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マイクロアレイスポッティング

マイクロアレイスポッティングは全部で 223 項標準に関連している。

マイクロアレイスポッティング 国際標準分類において、これらの分類：分析化学、 検査医学、 医療機器、 語彙、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 生物学、植物学、動物学、 半導体ディスクリートデバイス、 集積回路、マイクロエレクトロニクス、 道路車両装置、 食品の検査と分析の一般的な方法、 土工、掘削、基礎工事、地下工事、 農林、 砂糖、砂糖製品、でん粉、 電気および電子試験、 半導体材料、 溶接、ロウ付け、低温溶接、 光ファイバー通信、 航空宇宙用の流体システムおよびコンポーネント、 電子部品および部品、 電気、磁気、電気および磁気測定、 プリント回路およびプリント回路基板、 微生物学、 航空宇宙用電気機器およびシステム、 食品総合。


中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, マイクロアレイスポッティング

  • GB/T 34324-2017 マイクロアレイバイオチップスポッティング装置の技術要件
  • GB/T 33752-2017 マイクロアレイチップ用アルデヒド系基板
  • GB/T 33806-2017 エリアアレイ蛍光イメージングマイクロアレイチップスキャナーの技術要件
  • GB/T 35891-2018 マイクロアレイバイオチップ洗浄装置の技術要件
  • GB/T 35895-2018 マイクロアレイバイオチップリアクターの技術要件

Group Standards of the People's Republic of China, マイクロアレイスポッティング

  • T/COOA 7-2023 微細構造眼鏡レンズ マイクロレンズアレイレンズ
  • T/CI 156-2023 マイクロアレイ遺伝子チップによる養殖魚の重要病原体の検出法
  • T/CI 157-2023 マイクロアレイ遺伝子チップによる重要な甲殻類病原体の検出法
  • T/CSEE /Z0028-2017 アンテナアレイに基づく変電所の放電点の検出と位置決めに関するガイドライン
  • T/KJFX 001-2021 酵素結合免疫吸着マイクロアレイバイオチップ法を使用した、家畜および家禽肉中のスルホンアミド、クロラムフェニコール、およびニトロフラン代謝物残留物の同時迅速測定

Danish Standards Foundation, マイクロアレイスポッティング

Professional Standard - Medicine, マイクロアレイスポッティング

  • YY/T 1153-2009 体外診断用 DNA マイクロアレイチップ
  • YY/T 1151-2009 体外診断用タンパク質マイクロアレイチップ

U.S. Military Regulations and Norms, マイクロアレイスポッティング

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, マイクロアレイスポッティング

  • GB/T 28639-2012 DNAマイクロアレイチップの一般的な技術条件
  • GB/T 28641-2012 プロテインマイクロアレイチップの一般的な技術条件
  • GB/T 41869.1-2022 光学およびフォトニクス マイクロレンズ アレイ パート 1: 用語
  • GB/T 41869.2-2022 光学およびフォトニクス マイクロレンズ アレイ パート 2: 波面収差の試験方法
  • GB/T 28634-2012 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、バルクサンプル分光法の定量点分析。

Defense Logistics Agency, マイクロアレイスポッティング

  • DLA MIL-M-38510/108 A VALID NOTICE 1-2008 マイクロ回路、リニア、トランジスタアレイ、モノリシックシリコン
  • DLA MIL-M-38510/108 A VALID NOTICE 2-2013 マイクロ回路、リニア、トランジスタアレイ、モノリシックシリコン
  • DLA SMD-5962-89876 REV B-2002 シリコンモノリス、トランジスタアレイ、線形超小型回路
  • DLA SMD-5962-87777 REV B-2001 シリコンモノリシックトランジスタアレイ/ペア線形マイクロ回路
  • DLA SMD-5962-87528-1987 シリコンモノリシックプログラマブルアレイロジック、デジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-88664 REV A-2002 シリコンモノリシックNPNトランジスタアレイ高電流リニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-89841 REV L-2008 マイクロ回路メモリ デジタル CMOS プログラマブル アレイ ロジック (EEPLD)
  • DLA MIL-M-38510/600 VALID NOTICE 4-2012 マイクロ回路、デジタル、バイポーラ、セミカスタム (ゲート アレイ) デバイス、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-95527 REV A-2009 マイクロ回路、リニア、7 チャネル共通ソース パワー DMOS アレイ、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-87598 REV A-2006 シリコンモノリシックトランジスタアレイ高電流NPN、リニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-89775-1991 シリコンモノリシック、4重PNPトランジスタアレイ、高速リニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-89776 REV B-2007 シリコンモノリシック、4連NPNトランジスタアレイ、高速リニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-89839 REV F-2007 シリコンモノリシック、EEプログラマブルロジックアレイ、デジタルメモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-90538 REV D-2003 シリコンモノリシック、クワッドショットキーダイオードアレイ、リニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-94730 REV E-2010 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS、プログラマブル ロジック アレイ、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-97522 REV B-2008 モノリシックシリコンプログラマブルロジックアレイCMOSデジタルメモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-97523 REV B-2008 モノリシックシリコンプログラマブルロジックアレイCMOSデジタルメモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-97524 REV B-2008 モノリシックシリコンプログラマブルロジックアレイCMOSデジタルメモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-97525 REV B-2008 モノリシックシリコンプログラマブルロジックアレイCMOSデジタルメモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-85155 REV G-2006 シリコンモノリシックプログラマブルロジックアレイ、バイポーラメインメモリ、マイクロ回路
  • DLA SMD-5962-94634-1995 シリコンモノリシック、8000ゲート構成可能なロジックアレイ、デジタルメモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-89823 REV H-2007 シリコンモノリシック、9000ゲートプログラマブルロジックアレイ、デジタルメモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-85065 REV B-2010 マイクロ回路、メモリ、デジタル、バイポーラ、プログラマブル ロジック アレイ、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-88637 REV D-2010 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS、フィールドプログラマブルゲートアレイ、モノリシックシリコン
  • DLA SMD-5962-87528 REV A-2011 マイクロ回路、メモリ、デジタル、バイポーラ プログラマブル ロジック アレイ、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-87530 REV A-2011 マイクロ回路、メモリ、デジタル、バイポーラ プログラマブル ロジック アレイ、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-89841 REV K-2008 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS、プログラマブル アレイ ロジック (EEPLD)、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-88504 REV D-2006 シリコンモノリシックフィールドプログラマブルロジックアレイ (FPLA) バイポーラデジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-86058 REV C-2002 シリコンモノリシックダーリントントランジスタアレイ、高電流リニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-98513 REV A-2008 モノリシック シリコン 13000 ゲート プログラマブル アレイ ロジック CMOS デジタル メモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-92252 REV E-2011 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS 5000 ゲート プログラマブル ロジック アレイ、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-88638 REV D-2011 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS、プログラマブル ロジック セル アレイ、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-95521 REV C-2013 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS、10,000 ゲート プログラマブル ロジック アレイ、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-89713 REV G-2008 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS 4200 ゲート プログラマブル ロジック アレイ、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-89948 REV G-2008 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS 2000 ゲート、プログラマブル ロジック アレイ、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-00543 REV C-2003 72,000 ゲートのモノリシック シリコン デジタル メモリ超小型回路 CMOS フィールド プログラマブル ゲート アレイ
  • DLA SMD-5962-01508 REV D-2005 32,000 ゲートのモノリシック シリコン デジタル メモリマイクロ回路 CMOS フィールド プログラマブル ゲート アレイ、
  • DLA SMD-5962-01515 REV E-2005 72,000 ゲートのモノリシック シリコン デジタル メモリ超小型回路 CMOS フィールド プログラマブル ゲート アレイ
  • DLA SMD-5962-01518 REV D-2006 モノリシックシリコン 32,000 ゲートデジタルメモリマイクロ回路 CMOS フィールドプログラマブルゲートアレイ
  • DLA SMD-5962-89684 REV A-2004 シリコンモノリシック、高電圧および大電流ダーリントントランジスタアレイ、リニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-89685 REV A-2002 シリコンモノリシック、高電圧および大電流ダーリントントランジスタアレイ、リニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-89686 REV A-2002 シリコンモノリシック、高電圧および大電流ダーリントントランジスタアレイ、リニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-91695 REV A-2010 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS、プログラマブル ロジック アレイ (600 ゲート)、モノリシック シリコン
  • DLA MIL-M-38510/508 A VALID NOTICE 1-2010 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS ワンタイム プログラマブル アレイ ロジック、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-91568 REV B-2013 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS、ワンタイム プログラマブル ロジック アレイ、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-07218 REV A-2008 モノリシックシリコン超高周波NPN-PNP組み合わせトランジスタアレイ耐放射線性リニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-08224 REV A-2010 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS、フィールド プログラマブル ゲート アレイ、4,000,000 ゲート、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-01508 REV E-2010 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS、フィールド プログラマブル ゲート アレイ、32,000 ゲート、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-01515 REV F-2010 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS、フィールド プログラマブル ゲート アレイ、72,000 ゲート、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-90965 REV H-2011 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS、フィールド プログラマブル ゲート アレイ、2,000 ゲート、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-04220 REV D-2012 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS、フィールド プログラマブル ゲート アレイ、1,000,000 ゲート、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-08224 REV B-2012 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS、フィールド プログラマブル ゲート アレイ、4,000,000 ゲート、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-92156 REV K-2012 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS、フィールド プログラマブル ゲート アレイ、8000 ゲート、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-01515 REV G-2012 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS、フィールド プログラマブル ゲート アレイ、72,000 ゲート、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-93168 REV B-2013 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS、電気的に消去可能なプログラマブル ロジック アレイ、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-93247 REV B-2013 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS、電気的に消去可能なプログラマブル ロジック アレイ、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-01508 REV H-2013 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS、フィールド プログラマブル ゲート アレイ、32,000 ゲート、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-87539 REV K-2008 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS UV消去可能、プログラマブルアレイロジック、モノリシックシリコン
  • DLA SMD-5962-95520 REV C-2008 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS、フィールド プログラマブル ゲート アレイ、2500 ゲート、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-00543 REV D-2008 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS、フィールド プログラマブル ゲート アレイ、72,000 ゲート、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-96837 REV A-2009 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS、フィールド プログラマブル ゲート アレイ 8000 ゲート、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-04219 REV C-2009 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS、フィールド プログラマブル ゲート アレイ、250,000 ゲート、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-04220 REV C-2009 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS、フィールド プログラマブル ゲート アレイ、1,000,000 ゲート、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-04221 REV C-2009 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS、フィールド プログラマブル ゲート アレイ、2,000,000 ゲート、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-08224-2009 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS、フィールド プログラマブル ゲート アレイ、4,000,000 ゲート、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-98579-1999 マイクロ回路、メモリ付き、デジタル、CMOS、フィールド プログラマブル ゲート アレイ、10000 ゲート、単一シリコン
  • DLA SMD-5962-94754 REV F-2009 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS、ワンタイム プログラマブル ロジック アレイ、(RAD HARD)、モノリシック シリコン
  • DLA MIL-M-38510/502 A VALID NOTICE 1-2010 マイクロ回路、デジタル、バイポーラ フィールド プログラマブル ロジック アレイ (FPLA) 16 x 48 x 8、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-91545 REV F-2007 CMOSデジタルマイクロ回路メモリ、UV消去可能なプログラマブルロジックアレイ、モノリシックシリコン
  • DLA SMD-5962-89840 REV D-2007 シリコンモノリシック、EEプログラマブルロジックアレイ、酸化物半導体デジタルメモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-99527 REV A-2007 マイクロ回路、メモリ付き、デジタル、CMOS、フィールド プログラマブル ゲート アレイ、20,000 ゲート、単一シリコン
  • DLA SMD-5962-99569 REV C-2007 マイクロ回路、メモリ付き、デジタル、CMOS、フィールド プログラマブル ゲート アレイ、16000 ゲート、単一シリコン
  • DLA SMD-5962-99585 REV A-2007 マイクロ回路、メモリ付き、デジタル、CMOS、フィールド プログラマブル ゲート アレイ、36000 ゲート、単一シリコン
  • DLA SMD-5962-99586 REV C-2007 マイクロ回路、メモリ付き、デジタル、CMOS、フィールド プログラマブル ゲート アレイ、32000 ゲート、単一シリコン
  • DLA SMD-5962-86864 REV A-2010 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS、UV消去可能、プログラマブルロジックアレイ、モノリシックシリコン
  • DLA MIL-M-38510/507 B VALID NOTICE 1-2010 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS UV消去可能プログラマブルアレイロジック、モノリシックシリコン
  • DLA SMD-5962-91584 REV A-2012 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS UV消去可能プログラマブルロジックアレイ、モノリシックシリコン
  • DLA SMD-5962-91772 REV A-2012 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS UV消去可能プログラマブルロジックアレイ、モノリシックシリコン
  • DLA SMD-5962-88670 REV E-2010 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS、ワンタイムプログラマブル、プログラマブルアレイロジック、モノリシックシリコン
  • DLA SMD-5962-88726 REV F-2010 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS、UV消去可能、プログラマブルロジックアレイ、モノリシックシリコン
  • DLA SMD-5962-94524 REV A-2007 シリコンモノリシック、ワンタイムプログラマブルロジックアレイ、酸化物半導体デジタルメモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-89755 REV D-2007 シリコンモノリシック、プログラマブルロジックアレイ、高速酸化物半導体デジタルメモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-92252 REV D-2002 シリコンモノリシック、5000ゲートプログラマブルロジックアレイ、酸化物半導体デジタルメモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-92305 REV E-2002 シリコンモノリシック、10,000ゲートプログラマブルロジックアレイ、酸化物半導体デジタルメモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-93168 REV A-1995 シリコンモノリシック、消去可能なプログラマブルロジックアレイ、酸化物半導体デジタルメモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-93221 REV A-2007 シリコンモノリシック、4000ゲートフィールドプログラムロジックアレイ、酸化物半導体デジタルメモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-88713 REV A-2006 シリコンモノリシックプログラマブルロジックアレイ相補型金属酸化物半導体デジタルメモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-93087 REV A-1993 シリコンモノリシック、電気的に消去可能なプログラマブルロジックアレイ、酸化物半導体デジタルメモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-87682 REV F-2008 マイクロ回路、メモリ、デジタル、バイポーラ 18 X 42 X 10 フィールド プログラマブル ロジック アレイ (FPLA)、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-88637 REV C-2005 シリコンモノリシックフィールドプログラマブルゲートアレイ相補型金属酸化物半導体デジタルメモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-90754 REV B-2012 マイクロ回路、メモリ、デジタル、CMOS UV消去可能非同期登録プログラマブルロジックアレイ、モノリシックシリコン
  • DLA SMD-5962-92156 REV J-2007 シリコンモノリシック 800 ゲートフィールドプログラマブルゲートアレイ、相補型金属酸化物半導体、メインメモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-88638 REV C-1996 シリコンモノリシックプログラマブルロジックセルアレイ相補型金属酸化膜半導体デジタルストレージマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-94510 REV A-2007 シリコンモノリシック、UV消去可能なプログラマブルロジックアレイ、酸化物半導体デジタルメモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-12225-2013 マイクロ回路、デジタル、メモリ、CMOS、フィールド プログラマブル ゲート アレイ、280,000 個の同等の ASIC ゲート、独立した SRAM、モノリシック シリコン付き
  • DLA SMD-5962-12225 REV A-2013 マイクロ回路、デジタル、メモリ、CMOS、フィールド プログラマブル ゲート アレイ、280,000 個の同等の ASIC ゲート、独立した SRAM、モノリシック シリコン付き
  • DLA SMD-5962-90989 REV A-2006 シリコンモノリシック相補型金属酸化膜半導体 UV プログラマブルロジックアレイ、デジタルメインメモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-91546 REV B-2007 シリコンモノリシックワンタイムプログラマブルロジックアレイ、相補型金属酸化物半導体、デジタルメインメモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-91568 REV A-1993 シリコンモノリシックワンタイムプログラマブルロジックアレイ、相補型金属酸化膜半導体、デジタルメインメモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-91695-1992 シリコンモノリシック相補型金属酸化膜半導体プログラマブルロジックアレイ (600 ゲート)、デジタルメインメモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-91772-1993 シリコンモノリシック相補型金属酸化物半導体、UV消去可能なロジックアレイ、デジタルメインメモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-90964 REV B-2007 シリコンモノリシック 1200 ゲートフィールドプログラマブルゲートアレイ、相補型金属酸化膜半導体、デジタルメインメモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-90965 REV G-2005 シリコンモノリシック 2000 ゲートフィールドプログラマブルゲートアレイ、相補型金属酸化膜半導体、デジタルメインメモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-93248-1993 シリコンモノリシック、電圧UV消去可能なプログラマブルロジックアレイ、酸化物半導体デジタルメモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-88678 REV B-2005 シリコンモノリシック UV 消去可能プログラマブル ロジック アレイ相補型金属酸化膜半導体デジタル ストレージマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-88724 REV D-2007 シリコンモノリシックプログラマブルロジックアレイ相補型金属酸化物半導体UV消去可能なデジタルストレージマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-88726 REV E-2007 シリコンモノリシックプログラマブルロジックアレイ相補型金属酸化物半導体UV消去可能なデジタルストレージマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-91584-1992 シリコンモノリシック UV 消去可能プログラマブル ロジック アレイ、相補型金属酸化物半導体、デジタル メイン メモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-88670 REV D-2006 シリコンモノリシックプログラマブルアレイロジックワンタイムプログラマブル相補型金属酸化物半導体デジタルメモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-89468 REV C-2007 シリコンモノリシック UV 消去可能プログラマブル ロジック アレイ相補型金属酸化膜半導体デジタル ストレージマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-93245-1993 シリコンモノリシック、拡張電圧 UV 消去可能プログラマブルロジックアレイ、酸化物半導体デジタルメモリマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-89715 REV B-1998 シリコンモノリシック、画像リサンプリングシーケンサ、酸化物半導体デジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-03250 REV B-2006 シリコンモノリシック 18,000 の独立したスタティック ランダム アクセス メモリ 40,000 ゲート、フィールド プログラマブル ゲート アレイ酸化物半導体デジタル メモリ マイクロ回路

British Standards Institution (BSI), マイクロアレイスポッティング

  • BS EN ISO 14880-1:2019 光学およびフォトニクス マイクロレンズアレイ用語集
  • PD ISO/TR 14880-5:2010 光学およびフォトニクス マイクロレンズ アレイのテスト ガイダンス
  • BS ISO 16578:2022 特定の核酸配列マイクロアレイ検査の分子バイオマーカー分析要件
  • 21/30394867 DC BS ISO 24057 せん断波速度プロファイルを推定するための微小地震アレイ測定
  • BS EN ISO 14880-2:2006 光学とフォトニクス。 マイクロレンズアレイ。 波面収差試験方法
  • BS ISO 24057:2022 せん断波速度プロファイルを推定するための地質工学的微小地震アレイ測定
  • 22/30446078 DC BS ISO 16578 分子バイオマーカー分析のための特定の核酸配列マイクロアレイアッセイの要件
  • BS ISO 16578:2013 分子バイオマーカー分析 特定の計算シーケンスのマイクロアレイ検出の一般的な定義と要件。
  • 23/30464250 DC BS EN ISO 14880-2 光学およびフォトニクス用マイクロレンズアレイ パート 2: 波面収差試験方法
  • 23/30464258 DC BS EN ISO 14880-4 光学およびフォトニクス用マイクロレンズ アレイ パート 4: 幾何学的特性の試験方法
  • BS EN 62137-4:2014 電子組立技術エリアアレイ型パッケージにおける表面実装デバイスのはんだ接合部の耐久性試験方法
  • BS ISO 22489:2007 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析。
  • BS ISO 22489:2016 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析。
  • 23/30464254 DC BS EN ISO 14880-3 光学およびフォトニクス用マイクロレンズ アレイ パート 3: 波面収差以外の光学特性の試験方法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), マイクロアレイスポッティング

  • KS P 1018-2012(2017) DNAマイクロアレイ遺伝子発現解析技術-ゲノムサンプルの単離・品質管理法
  • KS P 1019-2012(2017) DNAマイクロアレイを用いた遺伝子発現解析技術 ～遺伝子発現を直接標識して測定するDNAマイクロアレイの実験手順～
  • KS B ISO 14880-1:2019 光学とフォトニクス - マイクロレンズ アレイ - パート 1: 語彙
  • KS P 1017-2018 DNA マイクロアレイを使用した遺伝子発現解析技術の一般要件と定義
  • KS B ISO 14880-2:2018 光学およびフォトニクス - マイクロレンズ アレイ - パート 2: 波面収差の試験方法
  • KS D ISO 22489:2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析 - 波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析

KR-KS, マイクロアレイスポッティング

  • KS P 1018-2012(2022) DNAマイクロアレイ遺伝子発現解析技術 ～ゲノムサンプルの分離・品質管理法～
  • KS P 1019-2012(2022) DNAマイクロアレイを用いた遺伝子発現解析技術 ～遺伝子発現を直接標識して測定するDNAマイクロアレイの実験手順～
  • KS B ISO 14880-1-2019 光学とフォトニクス - マイクロレンズ アレイ - パート 1: 語彙
  • KS L 1619-2013(2023) 4点プローブアレイを使用した導電性セラミック薄膜の抵抗率の検査方法
  • KS B ISO 14880-2-2018 光学およびフォトニクス - マイクロレンズ アレイ - パート 2: 波面収差の試験方法
  • KS B ISO 14880-2-2023 光学とフォトニクス、マイクロレンズアレイ、パート 2: 波面収差の試験方法
  • KS D ISO 22489-2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析 - 波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析
  • KS D ISO 22489-2018(2023) マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析。

American Society for Testing and Materials (ASTM), マイクロアレイスポッティング

Association Francaise de Normalisation, マイクロアレイスポッティング

  • NF S10-132-1*NF EN ISO 14880-1:2019 光学およびフォトニクス マイクロレンズ アレイ パート 1: 語彙
  • NF EN ISO 14880-1:2019 光学とフォトニクス - マイクロレンズ アレイ - パート 1: 語彙
  • NF ISO 16578:2014 分子バイオマーカー分析の一般的な定義と要件 特定の核酸配列マイクロアレイアッセイ
  • NF EN ISO 14880-4:2006 光学および音響 - マイクロレンズ アレイ - パート 4: 幾何学的特性の試験方法
  • NF EN ISO 14880-2:2007 光学およびフォトニクス - マイクロレンズアレイ - パート 2: 波面収差試験方法
  • NF V03-503*NF ISO 16578:2014 分子バイオマーカー分析 特定の核酸配列のマイクロアレイ検査の一般的な定義と要件。
  • NF A89-512:2012 溶接箇所の非破壊検査 超音波検査 自動フェーズドアレイ技術の応用
  • NF S10-132-3*NF EN ISO 14880-3:2006 光学およびフォトニクス、マイクロレンズアレイ、パート 3: 波面収差以外の光学特性の試験方法。
  • NF EN ISO 14880-3:2006 光学およびフォトニクス - マイクロレンズアレイ - パート 3: 波面収差以外の光学特性の試験方法
  • NF X21-006:2007 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法によるバルクサンプルの定量点分析。
  • NF V04-501:1998 食品および飼料の微生物学 試験サンプルの調製 肉および肉製品の微生物学的検査の観点からの初期懸濁および希釈

International Organization for Standardization (ISO), マイクロアレイスポッティング

  • ISO 14880-1:2019 光学とフォトニクス - マイクロレンズ アレイ - パート 1: 語彙
  • ISO 16578:2022 分子バイオマーカー分析 特定の核酸配列のマイクロアレイ検出の要件
  • ISO/TR 14880-5:2010 光学とフォトニクス、顕微鏡レンズアレイ、パート 5: テストガイド
  • ISO 24057:2022 地盤工学、せん断波速度プロファイルを推定するための微小地震アレイ測定
  • ISO 16578:2013 分子バイオマーカー分析 特定の計算シーケンスのマイクロアレイ検出の一般的な定義と要件。
  • ISO/DIS 14880-2 光学およびフォトニクス「マイクロレンズアレイ」パート 2: 波面収差の試験方法
  • ISO/DIS 14880-4 光学およびフォトニクス「マイクロレンズアレイ」パート 4: 幾何学的特性の試験方法
  • ISO 13588:2012 溶接箇所の非破壊検査 超音波検査 自動フェーズドアレイ技術の応用
  • ISO/DIS 14880-3 光学およびフォトニクス「マイクロレンズアレイ」第 3 部: 波面収差以外の光学特性の試験方法

ES-UNE, マイクロアレイスポッティング

Professional Standard - Urban Construction, マイクロアレイスポッティング

  • CJ/T 172-2002 電子タクシーメーターマイクロインパクトドットマトリックスプリンター

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, マイクロアレイスポッティング

  • GB/T 35029-2018 マイクロアレイチップを用いた遺伝性難聴の遺伝子検出法

RU-GOST R, マイクロアレイスポッティング

  • GOST 32751-2014 製菓・製菓、微生物学的分析のためのサンプリング方法
  • GOST R 59743.1-2021 光学およびフォトニクス マイクロレンズアレイ 第 1 部 用語の分類と定義
  • GOST IEC 61188-5-8-2013 プリント基板とプリント基板アセンブリ 設計と使用 パート 5 ～ 8 接続 (パッド/ジョイント) の考慮事項 エリア アレイ コンポーネント (BGA、FBGA、CGA、LGA)

Lithuanian Standards Office , マイクロアレイスポッティング

  • LST EN ISO 14880-1:2005 マイクロレンズ アレイ パート 1: 語彙 (ISO 14880-1:2001、Corrigendum 1:2004 を含む)
  • LST EN ISO 14880-1:2005/AC:2009 光学およびフォトニクス用のマイクロレンズ アレイ パート 1: 語彙 (ISO 14880-1:2001/Cor 1:2003/Cor 2:2005)
  • LST EN ISO 14880-4:2006 光学およびフォトニクス マイクロレンズ アレイ パート 4: 幾何学的特性の試験方法 (ISO 14880-4:2006)
  • LST EN ISO 14880-2:2007 光学およびフォトニクス マイクロレンズ アレイ パート 2: 波面収差の試験方法 (ISO 14880-2:2006)
  • LST EN ISO 14880-3:2006 光学および音響マイクロレンズ アレイ パート 3: 波面収差以外の光学特性の試験方法 (ISO 14880-3:2006)

German Institute for Standardization, マイクロアレイスポッティング

  • DIN EN ISO 14880-1:2019 光学およびフォトニクス用のマイクロレンズ アレイ パート 1: 用語集 (ISO 14880-1:2019)
  • DIN EN ISO 14880-1:2019-10 光学およびフォトニクス - マイクロレンズ アレイ - パート 1: 語彙 (ISO 14880-1:2019)
  • DIN EN ISO 14880-4:2006-08 光学およびフォトニクス マイクロレンズ アレイ パート 4: 幾何学的特性の試験方法
  • DIN EN ISO 14880-2:2007-03 光学およびフォトニクス マイクロレンズ アレイ パート 2: 波面収差試験方法
  • DIN EN 62148-21:2017 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイス、パッケージングおよびインターフェース規格、パート 21: シリコンファインピッチボールグリッドアレイ (S-FBGA) およびシリコンファインピッチランドグリッドアレイ (S-FLGA) PIC パッケージ電気インターフェース設計ガイド (IEC 86C/1469/ CD:2017)
  • DIN EN ISO 14880-2:2007 光学とフォトニクス 顕微鏡対物レンズアレイ パート 2: 波面収差のテスト方法。
  • DIN ISO 11217:1994 航空宇宙、油圧系流体汚染物質、サンプリングポイントの場所とサンプリングガイドライン
  • DIN EN ISO 14880-2:2023-05 光学およびフォトニクス - マイクロレンズ アレイ - パート 2: 波面収差試験方法 (ISO/DIS 14880-2:2023)
  • DIN EN ISO 14880-4:2023-05 光学およびフォトニクス - マイクロレンズ アレイ - パート 4: 幾何学的特性の試験方法 (ISO/DIS 14880-4:2023)
  • DIN EN ISO 14880-3:2006-08 光学およびフォトニクス - マイクロレンズアレイ - パート 3: 波面収差以外の光学特性の試験方法
  • DIN EN ISO 14880-3:2023-05 光学およびフォトニクス - マイクロレンズ アレイ - パート 3: 波面収差以外の光学特性の試験方法 (ISO/DIS 14880-3:2023)
  • DIN EN ISO 14880-2:2023 光学およびフォトニクス マイクロレンズ アレイ パート 2: 波面収差試験方法 (ISO/DIS 14880-2:2023)、ドイツ語版および英語版 prEN ISO 14880-2:2023
  • DIN EN ISO 14880-4:2023 光学およびフォトニクス マイクロレンズ アレイ パート 4: 幾何学的特性の試験方法 (ISO/DIS 14880-4:2023)、ドイツ語版および英語版 prEN ISO 14880-4:2023

AGMA - American Gear Manufacturers Association, マイクロアレイスポッティング

  • 99FTM5-1999 試作表面疲労試験における歯車の微小孔食の解析

American Gear Manufacturers Association, マイクロアレイスポッティング

  • AGMA 99FTM5-1999 試作した表面疲労試験装置のマイクロピッチング解析

International Electrotechnical Commission (IEC), マイクロアレイスポッティング

  • IEC 62148-21:2021 光ファイバーアクティブコンポーネントおよびデバイス、パッケージングおよびインターフェース規格、パート 21: シリコンファインピッチボールグリッドアレイ (S-FBGA) およびシリコンファインピッチランドグリッドアレイ (S-FLGA) を使用した PIC パッケージへの電気インターフェースの設計ガイドライン

European Committee for Standardization (CEN), マイクロアレイスポッティング

  • EN ISO 14880-1:2016 光学とフォトニクス - マイクロレンズ アレイ パート 1: 語彙と一般特性 (ISO 14880-1:2016)
  • prEN ISO 14880-4 光学およびフォトニクスマイクロレンズアレイ パート 4: 幾何学的特性の試験方法 (ISO/DIS 14880:2023)
  • prEN ISO 14880-2 光学およびフォトニクス マイクロレンズ アレイ パート 2: 波面収差の試験方法 (ISO/DIS 14880:2023)
  • prEN ISO 14880-3 光学およびフォトニクス マイクロレンズアレイ パート 3: 波面収差以外の光学特性の試験方法 (ISO/DIS 14880:2023)
  • EN 3662-006:2006 航空宇宙シリーズ、定格電流 20A ～ 50A の 3 極温度補償回路ブレーカー、パート 006: バイアス アレイ付き信号接点、主線、製品規格

AENOR, マイクロアレイスポッティング

  • UNE-EN ISO 14880-2:2007 光学およびフォトニクス マイクロレンズ アレイ パート 2: 波面収差の試験方法 (ISO 14880-2:2006)
  • UNE-EN ISO 14880-4:2007 光学およびフォトニクス マイクロレンズ アレイ パート 4: 幾何学的特性の試験方法 (ISO 14880-4:2006)
  • UNE-EN ISO 14880-3:2007 光学および音響マイクロレンズ アレイ パート 3: 波面収差以外の光学特性の試験方法 (ISO 14880-3:2006)

GB-REG, マイクロアレイスポッティング

  • REG NASA-LLIS-0989-2001 教訓 ETU レーザー ダイオード ポンプ アレイの故障 - 接点間のインジウム ガスケットのショートが電気的故障を引き起こす

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