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結晶形と結晶相

結晶形と結晶相は全部で 500 項標準に関連している。

結晶形と結晶相 国際標準分類において、これらの分類：半導体材料、 ガラス、 非鉄金属製品、 周波数制御と選択のための圧電および誘電デバイス、 建設業、 包括的なテスト条件と手順、 半導体ディスクリートデバイス、 写真撮影のスキル、 オーディオ、ビデオ、およびオーディオビジュアル エンジニアリング、 電子表示装置、 道路車両装置、 整流器、コンバータ、安定化電源、 総合電子部品、 太陽工学、 会社（エンタープライズ）の組織と経営、 金属材料試験、 粒度分析、スクリーニング、 鉄鋼製品、 電子および通信機器用の電気機械部品、 空気の質、 医療機器、 セラミックス、 パイプ部品とパイプ、 建築コンポーネント、 電気機器部品、 磁性材料、 フィルター、 溶接、ロウ付け、低温溶接、 建物の保護、 集積回路、マイクロエレクトロニクス、 消防、 光学および光学測定、 ブラックメタル、 航空宇宙システムおよび操作装置、 切削工具、 エネルギー・伝熱工学総合、 塗料とワニス、 ファスナー、 金属腐食、 化学製品、 分析化学、 非金属鉱物、 内燃エンジン、 無機化学、 抵抗器、 接着剤および接着製品、 餌、 検査医学、 トランス、リアクトル、インダクタ、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 時計学、 用語（原則と調整）、 ゴム・プラスチック製品。


Professional Standard - Electron, 結晶形と結晶相

  • SJ/T 11501-2015 炭化ケイ素単結晶形の試験方法
  • SJ/Z 9154.2-1987 π型ネットワーク零位相法を用いた水晶部品のパラメータ測定その2：水晶部品の動的静電容量を測定するための位相オフセット法
  • SJ 51648/5-1997 ZC503型水晶発振器の詳細仕様
  • SJ 51648.4-1995 ZC505E型水晶発振器の詳細仕様
  • SJ 2816.1-1987 J1タイプ（半田付け）クリスタルボックス詳細仕様
  • SJ 2816.3-1987 J3タイプ（半田付け）クリスタルボックス詳細仕様
  • SJ 20639-1997 ブラックゲストホスト液晶材料の仕様
  • SJ 51648/1-1994 ZF507水晶発振器の詳細仕様
  • SJ 51648/2-1994 ZD509型水晶発振器の詳細仕様
  • SJ/T 11864-2022 半絶縁性炭化珪素単結晶基板
  • SJ 2592-1985 LSP10.7MA(～E)型水晶積層フィルタ
  • SJ 2816.2-1987 J1Aタイプ（抵抗溶接）クリスタルボックス詳細仕様
  • SJ 2816.4-1987 J3Aタイプ（抵抗溶接）クリスタルボックス詳細仕様
  • SJ 2816.5-1987 J3Bタイプ（冷間圧接）クリスタルボックス詳細仕様
  • SJ 52138.1-1995 JA538型水晶素子の詳細仕様
  • SJ 20110-1992 LST60MA型水晶フィルタ 詳細仕様
  • SJ 51508/1-1994 LST60.02M型水晶フィルタ 詳細仕様
  • SJ 51508/2-1994 LST42.02M型水晶フィルタ 詳細仕様
  • SJ 51508/6-1996 LST21.4M型水晶フィルタ 詳細仕様
  • SJ 51508/7-1996 LST25.0425M型水晶フィルタ 詳細仕様
  • SJ 51648/3-1994 ZC505(A～D)タイプ水晶発振器の詳細仕様
  • SJ 2701-1986 3CX673タイプPNPシリコン低消費電力トランジスタの詳細仕様
  • SJ/Z 9154.1-1987 π型ネットワーク零相法による水晶部品パラメータの測定 その1：水晶部品の共振周波数と共振抵抗の基本的な測定方法
  • SJ 51508.4-1995 LSB1.4M型サイドバンド水晶フィルタ 詳細仕様
  • SJ 51508.5-1995 LSP21.4M型水晶積層フィルタ 詳細仕様
  • SJ 51508/8-1999 LP12型水晶積層フィルタの詳細仕様
  • SJ 2700-1986 3DG2060タイプNPNシリコン高周波中出力トランジスタの詳細仕様
  • SJ 2702-1986 3DG458タイプNPNシリコン高周波低電力トランジスタの詳細仕様
  • SJ 50033.40-1994 GT11型半導体シリコンNPNフォトトランジスタ詳細仕様
  • SJ/T 10015-1991 時計用32kHz音叉型水晶片 JU38、JU26タイプ
  • SJ/T 31108-1994 CG3000 単結晶炉の完全性要件と検査および評価方法

International Organization for Standardization (ISO), 結晶形と結晶相

  • PRF IWA 43:2023 ガラスの種類 クリスタルガラス、クリスタル、鉛クリスタルの仕様と試験方法
  • IWA 43:2023 ガラスの種類 クリスタルガラス、クリスタル、鉛クリスタルの仕様と試験方法
  • ISO 419:1972 写真グレードの結晶性チオ硫酸ナトリウム。
  • ISO 16463:2004 多結晶ダイヤモンドインサート 寸法と種類
  • ISO 16463:2014 多結晶ダイヤモンドインサート 寸法と種類
  • ISO 13779-3:2008 外科用インプラント、ヒドロキシアパタイト、パート 3: 結晶化度と相純度の化学分析と説明。

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 結晶形と結晶相

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 結晶形と結晶相

  • GB/T 30118-2013 弾性表面波（SAW）デバイスの単結晶ウェーハ仕様と測定方法
  • GB 6430-1986 クリスタルボックスモデルの命名方法
  • GB/T 24177-2009 二重粒子サイズの特性評価および決定方法
  • GB/T 16468-1996 静電誘導トランジスタ直列型スペクトル
  • GB/T 3352-2012 人工水晶結晶の仕様と使用方法
  • GB 18445-2001 セメント系浸透性結晶防水材
  • GB 18445-2012 セメント系浸透性結晶防水材
  • GB/T 9532-2012 圧電単結晶材料モデルの命名方法
  • GB/T 17007-1997 絶縁ゲート型バイポーラトランジスタの試験方法
  • GB 12275-1990 水晶発振器の型式命名方法
  • GB/T 21952-2023 多結晶ダイヤモンドブレードの種類とサイズ
  • GB 6627-1986 人工水晶ロッドモデルの命名方法
  • GB 6627-1986 人工水晶ロッドモデルの命名方法
  • GB　6627-1986 人工水晶ロッドモデルの命名方法
  • GB/T 19421.1-2003 層状結晶性二ケイ酸ナトリウムの試験方法 デルタ相の定性分析 層状結晶性二ケイ酸ナトリウム X 線回折法
  • GB/T 15655-1995 スーパーツイストネマチック液晶表示装置の仕様
  • GB/T 6218-1996 スイッチング用途のバイポーラトランジスタの詳細仕様は空白

YU-JUS, 結晶形と結晶相

  • JUS N.R9.031-1986 圧電振動子。 水晶コンポーネント。 2 ラインの結晶ホルダーのプロファイル、タイプ 08、π 型ネットワークのゼロ位相技術で測定
  • JUS N.R9.071-1986 圧電振動子。 水晶コンポーネント。 2 ラインのクリスタル ホルダーのアウトライン、タイプ 18
  • JUS N.R9.074-1986 圧電振動子。 水晶コンポーネント。 ダブルラインクリスタルベースアウトライン、タイプ19
  • JUS N.R9.070-1986 圧電振動子。 水晶コンポーネント。 ダブルラインクリスタルホルダーアウトライン、タイプ09
  • JUS N.R9.072-1986 圧電振動子。 水晶コンポーネント。 ダブルラインクリスタルベースアウトライン、タイプ16
  • JUS N.R9.073-1986 圧電振動子。 水晶コンポーネント。 2 ラインのクリスタル ホルダーのアウトライン、タイプ 17
  • JUS N.R9.077-1986 圧電振動子。 水晶コンポーネント。 ダブルラインクリスタルベースアウトライン、タイプ20
  • JUS N.R9.076-1986 圧電振動子。 水晶コンポーネント。 ダブルラインクリスタルベースアウトライン、タイプ08
  • JUS N.R9.075-1986 圧電振動子。 水晶コンポーネント。 ダブルラインクリスタルベースアウトライン、タイプ10
  • JUS N.R9.069-1986 圧電振動子。 水晶コンポーネント。 ダブルラインクリスタルホルダーアウトライン、タイプ07
  • JUS N.R9.078-1986 圧電振動子。 水晶コンポーネント。 ダブルラインクリスタルベースアウトライン、タイプ21
  • JUS N.R9.064-1986 圧電振動子。 水晶コンポーネント。 ダブルラインクリスタルホルダーアウトライン、タイプ 11、14、15

Group Standards of the People's Republic of China, 結晶形と結晶相

  • T/CECS 1397-2023 結晶シリコン太陽光発電と異形鋼板の統合に関する技術規制
  • T/CVIA 43-2015 液晶テレビ画面 T-CON基板の外観と取付寸法仕様
  • T/HEBQIA 135-2022 OC1409 恒温水晶発振器
  • T/SDZBZZ 001-2022 曲ビレット連続鋳造機金型銅管
  • T/JSSIA 0006-2021 ウェーハレベルファンアウトパッケージ外形寸法
  • T/CSTM 00260-2021 結晶シリコン太陽光発電および屋根用異形鋼板コンポーネントの耐火性試験方法
  • T/CSTM 00463-2023 N型結晶シリコンブラックリング太陽電池の分類
  • T/CSTM 00463-2022 N型結晶シリコンブラックリング太陽電池の分類
  • T/CASME 487-2023 オフグリッド地上型結晶シリコン太陽光発電モジュール
  • T/SDTL 09-2022 建築用厚塗りアートペイント
  • T/SBX 046-2021 ネマチック相サーモトロピック液晶の弾性係数の求め方
  • T/SBX 040-2020 ネマチックサーモトロピック液晶の光学異方性の測定
  • T/JSSIA 0003-2017 ウェーハ レベル チップ スケール パッケージ (WLCSP) ファミリ スペクトル
  • T/FSI 121-2023 絶縁ゲート型バイポーラトランジスタ用シリコーンゲル
  • T/ZZB 2873-2022 三相乾式アモルファス合金三次元巻鉄心配電変圧器
  • T/SBX 041-2021 ガスクロマトグラフィーによる三環系アセチレン系液晶モノマーの純度の測定
  • T/SBX 044-2021 ガスクロマトグラフィーによるターフェニル液晶モノマーの純度の測定
  • T/ICMTIA SM0027-2022 高度なストレージ技術用の 300mm p 型シリコン単結晶研磨ウェーハ
  • T/QGCML 2433-2023 装飾用の微結晶木材強化押出フォームプロファイル
  • T/SBX 070-2022 ガスクロマトグラフィーによるアルキルビフェニル液晶モノマーの純度の測定

CZ-CSN, 結晶形と結晶相

Defense Logistics Agency, 結晶形と結晶相

  • DLA SMD-5962-97581 REV A-2006 マイクロ回路、デジタル、バイポーラ、改良型ショットキー トランジスタ論理回路、3 ウェイ 3 入力正 AND ゲート、単一シリコン
  • DLA SMD-5962-86872 REV B-2006 シリコン モノリシック NAND バッファ、高度なショットキー トランジスタ - トランジスタ論理回路、デジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-97584 REV B-2006 マイクロ回路、デジタル、バイポーラ、改良型ショットキー トランジスタ論理回路、デュアル 4 入力正 NAND ゲート、単一シリコン
  • DLA MIL-S-19500/244 B VALID NOTICE 3-2011 トランジスタ、PNP、ゲルマニウムタイプ 2N2273
  • DLA MIL-S-19500/248 A VALID NOTICE 4-2011 トランジスタ、NPN、シリコンタイプ 2N2015、2N2016
  • DLA SMD-5962-86833 REV C-2001 シリコンモノリシックNANDゲート高度な低消費電力ショットキートランジスタ-トランジスタ論理回路、バイポーラデジタルマイクロ回路
  • DLA MIL-S-19500/273 A VALID NOTICE 3-2011 半導体デバイス、トランジスタタイプ 2N744
  • DLA SMD-5962-86837 REV C-2006 シリコン モノリシック NAND ゲート 高度な低消費電力ショットキー トランジスタ - トランジスタ ロジック OR ゲート、バイポーラ デジタル マイクロ回路
  • DLA MIL-S-19500/529 VALID NOTICE 4-2011 半導体デバイス、トランジスタ、シリコンタイプ 2N3904
  • DLA SMD-5962-91738 REV A-2005 シリコンモノリシックオクタルD型改良ショットキートランジスタトランジスタ論理回路、バイポーラデジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-97593 REV B-2007 マイクロ回路、デジタル、バイポーラ、改良型ショットキートランジスタ論理回路、6ウェイインバータ、モノリシックシリコン
  • DLA DSCC-DWG-94023 REV B-2007 小型表面実装水晶振動子
  • DLA MIL-S-19500/216 A VALID NOTICE 3-2004 2N1051型シリコンNPNトランジスタ半導体装置
  • DLA MIL-S-19500/303 VALID NOTICE 3-2011 半導体デバイス、トランジスタ、タイプ 2N2631 および 2N2876
  • DLA SMD-5962-85508 REV C-2005 シリコンモノリシックマルチプレクサ トランジスタ-トランジスタ論理回路 バイポーラデジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-86708 REV A-2007 シリコンモノリシック高速回路、ショットキートランジスタ・トランジスタ論理回路、デジタルマイクロ回路
  • DLA MIL-PRF-55310/21 F-2008 発振器、水晶制御、タイプ 1 (水晶発振器 (XO))、1.0 MHz ～ 60.0 MHz、密閉型、方形波、TTL
  • DLA MIL-PRF-55310/21 G-2008 発振器、水晶制御、タイプ 1 (水晶発振器 (XO))、1.0 MHz ～ 60.0 MHz、密閉型、方形波、TTL
  • DLA SMD-5962-97591 REV A-2007 マイクロ回路、デジタル、バイポーラ、改良型ショットキー トランジスタ論理回路、8 ビット等価コンパレータ、単一シリコン
  • DLA MIL-PRF-19500/139 B NOTICE 2-1999 JAN-2N1119型シリコンPNPトランジスタ半導体装置
  • DLA MIL-S-19500/288 (2)-1966 2N2377型シリコンPNPトランジスタ半導体装置
  • DLA MIL-S-19500/288 VALID NOTICE 4-2011 半導体デバイス、トランジスタ、PNP、シリコンタイプ 2N2377
  • DLA MIL-S-19500/170 A VALID NOTICE 4-2011 半導体デバイス、トランジスタ、PNP、ゲルマニウムタイプ 2N1499A
  • DLA MIL-S-19500/179 A VALID NOTICE 4-2011 半導体デバイス、トランジスタ、PNP、シリコンタイプ 2N1234
  • DLA MIL-S-19500/216 A VALID NOTICE 4-2011 半導体デバイス、トランジスタ、NPN、シリコンタイプ 2N1051
  • DLA MIL-S-19500/40 B VALID NOTICE 3-2011 半導体、トランジスタ、NPN、ゲルマニウム、パワータイプ 2N326
  • DLA SMD-5962-86871 REV D-2006 シリコン モノリシック クワッド 2 入力正 NAND バッファ 高度な低消費電力ショットキー トランジスタ間論理回路、バイポーラ デジタル マイクロ回路
  • DLA SMD-5962-97588 REV A-2007 マイクロ回路、デジタル、バイポーラ、改良型ショットキー トランジスタ論理回路、4 つの 2 入力正 OR ゲート、単一シリコン片
  • DLA SMD-5962-86719 REV A-2007 シリコンモノリシック D タイプ自動記録機 低消費電力ショットキートランジスタ - トランジスタ論理回路 デジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-99532 REV A-2007 マイクロ回路、デジタル、バイポーラ、低電力ショットキー トランジスタ論理回路、10 桁電卓、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-86075 REV C-2007 シリコン モノリシック モバイル デバイス、高度なショットキー トランジスタ - トランジスタ論理回路、デジタル超小型回路
  • DLA SMD-5962-90889 REV C-2008 マイクロ回路モノリシック シリコン トランジスタ - トランジスタ ロジック (TTL) 互換のデジタル バイポーラ クワッド バス バッファ ゲート
  • DLA DSCC-DWG-94024 REV B-2007 小型プリント基板搭載水晶振動子
  • DLA MIL-PRF-19500/210 B NOTICE 1-1999 半導体デバイス、NPN シリコンフォトトランジスタ、タイプ 2N986
  • DLA SMD-5962-89876 REV B-2002 シリコンモノリス、トランジスタアレイ、線形超小型回路
  • DLA MIL-S-19500/219 A VALID NOTICE 4-2011 トランジスタ、PNP、ゲルマニウム、電源スイッチ、タイプ 2N1651、2N1652、2N1653
  • DLA MIL-S-19500/72 C VALID NOTICE 4-2011 半導体デバイス、トランジスタ、PNP、ゲルマニウム 2N499 および 2N499A タイプ
  • DLA MIL-S-19500/49 C VALID NOTICE 4-2011 半導体デバイス、トランジスタ、PNP、ゲルマニウム、タイプ 2N464、2N465、2N467
  • DLA MIL-S-19500/173 A VALID NOTICE 3-2011 半導体装置、トランジスタ、タイプ 2N389 および 2N424 (ネイビー)
  • DLA MIL-S-19500/215 VALID NOTICE 3-2011 半導体デバイス、トランジスタ、タイプ 2N1173 および 2N1174 (ネイビー)
  • DLA SMD-5962-87595 REV B-2001 シリコン モノリシック バス レシーバ 高度なショットキー トランジスタ トランジスタ ロジック、バイポーラ デジタル マイクロ回路
  • DLA SMD-5962-87711 REV A-2001 シリコンモノリシックデュアル単安定マルチバイブレータ、トランジスタトランジスタ論理回路、バイポーラデジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-86069-1986 シリコンモノリシックコンパレータ、高度なショットキートランジスタ-トランジスタ論理回路、デジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-86710 REV B-2006 シリコンモノリシック論理演算子ショットキートランジスタ-トランジスタ論理回路、高度なデジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-90781 REV B-2006 シリコンモノリシックトライステートバッファ、高度なショットキートランジスタ、トランジスタロジック、バイポーラデジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-87517 REV B-2001 シリコンモノリシックバイナリカウンター 低消費電力ショットキートランジスタ トランジスタロジック、デジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-85126 REV C-2005 シリコンモノリシックバッファ低周波ショットキートランジスタ-トランジスタ論理回路、バイポーラデジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-87560 REV F-2006 シリコンモノリシックトランジスタ - トランジスタ論理回路のエミッタ結合論理、デジタルマイクロ回路への変換
  • DLA SMD-5962-87508 REV E-2006 シリコンモノリシックエミッタ結合ロジックからトランジスタトランジスタロジック回路、デジタルマイクロ回路への変換
  • DLA SMD-5962-97589 REV A-2007 マイクロ回路、デジタル、バイポーラ、修正ショットキー トランジスタ論理回路、スリーステート出力付き 8 ウェイ透過 D タイプ ラッチ、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-97590 REV A-2007 マイクロ回路、デジタル、修正ショットキー トランジスタ論理回路、スリーステート出力を備えた 8 個のエッジ トリガー D タイプ フリップフロップ、モノリシック シリコン
  • DLA DSCC-DWG-85019 REV E-2008 ビット プログラマブル アクティブ遅延ライン、16 PIN および 3 ビット トランジスタ論理回路と互換性があり、送信機ロジックと結合
  • DLA DSCC-DWG-04029-2005 2N5927 ハイパワーシリコン NPN トランジスタ半導体デバイス
  • DLA DSCC-DWG-04030-2005 2N5926 ハイパワーシリコン NPN トランジスタ半導体デバイス
  • DLA DSCC-DWG-05009-2005 タイプ 0204、1/4 ワット フィルム チップ (MELF) 固定抵抗器
  • DLA DSCC-DWG-99009 REV A-2004 ハイパワーシリコンNPNトランジスタ半導体デバイス タイプ2N5241
  • DLA MIL-PRF-19500/25 B NOTICE 2-1999 2N240型低消費電力ゲルマニウムPNPトランジスタ半導体装置
  • DLA MIL-PRF-19500/27 E NOTICE 2-1999 2N384型高周波ゲルマニウムPNPトランジスタ半導体装置
  • DLA MIL-S-19500/68 A VALID NOTICE 4-2011 半導体デバイス、トランジスタ、PNP、ゲルマニウム、スイッチタイプ 2N1120
  • DLA MIL-S-19500/80 E VALID NOTICE 4-2011 半導体デバイス、トランジスタ、NPN、シリコン、低電力タイプ 3N35
  • DLA MIL-S-19500/13 B VALID NOTICE 3-2011 半導体デバイス、トランジスタ、PNP、ゲルマニウム、ハイパワータイプ 2N174A
  • DLA MIL-S-19500/25 B VALID NOTICE 4-2011 半導体デバイス、トランジスタ、PNP、ゲルマニウム、低電力タイプ 2N240
  • DLA MIL-S-19500/36 C VALID NOTICE 4-2011 半導体デバイス、トランジスタ、PNP、ゲルマニウム、ハイパワータイプ 2N297A
  • DLA MIL-S-19500/44 D VALID NOTICE 4-2011 半導体デバイス、トランジスタ、PNP、ゲルマニウム、低電力タイプ 2N428
  • DLA MIL-S-19500/51 E VALID NOTICE 4-2011 半導体デバイス、トランジスタ、PNP、ゲルマニウム、低電力タイプ 2N466
  • DLA MIL-S-19500/58 D VALID NOTICE 4-2011 半導体デバイス、トランジスタ、PNP、ゲルマニウム、ハイパワータイプ 2N665
  • DLA MIL-S-19500/330 A VALID NOTICE 4-2011 半導体デバイス、トランジスタ PNP、ゲルマニウム系 2N1557A ～ 2N1560A
  • DLA MIL-S-19500/338 VALID NOTICE 4-2011 半導体デバイス、トランジスタ、PNPゲルマニウム、スイッチタイプ 2N3449
  • DLA SMD-5962-86831 REV B-2007 シリコンモノリシックストリップトランジスタ - トランジスタ論理回路互換入力スクエア 2 入力 NAND ゲート、高速相補型金属酸化膜半導体、デジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-91586 REV B-2006 シリコンモノリシック 10-4 ラインプライオリティエンコーダ、低電力ショットキートランジスタトランジスタロジック、デジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-86836 REV C-2001 シリコンモノリシックORゲート高度な低消費電力ショットキートランジスタ間論理回路、バイポーラデジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-86842 REV E-2006 シリコン モノリシック AND ゲート 高度な低消費電力ショットキー トランジスタ - トランジスタ論理回路 OR ゲート、デジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-91627 REV A-2004 シリコンモノリシック 4 列 2 入力 Yes/No ドライバー、改良されたショットキートランジスタトランジスタ論理回路、バイポーラデジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-87598 REV A-2006 シリコンモノリシックトランジスタアレイ高電流NPN、リニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-87683 REV C-2006 シリコンモノリシックデコーダバイポーラ航空機（自動）着陸システムトランジスタトランジスタ論理回路、デジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-86070 REV C-2006 シリコンモノリシック 8 ビット ID チェッカー、高度なショットキー トランジスタ - トランジスタ論理回路、デジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-86843 REV C-2006 シリコン モノリシック インバータ 高度な低電力ショットキー トランジスタ - トランジスタ論理回路 OR ゲート、デジタル マイクロ回路
  • DLA SMD-5962-86865 REV D-2006 シリコンモノリシック非非ゲート高度な低消費電力ショットキートランジスタ間論理回路、バイポーラデジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-86866 REV C-2006 シリコン モノリシック デコーダ 高度な低消費電力ショットキー トランジスタ間論理回路、バイポーラ デジタル マイクロ回路
  • DLA SMD-5962-87533 REV B-2001 シリコンモノリシックユニバーサルマルチプレクサ、高度な低消費電力ショットキートランジスタトランジスタロジック、デジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-92090 REV A-2004 シリコンモノリシック10ビットバッファまたは行ドライブライン、修正ショットキートランジスタ論理回路、バイポーラデジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-97582 REV B-2006 マイクロ回路、デジタル、バイポーラ、改良型ショットキー トランジスタ論理回路、3 ラインから 8 ラインのデコーダ/マルチプレックス デコーダ、単一シリコン
  • DLA SMD-5962-97583 REV B-2006 マイクロ回路、デジタル、バイポーラ、改良型ショットキー トランジスタ論理回路、デュアル 1/4 データ セレクター/多目的セレクター、単一シリコン
  • DLA MIL-PRF-19500/302 C VALID NOTICE 2-2008 半導体デバイス、トランジスタ、NPN、シリコン、低消費電力、タイプ2N2708、JAN
  • DLA MIL-S-19500/69 E VALID NOTICE 3-2011 半導体デバイス、トランジスタ、NPN、シリコン、JAN-2N337、JAN-2N338タイプ
  • DLA MIL-S-19500/71 D VALID NOTICE 4-2011 半導体デバイス、トランジスタ、PNP、ゲルマニウム、低電力タイプ 2N1195
  • DLA MIL-S-19500/87 A VALID NOTICE 3-2011 半導体デバイス、トランジスタ、PNP、ゲルマニウム低消費電力タイプ 2N1142
  • DLA MIL-S-19500/16 E VALID NOTICE 3-2011 半導体デバイス、トランジスタ、NPN、シリコンタイプ 2N342、2N342A、2N343
  • DLA MIL-S-19500/138 C VALID NOTICE 4-2011 半導体デバイス、トランジスタ、PNP、シリコン、低消費電力タイプ 2N1118
  • DLA MIL-S-19500/174 B VALID NOTICE 3-2011 半導体デバイス、トランジスタ、PNP、ゲルマニウム、低消費電力タイプ JAN-2N398A
  • DLA MIL-PRF-19500/302 C VALID NOTICE 3-2013 半導体デバイス、トランジスタ、NPN、シリコン、低消費電力、タイプ2N2708、JAN
  • DLA SMD-5962-92046 REV A-2004 シリコンモノリシック電圧レギュレータ発振器、低電力ショットキートランジスタトランジスタ論理回路、バイポーラデジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-86838 REV C-2001 シリコンモノリシックゲートレス高度な低電力ショットキートランジスタ - トランジスタ論理回路ORゲート、バイポーラデジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-86841 REV D-2006 シリコン モノリシック AND ゲート 高度な低消費電力ショットキー トランジスタ - トランジスタ論理回路 OR ゲート、バイポーラ デジタル マイクロ回路
  • DLA SMD-5962-86844 REV D-2006 シリコンモノリシックゲートレス高度な低電力ショットキートランジスタ - トランジスタ論理回路ORゲート、バイポーラデジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-86876 REV B-2007 シリコンモノリシックアップカウンターまたはダウンカウンター、低電力ショットキートランジスタートランジスタ論理回路、デジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-98621-1998 超小型回路、デジタル式、ハイブリッドCMOS、水晶発振器、モノリシックシリコン

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 結晶形と結晶相

  • CNS 5152-1980 チオ硫酸ナトリウム結晶 (写真グレード)
  • CNS 3009-1994 シンプルなトランジスタラジオ
  • CNS 3010-1994 普通のトランジスタラジオ
  • CNS 5389-1980 結晶水中の硫酸アルミニウムカリウム（写真グレード）
  • CNS 5390-1980 十二結晶水硫酸アルミニウムカリウム試験方法（写真グレード）
  • CNS 10111-1983 天然および人工氷晶石サンプルの調製と保管

Professional Standard - Aviation, 結晶形と結晶相

  • HB 6742-1993 X線裏面照射ラウエ写真による単結晶ブレードの結晶方位の決定
  • HBm 66.33-1989 ミニトラック用トランジスタフラッシュリレー
  • HB 7782-2005 一方向凝固ブレードにおける再結晶の検出および評価方法

RO-ASRO, 結晶形と結晶相

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 結晶形と結晶相

  • KS B 2813-2019 ウエハ形ゴムシートバタフライバルブ
  • KS C IEC 61747-6:2005 液晶ディスプレイ 第6部 液晶モジュールの決定方法 透過型
  • KS D ISO 14250:2003 鋼、混合粒子サイズと分布の金属組織学的特性
  • KS D ISO 14250:2014 鋼の混合粒度および分布の金属組織学的特徴
  • KS C IEC 60444-2-2002(2017) p-ネットワークゼロ位相法を使用した水晶部品のパラメータの測定その 2: 水晶部品の動的静電容量を測定するための位相シフト法
  • KS C IEC 61747-6-2:2006 液晶および固体表示デバイス 第 6-2 部：液晶表示モジュールの測定方法 反射型
  • KS C IEC 60444-2-2002(2022) pネットワークにおけるゼロ位相技術を用いた水晶振動子のパラメータ測定その2：水晶振動子の移動容量測定のための位相シフト法
  • KS D 0205-2002(2022) 鋼 - フェライトまたはオーステナイトの粒径の顕微鏡写真による測定
  • KS P ISO 13779-3:2009 外科用インプラント、ヒドロキシアパタイト、パート 3: 結晶化度と相純度の化学分析と説明。
  • KS P ISO 11979-5:2006 眼科インプラント、眼内レンズ、パート 5: 生体適合性
  • KS D 0205-2002(2017) 鋼中のフェライトまたはオーステナイト粒径の顕微鏡写真による測定
  • KS P ISO 11979-5-2006(2016) 眼科用インプラント眼内レンズパート 5: 生体適合性
  • KS P ISO 11979-5:2021 眼科インプラント、眼内レンズ、パート 5: 生体適合性
  • KS D 0205-1987 鋼中のフェライトまたはオーステナイト粒径の顕微鏡写真による測定

U.S. Military Regulations and Norms, 結晶形と結晶相

Professional Standard - Agriculture, 結晶形と結晶相

  • 331药典 四部-2020 9000 指導原則 9015 医薬品結晶形態研究および結晶形態品質管理に関する指導原則
  • 316药典 四部-2015 9000 指導原則 9015 医薬品結晶形態研究および結晶形態品質管理に関する指導原則
  • 877兽药典 一部-2015 付録目次 9000 指導原則 9015 動物用医薬品の結晶形態研究および結晶形態の品質管理に関する指導原則

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, 結晶形と結晶相

  • YB/T 4290-2012 金属組織検査表面の最大粒径レベル（ALA粒径）の決定方法

British Standards Institution (BSI), 結晶形と結晶相

  • BS EN 61747-30-1:2012 液晶表示装置 液晶表示モジュールの測定方法 透過型
  • BS EN 61747-6:2004 液晶および固体表示デバイス、液晶モジュールの測定方法、透過型
  • BS EN 62047-9:2011 半導体デバイス、マイクロ電子機械デバイス、MEMSのウェハ間接合強度測定
  • BS EN 62047-9:2013 半導体デバイス微小電気機械デバイスMEMSのウェハ間接合強度測定
  • BS EN ISO 643:2012 鋼、顕微鏡写真による見かけの結晶粒径の測定
  • BS EN 60444-2:1997 水晶振動子のパラメータ測定 位相シフト法 水晶片の動的静電容量の測定
  • BS DD ENV 14273:2002 先端工業用セラミックス セラミック粉末 ジルコニウム結晶相の測定
  • BS EN ISO 11979-5:2020 眼科用インプラント眼内レンズの生体適合性
  • BS EN 60444-2:1993 水晶片のパラメータの決定 その2: 位相偏差法による水晶片の動的静電容量の測定
  • 21/30447603 DC BS EN IEC 61747-30-1 液晶表示装置 Part 30-1 液晶表示モジュールの測定方法 透過型
  • DD ENV 14273:2002 先端技術セラミック粉末中のジルコニアの結晶相の測定
  • BS EN 60444-1:1993 水晶振動子のパラメータ測定 その1：π型ネットワーク零相技術を用いた水晶振動子の共振周波数と共振抵抗の基本的な測定方法
  • BS ISO 16463:2004 多結晶ダイヤモンドエッジインサート 寸法と種類
  • BS ISO 16463:2014 多結晶ダイヤモンドエッジインサート 寸法と種類

Professional Standard - Machinery, 結晶形と結晶相

  • JB/T 8951.1-1999 絶縁ゲート型バイポーラトランジスタ
  • JB/T 7826.2-1996 MTQ(MFQ)シリーズ サイリスタ単相ブリッジモジュール
  • JB/T 7826.3-1996 MTS (MFS) シリーズ サイリスタ三相ブリッジ モジュール
  • JB/T 7826.3-1995 MTS（MFS）シリーズ サイリスタ単相ブリッジモジュール
  • JB/T 7826.2-1995 MTQ(MFQ)シリーズ サイリスタ単相ブリッジモジュール
  • JB/T 6307.5-1994 パワー半導体モジュールの試験方法 バイポーラトランジスタ単相ブリッジと三相ブリッジ
  • JB/T 6324-1992 電気溶接機用KE型50A～500Aサイリスタ
  • JB/T 7946.4-1999 鋳造アルミニウム合金の金属組織 鋳造アルミニウム銅合金の粒径
  • JB/T 8892-1999 内燃機関、希土類共晶アルミニウム - シリコン合金ピストン、金属組織検査
  • JB/T 8892-2011 内燃機関、希土類共晶アルミニウム - シリコン合金ピストン、金属組織検査
  • JB/T 8951.2-1999 絶縁ゲート型バイポーラトランジスタモジュール アームとアームペア

Aerospace Industries Association, 結晶形と結晶相

AIA/NAS - Aerospace Industries Association of America Inc., 結晶形と結晶相

  • NAS4117-1996 ヒートシンクインシュレーターウエハータイプ
  • NAS4117-2012 ヒートシンク絶縁体ウェハータイプ (リビジョン 1)

German Institute for Standardization, 結晶形と結晶相

  • DIN IEC 60122-2:1993-09 周波数制御および選択のための水晶振動子; パート 2: 周波数制御および選択のための水晶振動子の使用に関するガイドライン; IEC 60122-2:1983 と同じ
  • DIN IEC 61080:1993-02 水晶コンポーネントの等価電気パラメータの測定に関するガイドライン、IEC 61080:1991 と同じ
  • DIN EN 60444-2:1997 π型ネットワークのゼロ位相法を使用した水晶部品のパラメータの測定その2: 位相偏移法を使用した水晶部品の動的静電容量の測定
  • DIN EN 61747-30-1:2013-03 液晶表示装置 第30-1部 液晶表示モジュールの測定方法 透過型
  • DIN EN 61747-6-2:2012-02 液晶表示装置 - その6-2：液晶表示モジュールの測定方法 - 反射型
  • DIN EN 60444-1:2000 π型ネットワークの零相法による水晶振動子のパラメータの測定 その1: π型ネットワークの零相法による水晶振動子の共振周波数と共振インピーダンスの測定
  • DIN ISO 16463:2005 多結晶ダイヤモンドインサート 寸法と種類
  • DIN ISO 16463:2015-08 多結晶ダイヤモンドインサートとチップのサイズとタイプ

Association Francaise de Normalisation, 結晶形と結晶相

Aerospace Industries Association/ANSI Aerospace Standards, 結晶形と結晶相

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, 結晶形と結晶相

  • DB35/T 1126-2011 低照度アモルファスシリコン太陽電池
  • DB35/T 1914-2020 β結晶性ポリプロピレン管・継手のβ結晶含有量の測定（X線回折法）

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 結晶形と結晶相

  • GB/T 38907-2020 節水企業ポリシリコン産業
  • GB/T 18910.62-2019 液晶表示装置 その6-2：液晶表示モジュールの試験方法 反射型
  • GB/T 37405-2019 高電圧サイリスタ位相制御電圧調整ソフトスタート装置

HU-MSZT, 結晶形と結晶相

American Society for Testing and Materials (ASTM), 結晶形と結晶相

  • ASTM E1181-02(2015) 二重粒子サイズの特性評価および決定方法
  • ASTM E930-99 金属組織研削ディスクで観察される最大粒子 (ALA 粒子) を評価するための標準的な試験方法
  • ASTM E930-99(2007) 金属組織研削ディスクで観察される最大粒子 (ALA 粒子) を評価するための標準的な試験方法
  • ASTM E930-18 金属組織断面で観察される最大結晶粒径 (ALA 結晶粒径) を推定するための標準試験方法
  • ASTM E930-99(2015) 金属組織断面で観察される最大粒子サイズ (ALA 粒子サイズ) を推定するための標準的な試験方法
  • ASTM E1181-87(1998)e1 二相粒子サイズを特性評価するための標準試験方法
  • ASTM E1181-02 二相粒子サイズを特性評価するための標準試験方法
  • ASTM D6057-96(2011) 作業環境における位相差顕微鏡による空気中の単結晶セラミックウィスカー濃度を測定するための標準試験方法
  • ASTM D6057-96(2001)e1 位相差顕微鏡による作業環境空気中の単結晶セラミックウィスカー濃度を測定するための標準試験方法
  • ASTM D6057-96 位相差顕微鏡による作業環境空気中の単結晶セラミックウィスカー濃度を測定するための標準試験方法
  • ASTM D6057-96(2006) 位相差顕微鏡による作業環境空気中の単結晶セラミックウィスカー濃度を測定するための標準試験方法
  • ASTM D5357-03 X線回折によるナトリウムゼオライトA型の相対結晶化度を測定するための標準試験方法
  • ASTM D5357-19 X線回折によるナトリウムゼオライトA型の相対結晶化度を測定するための標準試験方法
  • ASTM A901-03(2008) 半加工アモルファスコア合金の標準仕様
  • ASTM A901-19 半加工アモルファスコア合金の標準仕様
  • ASTM A901-03 アモルファスコア合金半製品の標準仕様
  • ASTM A901-97 アモルファスコア合金半製品の標準仕様
  • ASTM A901-12 アモルファスコア合金半製品の標準仕様

RU-GOST R, 結晶形と結晶相

  • GOST R ISO 14250-2013 鋼. 結晶粒径と二相の分布の金属組織学的特性評価
  • GOST R ISO 643-2011 鋼、顕微鏡写真による見かけの結晶粒径の測定
  • GOST R ISO 643-2015 鋼、顕微鏡写真による見かけの結晶粒径の測定
  • GOST 18604.3-1980 バイポーラトランジスタのコレクタ・エミッタ段間の結合容量の測定方法
  • GOST 27264-1987 パワーアプリケーション用の2段トランジスタ 測定方法
  • GOST 17466-1980 バイポーラおよび電界効果トランジスタの基本パラメータ
  • GOST 18604.10-1976 バイポーラトランジスタの入力抵抗の測定方法
  • GOST 18604.26-1985 バイポーラトランジスタ、過渡パラメータの測定方法
  • GOST 18604.23-1980 バイポーラトランジスタ 合成周波数係数の測定方法
  • GOST 16947-1971 幅広い機器に適したトランジスタタイプ GT701A

International Electrotechnical Commission (IEC), 結晶形と結晶相

  • IEC 60444-2:1980 π型ネットワークゼロ位相技術を用いた水晶部品のパラメータ測定その2：水晶部品の動的静電容量を測定するための位相オフセット法
  • IEC 61747-6:2004 液晶および固体表示装置 第6部 液晶弾性率の測定方法 透過型
  • IEC 61747-30-1:2012 液晶表示装置 第30-1部 液晶表示モジュールの測定方法 透過型
  • IEC 60444-1:1986 π型ネットワークゼロフェーズ技術を用いた水晶部品のパラメータ測定その1：π型ネットワークゼロフェーズ技術を用いた水晶部品の共振周波数と共振抵抗の基本的な測定方法
  • IEC 61747-6-2:2011/COR1:2012 液晶ディスプレイ、パート 6-2: 液晶ディスプレイモジュールの測定方法、反射の種類、訂正事項 1
  • IEC 61747-6-2:2011 液晶および固体表示デバイス 第 6-2 部：液晶表示モジュールの測定方法 反射型
  • IEC 60444-1:1986/AMD1:1999 π型ネットワークゼロフェーズ技術を用いた水晶部品のパラメータ測定その1：π型ネットワークゼロフェーズ技術を用いた水晶部品の共振周波数と共振抵抗の基本測定方法の修正1

American National Standards Institute （ANSI), 結晶形と結晶相

  • ANSI/ASTM D6057:2001 位相差顕微鏡を用いた作業環境空気中の単結晶セラミックスウィスカー濃度の測定方法
  • ANSI/ASTM A901:1997 アモルファスコア合金半製品の仕様

Professional Standard - Medicine, 結晶形と結晶相

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 結晶形と結晶相

  • EN 61747-6:2004 液晶・固体表示装置 第6部 液晶モジュールの透過測定法
  • EN 61747-30-1:2012 液晶表示装置 第30-1部 液晶表示モジュールの測定方法 透過型

IN-BIS, 結晶形と結晶相

  • IS 4570 Pt.7-1985 水晶振動子サポート仕様パート 7 マイクロ、メタル、はんだ封止、2 線式水晶振動子サポート タイプ DJ
  • IS 4570 Pt.12-1989 水晶振動子サポートの仕様 パート 12 マイクロ、金属、冷間溶接、2 線式水晶振動子サポート タイプ EB
  • IS 4570 Pt.3-1984 水晶振動子ホルダー仕様 第3部 管状水晶振動子ホルダー（ガラス）タイプ AP、AR、AS、AT、AU
  • IS 4570 Pt.11-1989 水晶振動子ホルダ仕様 第11部 金属溶接2ピン水晶振動子ホルダ タイプDQ
  • IS 4570 Pt.8-1985 水晶振動子ブラケット仕様その8 金属溶接3線式水晶振動子ブラケット タイプDK
  • IS 4570 Pt.6-1984 水晶振動子ホルダ仕様パート6 金属製、はんだ封止型、2本針水晶振動子ホルダ Type CX
  • IS 4570 Pt.13/Sec.5-1993 水晶振動子ホルダ―仕様 第 13 部 自動取り扱い水晶振動子ホルダの概要 セクション 5: 金属製、密閉型、2 針水晶振動子ホルダ タイプ CU 05
  • IS 4570 Pt.13/Sec.4-1993 水晶振動子ホルダ―仕様 第 13 部 自動取り扱い水晶振動子ホルダの概要 セクション 4: 金属製、密閉型、2 針水晶振動子ホルダ タイプ CU 04
  • IS 4570 Pt.13/Sec.3-1993 水晶振動子ホルダ―仕様 第 13 部 自動加工水晶振動子ホルダの概要 セクション 3: 金属製、密閉型、2 針水晶振動子ホルダ タイプ CU 03
  • IS 4570 Pt.13/Sec.2-1993 水晶振動子ホルダ―仕様 第 13 部 自動加工水晶振動子ホルダの概要 セクション 2: 金属製、密閉型、2 針水晶振動子ホルダ タイプ CU 02
  • IS 4570 Pt.13/Sec.1-1993 水晶振動子ホルダ―仕様 第 13 部 自動加工水晶振動子ホルダの概要 セクション 1: 金属製、密閉型、2 針水晶振動子ホルダ タイプ CU 01
  • IS 9728-1981 水晶振動子の移動容量測定における位相シフト法の仕様
  • IS 8271 Pt.2/Sec.3-1981 シリーズ II AA 発振器用水晶振動子の仕様 3 章 AA-03 型水晶振動子
  • IS 8271 Pt.2/Sec.5-1981 シリーズII AA発振器用水晶振動子の仕様 第5章：水晶振動子タイプ AA-05
  • IS 8271 Pt.2/Sec.2-1981 シリーズ II AA 発振器に使用される水晶振動子の仕様 2 章: 水晶振動子 AA-02 型
  • IS 8271 Pt.2/Sec.1-1981 発振器シリーズ II AA に使用される水晶振動子の仕様 1 章：水晶振動子 AA-01 型

Professional Standard - Building Materials, 結晶形と結晶相

  • JC/T 2146-2012 擬似位相整合のための高濃度マグネシウムドープニオブ酸リチウム結晶

Danish Standards Foundation, 結晶形と結晶相

  • DS/EN 61747-6-2:2011 液晶表示装置 第6-2部 液晶表示モジュールの測定方法 反射型
  • DS/EN 61747-30-1:2012 液晶表示装置 第30-1部 液晶表示モジュールの測定方法 透過型
  • DS/EN 60444-2:1998 ゼロ位相法による PI ネットワークの水晶セル パラメータの測定パート 2: 水晶セルの動作静電容量を測定するための位相シフト法
  • DS/EN ISO 11979-5:2006 眼科用インプラント眼内レンズパート 5: 生体適合性
  • DS/ENV 14273:2002 アドバンストテクニカルセラミックスセラミック粉末ジルコニアの結晶相の決定

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 結晶形と結晶相

  • EN 61747-6-2:2011 液晶表示装置 第6-2部 液晶表示モジュールの測定方法 反射型

未注明发布机构, 結晶形と結晶相

ES-UNE, 結晶形と結晶相

  • UNE-EN 61747-6-2:2011 液晶表示装置 第6-2部 液晶表示モジュールの測定方法 反射型
  • UNE-EN 61747-30-1:2012 液晶表示装置 第30-1部 液晶表示モジュールの測定方法 透過型
  • UNE-EN 60444-2:1997 PIネットワークにおける水晶振動子パラメータのゼロ位相測定 その2: 水晶部品の動的静電容量測定のための位相シフト法

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 結晶形と結晶相

  • GJB 2138/4-2011 JA500型水晶振動子詳細仕様
  • GJB 1648/1-2011 水晶発振器 ZA511 (ZPB-5) 詳細仕様
  • GJB 1648/2-2011 ZC547（ZWB-1）温度補償型水晶発振器 詳細仕様
  • GJB/Z 45.2-1993 軍用圧電素子シリーズ スペクトル水晶発振器
  • GJB/Z 41.6-1993 軍用半導体ディスクリートデバイスシリーズスペクトラムバイポーラトランジスタ
  • GJB/Z 45.1-1993 軍用圧電デバイスシリーズのスペクトル水晶コンポーネント

Professional Standard - Aerospace, 結晶形と結晶相

机械工业部, 結晶形と結晶相

  • JB 6324-1992 電気溶接機用KE型50A～500Aサイリスタ

(U.S.) Ford Automotive Standards, 結晶形と結晶相

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, 結晶形と結晶相

  • DB13/T 5222-2020 ガスクロマトグラフィーによるネマチックサーモトロピック液晶モノマーの純度の測定
  • DB13/T 2789-2018 ディスプレイ用ネマチックサーモトロピック液晶の一般的な技術要件
  • DB13/T 5223-2020 ネマチック相サーモトロピック液晶モノマーの電圧保持率の求め方
  • DB13/T 5096-2019 モノクロ表示用ネマチック相サーモトロピック液晶の透明点試験方法

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, 結晶形と結晶相

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 結晶形と結晶相

中国石油化工总公司, 結晶形と結晶相

  • SH 2002-1991 アンモニア蒸発管晶析装置の技術条件

IET - Institution of Engineering and Technology, 結晶形と結晶相

European Committee for Standardization (CEN), 結晶形と結晶相

  • EN ISO 643:2020 鋼の顕微鏡写真における見かけの結晶粒径の測定
  • EN ISO 643:2012 鋼の顕微鏡写真における見かけの結晶粒径の測定

United States Navy, 結晶形と結晶相

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 結晶形と結晶相

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 結晶形と結晶相

Professional Standard - Labor and Labor Safety, 結晶形と結晶相

  • LD/T 94-1996 クリスタルケトル用ビープラグ式過圧破裂ディスク装置

Lithuanian Standards Office , 結晶形と結晶相

  • LST EN 61747-6-2004 液晶および固体表示装置 第 6 部：液晶モジュールの測定方法 透過型（IEC 61747-6:2004）
  • LST EN 61747-6-2-2011 液晶表示装置 第6-2部：反射型液晶表示モジュールの測定方法（IEC 61747-6-2:2011）
  • LST EN 61747-30-1-2012 液晶表示装置 Part 30-1：液晶表示モジュールの測定方法 透過型（IEC 61747-30-1:2012）
  • LST L ENV 14273-2004 アドバンストテクニカルセラミックスセラミック粉末ジルコニアの結晶相の決定

国家质量监督检验检疫总局, 結晶形と結晶相

  • SN/T 4563-2016 電磁鋼板（条）の結晶方位識別方法 金属組織学的方法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 結晶形と結晶相

  • JIS C 8990:2004 結晶シリコン接地オプトエレクトロニクス モデル 設計認定と型式承認

TH-TISI, 結晶形と結晶相

  • TIS 1864-2009 半導体デバイス パート 7: バイポーラ トランジスタ

劳动部, 結晶形と結晶相

  • LD/T 0094-1996 クリスタルケトル用スクリュープラグ式超高圧破裂ディスク装置

VN-TCVN, 結晶形と結晶相

  • TCVN 5344-1991 耐食鋼および合金 粒界腐食に対する耐性の測定方法

Jilin Provincial Standard of the People's Republic of China, 結晶形と結晶相

  • DB22/T 1617-2012 供給液体クロマトグラフィー - 質量分析/質量分析におけるマラカイト グリーン、ロイコ マラカイト グリーン、クリスタル バイオレット、およびロイコ クリスタル バイオレットの測定

Professional Standard - Hygiene , 結晶形と結晶相

  • WS/T 49-1996 ガスクロマトグラフィーによる尿中フェノールの定量法 (1) 液晶カラム法

SAE - SAE International, 結晶形と結晶相

  • SAE AMS2316A-1991 鍛造ニッケルおよび耐熱合金の結晶粒径の金属組織学的評価

Society of Automotive Engineers (SAE), 結晶形と結晶相

  • SAE AMS2316-1989 鍛造ニッケルおよび耐熱合金の結晶粒径の金属組織学的評価

Professional Standard - Public Safety Standards, 結晶形と結晶相

  • GA/T 1084-2013 大規模イベント向け液晶カラーモニターの一般仕様

Indonesia Standards, 結晶形と結晶相

  • SNI IEC 61215:2013 結晶シリコン太陽電池モジュールの設計認定および型式承認

Professional Standard - Commodity Inspection, 結晶形と結晶相

  • SN/T 1176-2003 スーパーツイストネマティック液晶表示装置の輸出入検査方法

IT-UNI, 結晶形と結晶相

KR-KS, 結晶形と結晶相

Yunnan Provincial Standard of the People's Republic of China, 結晶形と結晶相

  • DB53/T 500-2013 ガスクロマトグラフィーによる多結晶シリコン中のトリクロロシラン成分含有量の測定

Professional Standard - Energy, 結晶形と結晶相

  • NB/SH/T 6024-2021 X線回折法によるZSM-5モレキュラーシーブの相対結晶化度の測定

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