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Difractómetro de rayos X de policristal tipo D8

Difractómetro de rayos X de policristal tipo D8, Total: 54 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Difractómetro de rayos X de policristal tipo D8 son: Pruebas no destructivas, Educación, Productos de la industria química., producción de metales, pruebas de metales, Química analítica, químicos inorgánicos, Vocabularios, Componentes de tuberías y tuberías..

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Difractómetro de rayos X de policristal tipo D8

JJG 629-2014
JJG 629-1989 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
JJG(地质) 1014-1990 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino

British Standards Institution (BSI), Difractómetro de rayos X de policristal tipo D8

BS EN 13925-3:2005(2009) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
BS EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
BS EN 13925-2:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
BS EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
BS EN 13925-1:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
BS EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
BS EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos

Professional Standard - Education, Difractómetro de rayos X de policristal tipo D8

JY/T 0587-2020 Principios generales de los métodos de difracción de rayos X de policristales.
JY/T 009-1996 Principios generales del método de derivación de rayos X de policristales con objetivo giratorio
JY/T 0588-2020 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difracción de rayos X de cristal único
JY/T 008-1996 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difractómetro de rayos X de cristal único de cuatro círculos

German Institute for Standardization, Difractómetro de rayos X de policristal tipo D8

DIN EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
DIN EN 13925-3:2005-07 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
DIN EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003
DIN EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 1: Principios generales; Versión alemana EN 13925-1:2003
DIN EN 13925-2:2003-07 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003
DIN EN 13925-1:2003-07 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 1: Principios generales; Versión alemana EN 13925-1:2003
DIN EN 1330-11:2007-09 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos; Versión trilingüe EN 1330-11:2007
DIN EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos; Versión trilingüe EN 1330-11:2007

European Committee for Standardization (CEN), Difractómetro de rayos X de policristal tipo D8

EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos
EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 1: Principios generales.

Association Francaise de Normalisation, Difractómetro de rayos X de policristal tipo D8

NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: instrumentos.
NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 2: procedimientos.
NF EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos
NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 1: principios generales.
NF EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: procedimientos
NF EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 3: equipos
NF EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 1: principios generales
NF A09-020-11*NF EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos.

Danish Standards Foundation, Difractómetro de rayos X de policristal tipo D8

DS/EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
DS/EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
DS/EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.
DS/EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos

Lithuanian Standards Office , Difractómetro de rayos X de policristal tipo D8

LST EN 13925-3-2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
LST EN 13925-2-2004 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
LST EN 13925-1-2004 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.
LST EN 1330-11-2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos

AENOR, Difractómetro de rayos X de policristal tipo D8

UNE-EN 13925-3:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
UNE-EN 13925-2:2004 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
UNE-EN 13925-1:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.
UNE-EN 1330-11:2008 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Difractómetro de rayos X de policristal tipo D8

JIS H 7805:2005 Método para la determinación del tamaño de cristalitos en catalizadores metálicos mediante difractometría de rayos X.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Difractómetro de rayos X de policristal tipo D8

GB/T 37983-2019 Métodos de prueba de difracción de rayos X para determinar la orientación de materiales cristalinos por rotación.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Difractómetro de rayos X de policristal tipo D8

GB/T 30904-2014 Productos químicos inorgánicos para uso industrial. Análisis de forma cristalina. Método de difracción de rayos X.
GB/T 19421.1-2003 Métodos de prueba de disilicato de sodio en capas cristalinas - Análisis cualitativo de disilicato de sodio en capas cristalinas delta - Método de difractómetro de rayos X

IT-UNI, Difractómetro de rayos X de policristal tipo D8

UNI 6966-1971 Determinación cuantitativa de las figuras polares y policristales mediante difusión de trapos X

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Difractómetro de rayos X de policristal tipo D8

DB35/T 1914-2020 Determinación del contenido de cristales β en tuberías y accesorios de polipropileno con cristales β (método de difracción de rayos X)

American Society for Testing and Materials (ASTM), Difractómetro de rayos X de policristal tipo D8

ASTM D5357-03 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
ASTM D5357-19 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X