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X線光電子分光法とオージェ電子分光法
X線光電子分光法とオージェ電子分光法は全部で 9 項標準に関連している。
X線光電子分光法とオージェ電子分光法 国際標準分類において、これらの分類：分析化学、 長さと角度の測定。
International Organization for Standardization (ISO), X線光電子分光法とオージェ電子分光法
- ISO 21270:2004 表面化学分析 X線光電子分光装置とオージェ電子分光装置 強度スケールの直線性
- ISO 17109:2022 表面化学分析、深さプロファイリング、単層および多層膜を使用した X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、および二次イオン質量分析法におけるスパッタリング率を決定する方法。
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), X線光電子分光法とオージェ電子分光法
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, X線光電子分光法とオージェ電子分光法
British Standards Institution (BSI), X線光電子分光法とオージェ電子分光法
- BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強度スケールの直線性
- 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 表面化学分析の深さプロファイリング X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、単イオンおよび二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さ分析におけるスパッタリング率の決定方法...
未注明发布机构, X線光電子分光法とオージェ電子分光法
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, X線光電子分光法とオージェ電子分光法
- GB/T 41064-2021 表面化学分析 深さ方向プロファイリング 単層膜および多層膜を使用した X 線光電子分光法、オージェ電子分光法および二次イオン質量分析法における深さ方向プロファイリングのスパッタリング率を決定する方法