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Microarray50

Microarray50, Total: 208 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Microarray50 son: Medicina de laboratorio, Vocabularios, Optoelectrónica. Equipo láser, Equipo medico, Biología. Botánica. Zoología, Química analítica, Dispositivos semiconductores, Circuitos integrados. Microelectrónica, Métodos generales de pruebas y análisis para productos alimenticios., Movimientos de tierras. Excavaciones. Construcción de cimientos. Obras subterráneas, Agricultura y silvicultura, Comunicaciones de fibra óptica., Equipos y sistemas eléctricos aeroespaciales., Equipos e instrumentos a bordo., Productos alimenticios en general..

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Microarray50

GB/T 33752-2017 Portaobjetos de aldehído para microarrays
GB/T 33806-2017 Requisito técnico del escáner de microarrays de imágenes fluorescentes de área
GB/T 34324-2017 Requisito técnico del observador de biochips de microarrays.
GB/T 35891-2018 Requisito técnico de la lavadora de microarrays.
GB/T 35895-2018 Requisito técnico del hibridador de microarrays.

Danish Standards Foundation, Microarray50

DS/EN ISO 14880-1/AC:2009 Conjunto de microlentes - Parte 1: Vocabulario
DS/EN ISO 14880-1:2005 Conjunto de microlentes - Parte 1: Vocabulario
DS/EN ISO 14880-2:2007 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 2: Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda
DS/EN ISO 14880-4:2006 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 4: Métodos de prueba para propiedades geométricas
DS/EN ISO 14880-3:2006 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 3: Métodos de prueba para propiedades ópticas distintas de las aberraciones del frente de onda.

Professional Standard - Medicine, Microarray50

YY/T 1153-2009 Microarrays de ADN para diagnóstico in vitro
YY/T 1151-2009 Microarrays de proteínas para diagnóstico in vitro.

U.S. Military Regulations and Norms, Microarray50

ARMY MIL-M-48647 VALID NOTICE 2-2013 Microcircuito, Digital, Decodificador, Matriz Lógica
ARMY MIL-M-48647 NOTICE 1-1997 MICROCIRCUITO, DIGITAL, DECODIFICADOR, MATRIZ LÓGICA
ARMY MIL-M-48647-1986 MICROCIRCUITO, DIGITAL, DECODIFICADOR, MATRIZ LÓGICA

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Microarray50

GB/T 28639-2012 Requisito técnico general para microarrays de ADN.
GB/T 28641-2012 Requisito técnico general para microarrays de proteínas.
GB/T 41869.1-2022 Óptica y fotónica. Conjunto de microlentes. Parte 1: Vocabulario.
GB/T 41869.2-2022 Óptica y fotónica. Conjunto de microlentes. Parte 2: Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda.

Defense Logistics Agency, Microarray50

DLA MIL-M-38510/108 A VALID NOTICE 1-2008 Microcircuitos, lineales, matrices de transistores, silicio monolítico
DLA MIL-M-38510/108 A VALID NOTICE 2-2013 Microcircuitos, lineales, matrices de transistores, silicio monolítico
DLA SMD-5962-89876 REV B-2002 MICROCIRCUITO, LINEAL, MATRIZ DE TRANSISTORES, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-87777 REV B-2001 MICROCIRCUITO, LINEAL, MATRICES DE TRANSISTORES/PAR EMPAREJADO, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-87528-1987
DLA SMD-5962-88664 REV A-2002 MICROCIRCUITO, LINEAL, ALTA CORRIENTE, MATRIZ DE TRANSISTORES NPN, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89841 REV L-2008 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, LÓGICA DE ARRAY PROGRAMABLE (EEPLD), SILICIO MONOLÍTICO
DLA MIL-M-38510/600 VALID NOTICE 4-2012 Microcircuitos, dispositivos digitales, bipolares, semipersonalizados (matriz de puertas), silicio monolítico
DLA SMD-5962-95527 REV A-2009 MICROCIRCUITO LINEAL, MATRIZ DMOS DE ENERGÍA DE FUENTE COMÚN DE 7 CANALES, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-87598 REV A-2006 MICROCIRCUITO, LINEAL, NPN DE ALTA CORRIENTE, MATRIZ DE TRANSISTORES, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89775-1991 MICROCIRCUITO, LINEAL, MATRIZ DE TRANSISTORES PNP CUÁDRUPLE RÁPIDO, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89776 REV B-2007 MICROCIRCUITO, LINEAL, DISTRIBUCIÓN DE TRANSISTORES NPN CUÁDRUPLE RÁPIDO, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89839 REV F-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, LÓGICA DE ARRAY PROGRAMABLE EE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-90538 REV D-2003 MICROCIRCUITO, LINEAL, MATRIZ DE DIODOS SCHOTTKY CUADRÍCULOS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-94730 REV E-2010 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-97522 REV B-2008 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-97523 REV B-2008 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-97524 REV B-2008 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-97525 REV B-2008 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-85155 REV G-2006 MICROCIRCUITO, MEMORIA, BIPOLAR, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-94634-1995 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, MATRIZ LÓGICA CONFIGURABLE DE PUERTA CMOS 8000, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89823 REV H-2007 MICROCIRCUITOS DE MEMORIA DIGITAL, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE DE PUERTA CMOS 9000, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-85065 REV B-2010 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, BIPOLAR, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-88637 REV D-2010 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTA PROGRAMABLE EN CAMPO, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-87528 REV A-2011 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE BIPOLAR, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-87530 REV A-2011 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE BIPOLAR, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89841 REV K-2008 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, LÓGICA DE ARRAY PROGRAMABLE (EEPLD), SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-88504 REV D-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, PROGRAMABLE EN CAMPO, MATRIZ LÓGICA (FPLA), SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-86058 REV C-2002 MICROCIRCUITO, LINEAL, ALTA TENSIÓN, ALTA CORRIENTE, Matrices de transistores DARLINGTON, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-98513 REV A-2008 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE DE 13000 PUERTA, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-92252 REV E-2011 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE DE PUERTA CMOS 5000, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-88638 REV D-2011 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE CÉLULAS LÓGICAS PROGRAMABLES, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-95521 REV C-2013 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE DE 10.000 PUERTA, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89713 REV G-2008 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE DE PUERTA CMOS 4200, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89948 REV G-2008 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, PUERTA CMOS 2000, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-00543 REV C-2003 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTAS PROGRAMABLES EN CAMPO, 72.000 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-01508 REV D-2005 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTA PROGRAMABLE EN CAMPO, 32.000 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-01515 REV E-2005 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTAS PROGRAMABLES EN CAMPO, 72.000 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-01518 REV D-2006 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTA PROGRAMABLE EN CAMPO, 32.000 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89684 REV A-2004 MICROCIRCUITO, LINEAL, ALTA TENSIÓN, ALTA CORRIENTE, Matrices de transistores DARLINGTON, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89685 REV A-2002 MICROCIRCUITO, LINEAL, ALTA TENSIÓN, ALTA CORRIENTE, Matrices de transistores DARLINGTON, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89686 REV A-2002 MICROCIRCUITO, LINEAL, ALTA TENSIÓN, ALTA CORRIENTE, Matrices de transistores DARLINGTON, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-91695 REV A-2010 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE (600 PUERTAS), SILICIO MONOLÍTICO
DLA MIL-M-38510/508 A VALID NOTICE 1-2010 Microcircuitos, Memoria, Digital, Lógica de matriz programable una sola vez CMOS, Silicio monolítico
DLA SMD-5962-91568 REV B-2013 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE UNA VEZ, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-07218 REV A-2008 MICROCIRCUITO, LINEAL, ENDURECIDO POR RADIACIÓN, FRECUENCIA ULTRA ALTA, MATRIZ DE TRANSISTORES COMBINADOS NPN-PNP, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-08224 REV A-2010 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTA PROGRAMABLE EN CAMPO, 4.000.000 DE PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-01508 REV E-2010 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTA PROGRAMABLE EN CAMPO, 32.000 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-01515 REV F-2010 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTAS PROGRAMABLES EN CAMPO, 72.000 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-90965 REV H-2011 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTAS PROGRAMABLES EN CAMPO, 2000 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-04220 REV D-2012 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTA PROGRAMABLE EN CAMPO, 1.000.000 DE PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-08224 REV B-2012 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTA PROGRAMABLE EN CAMPO, 4.000.000 DE PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-92156 REV K-2012 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTA PROGRAMABLE EN CAMPO, 8000 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-01515 REV G-2012 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTAS PROGRAMABLES EN CAMPO, 72.000 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93168 REV B-2013 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE BORRABLE ELÉCTRICAMENTE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93247 REV B-2013 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE BORRABLE ELÉCTRICAMENTE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-01508 REV H-2013 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTA PROGRAMABLE EN CAMPO, 32.000 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-87539 REV K-2008 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS BORRABLE UV, LÓGICA DE ARRAY PROGRAMABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-95520 REV C-2008 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTA PROGRAMABLE EN CAMPO, 2500 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-00543 REV D-2008 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTAS PROGRAMABLES EN CAMPO, 72.000 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-96837 REV A-2009 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTA PROGRAMABLE EN CAMPO 8000 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-04219 REV C-2009 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTAS PROGRAMABLES EN CAMPO, 250.000 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-04220 REV C-2009 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTA PROGRAMABLE EN CAMPO, 1.000.000 DE PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-04221 REV C-2009 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTA PROGRAMABLE EN CAMPO, 2.000.000 DE PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-08224-2009 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTA PROGRAMABLE EN CAMPO, 4.000.000 DE PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-98579-1999 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTAS PROGRAMABLES EN CAMPO, 10.000 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-94754 REV F-2009 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE UNA VEZ, (RAD HARD), SILICIO MONOLÍTICO
DLA MIL-M-38510/502 A VALID NOTICE 1-2010 Microcircuitos digitales, matriz lógica programable por campo bipolar (FPLA) 16 x 48 x 8, silicio monolítico
DLA SMD-5962-91545 REV F-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE BORRABLE UV, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89840 REV D-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, LÓGICA DE ARRAY PROGRAMABLE EE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-99527 REV A-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTAS PROGRAMABLES EN CAMPO, 20.000 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-99569 REV C-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTA PROGRAMABLE EN CAMPO, 16.000 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-99585 REV A-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTA PROGRAMABLE EN CAMPO, 36.000 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-99586 REV C-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTA PROGRAMABLE EN CAMPO, 32.000 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-86864 REV A-2010 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, BORRABLE ULTRAVIOLETA, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA MIL-M-38510/507 B VALID NOTICE 1-2010 Microcircuitos, Memoria, Digital, CMOS Lógica de matriz programable borrable ultravioleta, Silicio monolítico
DLA SMD-5962-91584 REV A-2012 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE BORRABLE UV, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-91772 REV A-2012 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE BORRABLE UV, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-88670 REV E-2010 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, PROGRAMABLE UNA VEZ, LÓGICA DE ARRAY PROGRAMABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-88726 REV F-2010 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, BORRABLE ULTRAVIOLETA, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-94524 REV A-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE UNA VEZ, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89755 REV D-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-92252 REV D-2002 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE DE PUERTA CMOS 5000, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-92305 REV E-2002 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE DE PUERTA CMOS 10000, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93168 REV A-1995 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE BORRABLE ELÉCTRICAMENTE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93221 REV A-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTA PROGRAMABLE EN CAMPO, 4000 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-88713 REV A-2006 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93087 REV A-1993 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE BORRABLE ELÉCTRICAMENTE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-87682 REV F-2008 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, BIPOLAR 18 X 42 X 10 MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE EN CAMPO (FPLA), SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-88637 REV C-2005 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTA PROGRAMABLE EN CAMPO, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-90754 REV B-2012 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE REGISTRADA ASÍNCRONA BORRABLE UV, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-92156 REV J-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTA PROGRAMABLE EN CAMPO, 8000 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-88638 REV C-1996 MICROCIRCUITO, MEMORIA, CMOS DIGITAL, MATRIZ DE CÉLULAS LÓGICAS PROGRAMABLES, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-94510 REV A-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE BORRABLE UV, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-12225-2013 MICROCIRCUITO, DIGITAL, MEMORIA, CMOS, MATRIZ DE PUERTA PROGRAMABLE EN CAMPO, 280.000 PUERTAS ASIC EQUIVALENTES, CON SRAM INDEPENDIENTE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-12225 REV A-2013 MICROCIRCUITO, DIGITAL, MEMORIA, CMOS, MATRIZ DE PUERTA PROGRAMABLE EN CAMPO, 280.000 PUERTAS ASIC EQUIVALENTES, CON SRAM INDEPENDIENTE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-90989 REV A-2006 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE BORRABLE UV, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-91546 REV B-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE UNA VEZ, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-91568 REV A-1993 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE UNA VEZ, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-91695-1992 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE CMOS (600 PUERTAS), SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-91772-1993
DLA SMD-5962-90964 REV B-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTA PROGRAMABLE EN CAMPO, 1200 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-90965 REV G-2005 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTAS PROGRAMABLES EN CAMPO, 2000 PUERTAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93248-1993 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE BORRABLE UV, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-88678 REV B-2005 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, BORRABLE UV, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-88724 REV D-2007 MICROCIRCUITO, DIGITAL, MEMORIA, CMOS BORRABLE UV, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-88726 REV E-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, BORRABLE ULTRAVIOLETA, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-91584-1992 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE BORRABLE UV, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-88670 REV D-2006 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, PROGRAMABLE UNA VEZ, LÓGICA DE ARRAY PROGRAMABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89468 REV C-2007 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE BORRABLE UV, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-93245-1993 MICROCIRCUITOS, DIGITALES, MEMORIA, CMOS, TENSIÓN EXTENDIDA, BORRABLE UV, MATRIZ LÓGICA PROGRAMABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-03250 REV B-2006 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, MATRIZ DE PUERTAS PROGRAMABLES EN CAMPO, 40.000 PUERTAS CON 18K DE SRAM INDEPENDIENTE, SILICIO MONOLÍTICO

British Standards Institution (BSI), Microarray50

PD ISO/TR 14880-5:2010 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Orientación sobre las pruebas
BS EN ISO 14880-1:2019 Cambios rastreados. Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Vocabulario
21/30394867 DC BS ISO 24057. Medición de matriz de microtemblores para estimar el perfil de velocidad de onda de corte
BS EN ISO 14880-2:2006 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda.
BS ISO 24057:2022 Geotecnia. Medición de matriz de microtemblores para estimar el perfil de velocidad de onda de corte
22/30446078 DC BS ISO 16578. Análisis de biomarcadores moleculares. Requisitos para la detección por microarrays de secuencias de ácidos nucleicos específicas
BS ISO 16578:2022 Cambios rastreados. Análisis de biomarcadores moleculares. Requisitos para la detección por microarrays de secuencias de ácidos nucleicos específicas
BS ISO 16578:2013 Análisis de biomarcadores moleculares. Definiciones y requisitos generales para la detección por microarrays de secuencias de ácidos nucleicos específicas.
23/30464250 DC BS EN ISO 14880-2. Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes: Parte 2. Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda
23/30464258 DC BS EN ISO 14880-4. Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes: Parte 4. Métodos de prueba para propiedades geométricas.
BS EN 3662-005:2007 Serie aeroespacial - Disyuntores tripolares, con compensación de temperatura, corriente nominal de 20 A a 50 A. Con contacto de señal polarizado - Estándar de producto
BS EN 3662-005:2006 Serie aeroespacial - Disyuntores tripolares, con compensación de temperatura, corriente nominal de 20 A a 50 A - Parte 005: con contacto de señal polarizado - Norma de producto
23/30464254 DC BS EN ISO 14880-3. Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes: Parte 3. Métodos de prueba para propiedades ópticas distintas de las aberraciones del frente de onda
BS EN 3662-006:2007 Serie aeroespacial - Disyuntores tripolares, con compensación de temperatura, corriente nominal de 20 A a 50 A. Con contacto de señal polarizado - Versión con barra colectora - Estándar de producto
BS EN 3662-006:2006 Serie aeroespacial - Disyuntores tripolares, con compensación de temperatura, corriente nominal de 20 A a 50 A - Parte 006: Con contacto de señal polarizado - Versión con barra colectora - Norma de producto

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Microarray50

KS P 1019-2012(2017) La tecnología para el análisis de la expresión génica utilizando microarrays de ADN－Procedimientos experimentales para microarrays de ADN con etiquetado directo y medición de la expresión génica.
KS B ISO 14880-1:2019 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 1: Vocabulario y propiedades generales.
KS P 1017-2018 La tecnología para el análisis de la expresión genética mediante microarrays de ADN. Requisitos generales y definiciones.
KS B ISO 14880-2:2018 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 2: Métodos de prueba para detectar aberraciones del frente de onda.
KS P 1018-2012(2017) La tecnología para el análisis de la expresión genética mediante microarrays de ADN－Métodos para el aislamiento de muestras genómicas y control de calidad.

KR-KS, Microarray50

KS P 1019-2012(2022) La tecnología para el análisis de la expresión génica utilizando microarrays de ADN－Procedimientos experimentales para microarrays de ADN con etiquetado directo y medición de la expresión génica.
KS B ISO 14880-1-2019 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 1: Vocabulario y propiedades generales.
KS B ISO 14880-2-2018 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 2: Métodos de prueba para detectar aberraciones del frente de onda.
KS P 1018-2012(2022) La tecnología para el análisis de la expresión genética mediante microarrays de ADN－Métodos para el aislamiento de muestras genómicas y control de calidad.

Association Francaise de Normalisation, Microarray50

NF S10-132-1*NF EN ISO 14880-1:2019 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 1: vocabulario
NF EN ISO 14880-1:2019 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 1: vocabulario
NF ISO 16578:2014 Análisis molecular de biomarcadores: definiciones generales y requisitos para la detección por microarrays de secuencias de ácidos nucleicos específicas
NF EN ISO 14880-4:2006 Óptica y fonótica - Conjunto de microlentes - Parte 4: métodos de prueba para propiedades geométricas
NF EN ISO 14880-2:2007 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 2: métodos de prueba para aberraciones del frente de onda
NF V03-503*NF ISO 16578:2014 Análisis de biomarcadores moleculares: definiciones y requisitos generales para la detección con microarrays de secuencias de ácidos nucleicos específicas
NF S10-132-3*NF EN ISO 14880-3:2006 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 3: métodos de prueba para propiedades ópticas distintas de las aberraciones del frente de onda.
NF EN ISO 14880-3:2006 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 3: métodos de prueba para propiedades ópticas distintas de las aberraciones del frente de onda.
NF L52-410-301*NF EN 4641-301:2022 Serie aeroespacial - Cables, revestimiento óptico de 125 μm de diámetro - Parte 301: estructura estanca 50/125 μm GI, fibra nominal 1,8 mm, diámetro exterior - Norma de producto
NF EN 4604-004:2008 Serie aeroespacial - Cables eléctricos para transmisión de señales - Parte 004: cable, microcoaxial, alta inmunidad, 50 Ohmios, 200 oC, tipo WS - Norma de producto

International Organization for Standardization (ISO), Microarray50

ISO 14880-1:2019 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 1: Vocabulario.
ISO 16578:2022 Análisis de biomarcadores moleculares. Requisitos para la detección por microarrays de secuencias de ácidos nucleicos específicas.
ISO/TR 14880-5:2010 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 5: Orientación sobre las pruebas
ISO 24057:2022 Geotecnia: medición de conjuntos de microtemblores para estimar el perfil de velocidad de las ondas de corte
ISO 16578:2013 Análisis de biomarcadores moleculares: definiciones y requisitos generales para la detección con microarrays de secuencias de ácidos nucleicos específicas
ISO/DIS 14880-2 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 2: Métodos de prueba para detectar aberraciones del frente de onda.
ISO/DIS 14880-4 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 4: Métodos de prueba para propiedades geométricas.
ISO/DIS 14880-3 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 3: Métodos de prueba para propiedades ópticas distintas de las aberraciones del frente de onda.

ES-UNE, Microarray50

UNE-EN ISO 14880-1:2019 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 1: Vocabulario (ISO 14880-1:2019) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en agosto de 2019.)

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Microarray50

GB/T 35029-2018 Método basado en microarrays para la detección de mutaciones en pérdida auditiva hereditaria.

Group Standards of the People's Republic of China, Microarray50

T/CI 156-2023 Method of DNA microarray for detection of important pathogens in cultured fish
T/CI 157-2023 Method of DNA microarray for detection of important pathogens in cultured crustacean
T/KJFX 001-2021 Determinación rápida simultánea de residuos de metabolitos de sulfonamidas, cloranfenicol y nitrofurano en carne de ganado y aves de corral mediante el método de biochip de microarray inmunoabsorbente ligado a enzimas

Lithuanian Standards Office , Microarray50

LST EN ISO 14880-1:2005 Conjunto de microlentes - Parte 1: Vocabulario (ISO 14880-1:2001, incluido el corrigendum 1:2004)
LST EN ISO 14880-1:2005/AC:2009 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 1: Vocabulario (ISO 14880-1:2001/Cor 1:2003/Cor 2:2005)
LST EN ISO 14880-4:2006 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 4: Métodos de prueba para propiedades geométricas (ISO 14880-4:2006).
LST EN ISO 14880-2:2007 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 2: Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda (ISO 14880-2:2006).
LST EN ISO 14880-3:2006 Óptica y fonótica. Conjuntos de microlentes. Parte 3: Métodos de prueba para propiedades ópticas distintas de las aberraciones del frente de onda (ISO 14880-3:2006).

German Institute for Standardization, Microarray50

DIN EN ISO 14880-1:2019 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 1: Vocabulario (ISO 14880-1:2019)
DIN EN ISO 14880-1:2019-10 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 1: Vocabulario (ISO 14880-1:2019); Versión alemana EN ISO 14880-1:2019
DIN EN ISO 14880-4:2006-08 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 4: Métodos de prueba para propiedades geométricas (ISO 14880-4:2006); Versión alemana EN ISO 14880-4:2006
DIN EN ISO 14880-2:2007-03 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 2: Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda (ISO 14880-2:2006); Versión alemana EN ISO 14880-2:2006
DIN EN 62148-21:2017 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica - Estándares de interfaz y paquetes - Parte 21: Guía de diseño de interfaz eléctrica de paquetes PIC utilizando Silicon Fine-pitch Ball Grid Array (S-FBGA) y Silicon Fine-pitch Land Grid Array (S-FLGA) ( CEI 86C/1469/CD:
DIN EN ISO 14880-2:2007 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 2: Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda (ISO 14880-2:2006); Versión en inglés de DIN EN ISO 14880-2:2007-03
DIN EN ISO 14880-2:2023-05 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 2: Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda (ISO/DIS 14880-2:2023); Versión en alemán e inglés prEN ISO 14880-2:2023 / Nota: Fecha de emisión 2023-04-07* Diseñado como reemplazo de DIN EN ISO 14880-2 (2007-03).
DIN EN ISO 14880-4:2023-05 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 4: Métodos de prueba para propiedades geométricas (ISO/DIS 14880-4:2023); Versión en alemán e inglés prEN ISO 14880-4:2023 / Nota: Fecha de emisión 2023-04-07*Previsto como reemplazo de DIN EN ISO 14880-4 (2006-08).
DIN EN ISO 14880-3:2006-08 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 3: Métodos de prueba para propiedades ópticas distintas de las aberraciones del frente de onda (ISO 14880-3:2006); Versión alemana EN ISO 14880-3:2006
DIN EN 4641-301:2022-08 Serie aeroespacial - Cables, revestimiento óptico de 125 µm de diámetro - Parte 301: Estructura estanca 50/125 µm GI, fibra nominal 1,8 mm, diámetro exterior - Estándar de producto; Versión alemana e inglesa EN 4641-301:2022 / Nota: Se sustituirá por DIN EN 4641-301 (2022...
DIN EN 4641-301:2022-09 Serie aeroespacial - Cables, revestimiento óptico de 125 µm de diámetro - Parte 301: Estructura estanca 50/125 µm GI, fibra nominal 1,8 mm, diámetro exterior - Estándar de producto; Versión en inglés prEN 4641-301:2022 / Nota: Fecha de emisión 2022-08-19*Diseñado como reemplazo...
DIN EN ISO 14880-3:2023-05 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 3: Métodos de prueba para propiedades ópticas distintas de las aberraciones del frente de onda (ISO/DIS 14880-3:2023); Versión en alemán e inglés prEN ISO 14880-3:2023 / Nota: Fecha de emisión 2023-04-07*Diseñado como reemplazo de...
DIN EN ISO 14880-2:2023 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 2: Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda (ISO/DIS 14880-2:2023); Versión alemana e inglesa prEN ISO 14880-2:2023
DIN EN ISO 14880-4:2023 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 4: Métodos de prueba para propiedades geométricas (ISO/DIS 14880-4:2023); Versión alemana e inglesa prEN ISO 14880-4:2023

RU-GOST R, Microarray50

GOST R 59743.1-2021 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 1. Términos y definiciones. Clasificación

International Electrotechnical Commission (IEC), Microarray50

IEC 62148-21:2021 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica - Estándares de interfaz y paquetes - Parte 21: Directrices de diseño de interfaz eléctrica de paquetes PIC que utilizan una matriz de rejilla de bolas de paso fino de silicio (S-FBGA) y una matriz de rejilla terrestre de paso fino de silicio (SFLGA)

European Committee for Standardization (CEN), Microarray50

EN ISO 14880-1:2016 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 1: Vocabulario y propiedades generales
prEN ISO 14880-4 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 4: Métodos de prueba para propiedades geométricas (ISO/DIS 14880‑4:2023).
prEN ISO 14880-2 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 2: Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda (ISO/DIS 14880‑2:2023).
prEN ISO 14880-3 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 3: Métodos de prueba para propiedades ópticas distintas de las aberraciones del frente de onda (ISO/DIS 14880‑3:2023).

AENOR, Microarray50

UNE-EN ISO 14880-2:2007 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 2: Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda (ISO 14880-2:2006).
UNE-EN ISO 14880-4:2007 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 4: Métodos de prueba para propiedades geométricas (ISO 14880-4:2006).
UNE-EN ISO 14880-3:2007 Óptica y fonótica. Conjuntos de microlentes. Parte 3: Métodos de prueba para propiedades ópticas distintas de las aberraciones del frente de onda (ISO 14880-3:2006).

(U.S.) Ford Automotive Standards, Microarray50

FORD SK-M99J9587-E-2006 IMPRIMADOR, PROTECCIÓN CONTRA ASTILLAS DE PIEDRAS, 50 MICRÓMETROS, BAJO HORNO ***PARA UTILIZAR CON FORD WSS-M99P1111-A***

AT-ON, Microarray50

OENORM EN 4641-301-2020 Serie aeroespacial - Cables, revestimiento óptico de 125 µm de diámetro - Parte 301: Estructura estanca 50/125 µm GI, fibra nominal 1,8 mm, diámetro exterior - Norma de producto