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マイクロ波の誘電率と損失

マイクロ波の誘電率と損失は全部で 162 項標準に関連している。

マイクロ波の誘電率と損失 国際標準分類において、これらの分類：プリント回路およびプリント回路基板、非金属鉱物、断熱材、総合電子部品、絶縁流体、通信機器の部品および付属品、電気、磁気、電気および磁気測定、周波数制御と選択のための圧電および誘電デバイス、ゴム、コンデンサ、磁性材料、電気および電子試験、プラスチック、ゴム・プラスチック製品、電気工学総合。

IPC - Association Connecting Electronics Industries, マイクロ波の誘電率と損失

IPC TM-650 2.5.5.5C-1998 Xバンドの誘電率と損失正接（誘電率と誘電正接）のストリップライン試験
IPC TM-650 2.5.5.5B-1995 Xバンドの誘電率と損失正接（誘電率と誘電正接）のストリップライン試験
IPC TM-650 2.5.5.3C-1987 材料の誘電率（誘電率）と損失正接（誘電正接）（二流体セル法）
IPC TM-650 2.5.5.1B-1986 1MHzにおける絶縁材料の誘電率（誘電率）と損失正接（誘電正接）（接触電極方式）

American Society for Testing and Materials (ASTM), マイクロ波の誘電率と損失

ASTM D3380-22 ポリマーベースのマイクロ波回路基板の比誘電率（誘電率）と誘電正接の標準試験方法
ASTM D3380-90(1995)e1 ポリマーベースのマイクロ波回路基板の比誘電率（誘電率）と誘電正接の標準試験方法
ASTM D1082-17 マイカの誘電損失率及び誘電率（誘電率）の標準試験方法
ASTM D3380-14 ポリマーベースのマイクロ波回路基板の比誘電率（誘電率）および電気正接の標準試験方法
ASTM D2149-13 固体セラミック誘電体の誘電率（誘電率）および誘電正接の標準試験方法
ASTM D150-18 固体電気絶縁材料の交流損失特性及び誘電率（誘電率）の標準試験方法
ASTM D150-87 固体電気絶縁材料の交流損失特性及び誘電率（誘電率）の標準試験方法
ASTM D3380-90(2003) プラスチック系マイクロ波回路基板の相対透過率（誘電率）と誘電正接の試験方法
ASTM D2520-21 マイクロ波周波数および 1650°C の温度における固体電気絶縁材料の複素誘電率 (誘電率) の標準試験方法
ASTM D2149-97(2004) 周波数10MHz、温度500℃における固体セラミック誘電体の誘電率（誘電率）と損失係数の試験方法
ASTM D2149-97 周波数10MHz、温度500℃における固体セラミック誘電体の誘電率（誘電率）と損失係数の試験方法
ASTM D150-98(2004) 固体電気絶縁材料（定誘電体）の交流損失特性および比誘電率の標準試験方法
ASTM D150-98 固体電気絶縁材料（定誘電体）の交流損失特性および比誘電率の標準試験方法
ASTM D924-99e1 電気絶縁性液体の誘電正接（または力率）および誘電率（誘電率）の標準試験方法
ASTM D924-99e2 電気絶縁性液体の誘電正接（または力率）および誘電率（誘電率）の標準試験方法
ASTM D924-08 電気絶縁性液体の損失係数（または力率）と誘電率（誘電率）の標準試験方法
ASTM D924-15 電気絶縁性液体の誘電正接（または力率）および誘電率（誘電率）の標準試験方法
ASTM D2149-13(2021) 周波数 10 MHz、温度 500°C における固体誘電体の誘電率と誘電正接の標準試験方法
ASTM D1531-01 液体置換法による誘電率および誘電正接の標準試験方法
ASTM D1531-01e1 液体置換法による誘電率および誘電正接の標準試験方法
ASTM D1531-95 液体置換法による誘電率および誘電正接の標準試験方法
ASTM D924-04 電気絶縁性液体の損失係数（または力率）および比誘電率（誘電率）の標準試験方法
ASTM D924-03 電気絶縁性液体の損失係数（または力率）および比誘電率（誘電率）の標準試験方法
ASTM D924-03a 電気絶縁性液体の損失係数（または力率）および比誘電率（誘電率）の標準試験方法
ASTM D1673-94(2004) 電気絶縁用延伸多孔質ポリマーの比誘電率および誘電正接の標準試験方法
ASTM D1673-94(1998) 電気絶縁用延伸多孔質ポリマーの比誘電率および誘電正接の標準試験方法
ASTM D150-11 固体電気絶縁材料の交流損失特性および誘電率（誘電率）の標準試験方法
ASTM A893/A893M-03 マイクロ波周波数における非金属磁性材料の複素誘電率の標準試験方法
ASTM A893/A893M-03(2022) マイクロ波周波数における非金属磁性材料の複素誘電率の標準試験方法
ASTM A893-97 マイクロ波周波数における非金属磁性材料の複合誘電率の標準試験方法
ASTM A893/A893M-03(2008) マイクロ波周波数における非金属磁性材料の複合誘電率の標準試験方法
ASTM A893/A893M-03(2015) マイクロ波周波数における非金属磁性材料の複合誘電率の標準試験方法
ASTM D669-92(1997) 平行積層薄板および板積層体の誘電正接および誘電率の標準試験方法
ASTM D2520-13 マイクロ波周波数および 1650°C における固体電気絶縁材料の複合誘電率の標準試験方法
ASTM D669-92(2002) 積層シートおよび積層板の層に平行な散逸係数および誘電率の試験方法
ASTM D2520-95 マイクロ波周波数および 1650°C における固体電気絶縁材料の複合誘電率の標準試験方法
ASTM D2520-01 マイクロ波周波数および 1650°C における固体電気絶縁材料の複合誘電率の標準試験方法
ASTM D3380-10 ポリマーベースの高周波回路マトリックスの比誘電率（誘電率）と誘電正接の標準試験方法
ASTM D5568-01 マイクロ波周波数における固体材料の比複素誘電率および透磁率を測定するための標準試験方法
ASTM D5568-95 マイクロ波周波数における固体材料の比複素誘電率および透磁率を測定するための標準試験方法
ASTM D5568-22a マイクロ波周波数における固体材料の比複素誘電率および透磁率を測定するための標準試験方法
ASTM D5568-08 マイクロ波周波数における固体材料の比複素誘電率および透磁率を測定するための標準試験方法
ASTM D669-03 積層された薄板および中厚シートに平行な層の散逸係数および誘電率の標準試験方法
ASTM D5568-22 導波管を使用してマイクロ波周波数で固体材料の複素比誘電率と比透磁率を測定する標準的な試験方法

Professional Standard - Electron, マイクロ波の誘電率と損失

SJ 20512-1995 マイクロ波大損失固体材料の複素誘電率および複素透磁率の試験方法
SJ/T 11043-1996 電子ガラスの高周波誘電損失および比誘電率の試験方法
SJ/T 10143-1991 固体誘電体のマイクロ波複素誘電率の試験方法リエントリーキャビティ法
SJ/T 1147-1993 コンデンサ用有機膜の誘電正接及び比誘電率の試験方法
SJ/T 10142-1991 誘電体のマイクロ波複素誘電率の試験方法同軸線路端子開放法
SJ/T 11457.1.3-2021 導波管型誘電体共振器第 1-3 部：総合情報と試験条件 - マイクロ波周波数領域における誘電体共振器材料の複素比誘電率の測定方法

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), マイクロ波の誘電率と損失

IPC TM-650 2.5.5.4-1985 プリント基板材料の誘電率と誘電正接ミクロン法
IPC TM-650 2.5.5.5-1998 リビジョン C、X バンドでの誘電率と損失正接 (誘電率と誘電正接) のストリップラインテスト
IPC TM-650.2.5.7.2-2009 材料の誘電率（誘電率）と損失正接（誘電正接）（二液セル法）改訂 C 1987 年 12 月
IPC TM-650 2.5.5.3-1987 材料の誘電率（誘電率）と損失正接（誘電正接）（二液セル法）改訂 C 1987 年 12 月
IPC TM-650-2015 材料の誘電率（誘電率）と損失正接（誘電正接）（二液セル法）改訂 C 1987 年 12 月
IPC TM-650 2.5.5.2-1987 プリント基板材料の誘電率と誘電正接 - クリップ法
IPC TM-650 2.5.5.9-1998 MHz ～ 1.5 GHz の平行平板、誘電率および損失正接
IPC TM-650 2.5.5.1-1986 MHz における絶縁材料の誘電率 (誘電率) および損失正接 (散逸率) (接触電極方式) 改訂 B 1986 年 5 月

Group Standards of the People's Republic of China, マイクロ波の誘電率と損失

T/CSTM 00990-2023 ミリ波周波数帯における誘電率および誘電正接の試験方法擬似光共振器法
T/CSTM 00985-2023 低損失誘電体プレートの複素誘電率をテストするための独立した円筒共振空洞法

Association Francaise de Normalisation, マイクロ波の誘電率と損失

NF EN 62562:2011 低損失誘電体板の複素誘電率を測定するための共振空洞法
NF C26-232*NF EN 62810:2018 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
NF EN 62810:2018 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
NF C26-296*NF EN 62562:2011 空洞共振器法は、低損失誘電体デバイスの合成誘電率の測定に使用されます。
NF EN 60247:2004 絶縁性液体 - 比誘電率、誘電正接（tanδ）、直流抵抗率の測定
NF EN IEC 63185:2021 低損失誘電体基板の複素誘電率を測定するための対称ディスク共振器法
NF EN IEC 62631-2-2:2022 固体絶縁材料の誘電率と抵抗特性第2-2部：比誘電率と誘電正接高周波（1MHz～300MHz）交流法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), マイクロ波の誘電率と損失

KS C 2135-1996(2021) 固体電気絶縁体の交流損失特性と誘電率（誘電率）の試験方法
KS C 2150-2008(2018) 高周波（500mhz〜10ghz）誘電体膜の誘電率・誘電損失の測定方法
KS C 2150-2008 高周波帯域（500MHz～10GHz）における誘電体膜の誘電率及び誘電損失の測定方法
KS C IEC 60250:2003 電力周波数、可聴周波数、および無線周波数（メーター波長を含む）における電気絶縁材料の誘電率および誘電損失係数を決定するための推奨方法
KS C 2135-1996(2016) 固体電気絶縁体の交流損失特性と比誘電率の試験方法
KS C 2134-1996(2021) 積層板材と平板材の積層時の損失係数と誘電率の試験方法
KS C 2134-1996(2016) 積層板および板に平行な材料の誘電正接および誘電率の試験方法
KS C IEC 62631-2-1:2020 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性第 2-1 部：比誘電率と損失係数技術周波数 (0.1hz~10mhz) 交流法
KS C IEC 61338-1-3:2018 導波管型誘電体共振器パート 1-3: 一般情報と試験条件マイクロ波周波数における誘電体共振器材料の複素比誘電率の測定方法
KS C IEC 61338-1-3-2023 導波管型誘電体共振器パート 1-3: 一般情報と試験条件マイクロ波周波数における誘電体共振器材料の複素比誘電率の測定方法

PL-PKN, マイクロ波の誘電率と損失

PN E04403-1986 固体電気絶縁材料。誘電率・誘電損失率の測定
PN E04410-22-1986 電気絶縁ワニス。テスト方法。損失係数と誘電率の決定
PN-EN IEC 63185-2021-08 E 低損失誘電体基板上の平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法 (IEC 63185:2020)

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, マイクロ波の誘電率と損失

EN 62810:2015 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
EN 62562:2011 空洞共振器法による低損失誘電体板の合成誘電率測定
EN IEC 63185:2021 低損失誘電体基板平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法
EN 61338-1-3:2000 導波管型誘電体共振器パート 1-3: 一般情報と試験条件マイクロ波周波数範囲における誘電体共振器材料の比複素誘電率の測定方法
EN 61338-1-4:2006 導波管型誘電体共振器、パート 1-4: 一般情報および試験条件、マイクロ波周波数における誘電体共振器材料の比複素誘電率の測定方法、2006 年 11 月に組み込まれた正誤表

ES-UNE, マイクロ波の誘電率と損失

UNE-EN 62810:2015 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
UNE-EN 62562:2011 空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
UNE-EN 60247:2004 ERRATUM:2005 絶縁性液体の比誘電率、誘電損失率(tan d)、直流抵抗率の測定
UNE-EN IEC 63185:2021 低損失誘電体基板の複素誘電率測定のためのバランスディスク共振器法
UNE-EN 61338-1-3:2000 導波管型誘電体共振器パート 1-3: 一般情報と試験条件マイクロ波周波数における誘電体共振器材料の複素比誘電率の測定方法

German Institute for Standardization, マイクロ波の誘電率と損失

DIN EN 62810:2015-12 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
DIN EN 62562:2011-10 空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
DIN EN IEC 63185:2022-10 平衡ディスク共振器法を用いた低損失誘電体基板の複素誘電率の測定 (IEC 63185:2020)
DIN EN 63185:2018 低損失誘電体基板の複素誘電率を測定するためのバランスディスク共振器法 (IEC 46F/415/CD:2018)
DIN EN 62562:2011 空洞共振器法を使用した低損失誘電体プレートの複素誘電率の測定 (IEC 62562-2010)、ドイツ語版 EN 62562-2011
DIN EN 62810:2015 円筒共振器法を使用した低損失誘電体ロッドの複素誘電率の測定 (IEC 62810-2015)、ドイツ語版 EN 62810-2015
DIN EN 61338-1-3:2000 導波管型誘電体共振器パート 1-3: 一般情報と試験条件マイクロ波誘電体共振器材料の複素比誘電率の測定方法。
DIN EN 61338-1-3:2000-10 導波管型誘電体共振器 - パート 1-3: 一般情報および試験条件、マイクロ波周波数における誘電体共振器材料の複素比誘電率の測定方法 (IEC 61338-1-3:1999)

RO-ASRO, マイクロ波の誘電率と損失

STAS 2740-1969 電気絶縁材料。誘電率と誘電損失角の決定
STAS 12969-1991 熱力学的温度 70 度における固体電気絶縁材料の誘電率と損失正接を決定する方法

RU-GOST R, マイクロ波の誘電率と損失

GOST R 8.623-2015 測定の一貫性を確保するための国家システム固体誘電体の比誘電率と損失係数マイクロ波周波数の測定手順
GOST 22372-1977 誘電体材料周波数帯域100Hz～5MHzにおける誘電率及び誘電正接の測定方法
GOST 8.358-1979 0.2～1GHzの周波数帯域における比誘電率および誘電正接角の測定方法
GOST R IEC 62562-2012 測定の一貫性を確保するための国家制度空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
GOST 8.544-1986 測定の一貫性を確保するための状態システム比誘電率固体誘電体の損失正接 9 度 10 から 10 度 Hz までの測定手順 10

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, マイクロ波の誘電率と損失

GB 7265.1-87 固体誘電体のマイクロ波複素誘電率の試験方法摂動法
GB 7265.1-1987 固体誘電体のマイクロ波複素誘電率の試験方法摂動法
GB/T 5597-1999 固体誘電体のマイクロ波複素誘電率の試験方法
GB/T 1693-2007 加硫ゴムの誘電率及び誘電正接の求め方
GB 7265.2-1987 固体誘電体のマイクロ波複素誘電率の試験方法「オープンキャビティ」法
GB/T 5594.4-2015 電子部品用構造用セラミック材料の性能試験方法第4部誘電率及び誘電正接の試験方法
GB/T 1409-2006 電気絶縁材料の電源周波数、可聴周波数、および高周波（メーター波の波長を含む）における誘電率および誘電損失率の推奨測定方法

American National Standards Institute （ANSI), マイクロ波の誘電率と損失

ANSI/ASTM D150:2018 固体電気絶縁体の交流損失特性と誘電率（誘電率）の標準試験方法
ANSI/ASTM D3380:2010 プラスチック系マイクロ波回路基板の相対透過率（誘電率）と誘電正接の試験方法
ANSI/ASTM D150:2011 固体電気絶縁材料（定誘電体）の交流損失特性と比誘電率の試験方法
ANSI/ASTM A893:1997 マイクロ波周波数における非金属磁性材料の複合誘電率の試験方法
ANSI/ASTM D2520:2013 マイクロ波周波数および 1650°C の温度における固体電気絶縁材料の総合誘電率の新しい標準試験方法

Danish Standards Foundation, マイクロ波の誘電率と損失

DS/EN 62562:2011 空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
DS/EN 60247:2004 絶縁性液体の比誘電率、誘電損率（tanファイ）、直流抵抗率の測定
DS/EN IEC 63185:2021 低損失誘電体基板平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法
DS/EN 61338-1-3:2000 導波管型誘電体共振器パート 1-3: 一般情報と試験条件マイクロ波周波数における誘電体共振器材料の複素比誘電率の測定方法

British Standards Institution (BSI), マイクロ波の誘電率と損失

BS EN 62562:2011 空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
BS EN 62810:2015 円筒共振空洞法を用いた低損失誘電体棒の複素誘電率の測定
BS EN IEC 63185:2021 平衡ディスク共振器法による低損失誘電体基板の複素誘電率測定
BS IEC 61196-1-125:2022 同軸通信ケーブルの電気試験方法誘電体の等価誘電率および等価損失率試験
18/30373795 DC BS EN 63185. 低損失誘電体基板の複素誘電率を測定するための平衡ディスク共振器法
BS EN IEC 62631-2-2:2022 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性比誘電率と損失係数高周波 (1MHz ～ 300MHz) AC モード
21/30435996 DC BS IEC 61196-1-125 同軸通信ケーブルパート 1-125 電気的試験方法誘電体の等価誘電率および等価散逸損失試験
BS EN 61338-1-3:2000 導波管型誘電体共振器の概要と試験条件マイクロ波周波数誘電体共振器材料の複素比誘電率の測定方法
20/30425177 DC BS IEC 62631-2-2 固体絶縁材料の誘電特性および抵抗特性 Part 2-2 比誘電率および誘電正接高周波 (1 MHz ～ 300 MHz) AC 方式
BS EN 61189-2-721:2015 電気材料、プリント基板、その他の相互接続構造および組み立てられたデバイスの試験方法相互接続構造材料の試験方法分割誘電体共振器を使用したマイクロ波周波数での銅張積層板の比誘電率と損失正接の測定

CZ-CSN, マイクロ波の誘電率と損失

CSN 72 5041-1973 焼成したセラミック材料の試験。誘電率と誘電損失率の測定

International Electrotechnical Commission (IEC), マイクロ波の誘電率と損失

IEC PAS 62562:2008 空洞共振器法による低損失誘電体デバイスの合成誘電率測定
IEC 62810:2015 円筒共振空洞法を用いた低損失誘電体棒の複素誘電率の測定
IEC 63185:2020 低損失誘電体基板平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法
IEC 62631-2-2:2022 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性パート 2-2: 比誘電率と損失係数高周波 (1MHz ～ 300MHz) AC 方式
IEC 61338-1-3:1999 導波管型誘電体共振器第 1-3 部：一般情報と試験条件マイクロ波誘電体共振器材料の複素比誘電率の測定方法
IEC 60250:1969 電源周波数、可聴周波数、無線周波数（メーター波長を含む）における電気絶縁材料の誘電率と誘電損失係数を決定するための推奨方法

HU-MSZT, マイクロ波の誘電率と損失

MSZ 4803/36.lap-1969 絶縁ワニスをテストします。誘電率と損失係数の決定
MSZ 15747/9-1982 セラミック電気切断装置の試験における比誘電率と損失係数の定義

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), マイクロ波の誘電率と損失

JIS C 2138:2007 電気絶縁材料、比誘電率、誘電損失率の求め方

IEC - International Electrotechnical Commission, マイクロ波の誘電率と損失

PAS 62562-2008 低損失誘電体プレートの複素誘電率を測定するための空洞共振器法 (バージョン 1.0)

Lithuanian Standards Office , マイクロ波の誘電率と損失

LST EN 62562-2011 低損失誘電体プレートの複素誘電率を測定するための空洞共振器法 (IEC 62562:2010)
LST EN 60247-2004 絶縁性液体の比誘電率、誘電損失率 (tan) および DC 抵抗率の測定 (IEC 60247:2004)
LST EN IEC 63185:2021 低損失誘電体基板上の平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法 (IEC 63185:2020)

AENOR, マイクロ波の誘電率と損失

UNE-EN 60247:2004 絶縁性液体の比誘電率、誘電損失率(tan d)、直流抵抗率の測定

未注明发布机构, マイクロ波の誘電率と損失

DIN EN IEC 63185:2022 対称ディスク共振器法を用いた低損失誘電体基板の複素誘電率の測定
BS 7663:1993(2000) シート状または管状の電気絶縁材料の誘電率および誘電正接を測定するための試験方法

KR-KS, マイクロ波の誘電率と損失

KS C 2150-2008(2023) 高周波領域（500MHz～10GHz）における誘電体膜の誘電率および誘電損失の測定方法
KS C IEC 62631-2-1-2020 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性第 2-1 部：比誘電率と損失係数技術周波数 (0.1hz~10mhz) 交流法
KS C IEC 61338-1-3-2018 導波管型誘電体共振器パート 1-3: 一般情報と試験条件マイクロ波周波数における誘電体共振器材料の複素比誘電率の測定方法
KS C IEC 61338-1-3-2018(2023) 導波管型誘電体共振器パート 1-3: 一般情報と試験条件マイクロ波周波数における誘電体共振器材料の複素比誘電率の測定方法

IN-BIS, マイクロ波の誘電率と損失

IS 13621-1993 マイクロ波周波数における木材の誘電率を測定するための試験方法
IS 4486-1967 電力、可聴周波、無線周波数（メーターの波長を含む）における電気絶縁材料の誘電率と誘電正接を決定するための推奨方法

Standard Association of Australia （SAA）, マイクロ波の誘電率と損失

AS 1767.2.2:2008 絶縁性液体の試験方法比誘電率、誘電正接（tan d）、直流抵抗率の測定

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, マイクロ波の誘電率と損失

GB/T 31838.6-2021 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性第6部：誘電特性（交流法）比誘電率と誘電損失率（周波数0.1Hz～10MHz）

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, マイクロ波の誘電率と損失

CNS 7634-1981 マイクロ波周波数における非金属磁性材料の複素誘電率の試験方法

AT-OVE/ON, マイクロ波の誘電率と損失

OVE EN IEC 62631-2-2:2021 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性第 2-2 部：比誘電率と誘電正接高周波 (1 MHz ～ 300 MHz) 交流法 (IEC 112/531/CDV) (英語版)