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SEM要素

SEM要素は全部で 31 項標準に関連している。

SEM要素 国際標準分類において、これらの分類：犯罪予防、 光学機器、 分析化学、 光学および光学測定、 教育する、 長さと角度の測定、 語彙、 表面処理・メッキ。

Professional Standard - Public Safety Standards, SEM要素

• GA/T 1418-2017 法医学 ガラス証拠の元素組成検査 走査型電子顕微鏡/エネルギー分光法
• GA/T 1521-2018 法医学 プラスチック元素組成検査 走査型電子顕微鏡/X線エネルギー分光法
• GA/T 1519-2018 法医学 トナー元素組成検査 走査電子顕微鏡/X線エネルギー分光法
• GA/T 1520-2018 法医学 黒色火薬および火工品火薬の元素組成検査 走査型電子顕微鏡/X 線エネルギー分光法

BELST, SEM要素

• STB 2209-2011 走査型電子顕微鏡測定を使用して、ナノスケールの炭素材料および非炭素材料およびそれらに基づく複合材料の元素組成を決定する技術

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), SEM要素

• JIS K 0132:1997 走査型電子顕微鏡の一般原理

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, SEM要素

• GB/T 35099-2018 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡・エネルギー分光法大気微粒子の単一粒子形態および元素分析

International Organization for Standardization (ISO), SEM要素

• ISO/TS 21383:2021 マイクロビーム分析 走査型電子顕微鏡 定量的測定のための走査型電子顕微鏡の識別

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, SEM要素

• JJF 1916-2021 走査型電子顕微鏡の校正仕様

Professional Standard - Machinery, SEM要素

• JB/T 6842-1993 走査型電子顕微鏡検査方法
• JB/T 5384-1991 走査型電子顕微鏡。 技術的条件

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, SEM要素

• JJG(教委) 11-1992 走査型電子顕微鏡の校正手順
• JJG 550-1988 走査型電子顕微鏡のパイロット校正手順

Professional Standard - Commodity Inspection, SEM要素

• SN/T 4388-2015 革の識別走査型電子顕微鏡および光学顕微鏡

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), SEM要素

• KS I 0051-1999(2019) 走査型電子顕微鏡の一般規則
• KS M 0044-1999 走査型電子顕微鏡の一般規則
• KS I 0051-1999 走査型電子顕微鏡検査法の一般原則
• KS D ISO 22493-2012(2017) マイクロビーム解析 走査型電子顕微鏡用語集
• KS D ISO 22493:2022 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙
• KS D ISO 22493:2012 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、用語

Group Standards of the People's Republic of China, SEM要素

• T/SPSTS 032-2023 走査型電気化学顕微鏡の一般仕様
• T/CSTM 00795-2022 材料実験データ走査電子顕微鏡写真要件

KR-KS, SEM要素

• KS D ISO 22493-2022 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙

Professional Standard - Education, SEM要素

• JY/T 0584-2020 走査型電子顕微鏡分析法の一般原則
• JY/T 010-1996 分析走査型電子顕微鏡法の一般原理

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, SEM要素

• GB/T 33834-2017 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡走査型電子顕微鏡による生体試料の分析方法

British Standards Institution (BSI), SEM要素

• 18/30319114 DC BS ISO 20171 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡 (TIFF/SEM) 用のタグ付き画像ファイル形式

American Society for Testing and Materials (ASTM), SEM要素

• ASTM E766-98(2003) 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
• ASTM E766-98 走査型電子顕微鏡の倍率の校正

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, SEM要素

• GB/T 16594-1996 走査型電子顕微鏡によるミクロンレベルの長さの測定方法
• GB/T 31563-2015 走査型電子顕微鏡による金属皮膜厚さ測定法

その他：   走査型電子顕微鏡, SEM, ++++電子顕微鏡スキャン, +++++ 走査型電子顕微鏡, SEM, 走査型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡, 走査型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡, SEM元素分析, SEM要素, SEM元素分析, SEM要素, 走査型電子顕微鏡の要素, 元素走査電子顕微鏡検査, SEM要素, チタン元素の走査型電子顕微鏡, 走査型電子顕微鏡による元素分析, 走査型電子顕微鏡による元素分析, 走査型電子顕微鏡, リチウム元素の走査型電子顕微鏡観察, フェナントレン元素の走査型電子顕微鏡観察.