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Conceptos básicos de la rejilla

Conceptos básicos de la rejilla, Total: 88 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Conceptos básicos de la rejilla son: Óptica y medidas ópticas., Comunicaciones de fibra óptica., Equipo de trabajo sin chip, Fotografía, Optoelectrónica. Equipo láser, tubos electronicos, Vocabularios, Encendiendo, Equipo óptico, Telecomunicaciones en general, Física. Química, Componentes electrónicos en general., Herramientas de corte, Radiocomunicaciones, Estructuras mecánicas para equipos electrónicos., Juegos de caracteres y codificación de información..

Professional Standard - Machinery, Conceptos básicos de la rejilla

JB/T 8239.1-1999 Parámetros básicos para la red de difracción.
JB/T 8231-1999 Los parámetros básicos de los espectrógrafos de rejillas planas.
JB/T 11253-2011 Lente de rejilla (lenticular) en pantalla de proyección
JB/T 9334-1999 Microscopios. La especificación fundamental para los filtros espectrales.
JB/T 6859-1993 Parámetros básicos de los láseres de gas.
JB/T 9325-1999 Serie de espectrofotómetros y su parámetro básico.

Professional Standard - Electricity, Conceptos básicos de la rejilla

DL/T 1736-2017 Condiciones técnicas básicas de los instrumentos de rejilla de fibra de Bragg

CZ-CSN, Conceptos básicos de la rejilla

CSN 74 6610-1970 Puertas de acero. Regulaciones básicas
CSN 66 6630-1978 Papeles fotográficos en blanco y negro. Valores de los parámetros del sensitometrio bájico.
CSN 22 4552-1978 Muelas abrasivas de copa abocardada. Dimensiones básicas

工业和信息化部, Conceptos básicos de la rejilla

YD/T 3128-2016 Rejilla de fibra de Bragg basada en detección de longitud de onda para comunicación
YD/T 2000.2-2018 Dispositivo de circuito óptico integrado de guía de ondas ópticas planas Parte 2: Filtro de multiplexación por división de longitud de onda densa (DWDM) basado en tecnología de rejilla de guía de ondas (AWG)

International Telecommunication Union (ITU), Conceptos básicos de la rejilla

ITU-T T.44 NOTE-2005 Contenido ráster mixto (MRC) (Comisión de Estudio 16)
ITU-T G.694.1-2002 Rejillas espectrales para aplicaciones WDM: Rejilla de frecuencias DWDM Serie G: Sistemas y Medios de Transmisión, Sistemas y Redes Digitales Características de los medios de transmisión - Características de los componentes y subsistemas ópticos Comisión de Estudio 15
ITU-T G.694.2-2003 Rejillas espectrales para aplicaciones WDM: Rejilla de longitud de onda CWDM Serie G: Sistemas y medios de transmisión Sistemas y redes digitales Características de los medios de transmisión - Características de los componentes y subsistemas ópticos Grupo de Estudio 15

British Standards Institution (BSI), Conceptos básicos de la rejilla

BS EN 61757-1-1:2017 Sensores de fibra óptica. Medición de deformaciones. Sensores de deformación basados en rejillas de Bragg de fibra
BS EN IEC 61757-2-1:2021 Sensores de fibra óptica. Medición de temperatura. Sensores de temperatura basados en rejillas de fibra de Bragg
BS EN IEC 61757-5-1:2021 Sensores de fibra óptica. Medición de inclinación. Sensores de inclinación basados en rejillas de fibra de Bragg
BS EN IEC 61757-1-1:2020 Sensores de fibra óptica - Medición de deformaciones. Sensores de deformación basados en rejillas de Bragg de fibra
20/30352705 DC BS IEC 61757-2-1. Sensores de Fibra Óptica. Parte 2-1. Medición de temperatura. Sensores de temperatura basados en rejillas de fibra de Bragg
23/30474295 DC BS EN IEC 61757-6-1. Sensores de fibra óptica - Parte 6-1. Medición de desplazamiento. Sensores de desplazamiento basados en rejillas de fibra de Bragg
20/30423046 DC BS EN IEC 61757-5-1. Sensores de fibra óptica. Parte 5-1. Medición de inclinación. Sensores de inclinación basados en rejillas de fibra de Bragg
18/30387389 DC BS EN IEC 61757-1-1. Sensores de fibra óptica. Parte 1-1. Medición de deformaciones. Sensores de deformación basados en rejillas de Bragg de fibra
20/30405006 DC BS EN IEC 61757-5-1. Sensores de fibra óptica. Parte 5-1. Medición de inclinación. Sensores de inclinación basados en rejillas de fibra de Bragg
BS EN 60191-6-16:2007 Estandarización mecánica de dispositivos semiconductores - Glosario de pruebas de semiconductores y casquillos precintados para BGA, LGA, FBGA y FLGA

German Institute for Standardization, Conceptos básicos de la rejilla

DIN 43870-1:1991 Tableros de montaje de medidores; dimensiones basadas en un sistema de cuadrícula
DIN EN IEC 61757-1-1:2022-07 Sensores de fibra óptica - Parte 1-1: Medición de deformación - Sensores de deformación basados en rejillas de Bragg de fibra (IEC 61757-1-1:2020); Versión alemana EN IEC 61757-1-1:2020 / Nota: DIN EN 61757-1-1 (2017-11) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 2023-05-01.
DIN EN IEC 61757-5-1:2022-12 Sensores de fibra óptica - Parte 5-1: Medición de inclinación - Sensores de inclinación basados en rejillas de fibra de Bragg (IEC 61757-5-1:2021); Versión alemana EN IEC 61757-5-1:2021
DIN EN IEC 61757-2-1:2021-07 Sensores de fibra óptica - Parte 2-1: Medición de temperatura - Sensores de temperatura basados en rejillas de fibra de Bragg (IEC 86C/1702/CDV:2021); Versión en inglés prEN IEC 61757-2-1:2021 / Nota: Fecha de emisión 2021-06-04
DIN EN IEC 61757-2-1:2023-11 Fibre optic sensors - Part 2-1: Temperature measurement - Temperature sensors based on fibre Bragg gratings (IEC 61757-2-1:2021); German version EN IEC 61757-2-1:2021
DIN 58189:2008 Normas fundamentales para la óptica - Determinación de la distancia focal
DIN 58189:2020-04 Normas fundamentales para la óptica - Determinación de la distancia focal

RU-GOST R, Conceptos básicos de la rejilla

GOST 8262-1990 Rejillas de fundición sacudibles. Parámetros y dimensiones básicos.
GOST 25369-1982 Fotocélulas de medición. Parámetros básicos, métodos de medición de parámetros básicos.
GOST 17485-1977 Fotocélulas. Parametros basicos
GOST 17470-1977 Fototubos multiplicadores. Parametros basicos
GOST 19319-1982 Láseres de estado sólido. Parametros basicos
GOST 22511-1988 Fotomultiplicadores. Dimensiones básicas
GOST 23547-1979 Conmutadores optoelectrónicos. Parametros basicos
GOST 24458-1980 Acopladores optoelectrónicos de semiconductores. Parámetros esenciales
GOST 25370-1982 Medición de fotomultiplicadores. Parámetros básicos, métodos de medición de parámetros básicos.

Association of German Mechanical Engineers, Conceptos básicos de la rejilla

VDI/VDE 2660 Blatt 1-2010 Análisis de tensiones experimentales - Sensor de deformación óptico basado en rejilla de Bragg de fibra - Fundamentos, características y pruebas del sensor

International Electrotechnical Commission (IEC), Conceptos básicos de la rejilla

IEC 61757-5-1:2021 Sensores de fibra óptica - Parte 5-1: Medición de inclinación - Sensores de inclinación basados en rejillas de Bragg de fibra
IEC 61757-2-1:2021 Sensores de fibra óptica - Parte 2-1: Medición de temperatura - Sensores de temperatura basados en rejillas de Bragg de fibra
IEC 61757-1-1:2020 Sensores de fibra óptica - Parte 1-1: Medición de deformación - Sensores de deformación basados en rejillas de Bragg de fibra
IEC 61757-1-1:2020 RLV Sensores de fibra óptica - Parte 1-1: Medición de deformación - Sensores de deformación basados en rejillas de Bragg de fibra
IEC 113/133/DTS:2012 CEI 62622, ed. 1: Nanotecnologías - Descripción, medición y parámetros de calidad dimensional de rejillas artificiales

Danish Standards Foundation, Conceptos básicos de la rejilla

DS/EN IEC 61757-5-1:2021 Sensores de fibra óptica – Parte 5-1: Medición de inclinación – Sensores de inclinación basados en rejillas de Bragg de fibra
DS/EN IEC 61757-2-1:2021 Sensores de fibra óptica – Parte 2-1: Medición de temperatura – Sensores de temperatura basados en rejillas de Bragg de fibra

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Conceptos básicos de la rejilla

EN IEC 61757-1-1:2020 Sensores de fibra óptica - Parte 1-1: Medición de deformación - Sensores de deformación basados en rejillas de Bragg de fibra
EN 61757-1-1:2017 Sensores de fibra óptica – Parte 1-1: Medición de deformación – Sensores de deformación basados en rejillas de Bragg de fibra

Association Francaise de Normalisation, Conceptos básicos de la rejilla

NF C93-800-1-1*NF EN 61757-1-1:2018 Sensores de fibra óptica - Parte 1-1: medición de deformación - Sensores de deformación basados en rejillas de Bragg de fibra
NF C93-800-1-1*NF EN IEC 61757-1-1:2020 Sensores de fibra óptica - Parte 1-1: medición de deformación - Sensores de deformación basados en rejillas de Bragg de fibra
NF C93-800-5-1*NF EN IEC 61757-5-1:2021 Sensores de fibra óptica - Parte 5-1: medición de inclinación - Sensores de inclinación basados en rejillas de fibra de Bragg
NF C93-800-2-1*NF EN IEC 61757-2-1:2021 Sensores de fibra óptica - Parte 2-1: medición de temperatura - Sensores de temperatura basados en rejillas de Bragg de fibra
NF EN IEC 61757-1-1:2020 Sensores fibrónicos - Parte 1-1: medición de deformación - Sensores de deformación basados en rejillas de Bragg de fibra
NF EN IEC 61757-5-1:2021 Sensores fibrónicos - Parte 5-1: medición de inclinación - Sensores de inclinación basados en rejillas de fibra de Bragg
NF EN IEC 61757-2-1:2021 Sensores fibrónicos - Parte 2-1: medición de temperatura - Sensores de temperatura basados en rejillas de Bragg de fibra
NF C93-805-2-3*NF EN 61290-2-3:1998 Amplificadores de fibra óptica. Especificación básica. Parte 2-3: métodos de prueba para parámetros de potencia óptica. Medidor de potencia óptica.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Conceptos básicos de la rejilla

KS C IEC 61757-1-1:2019 Sensores de fibra óptica. Parte 1-1: Medición de deformación. Sensores de deformación basados en rejillas de Bragg de fibra.

KR-KS, Conceptos básicos de la rejilla

KS C IEC 61757-1-1-2019 Sensores de fibra óptica. Parte 1-1: Medición de deformación. Sensores de deformación basados en rejillas de Bragg de fibra.

ES-UNE, Conceptos básicos de la rejilla

UNE-EN IEC 61757-5-1:2021 Sensores de fibra óptica - Parte 5-1: Medición de inclinación - Sensores de inclinación basados en rejillas de Bragg de fibra (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2021.)
UNE-EN IEC 61757-2-1:2021 Sensores de Fibra Óptica - Parte 2-1: Medición de temperatura - Sensores de temperatura basados en rejillas de Bragg de fibra (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en noviembre de 2021.)
UNE-EN IEC 61757-1-1:2020 Sensores de fibra óptica - Parte 1-1: Medición de deformación - Sensores de deformación basados en rejillas de Bragg de fibra (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2020.)

American National Standards Institute （ANSI), Conceptos básicos de la rejilla

ANSI PH3.412-1983 Fotografía (Equipo Flash) - Flashbar Fotográfico - Especificaciones

IEC - International Electrotechnical Commission, Conceptos básicos de la rejilla

IEC 61757-1-1:2016 Sensores de fibra óptica - Parte 1-1: Medición de deformación - Sensores de deformación basados en rejillas de Bragg de fibra (Edición 1.0)

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Conceptos básicos de la rejilla

GB/T 23175-2008 Pulpa. Determinación de la longitud de la fibra (método rasterizado)
GB/T 28511.2-2012 Dispositivos de ruta óptica integrados basados en circuitos de ondas de luz planas. Parte 2: Filtro DWDM basado en tecnología AWG

Professional Standard - Light Industry, Conceptos básicos de la rejilla

QB/T 2597-2003 Determinación de la longitud de la fibra de fabricación de papel (método de rallado)

GOSTR, Conceptos básicos de la rejilla

GOST R 59165-2020 Óptica y Fotónica. Sensores de fibra óptica. Sensores de temperatura basados en rejilla de fibra de Bragg. Requisitos técnicos generales y métodos de prueba.

AT-OVE/ON, Conceptos básicos de la rejilla

OVE EN IEC 61757-2-1:2021 Sensores de fibra óptica - Parte 2-1: Medición de temperatura - Sensores de temperatura basados en rejillas de fibra de Bragg (IEC 86C/1702/CDV)
OVE EN IEC 61757-5-1:2021 Sensores de fibra óptica - Parte 5-1: Medición de inclinación - Sensores de inclinación basados en rejillas de fibra de Bragg (IEC 86C/1699/CDV) (versión en inglés)

PL-PKN, Conceptos básicos de la rejilla

PN-EN IEC 61757-1-1-2020-12 E Sensores de fibra óptica - Parte 1-1: Medición de deformación - Sensores de deformación basados en rejillas de Bragg de fibra (IEC 61757-1-1:2020)
PN C99465-09-1993 Fotografía. Determinación de valores sensitométricos básicos a luz reflejada para materiales coloreados sobre base opaca.

European Committee for Standardization (CEN), Conceptos básicos de la rejilla

EN 12665:2011 Luz e iluminación: términos y criterios básicos para especificar los requisitos de iluminación.

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Conceptos básicos de la rejilla

ECA TEP105-8-1987 Medición de respuesta ráster para tubos de rayos catódicos monocromáticos
ECA TEB 21-1979 Consideraciones CRT para presentaciones alfanuméricas de puntos rasterizados

ECIA - Electronic Components Industry Association, Conceptos básicos de la rejilla

TEP105-8-1987 Medición de respuesta ráster para tubos de rayos catódicos monocromáticos
TEB 21-1979 Consideraciones CRT para presentaciones alfanuméricas de puntos rasterizados

Professional Standard - Post and Telecommunication, Conceptos básicos de la rejilla

YD/T 2000.2-2009 Dispositivos de ruta óptica integrados basados en circuitos de ondas de luz planas. Parte 2: Filtro DWDM basado en tecnología AWG

Military Standards (MIL-STD), Conceptos básicos de la rejilla

DOD MIL-PRF-28002C-1997 REPRESENTACIÓN DE GRÁFICOS RASTER EN FORMATO BINARIO, REQUISITOS PARA
DOD MIL-PRF-28002 C NOTICE 1-2010 REQUISITOS PARA LA REPRESENTACIÓN DE GRÁFICOS RASTER EN FORMATO BINARIO

JP-JEITA, Conceptos básicos de la rejilla

JEITA EDR-7316C-2007 Guía de diseño de circuitos integrados para Ball Grid Array de paso fino y Land Grid Array de paso fino

RO-ASRO, Conceptos básicos de la rejilla

STAS 6851/2-1975 MICROSCOPIOS Dimensiones ópticas básicas
STAS 7353/4-1982 MICROSCOPIOS Dimensiones ópticas básicas
STAS 7353/5-1982 MICROSCOPIOS Parámetros ópticos básicos

CH-SNV, Conceptos básicos de la rejilla

VSM 13190.8-1969 Schrauben, Muttern und ?hnliche TeileTechnische LieferbedingungenKennzeichnung und Lieferartfür Muttern

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Conceptos básicos de la rejilla

JIS X 4004:1989 Especificación de archivos para intercambio de documentos japoneses (tipo gráficos rasterizados)