. Fuente de alimentación estabilizada, Circuitos integrados. Microelectrónica, Protección contra el fuego, Resistencias, Termodinámica y mediciones de temperatura., Óptica y medidas ópticas., Dispositivos semiconductores, Sistemas de vehículos de carretera, Plástica.

American Society for Testing and Materials (ASTM), microscopio electrónico de gran aumento

• ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
• ASTM E766-98 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
• ASTM E766-14 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
• ASTM E766-14(2019) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
• ASTM E766-14e1

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, microscopio electrónico de gran aumento

• DB31/T 297-2003 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de barrido.
• DB31/T 315-2004 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de transmisión.

Professional Standard - Electron, microscopio electrónico de gran aumento

• SJ/T 10287-1991 Celdas individuales recargables prismáticas de níquel-cadmio con ventilación de alta velocidad

Professional Standard - Aerospace, microscopio electrónico de gran aumento

• QJ 819-1984 Serie de baterías de zinc y plata de alta velocidad

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, microscopio electrónico de gran aumento

• GB/T 27788-2020 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Pautas para calibrar la ampliación de imágenes

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, microscopio electrónico de gran aumento

• GB/T 27788-2011 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
• GB/Z 21738-2008 Estructuras fundamentales de nanomateriales unidimensionales. Caracterización por microscopía electrónica de transmisión de alta resolución.

Association Francaise de Normalisation, microscopio electrónico de gran aumento

• NF L58-342:1975 Relés tripolares sellados, 10 amperios, alta resistencia (10 veces la corriente nominal).

工业和信息化部, microscopio electrónico de gran aumento

• YD/T 3427-2018 Batería de plomo-ácido sellada y regulada por válvula de alta velocidad para comunicación
• YS/T 1491-2021 Método para determinar la esfericidad de una aleación en polvo de alta temperatura a base de níquel mediante microscopía electrónica de barrido.
• SJ/T 11759-2020 Medición de la relación de aspecto de la línea de rejilla del electrodo de células fotovoltaicas Microscopía confocal de barrido láser

Defense Logistics Agency, microscopio electrónico de gran aumento

• DLA SMD-5962-89438 REV A-2004
• DLA QPL-29-QPD-2011 Resistencias, fijas, multiplicador de medidor, externas (alto voltaje, tipo terminal de férula)
• DLA QPL-29-53-2006 RESISTENCIAS, FIJAS, MULTIPLICADOR DE MEDIDOR, EXTERNAS (ALTO VOLTAJE, TIPO TERMINAL DE VIROLA)
• DLA SMD-5962-87611 REV D-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS AVANZADO, TRIPLE DE TRES ENTRADAS Y PUERTA, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-87722 REV A-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS DE ALTA VELOCIDAD, TRIPLE 3 ENTRADAS O PUERTA, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-87610 REV C-2004 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS AVANZADO, TRIPLE PUERTA NAND DE 3 ENTRADAS, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-90772 REV C-2004 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS AVANZADO, TRIPLE DE TRES ENTRADAS POSITIVAS Y PUERTA, ENTRADAS COMPATIBLES TTL, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-96862 REV A-2008 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS AVANZADO DE ALTA VELOCIDAD, PUERTA DE BUFFER DE BUS CUÁDRUPLE CON SALIDAS DE TRES ESTADOS, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-96868 REV A-2008 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS AVANZADO DE ALTA VELOCIDAD, PUERTA DE BUFFER DE BUS CUÁDRUPLE CON SALIDAS DE TRES ESTADOS, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-91597-1993 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO, TRANSCEPTOR DE BUS CON BLOQUEO TRIPLE BIDIRECCIONAL, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-86871 REV D-2006 MICROCIRCUITOS, DIGITALES, BIPOLAR, TTL SCHOTTKY AVANZADO DE BAJA CONSUMO, BÚFERS NAND POSITIVOS CUÁDRUPLES DE 2 ENTRADAS, SILICIO MONOLÍTICO

United States Navy, microscopio electrónico de gran aumento

• NAVY MIL-E-22285 NOTICE 1-1997 SISTEMA DE EXTINCIÓN DE INCENDIOS, AERONAVES, TIPO DE DESCARGA ALTA, INSTALACIÓN Y PRUEBA DE
• NAVY MIL-E-22285 (3)-1996 SISTEMA DE EXTINCIÓN DE INCENDIOS, AERONAVES, TIPO DE DESCARGA ALTA, INSTALACIÓN Y PRUEBA DE
• NAVY MIL-E-22285-1959 SISTEMA DE EXTINCIÓN DE INCENDIOS, AERONAVES, TIPO DE DESCARGA ALTA, INSTALACIÓN Y PRUEBA DE
• NAVY MIL-PRF-81757/18-2009 BATERÍA, ALMACENAMIENTO, AVIÓN, NÍQUEL-CADMIO, ALTA TASA, 12 VOLTIOS, 55 AMPERIOS-HORA, BAJO MANTENIMIENTO, VENTILADA
• NAVY MIL-PRF-81757/15 B-2011 BATERÍA, ALMACENAMIENTO, AVIÓN, NÍQUEL-CADMIO, ALTA TASA, 24 VOLTIOS, 25 AMPERIOS-HORA, BAJO MANTENIMIENTO, VENTILADA
• NAVY MIL-PRF-81757/17-2009 BATERÍA, ALMACENAMIENTO, AERONAVE, NÍQUEL-CADMIO, ALTA VELOCIDAD, TIPO 2, 24 VOLTIOS, 35 AMPERIOS-HORA, CARGA CONTROLADA [Reemplazado: NAVY MIL-B-8565/10 CANC AVISO 2, NAVY MIL-B-8565 /10 AVISO 1, MARINA MIL-B-8565/10]

US-FCR, microscopio electrónico de gran aumento

• FCR FED HANDBOOK 55-1957 PROTECCIÓN CONTRA RADIACIONES BETATRÓN-SINCROTRON HASTA 100 MILLONES DE ELECTRONES VOLTIOS

Group Standards of the People's Republic of China, microscopio electrónico de gran aumento

• T/QGCML 1940-2023

International Organization for Standardization (ISO), microscopio electrónico de gran aumento

• ISO/FDIS 29301:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes utilizando materiales de referencia con estructuras periódicas.
• ISO 29301:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes utilizando materiales de referencia con estructuras periódicas.

British Standards Institution (BSI), microscopio electrónico de gran aumento

• BS ISO 29301:2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia con estructuras periódicas.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, microscopio electrónico de gran aumento

• GB/T 34831-2017 Nanotecnologías: obtención de imágenes por microscopía electrónica de nanopartículas de metales nobles: método de obtención de imágenes de campo oscuro anular de alto ángulo

Society of Automotive Engineers (SAE), microscopio electrónico de gran aumento

• SAE J1647-1995 Materiales plásticos y revestimientos para uso en o sobre piezas ópticas como lentes y reflectores de dispositivos de iluminación frontal de descarga de alta intensidad utilizados en vehículos de motor, práctica recomendada de marzo de 1995

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