ZH
RU
EN
ES

UVイメージング原理

UVイメージング原理は全部で 30 項標準に関連している。

UVイメージング原理 国際標準分類において、これらの分類：非破壊検査、送配電網、計測学と測定の総合、光学および光学測定、集積回路、マイクロエレクトロニクス、光学機器。

CN-QIYE, UVイメージング原理

Q/GDW 1978-2013 電源ハードウェアのコロナテストのための紫外線画像検出方法

International Organization for Standardization (ISO), UVイメージング原理

ISO 10880:2017 非破壊検査、赤外線熱画像検査、一般原則
ISO 22290:2020 非破壊検査赤外線熱画像検査熱弾性応力測定法の一般原理
ISO 5666-2:1983 水質フレームレス原子吸光分析による総水銀含有量の測定その 2: 紫外線前処理法
ISO 15529:1999 光学および光学機器光伝達関数イメージングシステム変調伝達関数の測定原理
ISO 15529:2007 光学とフォトニクス光学伝達関数サンプリングされたイメージングシステムの変調伝達関数 (MTF) の測定原理
ISO 15529:2010 光学とフォトニクス光学伝達関数サンプリングされたイメージングシステムの変調伝達関数 (MTF) の測定原理

British Standards Institution (BSI), UVイメージング原理

BS ISO 10880:2017 非破壊検査、赤外線熱画像検査、一般原則
BS ISO 22290:2020 熱弾性応力の一般原理非破壊検査のための測定方法赤外線熱画像検査
20/30401630 DC BS ISO 22290 非破壊試験用の熱弾性応力測定法の一般原則赤外線サーモグラフィー試験
BS ISO 15529:2010 光学および光学機器光学伝達関数サンプルイメージングシステムの変調伝達関数 (MTF) の測定原理

Professional Standard - Electricity, UVイメージング原理

DL/T 1779-2017 高圧電気機器のコロナ放電検出用紫外線イメージャの技術的条件

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, UVイメージング原理

GB/T 37141.1-2022 高地における電気機器の UV 画像検査に関するガイドラインパート 1: 変電所
GB/T 12843-1991 半導体集積回路のマイクロプロセッサおよび周辺インターフェース回路の電気的パラメータ試験法の基本原理
GB 12843-1991 半導体集積回路のマイクロプロセッサおよび周辺インターフェース回路の電気的パラメータ試験法の基本原理

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, UVイメージング原理

GB/T 37141.2-2018 高地における電気機器の UV 画像検査に関するガイドラインパート 2: 送電線
GB/T 41123.1-2021 工業用放射線コンピュータ断層撮影検査の非破壊検査第 1 部：原理、装置、サンプル

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), UVイメージング原理

KS M 9102-1996 水質中のフレームレス原子吸光分析法による総水銀の定量（紫外線照射前処理後の方法）
KS M 9102-1996(2001) 水質フレームレス原子吸光分析法による総水銀の定量（紫外線照射前処理後の方法）
KS B ISO 15529-2011(2021) 光学およびフォトニクス光学伝達関数サンプリングされたイメージングシステムの変調伝達関数 (MTF) の測定原理
KS B ISO 15529:2011 光学とフォトニクス光学伝達関数サンプリングされたイメージングシステムの変調伝達関数 (MTF) の測定原理
KS B ISO 15529-2011(2016) 光学およびフォトニクス - 光学伝達関数 - サンプリングされたイメージングシステムの変調伝達関数 (MTF) の測定原理

RU-GOST R, UVイメージング原理

GOST R 8.659-2009 ナノイメージング技術における紫外線放射特性測定装置の均一性に対する国家保証制度鑑定手順

AT-ON, UVイメージング原理

ONORM ISO 5666 Teil.2:1984 水質。フレーム原子吸光分析による総水銀含有量の測定。紫外線前処理後の方法

Professional Standard - Electron, UVイメージング原理

SJ/T 10802-1996 半導体集積インターフェース回路の周辺ドライバの試験方法の基本原理

German Institute for Standardization, UVイメージング原理

DIN ISO 15529:2010-11 光学およびフォトニクス光伝達関数サンプリングイメージングシステムの変調伝達関数 (MTF) 測定原理
DIN ISO 15529:2010 光学とフォトニクス光学伝達関数サンプリングされたイメージングシステムの変調伝達関数 (MTF) の測定原理 (ISO 15529-2010)

Association Francaise de Normalisation, UVイメージング原理

NF S10-050*NF ISO 15529:2011 光学およびフォトニクス光学伝達関数サンプリングイメージングシステムの変調伝達関数 (MIF) の測定原理
NF ISO 15529:2011 光学およびフォトニクス - 光学伝達関数 - サンプリングされたイメージングシステムの変調伝達関数 (MTF) の測定原理

KR-KS, UVイメージング原理

KS B ISO 15529-2023 光学とフォトニクス光学伝達関数サンプリングされたイメージングシステムの変調伝達関数 (MTF) の測定原理

©2007-2024 著作権所有