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走査型電子顕微鏡とX線
走査型電子顕微鏡とX線は全部で 61 項標準に関連している。
走査型電子顕微鏡とX線 国際標準分類において、これらの分類:光学機器、 犯罪予防、 物理学、化学、 光学および光学測定、 塗料とワニス、 医療科学とヘルスケア機器の統合、 医療機器、 計測学と測定の総合、 情報技術の応用、 分析化学。
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 走査型電子顕微鏡とX線
Professional Standard - Judicatory, 走査型電子顕微鏡とX線
国家能源局, 走査型電子顕微鏡とX線
Professional Standard - Public Safety Standards, 走査型電子顕微鏡とX線
Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, 走査型電子顕微鏡とX線
International Organization for Standardization (ISO), 走査型電子顕微鏡とX線
Professional Standard - Commodity Inspection, 走査型電子顕微鏡とX線
American Society for Testing and Materials (ASTM), 走査型電子顕微鏡とX線
GOSTR, 走査型電子顕微鏡とX線
- PNST 508-2020 走査型電子顕微鏡およびエネルギー分散型 X 線分光法によって特徴付けられるナノテクノロジー単層カーボン ナノチューブ
British Standards Institution (BSI), 走査型電子顕微鏡とX線
RU-GOST R, 走査型電子顕微鏡とX線
Danish Standards Foundation, 走査型電子顕微鏡とX線
Association Francaise de Normalisation, 走査型電子顕微鏡とX線
Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 走査型電子顕微鏡とX線
IEC - International Electrotechnical Commission, 走査型電子顕微鏡とX線
Standard Association of Australia (SAA), 走査型電子顕微鏡とX線
AENOR, 走査型電子顕微鏡とX線
ES-UNE, 走査型電子顕微鏡とX線
KR-KS, 走査型電子顕微鏡とX線
- KS D ISO 15632-2023 マイクロビーム分析: 走査型電子顕微鏡 (SEM) または電子プローブ マイクロアナライザー (EPMA) で使用するエネルギー分散型 X 線分光計 (EDS) の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査