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XPSとAES

XPSとAESは全部で 11 項標準に関連している。

XPSとAES 国際標準分類において、これらの分類：分析化学、 プラスチック。

IETF - Internet Engineering Task Force, XPSとAES

• RFC 4494-2006 AES-CMAC-96 アルゴリズムと IPsec でのその使用
• RFC 3602-2003 AES-CBC 暗号化アルゴリズムと IPsec でのその使用
• RFC 3566-2003 AES-XCBC-MAC-96 アルゴリズムと IPsec でのその使用

International Organization for Standardization (ISO), XPSとAES

• ISO 16531:2020 表面化学分析 - 深さ分析 - イオン ビーム アライメント法および関連する電流または電流密度測定は、AES および XPS での深さ分析に使用されます。
• ISO 16531:2013 表面化学分析 深さプロファイリング 原子発光分光法 (AES) および光電子分光法 (XPS) における深さプロファイリングのためのイオン ビーム補正および電流または電流密度の関連測定方法。

British Standards Institution (BSI), XPSとAES

• BS ISO 16531:2020 表面化学分析 深さプロファイリング AES および XPS における深さプロファイリングのためのイオン ビーム アライメント法および関連する電流または電流密度の測定法
• 19/30399949 DC BS ISO 16531 表面化学分析における深さプロファイリングのためのイオンビームのアライメント方法、および AES および XPS における深さプロファイリングのための電流または電流密度の関連測定方法
• BS ISO 16531:2013 表面化学分析、深さプロファイリング、光電子分光法 (XPS) および原子発光分光法 (AES) の深さプロファイリングにおけるイオン ビーム校正および電流または電流密度の関連測定方法。
• BS EN ISO 6402-1:2002 プラスチック：ブタジエン変性材料を除くアクリロニトリル/スチレン系成形材料および圧縮成形材料（ASA、AES、ACS）の耐衝撃性 命名法および表記法と仕様に関する基礎知識

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, XPSとAES

• GB/T 33502-2017 表面化学分析のための X 線光電子分光法 (XPS) データの記録とレポートの仕様要件
• GB/T 32565-2016 表面化学分析のためのオージェ電子分光法 (AES) データの記録とレポートの仕様要件

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