ZH
RU
EN
ES

チタンの誘電率と損失

チタンの誘電率と損失は全部で 181 項標準に関連している。

チタンの誘電率と損失 国際標準分類において、これらの分類：非金属鉱物、 断熱材、 絶縁流体、 周波数制御と選択のための圧電および誘電デバイス、 ゴム、 通信機器の部品および付属品、 電気、磁気、電気および磁気測定、 プリント回路およびプリント回路基板、 総合電子部品、 コンデンサ、 ワイヤーとケーブル、 電気工学総合、 プラスチック、 ゴム・プラスチック製品、 回転モーター。


IPC - Association Connecting Electronics Industries, チタンの誘電率と損失

American Society for Testing and Materials (ASTM), チタンの誘電率と損失

  • ASTM D1082-17 マイカの誘電損失率及び誘電率（誘電率）の標準試験方法
  • ASTM D2149-13 固体セラミック誘電体の誘電率（誘電率）および誘電正接の標準試験方法
  • ASTM D150-18 固体電気絶縁材料の交流損失特性及び誘電率（誘電率）の標準試験方法
  • ASTM D150-87 固体電気絶縁材料の交流損失特性及び誘電率（誘電率）の標準試験方法
  • ASTM D3380-22 ポリマーベースのマイクロ波回路基板の比誘電率（誘電率）と誘電正接の標準試験方法
  • ASTM D3380-90(1995)e1 ポリマーベースのマイクロ波回路基板の比誘電率（誘電率）と誘電正接の標準試験方法
  • ASTM D2149-13(2021) 周波数 10 MHz、温度 500°C における固体誘電体の誘電率と誘電正接の標準試験方法
  • ASTM D3380-14 ポリマーベースのマイクロ波回路基板の比誘電率（誘電率）および電気正接の標準試験方法
  • ASTM D924-99e1 電気絶縁性液体の誘電正接（または力率）および誘電率（誘電率）の標準試験方法
  • ASTM D924-99e2 電気絶縁性液体の誘電正接（または力率）および誘電率（誘電率）の標準試験方法
  • ASTM D924-08 電気絶縁性液体の損失係数（または力率）と誘電率（誘電率）の標準試験方法
  • ASTM D924-15 電気絶縁性液体の誘電正接（または力率）および誘電率（誘電率）の標準試験方法
  • ASTM D150-98(2004) 固体電気絶縁材料（定誘電体）の交流損失特性および比誘電率の標準試験方法
  • ASTM D150-98 固体電気絶縁材料（定誘電体）の交流損失特性および比誘電率の標準試験方法
  • ASTM D924-23 電気絶縁性液体の誘電正接（または力率）および比誘電率（誘電率）の標準試験方法
  • ASTM D2149-97(2004) 周波数10MHz、温度500℃における固体セラミック誘電体の誘電率（誘電率）と損失係数の試験方法
  • ASTM D2149-97 周波数10MHz、温度500℃における固体セラミック誘電体の誘電率（誘電率）と損失係数の試験方法
  • ASTM D924-04 電気絶縁性液体の損失係数（または力率）および比誘電率（誘電率）の標準試験方法
  • ASTM D924-03 電気絶縁性液体の損失係数（または力率）および比誘電率（誘電率）の標準試験方法
  • ASTM D924-03a 電気絶縁性液体の損失係数（または力率）および比誘電率（誘電率）の標準試験方法
  • ASTM D1673-94(2004) 電気絶縁用延伸多孔質ポリマーの比誘電率および誘電正接の標準試験方法
  • ASTM D1673-94(1998) 電気絶縁用延伸多孔質ポリマーの比誘電率および誘電正接の標準試験方法
  • ASTM D1082-00(2011) マイカの誘電正接および誘電率の標準試験方法
  • ASTM D150-11 固体電気絶縁材料の交流損失特性および誘電率（誘電率）の標準試験方法
  • ASTM D669-92(1997) 平行積層薄板および板積層体の誘電正接および誘電率の標準試験方法
  • ASTM D1082-00 マイカの誘電正接および誘電率（誘電率）の標準試験方法
  • ASTM D1082-00(2005) マイカの誘電正接および誘電率（誘電率）の標準試験方法
  • ASTM D3380-10 ポリマーベースの高周波回路マトリックスの比誘電率（誘電率）と誘電正接の標準試験方法
  • ASTM D3380-90(2003) プラスチック系マイクロ波回路基板の相対透過率（誘電率）と誘電正接の試験方法
  • ASTM D1531-06 液体置換法による比誘電率および誘電正接の標準試験方法
  • ASTM D1531-01 液体置換法による誘電率および誘電正接の標準試験方法
  • ASTM D1531-01e1 液体置換法による誘電率および誘電正接の標準試験方法
  • ASTM D1531-95 液体置換法による誘電率および誘電正接の標準試験方法
  • ASTM D669-92(2002) 積層シートおよび積層板の層に平行な散逸係数および誘電率の試験方法
  • ASTM D2520-21 マイクロ波周波数および 1650°C の温度における固体電気絶縁材料の複素誘電率 (誘電率) の標準試験方法
  • ASTM D669-03 積層された薄板および中厚シートに平行な層の散逸係数および誘電率の標準試験方法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), チタンの誘電率と損失

  • KS C 2135-1996(2021) 固体電気絶縁体の交流損失特性と誘電率（誘電率）の試験方法
  • KS C 2150-2008(2018) 高周波（500mhz〜10ghz）誘電体膜の誘電率・誘電損失の測定方法
  • KS C 2150-2008 高周波帯域（500MHz～10GHz）における誘電体膜の誘電率及び誘電損失の測定方法
  • KS C 2135-1996(2016) 固体電気絶縁体の交流損失特性と比誘電率の試験方法
  • KS C 2134-1996(2016) 積層板および板に平行な材料の誘電正接および誘電率の試験方法
  • KS C 2134-1996 積層体の誘電正接と誘電率の測定
  • KS C IEC 62631-2-1:2020 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性 第 2-1 部：比誘電率と損失係数 技術周波数 (0.1hz~10mhz) 交流法
  • KS C IEC 60250:2003 電力周波数、可聴周波数、および無線周波数（メーター波長を含む）における電気絶縁材料の誘電率および誘電損失係数を決定するための推奨方法
  • KS C 2134-1996(2021) 積層板材と平板材の積層時の損失係数と誘電率の試験方法
  • KS C 2135-1996 固体絶縁材料の交流損失特性と誘電率の求め方
  • KS C 2136-1996(2021) 固体電気絶縁材料の高周波および高温における複素誘電率（誘電率）の試験方法
  • KS C 2136-1996(2016) 高周波および高温における固体絶縁材料の複素誘電率（誘電率）を試験する方法

PL-PKN, チタンの誘電率と損失

  • PN E04403-1986 固体電気絶縁材料。 誘電率・誘電損失率の測定
  • PN E04410-22-1986 電気絶縁ワニス。 テスト方法。 損失係数と誘電率の決定
  • PN-EN IEC 63185-2021-08 E 低損失誘電体基板上の平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法 (IEC 63185:2020)

Professional Standard - Electron, チタンの誘電率と損失

  • SJ/T 11043-1996 電子ガラスの高周波誘電損失および比誘電率の試験方法
  • SJ/T 1147-1993 コンデンサ用有機膜の誘電正接及び比誘電率の試験方法
  • SJ 20512-1995 マイクロ波大損失固体材料の複素誘電率および複素透磁率の試験方法

American National Standards Institute （ANSI), チタンの誘電率と損失

  • ANSI/ASTM D150:2018 固体電気絶縁体の交流損失特性と誘電率（誘電率）の標準試験方法
  • ANSI/ASTM D150:2011 固体電気絶縁材料（定誘電体）の交流損失特性と比誘電率の試験方法
  • ANSI/ASTM D3380:2010 プラスチック系マイクロ波回路基板の相対透過率（誘電率）と誘電正接の試験方法

CZ-CSN, チタンの誘電率と損失

  • CSN 72 5041-1973 焼成したセラミック材料の試験。 誘電率と誘電損失率の測定
  • CSN 34 6466-1983 電気絶縁材料の誘電率と誘電損失率の求め方
  • CSN 34 6317-1984 電気材料やセラミックスの検査。 誘電率と誘電損失率の求め方

Association Francaise de Normalisation, チタンの誘電率と損失

  • NF C26-232*NF EN 62810:2018 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
  • NF EN 62810:2018 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
  • NF EN 62562:2011 低損失誘電体板の複素誘電率を測定するための共振空洞法
  • NF EN 60247:2004 絶縁性液体 - 比誘電率、誘電正接（tanδ）、直流抵抗率の測定
  • NF C26-296*NF EN 62562:2011 空洞共振器法は、低損失誘電体デバイスの合成誘電率の測定に使用されます。
  • NF EN IEC 63185:2021 低損失誘電体基板の複素誘電率を測定するための対称ディスク共振器法
  • NF EN IEC 62631-2-2:2022 固体絶縁材料の誘電率と抵抗特性 第2-2部：比誘電率と誘電正接 高周波（1MHz～300MHz）交流法
  • NF C27-210*NF EN 60247:2004 絶縁性液体の比誘電率、誘電損失率（tanδ）、直流抵抗率の測定
  • NF C26-631-2-1*NF EN IEC 62631-2-1:2018 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性 パート 2-1: 比誘電率と誘電正接 技術周波数 (0.1 Hz ～ 10 MHz) AC 法
  • NF EN IEC 62631-2-1:2018 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性 パート 2-1: 比誘電率と誘電正接 技術周波数 (0.1 Hz ～ 10 MHz) 交流法
  • NF EN 61620:1999 コンダクタンスとキャパシタンスの測定により誘電正接を決定するための液体絶縁体の試験方法
  • NF C27-210:1979 絶縁流体の比誘電率、誘電損失、直流抵抗率の測定
  • NF C51-127-3*NF EN 60034-27-3:2016 回転電機 第27-3回 回転電機の固定子巻線絶縁の誘電損率測定

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, チタンの誘電率と損失

  • EN 62810:2015 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
  • EN 62562:2011 空洞共振器法による低損失誘電体板の合成誘電率測定
  • EN IEC 63185:2021 低損失誘電体基板平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法
  • EN 61620:1999 コンダクタンスとキャパシタンスを測定することにより絶縁液体の誘電正接を求める試験方法
  • EN 60247:2004 絶縁性液体 比誘電率、誘電正接 (tan $) および DC 抵抗率の測定 IEC 60247-2004
  • EN IEC 62631-2-1:2018 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性 パート 2-1: 比誘電率と誘電正接 技術周波数 (0 1 Hz ～ 10 MHz) AC 法
  • EN 60034-27-3:2016 回転電機 第27-3部 回転電機の固定子巻線絶縁の誘電正接測定

ES-UNE, チタンの誘電率と損失

  • UNE-EN 62810:2015 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
  • UNE-EN 62562:2011 空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
  • UNE-EN 60247:2004 ERRATUM:2005 絶縁性液体の比誘電率、誘電損失率(tan d)、直流抵抗率の測定
  • UNE-EN IEC 63185:2021 低損失誘電体基板の複素誘電率測定のためのバランスディスク共振器法
  • UNE-EN IEC 62631-2-2:2022 固体絶縁材料の誘電率と抵抗特性 第2-2部：比誘電率と誘電正接 高周波（1MHz～300MHz）AC方式
  • UNE-EN IEC 62631-2-1:2018 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性 パート 2-1: 比誘電率と誘電正接 技術周波数 (0.1 Hz ～ 10 MHz) AC 法
  • UNE-EN 60034-27-3:2016 回転電機 第27-3部 回転電機の固定子巻線絶縁の誘電正接測定
  • UNE-EN 61189-2-719:2016 電気材料、プリント基板、およびその他の相互接続構造およびアセンブリの試験方法 パート 2-719: 相互接続構造材料の試験方法 比誘電率および誘電正接

German Institute for Standardization, チタンの誘電率と損失

  • DIN EN 62810:2015-12 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
  • DIN EN 62562:2011-10 空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
  • DIN 57472-505:1983 ケーブル、導体、コードの試験、誘電正接、誘電損失係数、漏れ率 (VDE 仕様)
  • DIN EN IEC 63185:2022-10 平衡ディスク共振器法を用いた低損失誘電体基板の複素誘電率の測定 (IEC 63185:2020)
  • DIN EN 63185:2018 低損失誘電体基板の複素誘電率を測定するためのバランスディスク共振器法 (IEC 46F/415/CD:2018)
  • DIN EN 62562:2011 空洞共振器法を使用した低損失誘電体プレートの複素誘電率の測定 (IEC 62562-2010)、ドイツ語版 EN 62562-2011
  • DIN EN 62810:2015 円筒共振器法を使用した低損失誘電体ロッドの複素誘電率の測定 (IEC 62810-2015)、ドイツ語版 EN 62810-2015
  • DIN EN 60247:2005 絶縁性液体 比誘電率、誘電損失率（tanδ）、直流抵抗率の測定
  • DIN EN 61620:1999 絶縁液体 導電率と静電容量の測定による誘電損率の決定 試験方法
  • DIN EN 61189-2-719:2017-04 電気材料、プリント基板、およびその他の相互接続構造およびアセンブリの試験方法 パート 2-719: 相互接続構造材料の試験方法 比誘電率および誘電正接
  • DIN EN IEC 62631-2-1:2018-12 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性 - パート 2-1: 比誘電率と誘電正接 - 技術周波数 (0.1 Hz ～ 10 MHz) - AC 法 (IEC 62631-2-1:2018)

RO-ASRO, チタンの誘電率と損失

  • STAS 2740-1969 電気絶縁材料。 誘電率と誘電損失角の決定
  • STAS 12969-1991 熱力学的温度 70 度における固体電気絶縁材料の誘電率と損失正接を決定する方法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), チタンの誘電率と損失

  • JIS C 2138:2007 電気絶縁材料、比誘電率、誘電損失率の求め方

Danish Standards Foundation, チタンの誘電率と損失

  • DS/EN 62562:2011 空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
  • DS/EN 60247:2004 絶縁性液体の比誘電率、誘電損率（tanファイ）、直流抵抗率の測定
  • DS/EN IEC 63185:2021 低損失誘電体基板平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法
  • DS/IEC 247:1979 絶縁性液体の比誘電率、誘電正接、直流抵抗率の測定
  • DS/EN 61620:1999 コンダクタンスとキャパシタンスを測定することにより絶縁液体の誘電正接を求める試験方法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, チタンの誘電率と損失

  • GB/T 1693-2007 加硫ゴムの誘電率及び誘電正接の求め方
  • GB/T 5594.4-2015 電子部品用構造用セラミック材料の性能試験方法 第4部 誘電率及び誘電正接の試験方法
  • GB/T 21216-2007 絶縁性液体のコンダクタンスとキャパシタンスを測定して誘電損率を求める試験方法
  • GB/T 5654-2007 液体絶縁材料の比誘電率、誘電損失率、直流抵抗率の測定

HU-MSZT, チタンの誘電率と損失

  • MSZ 4803/36.lap-1969 絶縁ワニスをテストします。 誘電率と損失係数の決定
  • MSZ 15747/9-1982 セラミック電気切断装置の試験における比誘電率と損失係数の定義

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), チタンの誘電率と損失

  • IPC TM-650.2.5.7.2-2009 材料の誘電率（誘電率）と損失正接（誘電正接）（二液セル法） 改訂 C 1987 年 12 月
  • IPC TM-650 2.5.5.3-1987 材料の誘電率（誘電率）と損失正接（誘電正接）（二液セル法） 改訂 C 1987 年 12 月
  • IPC TM-650-2015 材料の誘電率（誘電率）と損失正接（誘電正接）（二液セル法） 改訂 C 1987 年 12 月
  • IPC TM-650 2.5.5.5-1998 リビジョン C、X バンドでの誘電率と損失正接 (誘電率と誘電正接) のストリップライン テスト
  • IPC TM-650 2.5.5.2-1987 プリント基板材料の誘電率と誘電正接 - クリップ法
  • IPC TM-650 2.5.5.4-1985 プリント基板材料の誘電率と誘電正接 ミクロン法
  • IPC TM-650 2.5.5.9-1998 MHz ～ 1.5 GHz の平行平板、誘電率および損失正接
  • IPC TM-650 2.5.5.1-1986 MHz における絶縁材料の誘電率 (誘電率) および損失正接 (散逸率) (接触電極方式) 改訂 B 1986 年 5 月
  • IPC TM-650 2.5.5.8-1995 高分子フィルムの低周波誘電率と損失正接
  • IPC TM-650 2.5.5.13-2007 分割円筒共振器を使用した比誘電率と損失正接
  • IPC TM-650 2.5.5.10-2005 埋め込まれた受動材料の誘電率と損失正接を測定するための高周波試験

British Standards Institution (BSI), チタンの誘電率と損失

  • BS EN 62562:2011 空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
  • BS IEC 61196-1-125:2022 同軸通信ケーブルの電気試験方法 誘電体の等価誘電率および等価損失率試験
  • BS EN 62810:2015 円筒共振空洞法を用いた低損失誘電体棒の複素誘電率の測定
  • BS EN IEC 63185:2021 平衡ディスク共振器法による低損失誘電体基板の複素誘電率測定
  • BS EN IEC 62631-2-2:2022 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性 比誘電率と損失係数 高周波 (1MHz ～ 300MHz) AC モード
  • 18/30373795 DC BS EN 63185. 低損失誘電体基板の複素誘電率を測定するための平衡ディスク共振器法
  • 21/30435996 DC BS IEC 61196-1-125 同軸通信ケーブル パート 1-125 電気的試験方法 誘電体の等価誘電率および等価散逸損失試験
  • 20/30425177 DC BS IEC 62631-2-2 固体絶縁材料の誘電特性および抵抗特性 Part 2-2 比誘電率および誘電正接 高周波 (1 MHz ～ 300 MHz) AC 方式
  • BS EN IEC 62631-2-1:2018 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性 比誘電率と誘電正接 技術周波数 (0.1 Hz ～ 10 MHz) AC 方式
  • BS EN 60247:2004 絶縁性液体 比誘電率、誘電損失率（tan）、直流抵抗率の測定
  • BS EN 61620:1999 絶縁液体のコンダクタンスとキャパシタンスを測定することにより誘電正接を決定する試験方法
  • BS EN 61189-2-719:2016 電気材料、プリント基板およびその他の相互接続構造およびアセンブリの試験方法 相互接続構造の材料の試験方法 比誘電率および誘電正接値 (500 MHz ～ 10 GHz)

AENOR, チタンの誘電率と損失

  • UNE-EN 60247:2004 絶縁性液体の比誘電率、誘電損失率(tan d)、直流抵抗率の測定
  • UNE 21322:1977 主電源、オーディオ周波数、無線周波数における電気絶縁材料の誘電率と誘電正接を決定する方法

International Electrotechnical Commission (IEC), チタンの誘電率と損失

  • IEC PAS 62562:2008 空洞共振器法による低損失誘電体デバイスの合成誘電率測定
  • IEC 62810:2015 円筒共振空洞法を用いた低損失誘電体棒の複素誘電率の測定
  • IEC 63185:2020 低損失誘電体基板平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法
  • IEC 62631-2-2:2022 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性 パート 2-2: 比誘電率と損失係数 高周波 (1MHz ～ 300MHz) AC 方式
  • IEC 60247:1978 絶縁性液体の比誘電率、誘電損失率、直流抵抗率の測定
  • IEC 61620:1998 絶縁性液体のコンダクタンスとキャパシタンスを測定して誘電損率を求める試験方法
  • IEC 61196-1-125:2022 同軸通信ケーブル 第 1-125 部：電気試験方法 等価誘電率および誘電体の等価誘電率の試験
  • IEC 62631-2-1:2018 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性 パート 2-1: 比誘電率と散逸係数 技術周波数 (0.1hz ～ 10 MHz) AC 方式
  • IEC 60247:2004 液体絶縁材料、比誘電率、誘電損失率（tan）、直流抵抗率の測定

KR-KS, チタンの誘電率と損失

  • KS C 2150-2008(2023) 高周波領域（500MHz～10GHz）における誘電体膜の誘電率および誘電損失の測定方法
  • KS C IEC 62631-2-1-2020 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性 第 2-1 部：比誘電率と損失係数 技術周波数 (0.1hz~10mhz) 交流法

IEC - International Electrotechnical Commission, チタンの誘電率と損失

  • PAS 62562-2008 低損失誘電体プレートの複素誘電率を測定するための空洞共振器法 (バージョン 1.0)

RU-GOST R, チタンの誘電率と損失

  • GOST 22372-1977 誘電体材料 周波数帯域100Hz～5MHzにおける誘電率及び誘電正接の測定方法
  • GOST 8.358-1979 0.2～1GHzの周波数帯域における比誘電率および誘電正接角の測定方法
  • GOST R 8.623-2015 測定の一貫性を確保するための国家システム 固体誘電体の比誘電率と損失係数 マイクロ波周波数の測定手順
  • GOST R IEC 62562-2012 測定の一貫性を確保するための国家制度 空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
  • GOST R IEC 61620-2013 絶縁性液体 コンダクタンスとキャパシタンスを測定することによる誘電正接の決定
  • GOST 8.544-1986 測定の一貫性を確保するための状態システム 比誘電率 固体誘電体の損失正接 9 度 10 から 10 度 Hz までの測定手順 10
  • GOST R IEC 60247-2013 絶縁性液体 比誘電率、誘電正接 (tan d)、直流抵抗率の測定
  • GOST 16746-1983 コンデンサ用紙 工業用周波数における誘電損失および誘電係数の接線角の決定方法

Lithuanian Standards Office , チタンの誘電率と損失

  • LST EN 62562-2011 低損失誘電体プレートの複素誘電率を測定するための空洞共振器法 (IEC 62562:2010)
  • LST EN 60247-2004 絶縁性液体の比誘電率、誘電損失率 (tan) および DC 抵抗率の測定 (IEC 60247:2004)
  • LST EN IEC 63185:2021 低損失誘電体基板上の平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法 (IEC 63185:2020)
  • LST EN 61620-2001 コンダクタンスとキャパシタンスを測定することにより絶縁性液体の誘電正接を決定するための試験方法 (IEC 61620:1998)

Group Standards of the People's Republic of China, チタンの誘電率と損失

  • T/CSTM 00985-2023 低損失誘電体プレートの複素誘電率をテストするための独立した円筒共振空洞法
  • T/CSTM 00990-2023 ミリ波周波数帯における誘電率および誘電正接の試験方法 擬似光共振器法

未注明发布机构, チタンの誘電率と損失

  • DIN EN IEC 63185:2022 対称ディスク共振器法を用いた低損失誘電体基板の複素誘電率の測定
  • BS 7663:1993(2000) シート状または管状の電気絶縁材料の誘電率および誘電正接を測定するための試験方法

Standard Association of Australia （SAA）, チタンの誘電率と損失

  • AS 1767.2.2:2008 絶縁性液体の試験方法 比誘電率、誘電正接（tan d）、直流抵抗率の測定

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, チタンの誘電率と損失

  • GB/T 31838.6-2021 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性 第6部：誘電特性（交流法） 比誘電率と誘電損失率（周波数0.1Hz～10MHz）

Indonesia Standards, チタンの誘電率と損失

  • SNI 04-6542-2001 絶縁性液体の比誘電率、誘電正接、直流抵抗率の測定

ES-AENOR, チタンの誘電率と損失

  • UNE 21-317-1989 絶縁性液体の誘電率、絶縁損失(tg5)、比抵抗(DC)の測定

IT-UNI, チタンの誘電率と損失

  • UNI 4289-1972 プラスチック材料の試験。 関連する誘電率と誘電正接の決定

AT-OVE/ON, チタンの誘電率と損失

  • OVE EN IEC 62631-2-2:2021 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性 第 2-2 部：比誘電率と誘電正接 高周波 (1 MHz ～ 300 MHz) 交流法 (IEC 112/531/CDV) (英語版)

IN-BIS, チタンの誘電率と損失

  • IS 4486-1967 電力、可聴周波、無線周波数（メーターの波長を含む）における電気絶縁材料の誘電率と誘電正接を決定するための推奨方法
  • IS 6262-1971 電気絶縁流体の力率および誘電率の試験方法

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), チタンの誘電率と損失

CN-QIYE, チタンの誘電率と損失

  • Q/GDW 1895-2013 容量性機器の誘電損失率および静電容量ライブテスト技術のフィールドアプリケーションガイドライン

  セラミックスの誘電率と損失, 固体絶縁材料の比誘電率および誘電損失率の試験方法, チタンの誘電率と損失, 固体電気絶縁材料、誘電率、誘電損失率の測定, 誘電率と損失の測定.

 



©2007-2024 著作権所有