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X線エネルギー分光法およびX線光電子分光法

X線エネルギー分光法およびX線光電子分光法は全部で 387 項標準に関連している。

X線エネルギー分光法およびX線光電子分光法 国際標準分類において、これらの分類:分析化学、 光学および光学測定、 長さと角度の測定、 非破壊検査、 語彙、 光学機器、 原子力工学、 総合電子部品、 発電所総合、 半導体材料、 医療科学とヘルスケア機器の統合、 放射線測定、 非鉄金属、 電気、磁気、電気および磁気測定、 塗料成分、 犯罪予防、 鉄鋼製品、 耐火物、 金属材料試験、 非金属鉱物、 石油製品総合、 粗雑な、 紙とボール紙、 医療機器、 表面処理・メッキ、 金属腐食、 計測学と測定の総合、 物理学、化学、 燃料、 金属鉱石、 バーナー、ボイラー、 土壌品質、土壌科学、 無駄、 ブラックメタル、 潤滑剤、工業用油および関連製品、 化学製品、 合金鉄、 環境保護、健康と安全、 繊維製品、 セラミックス、 環境を守ること、 塗料とワニス。


German Institute for Standardization, X線エネルギー分光法およびX線光電子分光法

  • DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
  • DIN ISO 16129:2020 表面化学分析 X 線光電子分光法 - X 線光電子分光計の日常的な性能を評価する手順 (ISO 16129-2018)、英語テキスト
  • DIN 51418-1:2008 線分光分析、X 線散乱および蛍光 X 線分析 (XRF) パート 1: 定義と基本原理
  • DIN 51418-1:1996 X 線分光分析、X 線散乱および蛍光 X 線分析 (RFA) パート 1: 定義と基本原理
  • DIN ISO 15472:2020-05 表面化学分析 - X 線光電子分光計 - エネルギースケール校正 (ISO 15472:2010)
  • DIN 51418-1:2008-08 放射線分光法 X 線放射および蛍光 X 線分析 (XRF) 第 1 部: 定義と基本原理
  • DIN 51418-2:2015 線分光分析、X 線散乱および蛍光 X 線分析 (RFA) 第 2 部: 測定、校正、評価の定義と基本原理
  • DIN 51418-2:1996 線分光分析、X 線散乱および蛍光 X 線分析 (RFA) 第 2 部: 測定、校正、評価の定義と基本原理
  • DIN ISO 15472:2020 表面化学分析用 X 線光電子分光計のエネルギー標準の校正 (ISO 15472:2010)、英語テキスト
  • DIN 51418-2:2015-03 線分光分析 X 線発光および X 線蛍光分析 (XRF) 第 2 部: 測定、校正、および結果の評価の定義と基本原理
  • DIN EN ISO 8754:2003 石油製品 硫黄分の測定 エネルギー分散型蛍光 X 線分析
  • DIN ISO 15632:2022-09 エネルギー分散型 X 線分光計の仕様と検査のための、選択された機器の性能パラメータのマイクロビーム分析
  • DIN EN ISO 20847:2004 石油製品 自動車燃料中の硫黄分の測定 エネルギー分散型蛍光 X 線分析
  • DIN EN 12544-3:1999 非破壊検査 X線管電圧の測定と評価 その2:分光測定
  • DIN EN ISO 16526-3:2020-09 非破壊検査用X線管電圧の測定と評価その3:分光測定
  • DIN EN ISO 21587-3:2007-12 アルミノケイ酸塩耐火物品の化学分析 (蛍光 X 線の代替) - パート 3: 誘導結合プラズマおよび原子吸光分析
  • DIN 51577-4:1994 鉱物油および類似製品中の炭化水素の検査 塩素および臭素含有量の測定 低価格機器のエネルギー散乱 X 線分析装置による分析
  • DIN EN ISO 16526-3:2020 非破壊検査 - X 線管電圧の測定と評価 - パート 3: 分光法 (ISO 16526-3:2011)
  • DIN 51829:2013-03 石油製品グリース中の添加剤および摩耗元素の定量 波長分散型蛍光X線分析
  • DIN EN ISO 20565-3:2009 クロム含有耐火物およびクロム含有原料の化学分析(オプションの蛍光X線法)パート3:フレーム原子吸光分析法(FAAS)および誘導結合プラズマ発光分析法(ICP-AES)
  • DIN EN ISO 21587-3:2007 ケイ酸アルミニウム耐火物製品の化学分析 (オプションの蛍光 X 線法) パート 3: 誘導結合プラズマおよび原子吸光分析

British Standards Institution (BSI), X線エネルギー分光法およびX線光電子分光法

  • BS ISO 16129:2018 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
  • BS ISO 16129:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
  • BS ISO 10810:2019 表面化学分析 X 線光電子分光分析ガイド
  • BS ISO 10810:2010 表面化学分析、X線光電子分光分析、分析ガイド
  • BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強度スケールの直線性
  • BS ISO 19830:2015 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法ピーク フィッティングの最小レポート要件
  • BS ISO 18554:2016 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法で分析された X 線材料の予期せぬ劣化の特定、評価、修正の手順。
  • BS ISO 14701:2018 表面化学分析 X線光電子分光分析 シリコン酸化膜厚測定
  • BS ISO 16243:2011 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
  • BS ISO 14701:2011 表面化学分析、X線光電子分光法、シリカ厚さ測定
  • BS ISO 21270:2005 表面化学分析、X 線光電子およびオージェ電子分光計、強度スケールの直線性
  • BS ISO 18516:2006 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、横方向分解能測定
  • BS ISO 17109:2022 表面化学分析 深さプロファイリング 単層膜および多層膜の X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さ分析におけるスパッタリング率の決定方法...
  • 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 表面化学分析の深さプロファイリング X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、単イオンおよび二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さ分析におけるスパッタリング率の決定方法...
  • BS ISO 17109:2015 表面化学分析、深さプロファイリング、単層膜および多層膜を使用した、X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さプロファイリングにおけるスパッタリング率を決定する方法。
  • BS ISO 19318:2021 表面化学分析 X 線光電子分光法による電荷制御および電荷補正方法のレポート
  • BS ISO 15470:2005 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
  • BS ISO 15470:2017 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
  • BS ISO 19668:2017 表面化学分析 X 線光電子分光法 均質材料における元素検出限界の推定と報告
  • BS ISO 15472:2010 表面化学分析、X線光電子分光計、エネルギー準位の校正
  • BS ISO 20903:2019 表面化学分析 オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 ピーク強度の決定方法と結果報告時に必要な情報
  • BS ISO 20903:2011 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定方法および結果報告に必要な情報
  • 20/30423741 DC BS ISO 19318 表面化学分析 X 線光電子分光法による電荷制御および電荷補正方法の報告
  • BS ISO 18118:2015 表面化学分析 オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 実験的に決定された相対感度係数を使用した均質材料の定量分析のガイド
  • BS ISO 24237:2005 表面化学分析、X線光電子分光法、強度スケールの再現性と安定性
  • BS ISO 15632:2012 マイクロビーム分析:電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用に選択された機器の仕様と性能パラメータ
  • BS ISO 15632:2021 電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用のマイクロビーム分析仕様および選択された機器性能パラメータ
  • PD ISO/TS 18507:2015 表面化学分析 全反射蛍光X線分光法 生物および環境分析への応用
  • 23/30461294 DC BS ISO 18118 表面化学分析 実験的に決定された相対感度係数を使用したオージェ電子分光法および X 線光電子分光法を使用した均質材料の定量分析のためのガイド
  • DD ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボン ナノチューブの特性を評価します。
  • BS PD ISO/TS 18507:2015 表面化学分析生物および環境分析における全反射蛍光X線分析の利用
  • BS ISO 19318:2005 表面化学分析、X線光電子分光法、帯電制御・帯電補正方法に関する報告
  • BS ISO 17470:2014 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光分析を使用した定性点分析のガイド。
  • BS ISO 22489:2007 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析。
  • BS ISO 22489:2016 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析。
  • BS ISO 18118:2005 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、均質材料の定量分析のための相対感度係数の実験室測定の使用に関するガイド。
  • BS DD ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジー: 走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用した単層カーボン ナノチューブの特性評価。
  • 19/30394914 DC BS ISO 15632 マイクロビーム分析 電子プローブ顕微鏡または電子プローブマイクロアナライザー (EPMA) 用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用の仕様および選択された機器性能パラメータ
  • BS EN ISO 10058-3:2009 マグネサイトおよびドロマイト耐火製品の化学分析 (オプションで蛍光 X 線分析) フレーム原子吸光分析 (FAAS) および誘導結合プラズマ発光分析 (ICP-AES)
  • BS EN ISO 10058-3:2008 マグネサイトおよびドロマイト耐火製品の化学分析 (オプションの蛍光 X 線法) フレーム原子吸光分析 (FAAS) および誘導結合プラズマ発光分析 (ICP-AES)
  • BS 6043-2.4:2000 アルミニウム製造に使用される炭素質材料のサンプリングおよび試験方法 コークス電極 蛍光X線分析法
  • BS ISO 22581:2021 表面化学分析 X 線光電子分光法測定スキャンからのほぼリアルタイムの情報 炭素質化合物の表面汚染の特定と修正ルール
  • IEC 62607-6-21:2022 ナノ製造の重要な制御特性 第6-21回:グラフェン系材料の元素組成、C/O比:X線光電子分光法
  • BS ISO 22863-4:2021 花火中の特定化学物質の定量試験方法 - 蛍光X線分析法による鉛及び鉛化合物の分析
  • BS EN ISO 20565-3:2009 クロム含有耐火物およびクロム含有原料の化学分析(蛍光X線法はオプション) フレーム原子吸光分析法(FAAS)および誘導結合プラズマ原子発光分析法(ICP-AES)
  • BS EN ISO 20565-3:2008 クロム含有耐火物およびクロム含有原料の化学分析 (蛍光X線法はオプション) フレーム原子吸光分析法 (FAAS) および誘導結合プラズマ原子発光分析法 (ICP-AES)
  • BS EN ISO 21587-3:2007 ケイ酸アルミニウム耐火物製品の化学分析 (蛍光 X 線法はオプション)、誘導結合プラズマおよび原子吸光分析

International Organization for Standardization (ISO), X線エネルギー分光法およびX線光電子分光法

  • ISO 16129:2018 表面化学分析 - X 線光電子分光法 - X 線光電子分光計の日常的な性能を評価する方法
  • ISO 16129:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
  • ISO 10810:2019 表面化学分析 - X 線光電子分光分析ガイド
  • ISO 10810:2010 表面化学分析、X線光電子分光法、分析ガイドライン
  • ISO 21270:2004 表面化学分析 X線光電子分光装置とオージェ電子分光装置 強度スケールの直線性
  • ISO 19830:2015 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法ピーク フィッティングの最小レポート要件
  • ISO 18554:2016 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法で分析された X 線材料の予期せぬ劣化の特定、評価、修正の手順。
  • ISO 13424:2013 表面化学分析―X線光電子分光法、薄膜分析結果報告
  • ISO/CD TR 18392:2023 表面化学分析 X 線光電子分光法 バックグラウンド測定手順
  • ISO 15470:2017 表面化学分析、X 線光電子分光法、機器の性能パラメーターの説明
  • ISO 14701:2018 表面化学分析 - X線光電子分光法 - シリコン酸化膜厚測定
  • ISO 16243:2011 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
  • ISO 14701:2011 表面化学分析、X 線光電子分光法、二酸化ケイ素の厚さの測定。
  • ISO 15472:2010 表面化学分析、X線光電子分光装置、エネルギースケール校正
  • ISO 15472:2001 表面化学分析 X線光電子分光計のエネルギースケール校正
  • ISO 18516:2006 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、横方向分解能測定
  • ISO/TR 18392:2005 表面化学分析、X 線光電子分光法、バックグラウンド測定手順
  • ISO/TR 19319:2003 表面化学分析 オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 横方向分解能、分析領域およびサンプル領域の分析者の目視検査
  • ISO 17109:2015 表面化学分析、深さプロファイリング、単層膜および多層膜を使用した、X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さプロファイリングにおけるスパッタリング率を決定する方法。
  • ISO 17109:2022 表面化学分析、深さプロファイリング、単層および多層膜を使用した X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、および二次イオン質量分析法におけるスパッタリング率を決定する方法。
  • ISO 15470:2004 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
  • ISO 24237:2005 表面化学分析、X線光電子分光法、強度の再現性と安定性
  • ISO 20903:2019 表面化学分析 - オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 - ピーク強度と結果報告時に必要な情報を決定するために使用される方法
  • ISO/DIS 18118:2023 表面化学分析 オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 実験的に決定された相対感度係数を使用した均質材料の定量分析のガイド
  • ISO/FDIS 18118:2023 表面化学分析 - オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 - 実験的に決定された相対感度係数を使用した均質材料の定量分析のガイド
  • ISO 19668:2017 表面化学分析、X 線光電子分光法、均質材料の元素検出限界の推定と報告。
  • ISO/CD 5861 表面化学分析 X線光電子分光法 水晶単色AlKa XPS装置強度校正法
  • ISO/DIS 5861:2023 表面化学分析 X線光電子分光法 水晶単色Al Kα XPS装置強度校正法
  • ISO 17470:2004 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型X線分光法による質点分析のガイド。
  • ISO/TS 18507:2015 表面化学分析生物および環境分析における全反射蛍光X線分析の利用
  • ISO 20903:2011 表面化学分析、オージェ電子エネルギー分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定方法および結果の報告に必要な情報
  • ISO 8754:2003 石油製品 硫黄含有量の測定 エネルギー分散型蛍光 X 線分析
  • ISO 19318:2004 表面化学分析、X線光電子分光法、帯電制御・帯電補正方法に関する報告
  • ISO 19318:2021 表面化学分析、X線光電子分光法、帯電制御・帯電補正方法に関する報告
  • ISO 17470:2014 マイクロビーム分析 電子プローブ微量分析 波長分散型 X 線分光法による定性点分析ガイド
  • ISO 22489:2006 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量分析。
  • ISO 22489:2016 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量分析。
  • ISO 18118:2004 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、均質材料の定量分析のための相対感度係数の実験室測定の使用に関するガイド。
  • ISO 18118:2015 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、均質材料の定量分析のための相対感度係数の実験室測定の使用に関するガイド。
  • ISO 20847:2004 石油製品 自動車燃料の硫黄分の測定 エネルギー分散型蛍光 X 線分析
  • ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジー: 走査型電子顕微鏡と X 線エネルギー分光法を使用したシングルアーム カーボン ナノチューブの特性評価。
  • ISO 20903:2006 表面化学分析、スパイラル電子分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度を決定する方法、および結果を報告する際に必要な情報を使用する方法。
  • ISO 22581:2021 表面化学分析 X 線光電子分光法による測定とスキャン ほぼリアルタイムの情報 炭素質化合物の表面汚染の特定と修正ルール
  • ISO 10058-3:2008 マグネサイトおよびドロマイト耐火物の化学分析 (オプションの蛍光 X 線法) パート 3: フレーム原子吸光分析 (FAAS) および誘導結合プラズマ発光分析 (ICP-AES)
  • ISO/TS 9516-4:2021 鉄鉱石 蛍光X線分析による各種元素の測定 第4部 性能に基づく溶湯調製方法
  • ISO 20565-3:2008 クロム含有耐火物およびクロム含有原料の化学分析(オプションの蛍光X線法)パート3:フレーム原子吸光分析法(FAAS)および誘導結合プラズマ発光分析法(ICP-AES)
  • ISO 21587-3:2007 ケイ酸アルミニウム耐火物の化学分析 (オプションの蛍光 X 線法) パート 3: 誘導結合プラズマおよび原子吸光分析による測定

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, X線エネルギー分光法およびX線光電子分光法

  • GB/T 19500-2004 X線光電子分光分析法の一般原理
  • GB/T 30704-2014 表面化学分析 X 線光電子分光分析ガイド
  • GB/T 25184-2010 X線光電子分光装置による識別方法
  • GB/T 21006-2007 表面化学分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強度スケールの直線性
  • GB/T 28632-2012 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、横方向分解能測定
  • GB/T 22571-2008 表面化学分析 X線光電子分光装置 エネルギースケールの校正
  • GB/Z 32490-2016 表面化学分析のためのX線光電子分光法を使用したバックグラウンド測定手順
  • GB/T 17359-1998 電子プローブおよび走査型電子顕微鏡を使用した X 線エネルギー分光法の定量分析の一般原理
  • GB/T 28892-2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 選択された機器の性能パラメーターの表現
  • GB/T 28633-2012 表面化学分析、X 線光電子分光法、強度スケールの再現性と一貫性
  • GB/T 18873-2002 生物学的薄いサンプルの透過電子顕微鏡法と X 線分光法の定量分析の一般原則
  • GB/T 18873-2008 生物学的薄いサンプルの透過電子顕微鏡法と X 線分光法の定量分析の一般原則
  • GB/T 17362-2008 金製品の走査型電子顕微鏡およびX線エネルギー分光分析法
  • GB/T 17362-1998 金宝飾品の走査型電子顕微鏡およびX線エネルギー分光分析法
  • GB/T 25185-2010 表面化学分析、X線光電子分光法、帯電制御・帯電補正方法に関する報告
  • GB/T 29556-2013 表面化学分析 オージェ電子分光法およびX線光電子分光法 分析装置で検出できる横分解能、分析領域およびサンプル領域の決定
  • GB/T 17507-2008 生物学的薄膜標準の透過型電子顕微鏡および X 線エネルギー分光分析の一般的な技術条件
  • GB/T 17507-1998 生物学的薄い標準サンプルの電子顕微鏡および X 線エネルギー分光分析の一般的な技術条件
  • GB/T 28893-2012 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定方法および結果報告に必要な情報
  • GB/T 20726-2015 マイクロビーム分析の主な性能パラメータと検証方法 電子プローブマイクロ分析 X線エネルギー分光計
  • GB/T 31470-2015 オージェ電子分光法およびX線光電子分光法検査における検出信号に対応する試料面積を決める一般則
  • GB/T 30702-2014 表面化学分析 均質材料の定量分析におけるオージェ電子分光法および X 線光電子分光法の実験的に決定された相対感度係数の使用に関するガイド
  • GB/T 2679.11-2008 紙および板紙の無機フィラーおよび無機コーティングの定性分析電子顕微鏡 / X 線分光分析
  • GB/T 25188-2010 X線光電子分光法によるシリコンウェーハ表面の極薄酸化シリコン層の厚さの測定
  • GB/T 2679.11-1993 紙および板紙の無機フィラーおよび無機コーティングの定性分析電子顕微鏡 / X 線エネルギー分光分析
  • GB/T 43598-2023 X線光電子分光法によるナノテクノロジーグラフェン粉末の酸素含有量と炭素酸素比の測定
  • GB/T 17416.2-1998 ジルコニウム鉱石の化学分析法、蛍光X線分析によるジルコニウム含有量とハフニウム含有量の測定。
  • GB/T 17040-2008 石油および石油製品中の硫黄含有量の測定 - エネルギー分散型蛍光X線分析法
  • GB/T 17361-1998 走査型電子顕微鏡とX線エネルギー分光法による堆積岩中の自生粘土鉱物の同定法
  • GB/T 19267.6-2008 犯罪技術的痕跡証拠の物理的および化学的検査 第 6 部: 走査型電子顕微鏡 / X 線エネルギー分光法
  • GB/Z 21277-2007 電子・電気製品に含まれる制限物質である鉛、水銀、クロム、カドミウム、臭素を迅速にスクリーニングします。
  • GB/T 6609.30-2009 アルミナの化学分析および物性測定方法 第 30 部:蛍光 X 線分析による微量元素含有量の測定
  • GB/T 32869-2016 走査型電子顕微鏡およびエネルギー分散型 X 線分光法によるナノテクノロジー単層カーボンナノチューブの特性評価方法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), X線エネルギー分光法およびX線光電子分光法

  • KS D ISO 21270:2005 表面化学分析 X線光電子分光装置とオージェ電子分光装置 強度スケールの直線性
  • KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化学分析 X線光電子分光装置およびオージェ電子分光装置の強度スケールの直線性
  • KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化学分析用のX線光電子分光計のいくつかの性能パラメータの説明
  • KS D ISO 15472:2003 表面化学分析、X線光電分光装置、エネルギースケールの校正
  • KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化学分析 - オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 - 分析装置の横方向分解能、分析領域およびサンプル領域の決定
  • KS D ISO 19318-2005(2020) 表面化学分析 X線光電子分光法 帯電制御・帯電補正法レポート
  • KS E 3076-2017 珪石及び珪砂の蛍光X線分光分析法
  • KS E 3076-2022 珪石及び珪砂の蛍光X線分光分析法
  • KS D ISO 19319:2005 表面化学分析 オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 横方向分解能、分析領域およびサンプル領域の分析者の目視検査
  • KS L 3316-2009 耐火レンガ・耐火モルタルの蛍光X線分析
  • KS D ISO 15472-2003(2018) 表面化学分析-X線光電子分光装置-エネルギースケール補正
  • KS D ISO 15470:2005 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
  • KS E 3075-2017 石灰石とドロマイトの蛍光X線分光分析法
  • KS E 3075-2022 石灰石とドロマイトの蛍光X線分光分析法
  • KS D ISO 18118-2005(2020) 表面化学分析における均質材料の定量分析のための実験的に決定された相対感度係数の使用に関するガイドライン オージェ電子分光法および X 線光電子分光法
  • KS D 2597-1996(2016) ジルコニウムおよびジルコニウム合金の蛍光X線分析方法
  • KS D ISO 15632:2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査
  • KS M ISO 8754:2003 石油製品 硫黄含有量の測定 エネルギー分散型蛍光 X 線分析
  • KS D ISO 19318:2005 表面化学分析、X線光電子分光法、帯電制御・帯電補正方法に関する報告
  • KS D ISO 22489:2012 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量分析。
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  • KS L ISO 10058-3-2012(2022) マグネサイトおよびドロマイト耐火物品の化学分析 (蛍光 X 線の代わり) パート 3: フレーム原子吸光分析 (FAAS) および誘導結合プラズマ原子発光分析 (ICP-AES)
  • KS L ISO 20565-3:2012 クロム含有耐火物およびクロム含有原材料の化学分析 (蛍光 X 線法はオプション) パート 3: フレーム原子吸光分析法 (FAAS) および誘導結合プラズマ原子発光分析法 (ICP.AES)
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  • ASTM E996-19 オージェ電子分光法および X 線光電子分光法でデータを報告するための標準的な方法
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  • ASTM E280-21 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
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  • ASTM D6481-99(2004) エネルギー拡散蛍光X線分析法による潤滑油中のリン、硫黄、カルシウム、亜鉛の定量のための標準試験法
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  • ASTM F2617-08 エネルギー分散型 X 線分光法を使用したポリマー材料中のクロム、臭素、カドミウム、水銀、鉛の測定のための標準試験方法
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  • GA/T 1937-2021 法医学 ゴム検査 走査型電子顕微鏡/X線分光分析
  • GA/T 1939-2021 法医学現在点検査走査型電子顕微鏡/X線エネルギー分光法
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  • YS/T 581.10-2006 フッ化アルミニウムの化学分析方法と物性 第10回 蛍光X線分析による硫黄分の定量
  • YS/T 273.11-2006 氷晶石の化学分析および物理的性質の測定方法 第 11 部: 蛍光 X 線分析による硫黄含有量の測定
  • YS/T 581.16-2008 フッ化アルミニウムの化学分析法と物性 第16部 蛍光X線分析による元素含有量の測定
  • YS/T 581.18-2012 フッ化アルミニウムの化学分析法及び物性測定法 第18回 蛍光X線分析法による元素含有量の測定(打錠法)
  • YS/T 273.15-2012 氷晶石の化学分析および物性測定方法 第15回 蛍光X線分析法(打錠法)による元素含有量の測定
  • YS/T 644-2007 白金 - ルテニウム合金膜の試験方法 X 線光電子分光法による合金化白金および合金化ルテニウムの含有量の測定。
  • YS/T 820.19-2012 ラテライトニッケル鉱石の化学分析方法 パート 19: アルミニウム、クロム、鉄、マグネシウム、マンガン、ニッケル、ケイ素の量の測定 エネルギー分散型蛍光 X 線分析法

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  • DS/EN 12544-3:2002 非破壊検査用X線管電圧の測定と評価 第3部:分光法
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  • DS/EN ISO 21587-3:2007 アルミノケイ酸塩耐火物の化学分析 (蛍光 X 線の代替) パート 3: 誘導結合プラズマおよび原子吸光分析
  • DS/EN ISO 10058-3:2009 マグネサイトおよびドロマイト耐火物品の化学分析 (蛍光 X 線の代替) パート 3: フレーム原子吸光分析 (FAAS) および誘導結合プラズマ原子発光分析 (ICP-AES)

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  • PNST 507-2020 透過型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して特性評価されたナノテクノロジー単層カーボン ナノチューブ
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  • PD CEN/TR 10354:2011 鉄系材料の化学分析 フェロシリコンの分析 蛍光X線分析によるシリコンとアルミニウムの定量
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Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, X線エネルギー分光法およびX線光電子分光法

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Professional Standard - Petrochemical Industry, X線エネルギー分光法およびX線光電子分光法

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Professional Standard - Agriculture, X線エネルギー分光法およびX線光電子分光法

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Professional Standard - Commodity Inspection, X線エネルギー分光法およびX線光電子分光法

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  • SN/T 2003.5-2006 電子・電気製品中の鉛、水銀、クロム、カドミウム、臭素の定量 第5部:エネルギー分散型蛍光X線分析による定量スクリーニング法
  • SN/T 2003.3-2006 電子・電気製品中の鉛、水銀、カドミウム、クロム、臭素の測定その3:蛍光X線分析による定量スクリーニング法
  • SN/T 2003.1-2005 電子・電気製品中の鉛、水銀、カドミウム、クロム、臭素の定量 その1:蛍光X線分析による定性スクリーニング法
  • SN/T 3816-2014 ゴム製品中のコバルト、ヒ素、クロム、錫、臭素、鉛の定量スクリーニング法 エネルギー分散型蛍光X線分析法

Professional Standard - Machinery, X線エネルギー分光法およびX線光電子分光法

  • JB/T 11602.3-2013 非破壊検査装置のX線管電圧の測定と評価 第3部:エネルギースペクトル試験
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Lithuanian Standards Office , X線エネルギー分光法およびX線光電子分光法

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  • LST EN ISO 20565-3:2009 クロム含有耐火物およびクロム含有原料の化学分析(蛍光X線の代替) 第3部:フレーム原子吸光分析法(FAAS)および誘導結合プラズマ原子発光分析法(ICP-
  • LST EN ISO 21587-3:2007 アルミノケイ酸塩耐火物品の化学分析 (蛍光 X 線の代替) パート 3: 誘導結合プラズマおよび原子吸光分析 (ISO 21587-3:2007)

Indonesia Standards, X線エネルギー分光法およびX線光電子分光法

Professional Standard - Textile, X線エネルギー分光法およびX線光電子分光法

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工业和信息化部, X線エネルギー分光法およびX線光電子分光法

  • YS/T 581.15-2012 フッ化アルミニウムの化学分析及び物性測定方法 第15回 蛍光X線分析法による元素含有量の測定(打錠法)

AENOR, X線エネルギー分光法およびX線光電子分光法

  • UNE-EN 12544-3:2000 非破壊検査 X線管電圧の測定と評価 第3部:分光法
  • UNE-EN ISO 21587-3:2008 アルミノケイ酸塩耐火物品の化学分析 (蛍光 X 線の代替) パート 3: 誘導結合プラズマおよび原子吸光分析 (ISO 21587-3:2007)

ES-UNE, X線エネルギー分光法およびX線光電子分光法

Canadian General Standards Board (CGSB), X線エネルギー分光法およびX線光電子分光法

International Electrotechnical Commission (IEC), X線エネルギー分光法およびX線光電子分光法

  • IEC TS 62607-6-21:2022 ナノ製造、重要な制御特性、パート 6-21: グラフェンベースの材料、元素組成 C/O 比: X 線光電子分光法

Professional Standard - Geology, X線エネルギー分光法およびX線光電子分光法

  • DZ/T 0279.10-2016 地域の地球化学サンプル分析法パート 10: 粉末圧縮錠剤の塩素および臭素量の測定 - 蛍光 X 線分析法

Anhui Provincial Standard of the People's Republic of China, X線エネルギー分光法およびX線光電子分光法

  • DB34/T 3368.1-2019 プリント基板中の有害物質の分析方法 第 1 部:蛍光 X 線分析による鉛、水銀、クロム、カドミウム、臭素の迅速スクリーニング




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