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クロマトグラフィーのピーク反転

クロマトグラフィーのピーク反転は全部で 32 項標準に関連している。

クロマトグラフィーのピーク反転 国際標準分類において、これらの分類:肉、肉製品、その他の動物性食品、 絶縁流体、 農林、 原子力工学、 光ファイバー通信、 分析化学、 非鉄金属、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 半導体ディスクリートデバイス。


Inner Mongolia Provincial Standard of the People's Republic of China, クロマトグラフィーのピーク反転

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), クロマトグラフィーのピーク反転

  • KS C 2375-2006(2021) ガスクロマトグラフィーピーク形状比較法によるポリ塩化ビフェニルの定量
  • KS C 2375-2006(2016) ポリ塩化ビフェニルのガスクロマトグラフピーク形状の比較分析方法
  • KS C 2375-2006 比較ピークモードによるガスクロマトグラフィーによるポリ塩化ビフェニル (PCB) の分析方法
  • KS M 1915-2009 工業用無水フタル酸の試験方法 β1,4-ナフトキノン含有量の定量 βピーク比色法

Group Standards of the People's Republic of China, クロマトグラフィーのピーク反転

Hunan Provincial Standard of the People's Republic of China, クロマトグラフィーのピーク反転

  • DB43/T 1929-2020 巨峰の緑の高品質かつ効率的な栽培のための技術基準

International Organization for Standardization (ISO), クロマトグラフィーのピーク反転

  • ISO/CD 6863 同位体希釈質量分析 (IDMS) 用のプルトニウムとウランのスパイクの準備
  • ISO 19830:2015 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法ピーク フィッティングの最小レポート要件
  • ISO 20903:2019 表面化学分析 - オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 - ピーク強度と結果報告時に必要な情報を決定するために使用される方法

American National Standards Institute (ANSI), クロマトグラフィーのピーク反転

  • ANSI/TIA/EIA 492CAAB-2000 クラス IVa 低ピーク危険分散ドリフトフリー シングルモード光ファイバの詳細仕様
  • ANSI/TIA-492CAAB-2000 低水量ピークのクラスIVa分散非変位シングルモード光ファイバの詳細仕様

TIA - Telecommunications Industry Association, クロマトグラフィーのピーク反転

  • TIA/EIA-492CAAB-2000 低ウォーターピークを備えたクラスIVa分散非変位シングルモード光ファイバの詳細仕様

American Society for Testing and Materials (ASTM), クロマトグラフィーのピーク反転

  • ASTM E827-07 オージェ電子分光計のピークを使用して元素を識別するための標準的な手法
  • ASTM E827-95 オージェ電子分光法のピークによって元素を識別するための標準的な手法
  • ASTM E827-02 オージェ電子分光法のピークによって元素を識別するための標準的な手法
  • ASTM C1871-22 熱イオン化質量分析法を使用した二峰性法によるウラン同位体組成を決定するための標準試験法
  • ASTM C1871-18a 熱イオン化質量分析法を使用したバイスパイク法を使用してウラン同位体組成を決定するための標準試験方法
  • ASTM C1871-18 熱イオン化質量分析法を使用したバイスパイク法を使用してウラン同位体組成を決定するための標準試験方法

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, クロマトグラフィーのピーク反転

  • GB/T 41073-2021 表面化学分析の基本要件 電子エネルギー分光法 X 線光電子分光法ピーク フィッティング レポート
  • GB/T 24981.1-2020 希土類長残光性蛍光体の試験方法その1:主発光ピークと色度座標の決定

British Standards Institution (BSI), クロマトグラフィーのピーク反転

  • BS ISO 19830:2015 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法ピーク フィッティングの最小レポート要件
  • BS ISO 20903:2011 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定方法および結果報告に必要な情報
  • BS ISO 20903:2019 表面化学分析 オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 ピーク強度の決定方法と結果報告時に必要な情報

(U.S.) Telecommunications Industries Association , クロマトグラフィーのピーク反転

  • TIA-492CAAB-2000 低水ピークにおけるクラス Iva 分散フリーマイグレーションシングルモード光ファイバーの詳細仕様

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, クロマトグラフィーのピーク反転

  • GB/T 14634.2-2010 ランプ用希土類三原色蛍光体の試験方法その2:主発光ピークと色度特性の測定
  • GB/T 24981.1-2010 希土類長残光性蛍光体の試験方法その1:主発光ピークと色度座標の決定
  • GB/T 28893-2012 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定方法および結果報告に必要な情報

Professional Standard - Electron, クロマトグラフィーのピーク反転

  • SJ 2355.7-1983 半導体発光素子の試験方法 発光ピーク波長およびスペクトル半値幅の試験方法
  • SJ/T 2658.12-2015 半導体赤外発光ダイオードの測定方法 - 第 12 部: ピーク発光波長と分光放射帯域幅
  • SJ 2658.12-1986 半導体赤外発光ダイオードの試験方法 発光ピーク波長およびスペクトル半値幅の試験方法




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