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スキャンシステム

スキャンシステムは全部で 17 項標準に関連している。

スキャンシステム 国際標準分類において、これらの分類：交通機関、 オーディオ、ビデオ、およびオーディオビジュアル エンジニアリング、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 建材、 非破壊検査、 医療機器、 情報技術の応用。

Indonesia Standards, スキャンシステム

• SNI 03-7066-2005 空港乗客および貨物スキャン システム

工业和信息化部, スキャンシステム

• YD/T 3463-2019 脆弱性スキャン システムの一般的な技術要件

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), スキャンシステム

• KS C 5530-1997(2012) 8㎜～8㎜ビデオカセットテープ用ヘリカルスキャンシステム

能源部, スキャンシステム

• SY/T 5389-1991 EI ウェルログカーブデジタルスキャンシステムの操作手順

Group Standards of the People's Republic of China, スキャンシステム

• T/ZKJXX 00036-2023 地上移動式三次元レーザー走査システムの一般的な技術要件

ANSI - American National Standards Institute, スキャンシステム

• Z80.23-2018 眼科における「角膜トポグラフィーおよび断層撮影システム」の標準用語要件

Association Francaise de Normalisation, スキャンシステム

• NF EN ISO 14096-2:2020 非破壊検査 - X 線フィルム スキャン システムの認定 - パート 2: 最小要件

American Society for Testing and Materials (ASTM), スキャンシステム

• ASTM D8231-19 屋根や防水膜の亀裂を検出して位置を特定するための低電圧電子スキャン システムの使用
• ASTM E1672-12(2020) コンピュータ断層撮影 (CT) システム選択の標準ガイド
• ASTM E1695-95 コンピュータ断層撮影 (CT) システムの性能測定のための標準的な試験方法
• ASTM E1695-95(2001) コンピュータ断層撮影 (CT) システムの性能測定のための標準的な試験方法
• ASTM E1695-20 コンピュータ断層撮影 (CT) システムの性能測定のための標準的な試験方法
• ASTM E1695-20e1 コンピュータ断層撮影 (CT) システムの性能測定のための標準的な試験方法
• ASTM E1695-95(2013) コンピュータ断層撮影 (CT) システムの性能測定のための標準的な試験方法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), スキャンシステム

• JIS B 7442:2013 工業用 X 線コンピュータ断層撮影 (CT) システム。

International Electrotechnical Commission (IEC), スキャンシステム

• IEC 61880-2:2002 ビデオ システム (525/60) 垂直ブランキング期間を使用したビデオおよびオーディオ データ アナログ インターフェイス パート 2: 525 プッシュ スキャン システム

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, スキャンシステム

• DB32/T 4451.7-2023 医療用画像機器の臨床使用管理および品質管理に関する仕様書パート 7: 単一光子放射コンピュータ断層撮影システム (SPECT)

その他：   SEM システムスキャン, 走査型電子顕微鏡, 走査型プローブ顕微鏡システム, 走査線スキャン, スキャンシステム, スキャニングトンネルシステム, 顕微鏡走査システム, 顕微鏡走査システム, 走査型プローブ顕微鏡システム, スキャンボリュームシステム, SEMスキャンシステム, SEMスキャンシステム, スキャニングケルビンプローブシステム, 走査型電子顕微鏡, スキャンサイドスキャン, 近接場走査型光学顕微鏡システム, 顕微鏡走査システム, 光学顕微鏡走査システム, レーザースキャンスキャン, スキャニングプローブシステム.