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シリコンウェーハ表面ピーク

シリコンウェーハ表面ピークは全部で 252 項標準に関連している。

シリコンウェーハ表面ピーク 国際標準分類において、これらの分類：半導体材料、 金属材料試験、 絶縁流体、 非鉄金属、 分析化学、 鉄鋼製品、 周波数制御と選択のための圧電および誘電デバイス、 語彙、 長さと角度の測定、 オーディオ、ビデオ、およびオーディオビジュアル エンジニアリング、 太陽工学、 建物の保護、 写真撮影のスキル、 ゴムおよびプラスチック産業の生産プロセス、 航空宇宙製造用の材料、 建物内の設備、 医療機器、 電子機器、 集積回路、マイクロエレクトロニクス、 電気および電子試験、 航空宇宙用電気機器およびシステム、 食品と接触する物品および材料、 化学製品、 パラフィン、瀝青材、その他の石油製品、 道路工事、 抵抗器、 塗料成分、 ガラス、 食品総合、 キッチン用品、 橋の建設、 フィルター、 断熱材、 道路車両装置、 無機化学、 粒度分析、スクリーニング、 映画、 磁性材料、 プラスチック、 消毒・滅菌、 ゴムやプラスチックの原料、 表面処理・メッキ、 塗装工程、 船内機器および計器類。


中国有色金属工业总公司, シリコンウェーハ表面ピーク

  • YS/T 25-1992 シリコン研磨ウェーハ表面洗浄方法
  • YS/T 27-1992 ウェーハ表面の微粒子汚染を測定およびカウントする方法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, シリコンウェーハ表面ピーク

  • GB/T 29505-2013 シリコンウェーハの平面の表面粗さ測定方法
  • GB/T 6621-2009 シリコンウェーハの表面平坦性試験方法
  • GB/T 19921-2005 シリコン研磨ウェーハの表面パーティクルの試験方法
  • GB/T 42789-2023 シリコンウェーハの表面光沢度の試験方法
  • GB/T 6621-1995 シリコン研磨ウェーハの表面平坦度試験方法
  • GB/T 6624-1995 シリコン研磨ウェーハの表面品質を目視検査する方法
  • GB/T 6624-2009 シリコン研磨ウェーハの表面品質を目視検査する方法
  • GB/T 17169-1997 シリコン研磨ウェーハおよびエピタキシャルウェーハの表面品質の光反射試験方法
  • GB/T 42902-2023 炭化珪素エピタキシャルウェーハの表面欠陥検査のためのレーザー散乱法
  • GB/T 25188-2010 X線光電子分光法によるシリコンウェーハ表面の極薄酸化シリコン層の厚さの測定
  • GB/T 24577-2009 昇温脱離ガスクロマトグラフィーによるシリコンウェーハ表面の有機汚染物質の定量
  • GB/T 30860-2014 太陽電池用シリコンウェーハの表面粗さと切断線跡の検査方法
  • GB/T 24578-2015 全反射蛍光X線分光法によるシリコンウェーハ表面の金属汚染検査方法
  • GB/T 24578-2009 全反射蛍光X線分光法によるシリコンウェーハ表面の金属汚染検査方法
  • GB/T 24575-2009 シリコンおよびエピタキシャルウェーハ表面上のNa、Al、K、Feの二次イオン質量分析による検出方法
  • GB/T 2523-2008 冷間圧延金属板（条）の表面粗さとピーク数の測定方法
  • GB/T 43313-2023 共焦点微分干渉法を使用した炭化ケイ素研磨ウェーハの表面品質とマイクロチューブ密度の検査
  • GB/T 30701-2014 表面化学分析: 化学物質収集法と全反射蛍光 X 線分析 (TXRF) によるシリコン ウェーハ作業標準サンプルの表面元素の測定
  • GB 10810.5-2012 眼鏡レンズ パート 5: レンズ表面の耐摩耗性要件
  • GB/T 2523-2022 冷間圧延金属板および帯の表面粗さ、ピーク数およびうねりの測定方法
  • GB/T 13388-2009 シリコンウェーハ基準面の結晶方位X線検査方法
  • GB/T 13388-1992 シリコンウェーハ基準面の結晶方位のX線測定方法
  • GB/T 31225-2014 エリプソメトリーを使用してシリコン表面上の薄い二酸化シリコン層の厚さを測定する方法
  • GB/T 13387-2009 シリコン等の電子材料ウエハの基準面長の測定方法
  • GB/T 30118-2013 弾性表面波（SAW）デバイスの単結晶ウェーハ仕様と測定方法
  • GB/T 32495-2016 表面化学分析 二次イオン質量分析 シリコン中のヒ素の深さプロファイリング方法
  • GB/T 24579-2009 酸浸出 原子吸光分析による多結晶シリコン表面の金属汚染物質の測定。
  • GB/T 23656-2009 ゴム配合剤 沈降含水シリカの比表面積の測定 CTAB法

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, シリコンウェーハ表面ピーク

  • GB/T 19921-2018 シリコン研磨ウェーハの表面パーティクルの試験方法
  • GB/T 40279-2021 光反射法によるシリコンウェーハ表面の膜厚測定
  • GB/T 40110-2021 表面化学分析 全反射蛍光 X 線分析 (TXRF) によるシリコン ウェーハ表面の元素汚染の測定
  • GB/T 39145-2020 誘導結合プラズマ質量分析法によるシリコンウェーハ表面の金属元素含有量の測定
  • GB/T 41073-2021 表面化学分析の基本要件 電子エネルギー分光法 X 線光電子分光法ピーク フィッティング レポート
  • GB/T 40109-2021 表面化学分析 シリコン中のホウ素の深さ分析のための二次イオン質量分析法

Group Standards of the People's Republic of China, シリコンウェーハ表面ピーク

  • T/IAWBS 002-2017 炭化珪素エピタキシャルウェーハの表面欠陥検査方法
  • T/FSI 049-2020 ヒュームドシリカ表面のシラノール含有量の試験方法
  • T/CASAS 032-2023 誘導結合プラズマ質量分析法による炭化ケイ素ウェーハ表面の金属元素含有量の測定
  • T/ZZB 0497-2018 弾性表面波デバイス用単結晶ウエハ
  • T/IAWBS 010-2019 炭化珪素単結晶研磨ウェーハの表面品質およびマイクロチューブ密度検出法 - レーザー散乱検出法
  • T/CECA 69-2022 弾性表面波装置用単結晶薄膜基板
  • T/IAWBS 012-2019 炭化ケイ素単結晶研磨ウェーハの表面品質とマイクロチューブ密度の試験方法 - 共焦点微分干渉光学法
  • T/CPUIA 0013-2022 冷蔵庫用ポリウレタン硬質発泡シリコーン界面活性剤
  • T/CPUIA 0011-2022 家庭用ポリウレタンソフトフォームシリコーン界面活性剤
  • T/JSJTQX 32-2023 「水性フロロシラン橋梁コンクリート表面用易洗浄保護剤」
  • T/CESA 1186-2022 電子実装用シリカ微粉末表面のシリカ水酸基含有量の試験方法 酸塩基滴定法
  • T/CPUIA 0012-2022 自動車用ポリウレタン高反発発泡シリコーン界面活性剤
  • T/SPUIA 0003-2021 軟質ポリウレタンフォーム用低環体シリコーン界面活性剤
  • T/ZZB 3068-2023 一般物体表面および空気消毒用二酸化塩素消毒タブレット

Professional Standard - Electron, シリコンウェーハ表面ピーク

  • SJ/T 11504-2015 炭化珪素単結晶研磨ウェーハの表面品質試験方法
  • SJ/T 11503-2015 炭化珪素単結晶研磨ウェーハの表面粗さの試験方法
  • SJ/T 10627-1995 格子間酸素含有量の減少を測定することによりシリコンウェーハの酸素析出特性を評価する方法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), シリコンウェーハ表面ピーク

  • KS D 0261-2012(2017) シリコンウェーハをミラーで検査
  • KS D ISO 14706-2003(2018) 表面化学分析 – 全反射蛍光X線分析装置によりシリコンウェーハ表面の元素不純物を測定
  • KS D 0261-2012 ミラーシリコンウェーハの外観検査
  • KS D 0261-2012(2022) ミラーシリコンウェーハの外観検査
  • KS D ISO 14706:2003 表面化学分析 全反射蛍光X線分析法を使用したシリコンウェーハ表面の主な汚染物質の測定
  • KS C IEC 62276:2019 単結晶シリコンウェーハデバイスの表面弾性波（Saw）用途 - 仕様と測定方法
  • KS R 1101-2005(2020) 自動車用ディスクブレーキパッド材料の表面腐食試験方法
  • KS C IEC 62276:2007 弾性表面波デバイス用単結晶ウェーハ 仕様と測定方法
  • KS M ISO 8215-2007(2018) 界面活性剤洗濯洗剤中の総シリカ含有量を測定するための重量法
  • KS R ISO 7629-2015(2020) ディスクブレーキパッド試験後の道路車両ブレーキライニングの表面および材料の欠陥の評価

Society of Automotive Engineers (SAE), シリコンウェーハ表面ピーク

AGMA - American Gear Manufacturers Association, シリコンウェーハ表面ピーク

  • P149.03-1983 熱可塑性歯車歯面のピーク温度の予測

KR-KS, シリコンウェーハ表面ピーク

  • KS D ISO 14706-2003(2023) 表面化学分析 – 全反射蛍光X線分析装置によりシリコンウェーハ表面の元素不純物を測定
  • KS C IEC 62276-2019 単結晶シリコンウェーハデバイスの表面弾性波（Saw）用途 - 仕様と測定方法
  • KS A ISO 8400-2003(2023) フィルム技術 16mmフィルム乳剤面の位置特定
  • KS M ISO 8215-2007(2023) 界面活性剤洗濯洗剤中の総シリカ含有量を測定するための重量法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), シリコンウェーハ表面ピーク

  • JIS H 0614:1996 ミラーシリコンウェーハの外観検査
  • JIS K 0148:2005 表面化学分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 測定を使用した、シリコン ウェーハ上の主な表面汚染物質の測定。
  • JIS K 0160:2009 表面化学分析では、シリコンウェーハ処理標準物質の表面から元素と化学的方法を収集し、全反射蛍光 X 線 (TXRF) 分光光度法によってそれらを測定します。
  • JIS K 0164:2023 シリコン中のホウ素の深さ分析のための表面化学分析二次イオン質量分析法
  • JIS T 7336:2011 眼科用光学部品 カットされていない完成品の眼科用レンズ 耐摩耗性の眼科用レンズ表面の最小要件の宣言。
  • JIS C 6760:2014 弾性表面波（SAW）デバイス用単結晶ウェーハ 仕様と測定方法

American Society for Testing and Materials (ASTM), シリコンウェーハ表面ピーク

  • ASTM F1810-97 シリコンウェーハの浸食または表面欠陥の優先統計の標準試験方法
  • ASTM F523-93(1997) 研磨されたシリコンウェーハ表面の肉眼検査の標準的な方法
  • ASTM F672-88(1995)e1 分布抵抗プローブを使用して、表面に垂直な縦断面のシリコンウェーハの抵抗率を測定する標準的な試験方法
  • ASTM F154-00 鏡面シリコン表面に存在する構造と汚染物質を特定するための標準ガイド
  • ASTM F950-98 角度研磨法とキズエロージョン加工法によるシリコンウェーハ加工品表面の結晶ダメージの深さを測定する試験方法
  • ASTM D6845-02(2008) 沈降水和シリカの標準試験法 - CTAB 表面積
  • ASTM E1337-90 標準基準試験タイヤを使用した舗装面での縦方向のピーク制動係数を決定するための標準試験方法
  • ASTM F1239-94 格子間酸素還元を測定することによりシリコンウェーハ上の酸素析出を特性評価するための標準試験方法
  • ASTM D1993-03(2013)e1 多点BET窒素吸着法を用いた析出シリコンの表面積測定のための標準試験法
  • ASTM D5604-96(2006) 沈降シリカの標準試験法 シングルサイトBET窒素吸着法による沈降シリカの表面積
  • ASTM D5604-96(2001) 沈降シリカの標準試験法 シングルサイトBET窒素吸着法による沈降シリカの表面積
  • ASTM D5604-96 沈降シリカの標準試験法 シングルサイトBET窒素吸着法による沈降シリカの表面積
  • ASTM D5604-96(2017) 沈降シリカの標準試験法 シングルサイトBET窒素吸着法による沈降シリカの表面積
  • ASTM E1337-90(2018) 標準の基準試験タイヤを使用して舗装面の縦方向のピーク制動係数を決定するための標準試験方法
  • ASTM A717/A717M-12 モノリシックサンプルの表面絶縁抵抗率の標準試験方法
  • ASTM D1993-03(2008) Bou-E-T窒素多点吸着法を用いた蒸着シリカの表面積の試験方法
  • ASTM F847-94(1999) 単結晶シリコンウェーハ上の基準面の結晶方位を X 線で測定するための標準的な試験方法
  • ASTM E2685-15(2019) 太陽電池モジュールの表面切断試験用鋼刃の標準仕様
  • ASTM D1044-13 透明プラスチックフィルムの表面摩擦抵抗の標準試験方法
  • ASTM D1044-08e1 透明プラスチックフィルムの表面摩擦抵抗の標準試験方法
  • ASTM D1044-05 透明プラスチックフィルムの表面摩擦抵抗の標準試験方法
  • ASTM D1993-03 Bou-E-T窒素多点吸着法を用いた蒸着シリカの表面積の標準試験方法
  • ASTM D1993-03(2013) Bou-E-T窒素多点吸着法を用いた蒸着シリカの表面積の標準試験方法

International Organization for Standardization (ISO), シリコンウェーハ表面ピーク

  • ISO 14706:2000 表面化学分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 測定を使用したシリコンウェーハの基本的な表面汚染の測定
  • ISO 14706:2014 表面化学分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 測定を使用したシリコンウェーハの基本的な表面汚染の測定
  • ISO 4287:1997/Amd 1:2009 製品の幾何学的数量 (GPS) の技術仕様、表面構造: プロファイル法、表面構造の用語、定義およびパラメータ、修正 1: ピーク計数
  • ISO 17331:2004 表面化学分析シリコンウェーハ作業標準物質の表面から元素を収集する化学的方法と全反射蛍光 X 線分光法によるそれらの定量
  • ISO 17331:2004/Amd 1:2010 表面化学分析 化学的手法および光学分析装置 (TXRF) による分光測定を使用したシリコンウェーハ加工標準材料表面元素の収集 修正 1
  • ISO 17560:2014 表面化学分析 - 二次イオン質量分析 - シリコン中のシリコンを深く分析する方法
  • ISO 19830:2015 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法ピーク フィッティングの最小レポート要件
  • ISO 23157:2021 反応ガスクロマトグラフィーによるヒュームドシリカ表面のシラノール基含有量の測定
  • ISO 8215:1985 界面活性剤洗濯洗剤中の総シリカ含有量を測定するための重量法
  • ISO 14701:2018 表面化学分析 - X線光電子分光法 - シリコン酸化膜厚測定

IN-BIS, シリコンウェーハ表面ピーク

Defense Logistics Agency, シリコンウェーハ表面ピーク

British Standards Institution (BSI), シリコンウェーハ表面ピーク

  • BS ISO 14706:2000 表面化学分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 分光法を使用したシリコン ウェーハ表面の元素汚染物質の測定
  • BS ISO 14706:2014 表面化学分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 分光法を使用したシリコン ウェーハ表面の元素汚染物質の測定
  • BS ISO 14706:2001 表面化学分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 分光法を使用したシリコン ウェーハ表面の元素汚染物質の測定
  • BS ISO 17331:2004+A1:2010 表面化学分析: シリコンウェーハ作業標準材料の表面から元素を収集する化学的方法と、全反射蛍光 X 線分光法 (TXRF) によるそれらの測定
  • BS EN 1388-2:1996 食品と接触する材料および物品 シリコン処理された表面 パート 2: セラミックを除くシリコン処理された表面から放出される鉛およびカドミウムの測定。
  • BS EN 50513:2009 太陽電池ウェーハ: 太陽電池製造用結晶シリコンウェーハのデータシートと製品情報
  • BS EN ISO 23157:2022 反応ガスクロマトグラフィーによるヒュームドシリカ表面のシラノール基含有量の測定
  • BS ISO 19830:2015 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法ピーク フィッティングの最小レポート要件
  • BS ISO 23157:2021 反応ガスクロマトグラフィーによるヒュームドシリカ表面のシラノール基含有量の測定
  • 21/30429402 DC BS ISO 23157 反応ガスクロマトグラフィーによるヒュームドシリカ表面のシラノール基含有量の測定
  • BS EN 62276:2013 弾性表面波（SAW）デバイス用単結晶ウェーハ 仕様と測定方法
  • BS EN 62276:2005 弾性表面波（SAW）デバイス用単結晶ウェーハ 仕様と測定方法
  • BS EN 62276:2006 弾性表面波（SAW）デバイスの単結晶ウェーハ仕様と測定方法
  • BS EN 62276:2016 弾性表面波（SAW）デバイス用単結晶ウェーハ 仕様と測定方法
  • BS ISO 14701:2018 表面化学分析 X線光電子分光分析 シリコン酸化膜厚測定

International Electrotechnical Commission (IEC), シリコンウェーハ表面ピーク

  • IEC 62276:2016 単結晶シリコンウェーハデバイスの表面弾性波（Saw）用途 - 仕様と測定方法
  • IEC 62276:2005 弾性表面波デバイス用単結晶ウェーハ 仕様と測定方法
  • IEC 62276:2012 弾性表面波（SAW）デバイス用単結晶ウェーハ 仕様と測定方法

HU-MSZT, シリコンウェーハ表面ピーク

CH-SNV, シリコンウェーハ表面ピーク

Danish Standards Foundation, シリコンウェーハ表面ピーク

  • DS/EN ISO 4287/A1:2009 幾何製品仕様 (GPS) 表面テクスチャ: プロファイル法の用語、定義、および表面テクスチャ パラメータ 修正 1: ピーク数
  • DS/EN 1388-2:1996 食品と接触する材料および物品のケイ酸塩表面 パート 2: セラミック以外のケイ酸塩表面からの鉛およびカドミウムの放出の測定
  • DS/EN 50513:2009 ソーラーウェーハ 太陽電池製造に使用される結晶シリコンウェーハのデータシートと製品情報
  • DS/EN 10342:2005 磁性材料の電磁鋼板、鋼帯、積層板の表面絶縁の分類

German Institute for Standardization, シリコンウェーハ表面ピーク

  • DIN EN 50513:2009 ソーラーシリコンウェーハ：太陽電池の製造に使用される結晶シリコンウェーハのデータシートと製品情報
  • DIN EN ISO 23157:2022-12 反応ガスクロマトグラフィーによるヒュームドシリカ表面のシラノール基含有量の測定
  • DIN EN 1388-2:1995-11 食品と接触する材料および物品 - ケイ酸塩表面 - パート 2: セラミック容器以外のケイ酸塩表面からの鉛およびカドミウムの放出の測定
  • DIN EN ISO 23157:2022 反応ガスクロマトグラフィーによるヒュームドシリカ表面のシラノール基含有量の測定 (ISO 23157:2021)
  • DIN EN 1388-2:1995 食品と接触する材料および物品 シリコン処理された表面 パート 2: セラミック製品を除く、シリコン処理された表面から放出される鉛およびカドミウムの測定; ドイツ語版 EN 1388-2:1995

Professional Standard - Building Materials, シリコンウェーハ表面ピーク

Professional Standard - Chemical Industry, シリコンウェーハ表面ピーク

The Society for Protective Coatings (SSPC), シリコンウェーハ表面ピーク

  • SSPC PA 17-2012 鋼のプロファイル/表面粗さ/ピーク数の要件に準拠するための手順を決定する
  • SSPC GUIDE 7-2015 鉛で汚染された表面処理の破片の処分に関するガイドライン

SSPC - The Society for Protective Coatings, シリコンウェーハ表面ピーク

  • PA 17-2012 鋼のプロファイル/表面粗さ/ピーク数の要件に準拠するための手順を決定する
  • GUIDE 7-1995 鉛で汚染された表面処理の破片の処分に関するガイドライン
  • GUIDE 7-2004 鉛で汚染された表面処理の破片の処分に関するガイドライン
  • GUIDE 7-2015 鉛で汚染された表面処理の破片の処分に関するガイドライン

Association Francaise de Normalisation, シリコンウェーハ表面ピーク

  • NF EN 50513:2009 ソーラーウェーハ – 太陽電池製造に使用される結晶シリコンウェーハのデータシートと製品情報
  • NF EN 62276:2018 単結晶シリコンウェーハの仕様と表面弾性波 (OAS) デバイスを使用したアプリケーションの測定方法
  • NF E05-015/A1:2009 幾何学的製品仕様書 (GPS) 表面構造: プロファイル法 表面構造の用語、定義およびパラメーター 修正 1: ピーク カウントの数値
  • NF D25-501-2*NF EN 1388-2:1996 食品と接触する材料および物品のシリコン処理表面 パート 2: セラミックス以外のシリコン処理表面から放出される鉛およびカドミウムの測定
  • NF EN 1388-2:1996 食品と接触する材料および物品 - ケイ酸塩表面 - パート 2: セラミック製品以外のケイ酸塩表面からの鉛およびカドミウムの放出の測定。
  • NF T73-706*NF ISO 8215:1986 界面活性剤 洗剤中の総シリカ含有量の測定、重量法
  • NF EN ISO 23157:2022 反応ガスガスクロマトグラフィーによるヒュームドシリカ表面のシラノール基含有量の測定
  • NF C93-616:2006 弾性表面波デバイス用単結晶ウェーハ 仕様と測定方法
  • NF T73-052:1969 界面活性剤、科学的分類、パンチカード参照分類
  • NF C93-616:2013 弾性表面波（SAW）デバイス用単結晶ウェーハ 仕様と測定方法
  • NF T35-503-4*NF EN ISO 8503-4:2012 コーティングおよび関連製品を使用する前の鋼基材の準備 ショットピーニングされた鋼基材の表面粗さ特性 パート 4: ISO 表面形状コンパレーターの校正方法および表面形状の決定方法 スタイラス機器の手順
  • NF T35-503-4:1995 コーティングおよび関連製品を使用する前の鋼基材の準備 ショットピーニングされた鋼基材の表面粗さ特性 パート 4: ISO 表面形状コンパレーターの校正方法および表面形状の決定方法 スタイラス機器の手順

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, シリコンウェーハ表面ピーク

RO-ASRO, シリコンウェーハ表面ピーク

Lithuanian Standards Office , シリコンウェーハ表面ピーク

  • LST EN ISO 4287:2007/A1:2009 幾何製品仕様 (GPS) 表面テクスチャ: プロファイル法の用語、定義、および表面テクスチャ パラメータ 修正 1: ピーク数 (ISO 4287:1997/Amd 1:2009)
  • LST EN 1388-2-2000 食品と接触する材料および物品のケイ酸塩表面 パート 2: セラミック以外のケイ酸塩表面からの鉛およびカドミウムの放出の測定
  • LST EN 50513-2009 ソーラーウェーハ 太陽電池製造に使用される結晶シリコンウェーハのデータシートと製品情報
  • LST EN 10342-2005 磁性材料の電磁鋼板、鋼帯、積層板の表面絶縁の分類

AENOR, シリコンウェーハ表面ピーク

  • UNE-EN ISO 4287:1999/A1:2010 幾何製品仕様 (GPS) 表面テクスチャ: プロファイル法の用語、定義、および表面テクスチャ パラメータ 修正 1: ピーク数 (ISO 4287:1997/Amd 1:2009)
  • UNE-EN 50513:2011 ソーラーウェーハ 太陽電池製造に使用される結晶シリコンウェーハのデータシートと製品情報
  • UNE 55837:1987 界面活性剤洗濯洗剤中の総シリカ含有量を測定するための重量法
  • UNE-EN 10342:2007 磁性材料の電磁鋼板、鋼帯、積層板の表面絶縁の分類
  • UNE 55625:1982 洗剤配合物の原料として使用される界面活性剤 ケイ酸ナトリウムおよびケイ酸カリウム シリカ含有量の測定 不溶性重量分析法

American National Standards Institute （ANSI), シリコンウェーハ表面ピーク

GM North America, シリコンウェーハ表面ピーク

  • GM GM4368M-1998 表面コーティング性能 ワイパーアームとブレード

IPC - Association Connecting Electronics Industries, シリコンウェーハ表面ピーク

GM Europe, シリコンウェーハ表面ピーク

  • GME17009-2013 空隙率と表面の不連続性 フォーク シフト / トランスミッション M1x ポロシタンとオーバーフル ピーク アン フェールステレン シャルトガベルン / ゲトリーベ M1x 問題 1

Professional Standard - Customs, シリコンウェーハ表面ピーク

海关总署, シリコンウェーハ表面ピーク

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, シリコンウェーハ表面ピーク

  • TD MEMO 6511 A-1969 音速流中の翼断面における頂部と後縁の間の圧力分布を推定する手法

ES-AENOR, シリコンウェーハ表面ピーク

  • UNE 22-200-1985 装飾的なスレート。 フレークとプレート。 表面曲率
  • UNE 22-191-1985 装飾的なスレート。 フレークとプレート。 吸収量と比表面積

Professional Standard - Traffic, シリコンウェーハ表面ピーク

  • JT/T 991-2015 橋梁コンクリート表面保護用シランペースト材

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, シリコンウェーハ表面ピーク

  • ECA EIA-944-2002 表面実装フェライトチップビーズの認定仕様
  • ECA EIA-944-2013 表面実装フェライトチップビーズの認定仕様
  • ECA SP 4984-2005 ポリマーカソードを備えた表面実装アルミニウム電解コンデンサチップがANSI/EIA/ECA-955として発行

US-FCR, シリコンウェーハ表面ピーク

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., シリコンウェーハ表面ピーク

未注明发布机构, シリコンウェーハ表面ピーク

  • BS EN ISO 23157:2022(2023) 反応ガスクロマトグラフィーによるヒュームドシリカ表面のシラノール基含有量の測定
  • BS EN 1388-2:1996(2004) 食品と接触する材料および物品 - ケイ酸塩表面 - パート 2: セラミック容器以外のケイ酸塩表面からの鉛およびカドミウムの放出の測定

ES-UNE, シリコンウェーハ表面ピーク

  • UNE-EN ISO 23157:2023 反応ガスクロマトグラフィーによるヒュームドシリカ表面のシラノール基含有量の測定
  • UNE-EN 1388-2:1995 食品と接触する材料および物品のケイ酸塩表面 パート 2: セラミック容器以外のケイ酸塩表面からの鉛およびカドミウムの放出の測定

European Committee for Standardization (CEN), シリコンウェーハ表面ピーク

  • EN 1388-2:1995 食品と接触する材料および物品 ケイ酸塩表面 パート 2: セラミック以外のケイ酸塩表面からの鉛およびカドミウムの溶解の測定
  • EN ISO 23157:2022 反応ガスクロマトグラフィーによるヒュームドシリカ表面のシラノール基含有量の測定

ECIA - Electronic Components Industry Association, シリコンウェーハ表面ピーク

  • EIA-944-2013 表面実装フェライトチップビーズの認定仕様
  • EIA-944-2002 表面実装フェライトチップビーズの認定仕様
  • CB-11-1986 積層セラミックチップコンデンサの表面実装ガイドライン

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, シリコンウェーハ表面ピーク

  • GJB 960-1990 弾性表面波デバイス用人工水晶基板

工业和信息化部, シリコンウェーハ表面ピーク

  • SJ/T 11628-2016 シリコンウェーハサイズと太陽電池の電気的特性評価のオンラインテスト方法

Standard Association of Australia （SAA）, シリコンウェーハ表面ピーク

  • ISO 7291:2010/Amd.1:2015 表面化学分析 シリコンウェーハ作業用標準物質の表面から元素を収集するための化学的方法と、全反射蛍光 X 線 (TXRF) 分光法によるそれらの測定 修正 1

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, シリコンウェーハ表面ピーク

  • ECA CB-11-1986 積層セラミックチップコンデンサの表面実装ガイドライン

SE-SIS, シリコンウェーハ表面ピーク

CZ-CSN, シリコンウェーハ表面ピーク

  • CSN 70 0527 Cast.1-1986 ケイ酸ガラス。 ガラス製品の表面抽出物の定量分析方法。 シリカの測定

(U.S.) Ford Automotive Standards, シリコンウェーハ表面ピーク

Professional Standard - Aviation, シリコンウェーハ表面ピーク

  • HB 5647-1998 マーキング、刃形状の公差、刃の表面粗さ

BE-NBN, シリコンウェーハ表面ピーク

  • NBN T 63-160-1987 界面活性剤。 粉末洗剤中の総シリコン含有量の測定。 重量測定

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, シリコンウェーハ表面ピーク

  • EN 50513:2009 ソーラーウェーハ：太陽光発電の製造に使用される結晶シリコンウェーハのデータシートと製品情報

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, シリコンウェーハ表面ピーク

  • GB/T 23656-2016 ゴム化合物沈降含水シリカの比表面積の測定 CTAB法

ZA-SANS, シリコンウェーハ表面ピーク

  • SANS 5775:2004 未塗装のスチール基板および関連製品の準備。 サンドブラスト鋼板表面の表面粗さ。 金属組織学的試験片を使用して測定したサンドブラスト表面の特性

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