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走査型近接場走査型光学顕微鏡

走査型近接場走査型光学顕微鏡は全部で 69 項標準に関連している。

走査型近接場走査型光学顕微鏡 国際標準分類において、これらの分類:非鉄金属、 分析化学、 光学機器、 長さと角度の測定、 語彙、 教育する、 熱力学と温度測定、 空気の質、 電子表示装置、 犯罪予防、 光学および光学測定、 塗料とワニス、 医療科学とヘルスケア機器の統合、 物理学、化学。


Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 走査型近接場走査型光学顕微鏡

Professional Standard - Commodity Inspection, 走査型近接場走査型光学顕微鏡

  • SN/T 4388-2015 革の識別走査型電子顕微鏡および光学顕微鏡

International Organization for Standardization (ISO), 走査型近接場走査型光学顕微鏡

  • ISO 27911:2011 表面化学分析、走査型プローブ顕微鏡、近接場光学顕微鏡の横方向分解能の定義と校正
  • ISO 22493:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡法、用語集
  • ISO/WD TR 23683:2023 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡電気走査型プローブ顕微鏡を使用した半導体デバイスのキャリア濃度の実験的定量化に関するガイド
  • ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム解析、走査型電子顕微鏡法、写像性評価法
  • ISO 11039:2012 表面化学分析、走査型プローブ顕微鏡、ドリフト速度測定の標準。
  • ISO 18115-2:2021 表面化学分析用語集 パート 2: 走査型プローブ顕微鏡の用語
  • ISO 28600:2011 表面化学分析 - 走査型プローブ顕微鏡用のデータ転送フォーマット
  • ISO 11775:2015 表面化学分析、走査型プローブ顕微鏡検査、一般的なカンチレバーのバネ定数の決定。
  • ISO 18115-2:2010 表面化学分析 用語集 パート 2: 走査型プローブ顕微鏡で使用される用語。
  • ISO 11952:2019 表面化学分析 走査型プローブ顕微鏡 SPM による幾何学的量の決定: 測定システムの校正
  • ISO 11952:2014 表面化学分析 走査型プローブ顕微鏡 SPM を使用した幾何学的量の決定: 測定システムの校正
  • ISO 21222:2020 表面化学分析 走査型プローブ顕微鏡 原子間力顕微鏡および 2 点 JKR 法による準拠材料の弾性率の測定手順
  • ISO 18115-2:2013 表面化学分析 用語集 パート 2: 走査型プローブ顕微鏡で使用される用語。

British Standards Institution (BSI), 走査型近接場走査型光学顕微鏡

  • BS ISO 27911:2011 表面化学分析、走査型プローブ顕微鏡、近接場光学顕微鏡における横方向分解能の定義と校正
  • BS ISO 18115-2:2013 表面化学分析、用語集、走査型プローブ顕微鏡の用語
  • BS ISO 28600:2011 表面化学分析 - 走査型プローブ顕微鏡用のデータ転送フォーマット
  • BS ISO 18115-2:2021 表面化学分析用語集 走査型プローブ顕微鏡で使用される用語
  • BS ISO 18115-2:2010 表面化学分析 用語集 走査型プローブ顕微鏡で使用される用語。
  • BS ISO 11775:2015 表面化学分析、走査型プローブ顕微鏡検査、一般的なカンチレバーのバネ定数の決定。
  • BS ISO 11952:2019 表面化学分析 走査型プローブ顕微鏡 SPM を使用した幾何学的量の決定: 測定システムの校正
  • BS ISO 21222:2020 表面化学分析 走査型プローブ顕微鏡 原子間力顕微鏡および 2 点 JKR 法を使用した準拠材料の弾性率の測定手順
  • 12/30265696 DC BS ISO 18115-2 AMD1 表面化学分析の用語集 パート 2: 走査型プローブ顕微鏡で使用される用語
  • 19/30351707 DC BS ISO 21222 表面化学分析 走査型プローブ顕微鏡 原子間力顕微鏡および 2 点 JKR 法を使用した準拠材料の弾性率の決定手順
  • DD ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボン ナノチューブの特性を評価します。

Group Standards of the People's Republic of China, 走査型近接場走査型光学顕微鏡

American Society for Testing and Materials (ASTM), 走査型近接場走査型光学顕微鏡

  • ASTM E2382-04 走査型トンネル顕微鏡および原子間力顕微鏡におけるスキャナーおよび接触関連アイテムのガイド
  • ASTM E2382-04(2012) 走査型トンネル顕微鏡および原子間力顕微鏡におけるスキャナーおよび接触関連アイテムの標準ガイド
  • ASTM E986-97 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
  • ASTM E986-04(2017) 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
  • ASTM E2809-13 法医学塗料検査における走査型電子顕微鏡/X 線分光法の使用に関する標準ガイド
  • ASTM E1588-95(2001) 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃残渣分析の標準ガイド
  • ASTM E1588-08 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃残渣分析の標準ガイド
  • ASTM E1588-10 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃残渣分析の標準ガイド
  • ASTM E1588-95 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃残渣分析の標準ガイド
  • ASTM E1588-20 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光分析による銃器残留物分析の標準手法
  • ASTM E2090-00 光電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡を使用して、クリーンルームのスクラバーツールから放出される粒子および繊維のサイズの違いを計数するための標準的な試験方法
  • ASTM E2090-12 光電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡を使用して、クリーンルームのスクラバーツールから放出される粒子および繊維のサイズの違いを計数するための標準的な試験方法
  • ASTM E280-98(2004)e1 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
  • ASTM E1588-07 走査電子顕微鏡/エネルギー分散型X線分光分析による撮影残渣分析の標準ガイド
  • ASTM E2809-22 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
  • ASTM E1588-07e1 走査電子顕微鏡/エネルギー分散型X線分光分析による撮影残渣分析の標準ガイド
  • ASTM E280-21 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド

Professional Standard - Education, 走査型近接場走査型光学顕微鏡

  • JY/T 0586-2020 レーザー走査型共焦点顕微鏡分析法の一般原理

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 走査型近接場走査型光学顕微鏡

  • GB/T 42659-2023 表面化学分析 走査型プローブ顕微鏡 走査型プローブ顕微鏡を使用した幾何学的量の決定: 測定システムのキャリブレーション

RU-GOST R, 走査型近接場走査型光学顕微鏡

  • GOST R ISO 27911-2015 測定の一貫性を確保するための国家システム 表面化学分析 走査型プローブ顕微鏡法 近接場光学顕微鏡法における横方向分解能の定義と校正

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 走査型近接場走査型光学顕微鏡

  • JIS K 3850-1:2006 浮遊繊維分子の測定 パート 1: 光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡
  • JIS K 0149-1:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
  • JIS K 3850-1:2000 空気中の繊維状粒子の測定方法 その 1: 光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡
  • JIS K 0147-2:2017 表面化学分析 用語集 パート 2: 走査型プローブ顕微鏡で使用される用語

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 走査型近接場走査型光学顕微鏡

  • GB/T 36052-2018 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡データ転送フォーマット

Professional Standard - Public Safety Standards, 走査型近接場走査型光学顕微鏡

  • GA/T 1938-2021 法医学 金属検査 走査型電子顕微鏡/X線分光分析
  • GA/T 1937-2021 法医学 ゴム検査 走査型電子顕微鏡/X線分光分析
  • GA/T 1939-2021 法医学現在点検査走査型電子顕微鏡/X線エネルギー分光法
  • GA/T 1522-2018 法医学 銃撃残渣検査 走査型電子顕微鏡/X線分光分析
  • GA/T 1521-2018 法医学 プラスチック元素組成検査 走査型電子顕微鏡/X線エネルギー分光法
  • GA/T 1519-2018 法医学 トナー元素組成検査 走査電子顕微鏡/X線エネルギー分光法
  • GA/T 1520-2018 法医学 黒色火薬および火工品火薬の元素組成検査 走査型電子顕微鏡/X 線エネルギー分光法
  • GA/T 823.3-2018 物理的塗料証拠の法医学科学的検査方法パート 3: 走査型電子顕微鏡/X 線分光法

Association Francaise de Normalisation, 走査型近接場走査型光学顕微鏡

  • NF X21-069-2:2010 表面化学分析 用語集 パート 2: 走査型プローブ顕微鏡で使用される用語。
  • FD T16-203:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボン ナノチューブの特性を評価します。

工业和信息化部, 走査型近接場走査型光学顕微鏡

  • SJ/T 11759-2020 太陽電池電極のグリッドラインのアスペクト比の測定 レーザー走査型共焦点顕微鏡

未注明发布机构, 走査型近接場走査型光学顕微鏡

  • JIS K 0182:2023 表面化学分析 走査型プローブ顕微鏡 カンチレバー正常バネ定数の測定

GOSTR, 走査型近接場走査型光学顕微鏡

  • PNST 508-2020 走査型電子顕微鏡およびエネルギー分散型 X 線分光法によって特徴付けられるナノテクノロジー単層カーボン ナノチューブ

Danish Standards Foundation, 走査型近接場走査型光学顕微鏡

  • DS/ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボン ナノチューブの特性を評価します。




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