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Abundancia relativa en el espectro de masas.

Abundancia relativa en el espectro de masas., Total: 23 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Abundancia relativa en el espectro de masas. son: Química analítica, Químicos orgánicos, ingeniería de energía nuclear.

工业和信息化部, Abundancia relativa en el espectro de masas.

HG/T 5170-2017 Determinación de la abundancia de isótopos de isótopos estables, reactivo de etiquetado de deuterio, benceno halogenado mediante cromatografía de gases-espectrometría de masas

Professional Standard - Petrochemical Industry, Abundancia relativa en el espectro de masas.

SH/T 1489-1998 P-xileno de petróleo. Determinación de pureza e impurezas de hidrocarburos. Método cromatográfico de gases.
SH/T 1489-2018 P-xileno de petróleo. Determinación de pureza e impurezas de hidrocarburos. Método cromatográfico de gases.
SH/T 1486.2-2008 P-xileno de petróleo. Determinación de pureza e impurezas de hidrocarburos. Cromatografía de gases y calibración externa.

Association Francaise de Normalisation, Abundancia relativa en el espectro de masas.

NF ISO 23830:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidades relativas en espectrometría de masas estática de iones secundarios
NF X21-064*NF ISO 23830:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidad relativa en espectrometría de masas estática de iones secundarios.

RU-GOST R, Abundancia relativa en el espectro de masas.

GOST R 56344-2015 Butadieno. Determinación de la pureza y el contenido de impurezas de hidrocarburos mediante el método de cromatografía de gases.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Abundancia relativa en el espectro de masas.

JIS K 0153:2015 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidad relativa en espectrometría de masas de iones secundarios estática
JIS K 0163:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Abundancia relativa en el espectro de masas.

KS D ISO 18114-2005(2020) Análisis químico de superficie－Espectrometría de masas de iones secundarios－Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones
KS D ISO 18114:2005 Análisis químico de superficie－Espectrometría de masas de iones secundarios－Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones

British Standards Institution (BSI), Abundancia relativa en el espectro de masas.

BS ISO 23830:2008 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidad relativa en espectrometría de masas de iones secundarios estática
20/30409889 DC BS ISO 18114. Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones.
BS ISO 18114:2021 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones.
23/30461294 DC BS ISO 18118. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
BS ISO 18118:2015 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.

International Organization for Standardization (ISO), Abundancia relativa en el espectro de masas.

ISO 18114:2003 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones
ISO 18114:2021 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones
ISO 23830:2008 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidad relativa en espectrometría de masas de iones secundarios estática
ISO/DIS 18118:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
ISO/FDIS 18118:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Abundancia relativa en el espectro de masas.

ASTM C1477-08 Método de prueba estándar para el análisis de abundancia isotópica de soluciones de hexafluoruro de uranio y nitrato de uranilo mediante espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente con colectores múltiples
ASTM C1477-19 Método de prueba estándar para el análisis de abundancia isotópica de soluciones de hexafluoruro de uranio y nitrato de uranilo mediante espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente con colectores múltiples