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オリジナルの電子スキャナー

オリジナルの電子スキャナーは全部で 185 項標準に関連している。

オリジナルの電子スキャナー 国際標準分類において、これらの分類：写真撮影のスキル、長さと角度の測定、熱力学と温度測定、物理学、化学、光学機器、医療機器、繊維、光学および光学測定、電子表示装置、集積回路、マイクロエレクトロニクス、表面処理・メッキ、分析化学、建材、電気、磁気、電気および磁気測定、ドキュメントイメージング技術、マイクロプロセッサシステム、建築コンポーネント、空気の質、計測学と測定の総合、電子管、犯罪予防、鉄鋼製品、土壌品質、土壌科学、潤滑剤、工業用油および関連製品、セラミックス、塗料とワニス、放射線測定、原子力工学、果物、野菜およびその製品、医療科学とヘルスケア機器の統合。

British Standards Institution (BSI), オリジナルの電子スキャナー

BS ISO 16067-2:2004 写真、写真画像用の電子スキャナ、空間解像度の測定、フィルムスキャナ。
BS ISO 16067-1:2003 写真撮影、写真イメージング用電子スキャナの空間解像度の測定、反射媒体用スキャナ
BS ISO 21550:2004 写真、写真画像用の電子スキャナ、ダイナミックレンジ測定
PD IEC/TR 61948-3:2018 核医学機器日常検査陽電子放出断層撮影
18/30319114 DC BS ISO 20171 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡走査型電子顕微鏡 (TIFF/SEM) 用のタグ付き画像ファイル形式
BS EN ISO 9220:2022 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の皮膜厚さの測定
BS ISO 14535:2001 写真技術電子スキャナ、イメージングフィルム、フィルムロール用の室内光負荷パッケージ寸法および関連要件
BS ISO 21466:2019 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡 CDSEM 限界寸法を評価する方法
BS ISO 16700:2016 マイクロビーム分析用の走査型電子顕微鏡の画像倍率を校正するためのガイド
BS ISO 12653-2:2000 電子イメージング、オフィス文書の白黒スキャンのテストターゲット、使用方法
BS ISO 12653-2:2001 電子画像オフィス文書の白黒スキャンにテストターゲットを使用する方法
21/30394409 DC BS ENISO 9220 金属コーティングのコーティング厚さの測定走査型電子顕微鏡
BS ISO 14966:2019 走査型電子顕微鏡による大気中の無機繊維粒子の濃度数値測定
18/30344520 DC BS ISO 21466 マイクロビーム分析走査型電子顕微鏡 CD-SEM 限界寸法の評価方法
BS ISO 14966:2002 周囲空気無機繊維粒子の濃度数値測定走査型電子顕微鏡法
BS ISO 12653-3:2014 電子イメージングオフィス文書スキャンのテストターゲット低解像度アプリケーションのテストターゲット
18/30375050 DC BS ISO 14966 周囲空気中の無機繊維粒子の数値濃度の測定走査型電子顕微鏡
BS ISO 15471:2016 表面化学分析用のオージェ電子分光法用に選択された機器の性能パラメーターの説明
BS ISO 15471:2005 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
BS ISO 13083:2015 表面化学分析、走査型プローブ顕微鏡、2D ドーピングイメージングなどの用途向けの SSRM や SCM など、走査型電子プローブ顕微鏡 (ESPM) における空間分解能と校正標準の定義。
BS EN ISO 17751-2:2023 走査型電子顕微鏡を使用したカシミヤ、ウール、その他の特殊動物繊維およびその混紡繊維の定量分析

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), オリジナルの電子スキャナー

KS A ISO 16067-2-2005(2020) 写真用電子スキャナの空間解像度の測定その２：フィルムスキャナ
KS A ISO 16067-2:2005 写真. 写真画像用の電子スキャナ. 空間解像度の決定. パート 2: フィルムスキャナ.
KS A ISO 16067-1:2005 写真. 写真画像用の電子スキャナ. 空間解像度の決定. パート 1: 反射スキャナ.
KS A ISO 16067-1-2005(2020) 写真画像用電子スキャナの空間解像度の測定 - パート 1: 反射媒体用スキャナ
KS A ISO 21550-2005(2020) 写真 - 写真画像用の電子スキャナ - ダイナミックレンジ測定
KS I 0051-1999(2019) 走査型電子顕微鏡の一般規則
KS M 0044-1999 走査型電子顕微鏡の一般規則
KS C IEC TR 61948-3:2020 核医学機器の定期テストパート 3: 陽電子放出断層撮影スキャナー
KS C IEC TR 61948-3:2017 核医学機器の定期テストパート 3: 陽電子放出断層撮影スキャナー
KS D ISO 9220-2009(2022) 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の膜厚測定
KS D ISO 9220-2009(2017) 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の膜厚測定
KS D ISO 15471:2005 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
KS D ISO 15471-2005(2020) 表面化学分析 - オージェ電子分光法 - 選択された機器の性能パラメータの説明

International Organization for Standardization (ISO), オリジナルの電子スキャナー

ISO 16067-2:2004 写真. 写真画像用の電子スキャナ. 空間解像度の測定. パート 2: フィルムスキャナ.
ISO 16067-1:2003 写真：写真イメージング用電子スキャナの空間解像度の測定パート 1: 反射媒体用スキャナ
ISO/TS 21383:2021 マイクロビーム分析走査型電子顕微鏡定量的測定のための走査型電子顕微鏡の識別
ISO 14535:2001 写真用電子スキャナ、イメージングフィルムおよびペーパーロールの室内軽荷重梱包寸法および関連要件
ISO 9220:2022 金属皮膜皮膜厚さの測定走査型電子顕微鏡法
ISO 21466:2019 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、CD-SEM による臨界サイズの評価方法。
ISO 14966:2019 周囲空気無機繊維粒子の濃度数値測定走査型電子顕微鏡法
ISO/WD TR 23683:2023 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡電気走査型プローブ顕微鏡を使用した半導体デバイスのキャリア濃度の実験的定量化に関するガイド
ISO 14966:2002 周囲空気無機繊維粒子の濃度数値測定走査型電子顕微鏡法
ISO 14966:2002/cor 1:2007 周囲空気無機繊維粒子の数値濃度の測定走査型電子顕微鏡法技術訂正事項 1
ISO 15471:2004 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
ISO 15471:2016 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
ISO 21222:2020 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡原子間力顕微鏡および 2 点 JKR 法による準拠材料の弾性率の測定手順
ISO 13083:2015 表面化学分析、走査型プローブ顕微鏡、2D ドーピングイメージングなどの用途向けの SSRM や SCM など、走査型電子プローブ顕微鏡 (ESPM) における空間分解能と校正標準の定義。
ISO 12653-3:2014 電子イメージングオフィス文書スキャンのテストターゲットパート 3: 低解像度アプリケーションで使用するテストターゲット

NEMA - National Electrical Manufacturers Association, オリジナルの電子スキャナー

NEMA NU 2-2012 陽電子放出断層撮影装置の性能測定
NEMA NU 2-2018 陽電子放射断層撮影法 (PET) の性能測定

American Society for Testing and Materials (ASTM), オリジナルの電子スキャナー

ASTM E2382-04(2020) 走査型トンネル顕微鏡および原子間力顕微鏡におけるスキャナおよびチップ関連のアーティファクトに関する標準ガイド
ASTM E2382-04 走査型トンネル顕微鏡および原子間力顕微鏡におけるスキャナーおよび接触関連アイテムのガイド
ASTM E766-98(2003) 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
ASTM E766-98 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
ASTM E2382-04(2012) 走査型トンネル顕微鏡および原子間力顕微鏡におけるスキャナーおよび接触関連アイテムの標準ガイド
ASTM E2603-15 固定セル示差走査熱量計の校正の標準的な方法
ASTM E1479-16 誘導結合プラズマ原子発光分光計の説明と仕様に関する標準的な手法
ASTM E986-97 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
ASTM E986-04(2017) 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
ASTM E766-14 走査型電子顕微鏡の倍率校正の標準方法
ASTM E766-98(2008)e1 走査型電子顕微鏡の倍率の標準校正仕様
ASTM E1832-08 DC プラズマ原子発光分光計の説明と仕様に関する標準的な手法
ASTM E1832-08(2017) DC プラズマ原子発光分光計の説明と仕様に関する標準的な手法
ASTM E766-14(2019) 走査型電子顕微鏡の倍率を校正するための標準的な方法
ASTM C1723-16(2022) 走査型電子顕微鏡による硬化コンクリート検査の標準ガイド
ASTM C1723-10 走査型電子顕微鏡による硬化コンクリート検査の標準ガイド
ASTM C1723-16 走査型電子顕微鏡による硬化コンクリート検査の標準ガイド
ASTM E1016-07(2020) 文献静電電子分光計の特性を説明するための標準ガイド
ASTM E1016-07(2012)e1 静電電子分光計の性能を説明する文書の標準ガイド
ASTM E766-14e1 走査型電子顕微鏡の倍率を校正するための標準的な方法
ASTM D7954/D7954M-22 非破壊電気インピーダンススキャナを使用して屋根および防水システムの水分を測定するための標準的な方法
ASTM D7954/D7954M-22a 非破壊電気インピーダンススキャナを使用して屋根および防水システムの水分を測定するための標準的な方法
ASTM D7954/D7954M-15a 非破壊電気インピーダンススキャナを使用して屋根および防水システムの水分を測定するための標準的な方法
ASTM D8231-19 屋根や防水膜の亀裂を検出して位置を特定するための低電圧電子スキャンシステムの使用
ASTM D7954/D7954M-15a(2021) 非破壊電気インピーダンススキャナを使用して屋根および防水システムの水分を測定するための標準的な手法
ASTM B748-90(1997) 走査型電子顕微鏡による断面測定により金属皮膜の厚さを求める方法
ASTM B748-90(2006) 走査型電子顕微鏡による断面測定により金属皮膜の厚さを求める方法
ASTM E2142-08(2015) 走査型電子顕微鏡を使用した鋼中の介在物の評価と分類のための標準的な試験方法
ASTM E2142-08 走査型電子顕微鏡を使用した鉄中の介在物を等級分けおよび分類するための標準的な試験方法
ASTM E2142-08(2023) 走査型電子顕微鏡を使用した鋼中の介在物の評価と分類のための標準的な試験方法
ASTM E1728-99 原子分光法技術を使用して鉛含有量を測定するための走査サンプリングを使用した塵サンプルの現場収集の標準的な方法
ASTM D8315-20 走査型平面電極発光分光法による使用済み工業用油中の摩耗金属および汚染元素を測定するための標準試験方法
ASTM E1770-95 電熱原子吸光分析計の最適化のための標準的な手法
ASTM E1770-95(2006) 電熱原子吸光分析計の最適化のための標準的な手法
ASTM D6966-13 原子分光法技術を使用して鉛含有量を測定するための走査サンプリングを使用した、塵サンプルの現場収集の標準試験方法
ASTM B748-90(2010) 走査型電子顕微鏡による断面の測定による金属コーティングの厚さを測定するための標準試験方法
ASTM E2142-01 走査型電子顕微鏡を使用した鋼中の不純物の評価と分類のための標準試験方法
ASTM D7954/D7954M-14 非破壊電気インピーダンススキャナを使用した屋根および防水システムの水分測定の標準的な方法
ASTM D7954/D7954M-15 非破壊電気インピーダンススキャナを使用した屋根および防水システムの水分測定の標準的な方法
ASTM E2809-13 法医学塗料検査における走査型電子顕微鏡/X 線分光法の使用に関する標準ガイド
ASTM B748-90(2021) 走査型電子顕微鏡を使用して断面を測定することにより、金属コーティングの厚さを測定する標準的な試験方法
ASTM E1588-95(2001) 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃残渣分析の標準ガイド
ASTM E1588-08 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃残渣分析の標準ガイド
ASTM E1588-10 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃残渣分析の標準ガイド
ASTM E1588-95 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃残渣分析の標準ガイド
ASTM B748-90(2016) 走査型電子顕微鏡による断面測定により金属皮膜の厚さを測定する試験方法
ASTM E1588-10e1 走査電子顕微鏡/エネルギー散乱X線分析によるショット残渣分析の標準ガイド
ASTM E1770-14 電熱原子吸光分光法の装置最適化のための標準的な手法
ASTM E2090-00 光電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡を使用して、クリーンルームのスクラバーツールから放出される粒子および繊維のサイズの違いを計数するための標準的な試験方法
ASTM E2090-12 光電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡を使用して、クリーンルームのスクラバーツールから放出される粒子および繊維のサイズの違いを計数するための標準的な試験方法
ASTM B748-90(2001) 走査型電子顕微鏡で断面を測定することで金属皮膜の厚さを測定する標準的な試験方法
ASTM F1372-93(1999) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態の走査型電子顕微鏡 (SEM) の標準試験方法
ASTM F1372-93(2020) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態の走査型電子顕微鏡 (SEM) の標準試験方法
ASTM E1588-20 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光分析による銃器残留物分析の標準手法
ASTM F1372-93(2012) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態を走査型電子顕微鏡 (SEM) で分析するための標準的な試験方法
ASTM F1372-93(2005) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態を走査型電子顕微鏡 (SEM) で分析するための標準的な試験方法

Group Standards of the People's Republic of China, オリジナルの電子スキャナー

T/QGCML 1940-2023 走査電子顕微鏡その場高温機械試験装置
T/SAS 0003-2018 陽電子放出断層撮影用ゲルマニウム酸ビスマスシンチレーション結晶

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, オリジナルの電子スキャナー

GB/T 39867-2021 陽電子放出断層撮影用ゲルマニウム酸ビスマスシンチレーション結晶
GB/T 40826-2021 電子スキャナー法による手描きカシミヤカードの長さの試験方法

Professional Standard - Military and Civilian Products, オリジナルの電子スキャナー

WJ 2299-1995 誘導結合プラズマ逐次走査分光計の校正手順

Danish Standards Foundation, オリジナルの電子スキャナー

DS/IEC/TR 61948-3:2006 核医学機器の定期テストパート 3: 陽電子放出断層撮影スキャナー
DS/EN ISO 9220:1995 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の膜厚測定
DS/EN 61675-1/A1:2008 放射性核種イメージング装置の特性と試験条件第1部：陽電子放出断層撮影装置
DS/EN 61675-1:1998 放射性核種イメージング装置の特性と試験条件第1部：陽電子放出断層撮影装置

Indonesia Standards, オリジナルの電子スキャナー

SNI IEC/TR 61948-3:2012 核医学機器 - 定期テスト - パート 3: 陽電子放出断層撮影スキャナー

KR-KS, オリジナルの電子スキャナー

KS C IEC TR 61948-3-2020 核医学機器の定期テストパート 3: 陽電子放出断層撮影スキャナー
KS D ISO 15632-2023 マイクロビーム分析: 走査型電子顕微鏡 (SEM) または電子プローブマイクロアナライザー (EPMA) で使用するエネルギー分散型 X 線分光計 (EDS) の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査

German Institute for Standardization, オリジナルの電子スキャナー

DIN 6855-4:2016-11 核医学機器の安定性試験その4：陽電子放出断層撮影法（PET）
DIN EN ISO 9220:2022-05 金属皮膜 - 皮膜厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡
DIN SPEC 52407:2015-03 原子間力顕微鏡 (AFM) および透過型走査型電子顕微鏡 (TSEM) を使用した粒子測定のためのナノテクノロジーの準備および評価方法
DIN EN ISO 9220:2021 金属コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO/DIS 9220:2021)
DIN EN IEC 61675-1:2022-12 放射性核種イメージング装置 - 特性と試験条件 - 第 1 部: 陽電子放射断層撮影法 (IEC 61675-1:2022)

Inner Mongolia Provincial Standard of the People's Republic of China, オリジナルの電子スキャナー

DB15/T 1341-2018 カードカシミヤ手動長さチャート電子スキャナーの校正仕様
DB15/T 981-2016 電子スキャナー法による手描きカシミヤカードの長さの試験方法

Association Francaise de Normalisation, オリジナルの電子スキャナー

NF Z42-010-1:1992 電子イメージングオフィス文書のスキャンパート 1: スキャンの下請けオフィス向けの詳細な技術ガイダンス
NF A91-108:1995 金属皮膜皮膜厚さの測定走査型電子顕微鏡法
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の膜厚測定
NF EN ISO 9220:2022 金属皮膜皮膜厚さの測定走査型電子顕微鏡法
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡を使用した画像の鮮明さを評価する方法
XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム分析 - 走査型電子顕微鏡 - 画像の鮮明さを評価する方法
NF EN IEC 61675-1:2022 放射性核種イメージング装置～特性と試験条件～第１部：陽電子放出断層撮影装置
NF Z42-010-2:1993 電子画像オフィス文書のスキャンパート 2: 電子画像管理システムの入札獲得ガイド
NF C74-221*NF EN 61262-1:1994 医療用電気機器電気光学式X線イメージインテンシファイアの特徴その1 入射走査野寸法の決定

PT-IPQ, オリジナルの電子スキャナー

NP 3081-1985 電子部品。マイクロエレクトロニクススキャニングにおける半導体チップ検査、基本仕様

Professional Standard - Electron, オリジナルの電子スキャナー

SJ/T 11006-1996 半導体TV集積回路のラインとフィールド走査回路の試験方法の基本原理

SE-SIS, オリジナルの電子スキャナー

SIS SS CECC 00013-1985 基本仕様。半導体チップの走査型電子顕微鏡観察

RU-GOST R, オリジナルの電子スキャナー

GOST R 8.594-2009 測定の一貫性を確保するための国家システム走査型電子顕微鏡
GOST R 8.593-2009 測定の一貫性を確保するための国家システム原子間力走査型トンネル顕微鏡校正手順
GOST R 56109-2014 医用電気機器陽電子放射断層撮影装置とコンピュータ断層撮影用 X 線装置を組み合わせたもの政府調達の技術要件
GOST R IEC/TO 61948-2-2008 核医学機器、定期検査、パート 2: フラッシュカメラと単一光子エスケープコンピューター断層撮影イメージング。
GOST 19438.21-1979 ラインスキャンブロックの出力段には低出力電子管を使用電気的パラメータの測定方法と寿命試験方法
GOST 29075-1991 原子力発電所で使用する原子力機器製造システム一般要件
GOST R 8.700-2010 測定の一貫性を確保するための国家制度原子間力走査型プローブ顕微鏡を用いた表面粗さ効果高度測定法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, オリジナルの電子スキャナー

GB/T 25189-2010 マイクロビーム分析走査型電子顕微鏡エネルギー分光計の定量分析パラメータの決定方法
GB/T 17361-2013 マイクロビーム分析を用いた堆積岩中の自生粘土鉱物の同定のための走査型電子顕微鏡とエネルギー分光計法
GB/T 19267.6-2003 犯罪手法における微量証拠の物理的および化学的検査パート 6; 走査電子顕微鏡法
GB/T 28873-2012 ナノ粒子の生体形態効果に対する環境走査型電子顕微鏡検出法の一般原理
GB/T 19267.6-2008 犯罪技術的痕跡証拠の物理的および化学的検査第 6 部: 走査型電子顕微鏡 / X 線エネルギー分光法
GB/T 32869-2016 走査型電子顕微鏡およびエネルギー分散型 X 線分光法によるナノテクノロジー単層カーボンナノチューブの特性評価方法

US-FCR, オリジナルの電子スキャナー

FCR 21 CFR PART 212-2015 陽電子放出断層撮影用医薬品の現在の適正製造基準
FCR 21 CFR PART 212-2013 陽電子放出断層撮影用医薬品の現在の適正製造基準
FCR 21 CFR PART 212-2014 陽電子放出断層撮影用医薬品の現在の適正製造基準

ES-UNE, オリジナルの電子スキャナー

UNE-EN ISO 9220:2022 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の皮膜厚さの測定方法
UNE-EN 61675-1:2014 放射性核種イメージング装置の特性と試験条件第1部：陽電子放出断層撮影装置
UNE-EN IEC 61675-1:2022 放射性核種イメージング装置の特性と試験条件第1部：陽電子放出断層撮影装置

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, オリジナルの電子スキャナー

EN IEC 61675-1:2022 放射性核種イメージング装置の特性と試験条件第1部：陽電子放出断層撮影装置

Standard Association of Australia （SAA）, オリジナルの電子スキャナー

AS/NZS IEC 61675.1:2022 放射性核種イメージング装置の特性と試験条件第1部：陽電子放出断層撮影装置

AENOR, オリジナルの電子スキャナー

UNE-EN ISO 9220:1996 走査型電子顕微鏡による金属コーティングのコーティング厚さの測定 (ISO 9220:1988)

Lithuanian Standards Office , オリジナルの電子スキャナー

LST EN ISO 9220:2001 金属コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO 9220:1988)
LST EN 61675-1-2001 放射性核種イメージング装置の特性と試験条件第 1 部：陽電子放射断層撮影法（IEC 61675-1:1998）
LST EN 61675-1-2001/A1-2008 放射性核種イメージング装置の特性と試験条件第1部：陽電子放射断層撮影法（IEC 61675-1:1998/A1:2008）

AT-ON, オリジナルの電子スキャナー

OENORM EN ISO 9220:2021 金属コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO/DIS 9220:2021)

European Committee for Standardization (CEN), オリジナルの電子スキャナー

prEN ISO 9220:2021 金属コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO/DIS 9220:2021)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), オリジナルの電子スキャナー

JIS K 3850-1:2006 浮遊繊維分子の測定パート 1: 光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡
JIS R 1633:1998 走査型電子顕微鏡観察用ファインセラミックスおよびセラミックス粉末の試料作製方法
JIS K 3850-1:2000 空気中の繊維状粒子の測定方法その 1: 光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡
JIS K 0161:2010 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, オリジナルの電子スキャナー

DB44/T 1216-2013 走査型電子顕微鏡とX線分光法を使用したグラフェンの特性評価
DB44/T 1215-2013 走査型電子顕微鏡とX線エネルギー分光法を使用した単層カーボンナノチューブの特性評価

未注明发布机构, オリジナルの電子スキャナー

BS CECC 13:1985(1999) 電子部品の品質評価連携体制：基本仕様：半導体チップの走査型電子顕微鏡検査

BE-NBN, オリジナルの電子スキャナー

NBN EN ISO 9220:1995 金属保護層。保護層の厚さの測定: 走査型電子顕微鏡 (ISO 9220-1988) を使用

Association of German Mechanical Engineers, オリジナルの電子スキャナー

VDI 3861 Blatt 2-2008 走査型電子顕微鏡による固定発生源から排出される排ガス中の無機繊維粒子の測定
VDI 3492-2004 室内空気測定 - 外気測定 - 無機繊維粒子測定 - 走査型電子顕微鏡
VDI 3492-2013 室内空気測定 - 外気測定 - 無機繊維粒子測定 - 走査型電子顕微鏡

IPC - Association Connecting Electronics Industries, オリジナルの電子スキャナー

IPC 2612-2010 電子図ファイルの小項目要件（概略図と論理記述）
IPC 2612 CD-2010 電子図ファイルの小項目要件（概略図と論理記述）

ZA-SANS, オリジナルの電子スキャナー

SANS 12653-2:2006 電子画像処理。オフィス文書の白黒スキャンのテストターゲット。パート2。使用説明書

AT-OVE/ON, オリジナルの電子スキャナー

OVE EN IEC 61675-1:2021 放射性核種イメージング装置の特性と試験条件第1部：陽電子放出断層撮影法（IEC 62C/811/CDV）（英語版）

American National Standards Institute （ANSI), オリジナルの電子スキャナー

ANSI/ASTM D6059:2001 走査型電子顕微鏡を使用して作業環境の空気中の単結晶セラミックウィスカーの濃度を測定する方法

Professional Standard - Public Safety Standards, オリジナルの電子スキャナー

GA/T 909-2010 痕跡証拠の抽出およびパッケージング方法射撃残渣を検出するための走査型電子顕微鏡/エネルギー分光法
GA/T 823.3-2018 物理的塗料証拠の法医学科学的検査方法パート 3: 走査型電子顕微鏡/X 線分光法

European Association of Aerospace Industries, オリジナルの電子スキャナー

AECMA PREN 3475-414-1999 航空宇宙シリーズの航空機に使用されるケーブルの試験方法パート 414; 示差走査熱量計 (理学博士試験)

Professional Standard - Commodity Inspection, オリジナルの電子スキャナー

SN/T 2649.1-2010 輸出入化粧品中のアスベストの判定その1：X線回折・走査型電子顕微鏡法